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位置:首页 > IC型号导航 > 首字符I型号页 > 首字符I的型号第231页 > IRHM3130
PD - 90707D
抗辐射
功率MOSFET
直通孔( T0-254AA )
产品概述
产品编号辐射水平
IRHM7130
100K拉德(SI )
IRHM3130
300K拉德(SI )
IRHM4130
600K拉德(SI )
IRHM8130
1000K拉德(SI )
R
DS ( ON)
0.18
0.18
0.18
0.18
I
D
14A
14A
14A
14A
IRHM7130
100V N沟道
RAD硬HEXFET
技术
TO-254AA
国际整流器公司?的RADHard HEXFET
术提供高性能功率MOSFET的
空间应用。该技术拥有超过一去
经过验证的性能和可靠性的卫星凯德
应用程序。这些装置已经character-
美化版为总剂量和单粒子效应( SEE ) 。
低导通电阻和低栅极电荷的结合
减少了功率损耗的开关应用
例如DC到DC转换器和电动机控制。这些
设备保留所有已确立的优势
MOSFET的诸如电压控制的,快速的切换,
方便的elec-并联和温度稳定性
Trical公司的参数。
产品特点:
!
!
!
!
!
!
!
!
!
硬化单粒子效应( SEE )
低R
DS ( ON)
低总栅极电荷
腾宽容
简单的驱动要求
易于并联的
密封式
陶瓷封装
重量轻
绝对最大额定值
参数
ID @ VGS = 12V , TC = 25°C连续漏电流
ID @ VGS = 12V , TC = 100 ℃的连续漏电流
IDM
PD @ TC = 25°C
VGS
EAS
IAR
EAR
dv / dt的
TJ
TSTG
漏电流脉冲
马克斯。功耗
线性降额因子
栅极 - 源极电压
单脉冲雪崩能量
雪崩电流
重复性雪崩能量
峰值二极管恢复的dv / dt
工作结
存储温度范围
焊接温度
重量
对于脚注参考最后一页
14
9.0
56
75
0.60
±20
160
14
7.5
5.5
-55到150
预辐照
单位
A
W
W / ℃,
V
mJ
A
mJ
V / ns的
o
C
300 ( 0.063英寸( 1.6毫米)从案例10秒)
9.3 (典型值)
g
www.irf.com
1
7/5/01
IRHM7130
预辐照
@ TJ = 25 ° C(除非另有说明)
100
2.0
3.3
电气特性
参数
典型值最大值单位
0.12
6.8
0.18
0.20
4.0
25
250
100
-100
45
11
17
30
120
49
64
V
V /°C的
V
S( )
A
测试条件
VGS = 0V ,ID = 1.0毫安
参考至25℃ , n = 1.0毫安
VGS = 12V ,ID = 9.0A
VGS = 12V ,ID = 14A
VDS = VGS ,ID = 1.0毫安
VDS > 15V , IDS = 9.0A
VDS = 80V , VGS = 0V
VDS = 80V ,
VGS = 0V , TJ = 125°C
VGS = 20V
VGS = -20V
VGS = 12V ,ID = 14A
VDS = 50V
VDD = 50V , ID = 14A
VGS = 12V时, RG = 7.5Ω
BVDSS
漏极至源极击穿电压
ΔBV
细数DSS / ΔT 温度系数
电压
RDS ( ON)
静态漏 - 源极导通状态
阻力
VGS ( TH)
栅极阈值电压
克FS
正向跨导
IDSS
零栅极电压漏极电流
IGSS
IGSS
Qg
Q GS
QGD
td
(上)
tr
td
(关闭)
tf
LS + LD
栅极 - 源极漏进
栅极 - 源极漏反
总栅极电荷
栅极 - 源极充电
栅极 - 漏极(米勒?? ??)充电
导通延迟时间
上升时间
打开-O FF延迟时间
下降时间
总电感
nA
nC
ns
nH
从测得的漏极引线(6毫米/0.25in 。
从包中)源铅(6毫米/ 25英寸
从包中)与源内部的电线
从源引脚结合到漏极焊盘
西塞
科斯
CRSS
输入电容
输出电容
反向传输电容
1100
310
55
pF
VGS = 0V , VDS = 25V
F = 1.0MHz的
源极 - 漏极二极管额定值和特性
参数
IS
ISM
VSD
吨RR
Q RR
连续源电流(体二极管)
脉冲源电流(体二极管)
二极管的正向电压
反向恢复时间
反向恢复电荷
向前开启时间
最小典型最大单位
14
56
1.8
370
3.5
测试条件
A
V
nS
C
T
j
= 25 ℃, IS = 14A ,V GS = 0V
TJ = 25°C , IF = 14A , di / dt的
100A/s
VDD
50V
固有的导通时间是可以忽略不计。接通速度基本上由LS + LD控制。
热阻
参数
thJC
RthJA
RthCS
结到外壳
结到环境
外壳到散热器
最小典型最大单位
1.67
48
0.21
° C / W
测试条件
典型的插座安装
注:对应的香料和军刀车型可在G&S网站。
对于脚注参考最后一页
2
www.irf.com
辐射特性
预辐照
IRHM7130
国际整流器抗辐射的MOSFET进行测试,以验证其抗辐射能力。
在国际整流器硬度保证计划包括两个辐射环境中。
每一个生产批次的总电离剂量测试(每个音符5和6)采用TO- 3封装。两
前和辐照后的性能进行了测试和指定的使用相同的驱动器电路和测试
为了条件下提供直接的比较。
表1.电气特性@ TJ = 25 ° C,邮政总剂量辐射
参数
100K拉德(SI )

300 - 1000K拉德(SI )
最大
单位
单位
最大
V
nA
A
V
测试条件
BV
DSS
V
/5JD
I
GSS
I
GSS
I
DSS
R
DS ( ON)
R
DS ( ON)
V
SD
漏极至源极击穿电压
栅极阈值电压
栅极 - 源极漏进
栅极 - 源极漏反
零栅极电压漏极电流
静态漏到Source"
通态电阻( TO- 3 )
静态漏到Source"
通态电阻( TO- 254AA )
二极管正向Voltage"
100
2.0
4.0
100
-100
25
0.18
0.18
1.8
100
1.25
4.5
100
-100
25
0.24
0.24
1.8
V
GS
= 0V时,我
D
= 1.0毫安
V
GS
= V
DS
, I
D
= 1.0毫安
V
GS
= 20V
V
GS
= -20 V
V
DS
=80V, V
GS
=0V
V
GS
= 12V,我
D
=9.0A
V
GS
= 12V,我
D
=9.0A
V
GS
= 0V , IS = 14A
1.部件号IRHM7130
2.产品编号IRHM8130 , IRHM3130和IRHM4130
国际整流器抗辐射的MOSFET已被鉴定为重离子环境
单粒子效应( SEE ) 。单粒子效应特性示于图。一及表二。
表2.单粒子效应安全工作区
离子
Cu
Br
LET
兆电子伏/ (毫克/平方厘米) )
28
36.8
能源
(兆电子伏)
285
305
范围
(m)
43
39
V
DS ( V)
@
V
GS
=0V @
V
GS
=-5V@
V
GS
=-10V@
V
GS
=-15V@
V
GS
=-20V
100
100
100
90
100
70
80
50
60
120
100
80
VDS
60
40
20
0
0
-5
-10
VGS
-15
-20
-25
Cu
Br
所示的。单粒子效应,安全工作区
对于脚注参考最后一页
www.irf.com
3
IRHM7130
辐照后
预辐照
的导通状态电阻的门门限图2.典型的响应图1.典型反应
与总剂量暴露
电压比。总剂量暴露
图3.跨导的典型响应
与总剂量暴露
排水图4.典型的响应源
击穿比。总剂量暴露
4
www.irf.com
辐照后
预辐照
IRHM7130
图5.典型的零电压门漏
电流比。总剂量暴露
图6.典型导通电阻比。
中子注量水平
图8A 。的门应力
V
GSS
等于12伏在
辐射
图7.典型的瞬态响应
抗辐射HEXFET时1×10
12
Rad公司(SI ) /秒曝光
图8B 。 V
DSS
应力等于
80 %的B
VDSS
在辐射
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5
PD - 90707D
抗辐射
功率MOSFET
直通孔( T0-254AA )
产品概述
产品编号辐射水平
IRHM7130
100K拉德(SI )
IRHM3130
300K拉德(SI )
IRHM4130
600K拉德(SI )
IRHM8130
1000K拉德(SI )
R
DS ( ON)
0.18
0.18
0.18
0.18
I
D
14A
14A
14A
14A
IRHM7130
100V N沟道
RAD硬HEXFET
技术
TO-254AA
国际整流器公司?的RADHard HEXFET
术提供高性能功率MOSFET的
空间应用。该技术拥有超过一去
经过验证的性能和可靠性的卫星凯德
应用程序。这些装置已经character-
美化版为总剂量和单粒子效应( SEE ) 。
低导通电阻和低栅极电荷的结合
减少了功率损耗的开关应用
例如DC到DC转换器和电动机控制。这些
设备保留所有已确立的优势
MOSFET的诸如电压控制的,快速的切换,
方便的elec-并联和温度稳定性
Trical公司的参数。
产品特点:
!
!
!
!
!
!
!
!
!
硬化单粒子效应( SEE )
低R
DS ( ON)
低总栅极电荷
腾宽容
简单的驱动要求
易于并联的
密封式
陶瓷封装
重量轻
绝对最大额定值
参数
ID @ VGS = 12V , TC = 25°C连续漏电流
ID @ VGS = 12V , TC = 100 ℃的连续漏电流
IDM
PD @ TC = 25°C
VGS
EAS
IAR
EAR
dv / dt的
TJ
TSTG
漏电流脉冲
马克斯。功耗
线性降额因子
栅极 - 源极电压
单脉冲雪崩能量
雪崩电流
重复性雪崩能量
峰值二极管恢复的dv / dt
工作结
存储温度范围
焊接温度
重量
对于脚注参考最后一页
14
9.0
56
75
0.60
±20
160
14
7.5
5.5
-55到150
预辐照
单位
A
W
W / ℃,
V
mJ
A
mJ
V / ns的
o
C
300 ( 0.063英寸( 1.6毫米)从案例10秒)
9.3 (典型值)
g
www.irf.com
1
7/5/01
IRHM7130
预辐照
@ TJ = 25 ° C(除非另有说明)
100
2.0
3.3
电气特性
参数
典型值最大值单位
0.12
6.8
0.18
0.20
4.0
25
250
100
-100
45
11
17
30
120
49
64
V
V /°C的
V
S( )
A
测试条件
VGS = 0V ,ID = 1.0毫安
参考至25℃ , n = 1.0毫安
VGS = 12V ,ID = 9.0A
VGS = 12V ,ID = 14A
VDS = VGS ,ID = 1.0毫安
VDS > 15V , IDS = 9.0A
VDS = 80V , VGS = 0V
VDS = 80V ,
VGS = 0V , TJ = 125°C
VGS = 20V
VGS = -20V
VGS = 12V ,ID = 14A
VDS = 50V
VDD = 50V , ID = 14A
VGS = 12V时, RG = 7.5Ω
BVDSS
漏极至源极击穿电压
ΔBV
细数DSS / ΔT 温度系数
电压
RDS ( ON)
静态漏 - 源极导通状态
阻力
VGS ( TH)
栅极阈值电压
克FS
正向跨导
IDSS
零栅极电压漏极电流
IGSS
IGSS
Qg
Q GS
QGD
td
(上)
tr
td
(关闭)
tf
LS + LD
栅极 - 源极漏进
栅极 - 源极漏反
总栅极电荷
栅极 - 源极充电
栅极 - 漏极(米勒?? ??)充电
导通延迟时间
上升时间
打开-O FF延迟时间
下降时间
总电感
nA
nC
ns
nH
从测得的漏极引线(6毫米/0.25in 。
从包中)源铅(6毫米/ 25英寸
从包中)与源内部的电线
从源引脚结合到漏极焊盘
西塞
科斯
CRSS
输入电容
输出电容
反向传输电容
1100
310
55
pF
VGS = 0V , VDS = 25V
F = 1.0MHz的
源极 - 漏极二极管额定值和特性
参数
IS
ISM
VSD
吨RR
Q RR
连续源电流(体二极管)
脉冲源电流(体二极管)
二极管的正向电压
反向恢复时间
反向恢复电荷
向前开启时间
最小典型最大单位
14
56
1.8
370
3.5
测试条件
A
V
nS
C
T
j
= 25 ℃, IS = 14A ,V GS = 0V
TJ = 25°C , IF = 14A , di / dt的
100A/s
VDD
50V
固有的导通时间是可以忽略不计。接通速度基本上由LS + LD控制。
热阻
参数
thJC
RthJA
RthCS
结到外壳
结到环境
外壳到散热器
最小典型最大单位
1.67
48
0.21
° C / W
测试条件
典型的插座安装
注:对应的香料和军刀车型可在G&S网站。
对于脚注参考最后一页
2
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辐射特性
预辐照
IRHM7130
国际整流器抗辐射的MOSFET进行测试,以验证其抗辐射能力。
在国际整流器硬度保证计划包括两个辐射环境中。
每一个生产批次的总电离剂量测试(每个音符5和6)采用TO- 3封装。两
前和辐照后的性能进行了测试和指定的使用相同的驱动器电路和测试
为了条件下提供直接的比较。
表1.电气特性@ TJ = 25 ° C,邮政总剂量辐射
参数
100K拉德(SI )

300 - 1000K拉德(SI )
最大
单位
单位
最大
V
nA
A
V
测试条件
BV
DSS
V
/5JD
I
GSS
I
GSS
I
DSS
R
DS ( ON)
R
DS ( ON)
V
SD
漏极至源极击穿电压
栅极阈值电压
栅极 - 源极漏进
栅极 - 源极漏反
零栅极电压漏极电流
静态漏到Source"
通态电阻( TO- 3 )
静态漏到Source"
通态电阻( TO- 254AA )
二极管正向Voltage"
100
2.0
4.0
100
-100
25
0.18
0.18
1.8
100
1.25
4.5
100
-100
25
0.24
0.24
1.8
V
GS
= 0V时,我
D
= 1.0毫安
V
GS
= V
DS
, I
D
= 1.0毫安
V
GS
= 20V
V
GS
= -20 V
V
DS
=80V, V
GS
=0V
V
GS
= 12V,我
D
=9.0A
V
GS
= 12V,我
D
=9.0A
V
GS
= 0V , IS = 14A
1.部件号IRHM7130
2.产品编号IRHM8130 , IRHM3130和IRHM4130
国际整流器抗辐射的MOSFET已被鉴定为重离子环境
单粒子效应( SEE ) 。单粒子效应特性示于图。一及表二。
表2.单粒子效应安全工作区
离子
Cu
Br
LET
兆电子伏/ (毫克/平方厘米) )
28
36.8
能源
(兆电子伏)
285
305
范围
(m)
43
39
V
DS ( V)
@
V
GS
=0V @
V
GS
=-5V@
V
GS
=-10V@
V
GS
=-15V@
V
GS
=-20V
100
100
100
90
100
70
80
50
60
120
100
80
VDS
60
40
20
0
0
-5
-10
VGS
-15
-20
-25
Cu
Br
所示的。单粒子效应,安全工作区
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辐照后
预辐照
的导通状态电阻的门门限图2.典型的响应图1.典型反应
与总剂量暴露
电压比。总剂量暴露
图3.跨导的典型响应
与总剂量暴露
排水图4.典型的响应源
击穿比。总剂量暴露
4
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辐照后
预辐照
IRHM7130
图5.典型的零电压门漏
电流比。总剂量暴露
图6.典型导通电阻比。
中子注量水平
图8A 。的门应力
V
GSS
等于12伏在
辐射
图7.典型的瞬态响应
抗辐射HEXFET时1×10
12
Rad公司(SI ) /秒曝光
图8B 。 V
DSS
应力等于
80 %的B
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    联系人:杨小姐
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电话:13910052844(微信同步)
联系人:刘先生
地址:北京市海淀区增光路27号院增光佳苑2号楼1单元1102室
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√ 欧美㊣品
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