IXSH 35N120B
IXST 35N120B
符号
测试条件
特征值
(T
J
= 25 ° C,除非另有规定编)
分钟。典型值。马克斯。
16
23
3600
V
CE
= 25 V, V
GE
= 0 V , F = 1兆赫
260
75
120
I
C
= I
C90
, V
GE
= 15 V, V
CE
= 0.5 V
CES
33
49
感性负载,T
J
= 25°C
°
I
C
= I
C90
, V
GE
= 15 V
R
G
= 5
V
CE
= 0.8 V
CES
注3
感性负载,T
J
= 125°C
°
I
C
= I
C90
, V
GE
= 15 V
R
G
= 5
,
V
CE
= 0.8 V
CES
注3
36
27
160
180
5
38
29
2.5
240
340
9
300
300
S
pF
pF
pF
nC
nC
nC
ns
ns
ns
ns
1 - 门
2 =收藏家
3 =发射器
TAB =收藏家
TO- 247 AD纲要( IXSH )
g
fs
C
IES
C
OES
C
水库
Q
g
Q
ge
Q
gc
t
D(上)
t
ri
t
D(关闭)
t
fi
E
关闭
t
D(上)
t
ri
E
on
t
D(关闭)
t
fi
E
关闭
R
thJC
R
thCK
I
C
= I
C90
; V
CE
= 10 V,
注2
9兆焦耳
ns
ns
mJ
ns
ns
mJ
0.42 K / W
TO- 268外形( IXST )
(TO-247)
0.25
K / W
注:1 。
设备必须heatsunk高温漏电流
测量,以避免热失控。
脉冲测试,T
≤
300
s,
占空比
≤
2 %
切换时间可能会增加V
CE
(钳) & GT ; 0.8 V
CES
,更高的温度
J
or
加强研究
G
.
2.
3.
DIM 。
A
A
1
A
2
b
b
2
C
D
E
E
1
e
H
L
L1
L2
L3
L4
毫米
分钟。
马克斯。
4.9
5.1
2.7
2.9
.02
.25
1.15
1.45
1.9
2.1
.4
.65
13.80 14.00
15.85 16.05
13.3
13.6
5.45 BSC
18.70 19.10
2.40
2.70
1.20
1.40
1.00
1.15
0.25 BSC
3.80
4.10
英寸
分钟。马克斯。
.193 .201
.106 .114
.001 .010
.045 .057
.75
.83
.016 .026
.543 .551
.624 .632
.524 .535
0.215 BSC
.736 .752
.094 .106
.047 .055
.039 .045
0.010 BSC
.150 .161
IXYS保留更改限制,试验条件和尺寸的权利。
IXYS MOSFET和IGBT被覆盖的一个或一个以上的以下美国专利:
4,835,592
4,850,072
4,881,106
4,931,844
5,017,508
5,034,796
5,049,961
5,063,307
5,187,117
5,237,481
5,486,715
5,381,025
6,306,728B1
IXSH 35N120B
IXST 35N120B
符号
测试条件
特征值
(T
J
= 25 ° C,除非另有规定编)
分钟。典型值。马克斯。
16
23
3600
V
CE
= 25 V, V
GE
= 0 V , F = 1兆赫
260
75
120
I
C
= I
C90
, V
GE
= 15 V, V
CE
= 0.5 V
CES
33
49
感性负载,T
J
= 25°C
°
I
C
= I
C90
, V
GE
= 15 V
R
G
= 5
V
CE
= 0.8 V
CES
注3
感性负载,T
J
= 125°C
°
I
C
= I
C90
, V
GE
= 15 V
R
G
= 5
,
V
CE
= 0.8 V
CES
注3
36
27
160
180
5
38
29
2.5
240
340
9
300
300
S
pF
pF
pF
nC
nC
nC
ns
ns
ns
ns
1 - 门
2 =收藏家
3 =发射器
TAB =收藏家
TO- 247 AD纲要( IXSH )
g
fs
C
IES
C
OES
C
水库
Q
g
Q
ge
Q
gc
t
D(上)
t
ri
t
D(关闭)
t
fi
E
关闭
t
D(上)
t
ri
E
on
t
D(关闭)
t
fi
E
关闭
R
thJC
R
thCK
I
C
= I
C90
; V
CE
= 10 V,
注2
9兆焦耳
ns
ns
mJ
ns
ns
mJ
0.42 K / W
TO- 268外形( IXST )
(TO-247)
0.25
K / W
注:1 。
设备必须heatsunk高温漏电流
测量,以避免热失控。
脉冲测试,T
≤
300
s,
占空比
≤
2 %
切换时间可能会增加V
CE
(钳) & GT ; 0.8 V
CES
,更高的温度
J
or
加强研究
G
.
2.
3.
DIM 。
A
A
1
A
2
b
b
2
C
D
E
E
1
e
H
L
L1
L2
L3
L4
毫米
分钟。
马克斯。
4.9
5.1
2.7
2.9
.02
.25
1.15
1.45
1.9
2.1
.4
.65
13.80 14.00
15.85 16.05
13.3
13.6
5.45 BSC
18.70 19.10
2.40
2.70
1.20
1.40
1.00
1.15
0.25 BSC
3.80
4.10
英寸
分钟。马克斯。
.193 .201
.106 .114
.001 .010
.045 .057
.75
.83
.016 .026
.543 .551
.624 .632
.524 .535
0.215 BSC
.736 .752
.094 .106
.047 .055
.039 .045
0.010 BSC
.150 .161
IXYS保留更改限制,试验条件和尺寸的权利。
IXYS MOSFET和IGBT被覆盖的一个或一个以上的以下美国专利:
4,835,592
4,850,072
4,881,106
4,931,844
5,017,508
5,034,796
5,049,961
5,063,307
5,187,117
5,237,481
5,486,715
5,381,025
6,306,728B1