INK0010AX系列
高速开关
硅N沟道MOSFET
MAXIMUM RATING(T½=25℃)
符号
V
DSS
V
GSS
I
D
P
D
总胆固醇
T½½½
参数
漏源电压
栅源电压
漏电流
总
动力
耗散
(Ta=25℃)
通道温度
储存温度范围
INK0010AT2
等级
INK0010AU1
INK0010AM1
60
±20
100
150
+150
-55½+150
200
INK0010AC1
单位
V
V
mA
mW
℃
℃
125(※)
+125
-55½+125
ELECTRICAL CHARACTERISTICS(T½=25℃)
符号
参数
漏源击穿电压
门源漏电流
零栅极电压漏极电流
栅极阈值电压
正向转移导纳
静态漏源
阻力
输入电容
输出电容
开关时间
导通状态
※包装在9毫米× 19毫米× 1毫米玻璃环氧基板。
测试条件
I
D
= 100μA ,V
V
V
GS
DS
GS
V
( BR ) DSS
I
GSS
I
DSS
V
th
|
Y
fs
|
R
DS ( ON)
C
国际空间站
C
OSS
t
ON
t
关闭
=0V
民
60
-
-
1.0
-
-
-
-
-
-
-
极限
典型值
-
-
-
-
200
4.0
3.0
20
5.0
27
58
最大
-
±1.0
1.0
2.0
-
-
-
-
-
-
-
单位
V
μA
μA
V
mS
Ω
pF
pF
ns
=±15V, V
DS
=0V
=V
=60V ,V
GS
=0V
DS
GS
I
D
= 250μA ,V
V
DS
= 10V ,我
D
=100mA
I
D
= 100mA时V
GS
=4.0V
I
D
= 100mA时V
V
V
V
V
DS
DS
GS
=10.0V
=10V, V
=10V, V
GS
GS
=0V,f=1MHz
=0V,f=1MHz
= 5V ,我
D
=10mA
GS
=0½5V
DD
开关时间测试条件
测试电路
5V
IN
OUT
5V
90%
R
L
0
10μs
V
DD
=5V
D.U.≦1%
常见的来源
Ta=25℃
50Ω
V
DD
输入
波形
0V
V
DD
10%
10%
产量
波形
V
DS ( ON)
吨
90%
tr
花花公子
tf
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·
谏早电子公司把最大精力投入到制造半导体产品的质量和可靠性,但
总是有麻烦可能与他们发生的可能性。麻烦半导体可能会导致人身伤害,火灾或
财产损失。记得让你的电路设计时,充分考虑到安全性给予,用适当的措施
如(1)放置替代的,辅助的,(2)使用非可耕种材料或(3)防止对任何故障或
硬伤。
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这些材料的目的是作为参考,客户在谏早的产品的选择最适合的
客户的应用;不传达任何许可下的任何知识产权,或任何其他权利,属于
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h
禁止的。
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Feb.2009