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这是过时的文件的预印本。国防部长自动打印服务文件最后可能会稍微

由于电子转换过程中的不同格式。实际的技术内容将是相同的。

文档和流程转换

必要遵守这一措施

修订由1998年11月10日完成。

英制

MIL-PRF-19500/423D

1998年8月10日

取代

MIL-PRF-19500/423C

1997年8月29日

性能规格表

半导体器件，晶体管NPN硅开关

类型2N5581和2N5582 ， JAN ， JANTX ，和JANTXV

该规范被批准用于通过部门使用

空军换货，可供所有应用

部门和国防部的机构。

1.范围

1.1适用范围。该规范涵盖了硅NPN开关晶体管的性能要求。三个层次的产品

提供了保证，为每个设备类型的MIL -PRF- 19500规定。

1.2物理尺寸。见3.3 （类似于TO- 46 ）。

1.3最大额定值。

TA = 25

0.5 1/

TC = 25

2.0

VCBO

V DC

VCEO

V DC

直流毫安

800

顶部

-55到+200

1 /线性降额2.86毫瓦/

C以上TA = 25

2 /线性降额11.43毫瓦/

C以上TC = 25

1.4主要电气特性。

hFE2

VCE = 10 V DC

IC = 1.0毫安DC

hFE4

VCE = 10 V DC

IC = 150 mA dc直流电

2N5581 2N5582

120

100

300

2.5

5.0

的hFE

VCE = 20 V DC

IC能力= 20 mA DC

F = 100 MHz的

科博

开关

VCB = 10 V DC

IE = 0

100千赫

1兆赫

吨

花花公子

TON + TOFF

2N5581 2N5582

民

最大

300

1 /脉冲（见4.5.1 ）。

有益的意见（建议，添加，删除）和任何相关的数据，可能会使用改进本文档

应该给：指挥官，哥伦布国防供应中心，联系人： DSCC增值税， 3990东宽街，哥伦布，俄亥俄州

43216-5000 ，通过使用寻址标准化文献改进建议（DD表格1426 ）出现在此结束

文档或字母。

美国超导公司N / A

分配表A.获准公开发行;分布是无限的。

FSC 5961

MIL-PRF-19500/423D

符号

尺寸

英寸

MILLIMETERS

民

最大

民

最大

.178

.195

4.52

4.95

.065

.085

1.65

2.16

.209

.230

5.31

5.84

.100 TP

2.54 TP

.016

.021

0.41

0.53

.500

.750

12.70

19.05

.016

.019

0.41

0.48

---

.050

---

1.27

.250

---

6.35

---

.040

---

1.02

.028

.048

0.71

1.22

.036

.046

0.91

1.17

---

.007

---

0.18

记

10, 11

注意事项：

1.尺寸为英寸。

2.公制等值给出的只是一般信息。

3.除了R（半径）最大， TW应当承担的0.011 （0.28 mm）的最小长度。

4.尺寸TL的最大HD测量。

5.车身轮廓内通过HD ，CD ，和Q限定区域可选

以下座位平面6.信息在仪表平面0.054 +.001 -.000英寸（ 1.37 +0.03 -0.00毫米）款

是在0.007英寸（0.18 MM）的实际位置（TP ），半径最大的物质条件

（ MMC ），相对于选项卡MMC 。

7.尺寸卢适用于L之间

和L

。尺寸LD适用于L之间

和LL

最低限度。直径是不受控制以L

超越LL最低。

8.所有三根引线。

9.集热器应内部连接到的情况。

10.尺寸R （半径）适用于标签的两个内角。

11.根据ANSI Y14.5M ，直径相当于

X符号。

12.铅1 =发射器，导致2 =基地，导致3 =收藏家。

图1.物理尺寸。

MIL-PRF-19500/423D

2.适用文件

2.1一般。在本节中列出的文档都将在第3和第4本规范的规定。本节不包括

本说明书中引用的其他部分或推荐的其他信息或实例文档。虽然尽力了

已作出保证这个列表的完整性，文档的用户应注意，它们必须符合所有规定的要求

引用在第3和第4本说明书中，无论它们是否被列出的文档。

2.2规格，标准和手册。以下规范，标准，和手册形成本文档的一部分

在本文中所指定的范围。除非另有说明，这些文件的问题是那些在该部的发行上市

规格及（ DODISS ）补充防御指数标准和于此，引用在招标（见6.2）。

规范

国防部

MIL -PRF- 19500 - 半导体器件，一般规格。

标准

军事

MIL -STD- 750 - 试验方法半导体器件。

（除非另有说明，可从标准化的上述规范，标准，和手册的副本

文档订购中心， 700罗宾斯大道，大厦4D ，费城，宾夕法尼亚州19111-5094 。）

2.3优先顺序。在本文档的文本和本文中所引用的参考文献之间存在冲突的情况下（除

相关的相关规范或规格表），该文档的文本为准。本文档中的任何内容，

然而，取代适用的法律法规，除非特别豁免已获得。

3.要求

3.1相关规范。个别项目要求应符合MIL -PRF- 19500 ，和本文规定。

3.2缩写，符号和定义。缩写，符号，以及本文所用的定义应以符合MIL- PRF-被指定

19500.

3.3接口要求和物理尺寸。接口要求和物理尺寸应在被指定为

MIL -PRF- 19500 ， MIL -HDBK- 6100 ，并在此。

3.3.1铅完成。铅涂层应焊在MIL -PRF- 19500 ， MIL -STD -750 ，并在此定义。其中，铅的选择

表层的，应当将取得的文件（见6.2）中指定。

3.4标记。标志应符合MIL -PRF- 19500 。

3.5电气性能特性。除非另有规定，电气性能特点

在第1.3 ， 1.4和表一规定

3.6电气试验的要求。电气试验要求应在第4.4.2和4.4.3中指定的子组。

3.7资格。根据本说明书提供的设备应是由合格的活性上市授权产品

之前签订合同适用的合格产品名单（见4.2和6.4 ）。

MIL-PRF-19500/423D

4.验证

4.1分类检查。此规定的检验要求分类如下：

一。资质检查（见4.2）。

B 。筛选（见4.3 ）

。一致性检查（见4.4 ）。

4.2资格检查。资质检验应符合MIL -PRF- 19500 。

4.3筛选（只JANTX和JANTXV水平）。筛选应符合MIL -PRF- 19500的表四，并按规定

在本文中。下面的测量应符合表我在此提出。超过表I所述的限制装置

不能接受。

屏幕（见表四

的MIL -PRF- 19500 ）

测量

JANTX和JANTXV水平

热阻抗（见4.3.2 ）

不适用

48小时最低

CBO2

FE4

参见4.3.1

80小时最低

表我这里的亚组2 ;

CBO2

= 100%

初始值或5 nA的DC中，以较大者为准;

FE4

= +15%

4.3.1电源老化条件。功率的老化条件如下： TA =室内环境中4.5的一般的定义

MIL- STD- 750的要求。

VCB = 10 - 30 V DC ; PT = 400毫瓦。

注：没有散热片或强制空气冷却的设备应被允许。

4.3.2热阻抗（Z

测量）。在Z

测量应符合MIL -STD- 750进行，

方法3131 。

一。我

测量电流---------------------- 5毫安。

B 。我

正向电流加热------------------- 200毫安（分钟）。

C.吨

加热时间---------------------------------- 25 - 30毫秒。

D.吨

测量延迟时间---------------- 60

s最大。

。 V

集电极 - 发射极电压--------------- 10 V直流最小

最大极限Z的

这些试验条件下面向Z

（最大值） = 72

C / W 。

4.4符合性检查。一致性检验应符合MIL -PRF- 19500 ，和本文规定。如果

另一种筛选符合MIL -PRF- 19500 ，筛选设备的样品，应当提交被执行到，并通过

不是必需的基团A1和A2检查只（表VIb族，B组，子组1的要求，将再次执行，如果B组有

已按4.4.2满意）。

4.4.1 A组检验。 A组检验应符合MIL -PRF- 19500进行，表我这里。

MIL-PRF-19500/423D

4.4.2 B组的检查。 B组检验应当按照规定如下为JAN的条件下进行，

JANTX ，并JANTXV B组测试于此。电气测量（终点）和JAN ， JANTX三角洲的要求，

JANTXV应是以下各步骤之后，并应按照A组，分组2和4.5.2于此。

步

法

1039

条件

稳态寿命：测试条件B 340小时， V

= 10 -30 V直流，T

= 150

C最小。无散热片或forced-

在设备的空气冷却应允许。 N = 45的设备， C = 0

步骤1的稳态寿命试验应延长至1000小时，每个模具设计。样品应

从晶圆很多选择每十二个月晶圆生产。 B组第2步

无须不止一次为任何单个的晶片批量。 N = 45 ， C = 0 。

高温寿命（非经营性），T = 340小时，T

= +200

C. N = 22 ， C = 0

1039

1032

可用于每个步骤1 /分离样品。在B组故障的情况下，制造商可能会拉一个新样品在

无论从失败的组件很多，或从其他组件很多来自相同晶片两倍大小。如果新的“集结很多”选项

行使，失败的组件很多，应报废。

4.4.2.1 B组样本的选取。从B组检验样本选择应满足以下要求：

对于JAN ， JANTX ，并JANTXV样品应随机从最低3晶片选择（或每

晶圆在很多），从每个晶圆批次。

必须从检验批已提交并通过A组的亚组2 ，符合选择

检查。当最后的引线末端焊锡容易氧化电镀任何在高温下，样品的生命

试验组（B组在此为JAN ， JANTX ，并JANTXV ）可以最终率先完成的申请前拉。

4.4.3 C组检验， C组检验应按照与亚组测试所规定的条件下进行

表VII MIL-PRF- 19500的，并且如下所述。电气测量（终点）和增量要求应符合

A组，分组2和4.5.2于此。

小组

法

2036

条件

测试条件E.

不适用

4.4.3.1 C组样本的选取。样品C组亚组应随机选择从任何检验批含

这是提交并通过A组检验为采购到同一规格意图封装类型和引脚抛光

一致性检查。使用封闭在预定包类型的单个设备类型的子组的测试应被视为

符合用于该子组的要求。

4.4.4 E组检验。 E组检验应进行资格或者只重学历进行。在表中指定的测试

二本文所必须执行的维护的资格。

检验方法4.5 。检验方法应当在适当的表格中的规定和以下。

4.5.1脉冲测量。条件脉冲测量应符合MIL -STD- 750的第4条的规定。

4.5.2三角洲要求。三角洲要求应符合以下规定：

步

检查

法

集电极 - 基极截止电流

3036

MIL-STD-750

条件

偏置条件D ，V

= 60 V DC

符号

极限

单位

CB02

FE4

初始值或8 nA的100 ％

DC ，以较高者为准。

正向电流传输比

3076

= 10 V直流;我

= 150 mA dc直流电;

脉冲式见4.5.2

从最初的25 ％变化

读数。