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512K ×8
CMOS静态RAM模块
集成设备技术有限公司
IDT7MB4048
产品特点:
高密度的4兆位( 512K ×8)静态RAM模块
快速存取时间: 25ns的(最大)
表面贴装塑料封装的32引脚, 600万
FR- 4基板DIP
单5V ( ± 10 % )电源
输入/输出直接TTL兼容
描述:
该IDT7MB4048是4兆位( 512K ×8)静态RAM
在多层环氧层压构造模块( FR-4)
基板使用四个1兆位的SRAM和一个解码器。该
IDT7MB4048 ,请访问倍的速度为25ns 。
该IDT7MB4048封装在32脚的FR-4的DIP所得
在一个包1.6英寸长, 0.6 JEDEC的足迹
英寸宽。
在IDT7MB4048的所有输入和输出为TTL -的COM
从单一5V电源兼容和操作。充分asynchro-
理性电路不需要时钟或刷新操作和
提供平等的机会和周期时间的易用性。
引脚配置
A
18
A
16
A
14
A
12
A
7
A
6
A
5
A
4
A
3
A
2
A
1
A
0
I / O
0
I / O
1
I / O
2
GND
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
32
31
30
29
28
27
26
25
24
23
22
21
20
19
18
17
功能框图
VCC
A
15
A
17
A
13
A
8
A
9
A
11
A
10
地址
19
512K ×8
内存
WE
OE
CS
WE
OE
CS
8
I / O
2675 DRW 02
I / O
7
I / O
6
I / O
5
I / O
4
I / O
3
2675 DRW 01
DIP
顶视图
引脚名称
I / O
0-7
A
0-18
数据输入/输出
地址
芯片选择
写使能
OUTPUT ENABLE
动力
2675 TBL 01
CS
WE
OE
V
CC
GND
IDT标志是集成设备技术公司的注册商标。
商业级温度范围
1996集成设备技术有限公司
1995年12月
DSC-2675/6
7.11
1
IDT7MB4048
512K ×8 CMOS静态RAM模块
商业级温度范围
真值表
模式
待机
绝对最大额定值
(1)
CS
H
L
L
L
OE
X
L
H
X
WE
X
H
H
L
产量
高-Z
D
OUT
高-Z
D
IN
动力
待机
活跃
活跃
活跃
2675 TBL 02
符号
V
TERM
等级
端电压
对于
到GND
操作
温度
温度
在偏置
存储
温度
直流输出电流
广告
-0.5到+7.0
单位
V
T
A
T
BIAS
T
英镑
0至+70
-10至+85
-55到+125
50
°C
°C
°C
mA
电容
(1)
(T
A
= + 25 ° C,F = 1.0MHz的)
符号
C
IN
C
第(三)
C
OUT
参数
输入电容
输入电容(
CS
)
输出电容
条件
V
IN
= 0V
V
IN
= 0V
V
OUT
= 0V
(典型值) 。单位
35
8
35
pF
pF
pF
2675 TBL 03
I
OUT
注意:
1.此参数由设计保证,但未经测试。
注意:
2675 TBL 05
1.强调超过绝对最大额定上市
INGS可能对器件造成永久性损坏。这是一个压力等级
该器件在这些或任何其他条件只与功能操作
超过上述业务部门所标明的这个规范
不是暗示。暴露在绝对最大额定值条件为前
往往周期会影响其可靠性。
建议的直流工作条件推荐工作
符号
参数
分钟。
典型值。
MAX 。 UNIT
温度和电源电压
V
CC
GND
V
IH
V
IL
电源电压
电源电压
输入高电压
输入低电压
4.5
0
2.2
–0.5
(1)
5
0
5.5
0
6
0.8
V
V
V
V
2675 TBL 04
GRADE
广告
环境
温度
0 ° C至+ 70°C
GND
0V
V
CC
5V
±
10%
2675 TBL 06
注意:
1. V
IL
= -2.0V脉冲宽度小于10ns的。
DC电气特性
(V
CC
= 5V
±
10%, T
A
= 0 ° C至+ 70 ° C)
7MB4048SxxP
符号
|I
LI
|
|I
LO
|
V
OL
V
OH
I
CC
I
SB
I
SB1
参数
输入漏
输出漏
输出低电压
输出高电压
动态工作电流
待机电源电流
( TTL电平)
全待机电源电流
( CMOS电平)
测试条件
V
CC
=最大,V
IN
= GND到V
CC
V
CC
=最大,
CS
= V
IH
,
V
OUT
= GND到V
CC
V
CC
=最小值,我
OL
= 8毫安
V
CC
=最小值,我
OH
= -1mA
V
CC
=最大,
CS
V
IL
; f = f
最大
,
输出打开
分钟。
2.4
MAX 。 UNIT
8
8
0.4
480
250
170
A
A
V
V
mA
mA
mA
2675 TBL 07
CS
V
IH
, V
CC
=最大值,女= F
最大
,
输出打开
CS
V
CC
- 0.2V, V
IN
V
CC
- 0.2V
or
0.2
7.11
2
IDT7MB4048
512K ×8 CMOS静态RAM模块
商业级温度范围
AC测试条件
输入脉冲电平
输入上升/下降时间
输入定时基准水平
输出参考电平
输出负载
GND到3.0V
5ns
1.5V
1.5V
参见图1 & 2
2675 TBL 09
+5 V
+5 V
480
数据
OUT
255
30 pF的*
480
数据
OUT
255
5 pF的*
2675 DRW 04
2675 DRW 05
图1.输出负载
图2.输出负载
(对于T
OLZ
, t
CHZ
, t
OHZ
, t
WHZ
, t
OW
和T
CLZ
)
AC电气特性
(V
CC
= 5V
±
10%, T
A
= 0 ° C至+ 70 ° C)
7MB4048
–25
–30
–35
符号
读周期
t
RC
t
AA
t
ACS
t
OE
t
OHZ(1)
t
OLZ(1)
t
CLZ(1)
t
CHZ(1)
t
OH
t
PU(1)
t
PD(1)
t
WC
t
WP
t
AS(2)
t
AW
t
CW
t
DW
t
DH(2)
t
WR(2)
t
WHZ(1)
t
OW(1)
参数
分钟。马克斯。
25
0
5
3
0
25
17
3
20
20
15
0
0
2
25
25
12
12
14
25
15
分钟。马克斯。
30
0
5
3
0
30
20
0
25
25
17
0
0
5
30
30
15
12
16
30
15
分钟。马克斯。单位
35
0
5
3
0
35
25
0
30
30
20
0
0
5
35
35
15
15
20
35
15
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
读周期时间
地址访问时间
芯片选择访问时间
输出使能到输出有效
输出禁用输出高阻
输出使能,以在低Z输出
片选在低Z输出
取消芯片输出高-Z
从地址变更输出保持
芯片的选择上电时间
芯片取消掉电时间
写周期时间
把脉冲宽度
地址建立时间
地址有效到结束时的写
芯片选择到结束时的写
数据写入时间重叠
数据保持时间
写恢复时间
写使能在高阻输出
输出从主动结束了,写
写周期
笔记
1.此参数由设计保证,但未经测试。
2. t
AS
=为为0ns
CS
控制的写周期
.
t
DH
, t
WR
=为3纳秒
CS
控制的写周期。
7.11
2675 TBL 10
3
IDT7MB4048
512K ×8 CMOS静态RAM模块
商业级温度范围
读循环中没有时序波形。 1
(1)
t
RC
地址
t
AA
OE
t
OE
t
OH
CS
t
OLZ
t
CLZ
(5)
(5)
t
ACS
t
CHZ
(5)
t
OHZ
(5)
数据
OUT
2675 DRW 06
读循环中没有时序波形。 2
(1, 2, 4)
t
RC
地址
t
AA
t
OH
数据
OUT
t
OH
2675 DRW 07
读周期3号的时序波形
(1, 3, 4)
CS
t
ACS
t
CLZ
数据
OUT
(5)
t
CHZ
(5)
2675 DRW 08
注意事项:
1.
WE
为高的读周期。
2.设备被连续地选择
CS
= V
IL
.
3.地址有效之前或与重合
CS
变为低电平。
4.
OE
= V
IL
.
5.转换测量
±200mV
从稳定状态。此参数由设计保证,但未经测试。
7.11
4
IDT7MB4048
512K ×8 CMOS静态RAM模块
商业级温度范围
时序波形写周期NO 。 1 (
WE
控制时序)
(1, 2, 3, 7)
t
WC
地址
OE
t
AW
CS
t
AS
t
WP
(7)
t
WR
WE
t
WHZ
t
OHZ
数据
OUT
(4)
(6)
(6)
t
OHZ
t
OW ( 6 )
(4)
(6)
t
DH
t
DW
数据
IN
数据有效
2675 DRW 09
时序波形写周期NO 。 2 (
CS
控制时序)
(1, 2, 3, 5)
t
WC
地址
t
AW
CS
t
AS
t
CW
t
WR
WE
t
DW
数据
IN
数据有效
2675 DRW 10
t
DH
注意事项:
1.
WE
or
CS
必须在所有的地址转换为高。
2.在重叠( T A写操作
WP
)低
CS
和一个低
WE
.
3. t
WR
是从较早的测量
CS
or
WE
变高到写周期的结束。
4.在此期间, I / O引脚处于输出状态,并且输入信号必须不被应用。
5.如果
CS
同时发生或之后的低的跳变
WE
低跳变时,输出保持在高阻抗状态。
6.转换测量
±200mV
从稳态具有5pF的负载(包括范围和夹具) 。此参数由设计保证,但未经测试。
7.如果
OE
为低电平期间
WE
控制的写入周期中,写入脉冲宽度必须吨的大
WP
或(T
WHZ
+ t
DW
),允许I / O驱动程序,关闭和数据
被放置在总线上用于所需吨
DW
。如果
OE
是在一个高
WE
控制的写周期,这一要求并不适用,写脉冲可
短至指定吨
WP
.
7.11
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联系人:刘先生
地址:海淀区增光路27号院增光佳苑2号楼1单元1102室
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