MIL-PRF-19500/518C(USAF)
4.4.2 B组的检查。 B组检验应当按照规定的条件下进行。独立样本
可用于每个步骤。在B组故障的情况下,制造商可以从任一失败拉一个新样本以双倍尺寸
很多集或从其他组件很多来自相同晶片。如果新的“集结很多”期权被行使,发生故障的组件很多
应当报废。电气测量(终点)应符合表I,亚组2于此。
步
1
法
1039
条件
稳态寿命:测试条件B 340小时, V
CB
≥
10 V DC ,T
J
= 175℃分钟。没有
散热片或强制空气冷却的设备应被允许。 N = 45的设备,
c=0
步骤1的稳态寿命试验应延长至1000小时,每死亡
设计。样品应来自晶圆很多选择每十二个月晶圆
生产,但是, B组不得要求超过一次的任何一个
晶圆批次。 N = 45 , C = 0 。
高温寿命(非经营性) ,T
A
= + 200 ℃。 N = 22 , C = 0
2
1039
3
1032
4.4.2.1 B组样本的选取。从B组检验样本选择应满足以下要求:
a.
对于JAN , JANTX ,并JANTXV样品应随机从最低3晶片选择(或每
晶圆在很多),从每个晶圆批次。见MIL -PRF- 19500 。
必须从检验批已提交并通过A组的亚组2 ,符合选择
检查。当最后的引线末端焊锡容易氧化电镀任何在高温下,样品的生命
试验组(B组为JAN , JANTX ,并JANTXV )可以最终率先完成的申请前拉。
b.
4.4.3 C组检验。 C组检验应按照与亚组测试所规定的条件下进行
表七MIL -PRF- 19500的。电气测量(终点)应符合表I,亚组2于此。
4.4.3.1 C组检验,表MIL -PRF- 19500的七( JAN , JANTX ,并JANTXV ) 。
小组
C2
C6
法
2036
条件
测试条件E.
不适用
4.4.3.2 C组样本的选取。样品C组亚组应随机选择从含有任何旨在很多
封装类型和引脚抛光采购到被提交并同规格的通组测试一致性
检查。使用封闭在预定包类型的单个设备类型的子组的测试应视为符合
与该子组的要求。
检查4.5方法。检验方法应当在适当的表格中的规定和以下。
4.5.1脉冲测量。条件脉冲测量应符合MIL -STD- 750的第4条的规定。
4.5.2线圈选择的安全工作区( SOA )的测试。在选择的夹紧,松开电感SOA测试使用的线圈,
素,应考虑到可商购的线圈。然而,由于线圈在这些极端的临界性质
电路和一些市售的线圈( 100个百分点, -50 %)的广泛包容的,应当在半导体制造商
有责任证明要求合规使用(商业或工厂设计)是在任何线圈或等效( +20
百分比在额定电流和直流电阻指定电感的,-10 %)的。
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