IXGH 25N160
IXGT 25N160
符号
测试条件
特征值
(T
J
= 25 ° C除非另有规定编)
分钟。典型值。马克斯。
14
21
200
2090
94
34
I
C
= 50 A,V
GE
= 15 V, V
CE
= 0.5 V
CES
84
15
37
阻性负载
I
C
= 100 A,V
GE
= 15 V ,注1
V
CE
= 1200 V ,R
G
= 10
Ω
47
236
86
440
S
A
pF
pF
pF
nC
nC
nC
ns
ns
ns
ns
0.42 K / W
(TO-247)
0.25
K / W
DIM 。
e
P
的TO- 247的AD概要
g
fs
I
C( ON)
C
IES
C
OES
C
水库
Q
g
Q
ge
Q
gc
t
D(上)
t
ri
t
D(关闭)
t
fi
R
thJC
R
thCK
I
C
= 50 A; V
CE
= 10 V ,注1
V
GE
= 15V, V
CE
= 10V ,注1
V
CE
= 25 V, V
GE
= 0 V , F = 1兆赫
注:1 。
脉冲测试,T < 300
μs,
占空比< 2 %
TO- 268 :最低建议足迹
毫米
分钟。马克斯。
A
4.7
5.3
A
1
2.2
2.54
A
2
2.2
2.6
b
1.0
1.4
b
1
1.65
2.13
b
2
2.87
3.12
C
.4
.8
D
20.80 21.46
E
15.75 16.26
e
5.20
5.72
L
19.81 20.32
L1
4.50
P
3.55
3.65
Q
5.89
6.40
R
4.32
5.49
S
6.15 BSC
英寸
分钟。马克斯。
.185 .209
.087 .102
.059 .098
.040 .055
.065 .084
.113 .123
.016 .031
.819 .845
.610 .640
0.205 0.225
.780 .800
.177
.140 .144
0.232 0.252
.170 .216
242 BSC
TO- 268外形
DIM 。
A
A
1
A
2
b
b
2
C
D
E
E
1
e
H
L
L1
L2
L3
L4
初步技术信息
本文中所呈现的产品正在开发中。技术规格
提供的是从过程中的初步目标刻画收集的数据导出
工程地段;而且还可能包含在一个主观的提供了一些资料
生产前设计评估。 IXYS保留更改限制,试验条件的权利,
和尺寸,恕不另行通知。
IXYS保留更改限制,试验条件和尺寸的权利。
IXYS MOSFET和IGBT均受4835592
一个或moreof以下美国专利: 4850072
4,881,106
4,931,844
5,017,508
5,034,796
5,049,961
5,063,307
5,187,117
5,237,481
5,381,025
5,486,715
6,162,665
6,259,123 B1
6,306,728 B1
6,404,065 B1
6,534,343
6,583,505
毫米
分钟。马克斯。
4.9
5.1
2.7
2.9
.02
.25
1.15
1.45
1.9
2.1
.4
.65
13.80 14.00
15.85 16.05
13.3
13.6
5.45 BSC
18.70 19.10
2.40
2.70
1.20
1.40
1.00
1.15
0.25 BSC
3.80
4.10
英寸
分钟。马克斯。
.193 .201
.106 .114
.001 .010
.045 .057
.75
.83
.016 .026
.543 .551
.624 .632
.524 .535
0.215 BSC
.736 .752
.094 .106
.047 .055
.039 .045
0.010 BSC
.150 .161
6,683,344
6,710,405B2
6,710,463
6,727,585
6,759,692
6771478 B2