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这是过时的文件的预印本。国防部长自动打印服务文件最后可能会稍微

由于电子转换过程中的不同格式。实际的技术内容将是相同的。

文档和流程转换

必要遵守这一措施

修订由1998年10月1日完成

英制

MIL-PRF-19500/433E

1998年7月1日

取代

MIL-S-19500/433D

1993年12月1日

性能规格表

半导体器件，晶体管PNP硅，大功率

TYPE 2N4399和2N5745 JAN ， JANTX ， JANTXV ，和JANS

该规范被批准用于所有Depart-使用

ments和国防部的机构。

1.范围

1.1适用范围。该规范涵盖了PNP硅，大功率晶体管的性能要求。四个层次的产品

提供了保证，为每个设备类型的MIL -PRF- 19500规定。

1.2物理尺寸。参见图1 ，（于： - 3）。

1.3最大额定值。

θJC

= 0.875 ° C / W ，R

θJA

= 35 ° C / W 。

PT 1 /

TA = + 25°C

2N4399

2N5745

PT 2 /

TC = + 100°C

115

VCBO

VCEO

VEBO

TJ和TSTG

V DC

直流

7.5

直流

°C

-55到+200

1 /线性降额28.57毫瓦/ ° C以上TA = + 25°C 。

2 /线性降额1.15 W / ° C以上TC = + 100°C 。

1.4主要电气特性。

HFE2

VCE = 2 V DC

IC = 15 A DC

hFE2

VCE = 2 V DC

IC = 10 A DC

| HFE |

VCE(sat)1

IC = 15 A DC

IB = 1.5 A DC

VBE(sat)1

IC = 15 A DC

IB = 1.5 A DC

科博

开关

VCE = 10 V DC

IC = 1直流

F = 1 MHz的

VCB = 10 V

IE = 0

100千赫

≤

1兆赫

吨

花花公子

2N4399

民

最大

| 1 /脉冲（见4.5.1 ）。

2N5745

V DC

2N4399

V DC

1.0

2N5745

V DC

1.5

2N4399

2N5745

1.8

2.0

1,000

1.2

2.5

有益的意见（建议，添加，删除）和任何相关的数据，可能是使用改善这种

文件应该给：指挥官，哥伦布国防供应中心，联系人： DSCC增值税， 3990东宽街，

哥伦布，俄亥俄州43216-5000 ，通过使用标准化文件改进建议（ DD表格1426 ）出现在结尾

本文件或信件。

美国超导公司N / A

分配表A.获准公开发行;分布是无限的。

FSC 5961

MIL-PRF-19500/433E

2.适用文件

2.1一般。在本节中列出的文档都将在第3和第4本规范的规定。本节不包括

本说明书中引用的其他部分或推荐的其他信息或实例文档。虽然尽力了

已作出保证这个列表的完整性，文档的用户应注意，它们必须符合所有规定的要求

引用在第3和第4本说明书中，无论它们是否被列出的文档。

2.2.1政府文件。

2.2.1规格，标准和手册。以下规范，标准，和手册形成本文档的一部分

在本文中所指定的范围。除非另有说明，这些文件的问题是那些在该部的发行上市

规格及（ DODISS ）补充防御指数标准和于此，引用在招标（见6.2）。

规范

国防部

MIL -PRF- 19500 - 半导体器件，一般规格。

标准

军事

MIL -STD- 750 - 试验方法半导体器件。

（除非另有说明，可从标准化的上述规范，标准，和手册的副本

文档订购中心， 700罗宾斯大道，大厦4D ，费城，宾夕法尼亚州19111-5094 。）

2.3优先顺序。在本文档的文本和本文中所引用的参考文献之间存在冲突的情况下（除

相关的相关规范或规格表），该文档的文本为准。本文档中的任何内容，

然而，取代适用的法律法规，除非特别豁免已获得。

3.要求

3.1资格。根据本说明书提供的设备应是由合格的活性上市授权产品

之前签订合同适用的合格产品名单（见4.2和6.4 ）。

3.2相关规范。个别项目要求应符合MIL -PRF- 19500和本文规定。

3.3缩写，符号和定义。缩写，符号，以及本文所用的定义应在被指定

MIL-PRF-19500.

3.4接口要求和物理尺寸。接口要求和物理尺寸应在被指定为

MIL-PRF- 19500和在图1到本文中。

3.4.1铅完成。除非另有规定，铅涂层应焊符合MIL -STD- 750 ， MIL -PRF- 19500和

在本文中。

3.5标记。在MIL -PRF- 19500规定的设备应标。

3.6电气性能特性。除非另有说明，所述的电气性能特性中指定

1.3 ，1.4和表予本文。

3.7电气试验的要求。电气试验要求应在4.4.2和4.4.3此处指定的子组。

MIL-PRF-19500/433E

图1.物理尺寸TO- 3 。

MIL-PRF-19500/433E

尺寸

符号

英寸

民

MHD

讯息处理系统

---

.270

.060

.495

.131

.038

.312

---

.151

1.177

.420

.205

.655

最大

.875

.380

.135

.525

.188

.043

.500

.050

.161

1.197

.440

.225

.675

MILLIMETERS

民

---

6.86

1.52

12.57

3.33

0.97

7.92

---

3.84

29.90

10.67

5.21

16.64

最大

22.23

9.65

3.43

13.34

4.78

1.09

12.70

1.27

4.09

30.40

11.18

5.72

17.15

2, 3

笔记

注意事项：

尺寸为英寸。

这些尺寸应在点进行测量0.050英寸（1.27毫米）至0.055英寸（1.40为毫米）的座位平面。当

计不使用时，测量将在底座面制成。

头的座位平面应在0.001英寸（ 0.03毫米）凹平面到0.004英寸（ 0.10毫米）凸内侧的

0.930英寸（ 23.62毫米）上的报头的中心和平面内0.001英寸（ 0.03毫米）凹到0.006英寸直径的圆

（ 0.15毫米）凸整体。

集电极应电连接到所述壳体。

LD适用于L之间

和LL 。直径是不受控制以L

图1.物理尺寸。续。

MIL-PRF-19500/433E

4.验证

4.1分类和检查。此规定的检验要求分类如下：

资质检查（见4.2）。

筛选（见4.3 ）。

一致性检查（见4.4 ）。

4.2资格检查。资质检验应符合MIL -PRF- 19500 。

4.3筛选（ JANS ， JANTX ，并JANTXV只有水平）。筛选应符合MIL -PRF- 19500 （附录E，表

IV）中，并如本文所具体指出。下面的测量应符合表我在此提出。超出该限制装置

表I在此将不接受的。

屏幕（见表四

的MIL -PRF- 19500 ）

JANS级

热响应（参见4.3.2 ）

CEX1

和H

FE2

测量

JANTX和JANTXV水平

热响应（参见4.3.2 ）

CEX1

和H

FE2

CEX1

≤

100％的初始值的

或5 nA的DC ，以较高者为准。

FE2

≤

=初始值的15％的

CEX1

和H

FE2

;

CEX1

≤

100％的初始值的

或100 nA的DC ，以较高者为准。

参见4.3.1

表我这里的亚组2 ;

CEX1

≤

100％的初始值的

或50 nA的DC ，以较大者为准;

FE2

≤

=初始值的15％的

表我这里的亚组2 ;

CEX1

≤

100％的初始值的

或100 nA的DC ，以较大者为准;

FE2

≤

±初始值的15％ ;

1 /本试验应随时屏幕3之后进行。

4.3.1电源老化条件。功率的老化条件如下：

TJ = 187.5

12.5 ℃; VCE = 25 V直流;在MIL -STD- 750的总体要求确定TA =室温。

4.3.2热响应（ ΔVBE测量）。 TheΔVBE测量应依照执行

MIL- STD- 750 ，方法3131的

BE条件（ IH和VH）和最高限额，由每家厂商得到。选择的

BE测量和在资格很多每台设备条件，应提交的鉴定报告和热

响应曲线将被绘制。选择的

BE应被视为最后的后制造商有机会来测试5

连续的地段。百分之百的安全工作区（SOA）的测试来代替热响应测试本文中进行

条件是温度，时间，电流和电压的适当条件，以实现芯片粘接的完整性被提交给

符合条件的活动。