IDT49C460/A/B/C/D/E
32位CMOS错误检测和纠正单位
军用和商用温度范围
引脚说明
引脚名称
数据
0–31
CB
0–7
LE
IN
I / O
I / O
I
I
描述
32个双向数据线提供输入到数据输入锁存器和诊断锁定，并获得输出
数据输出锁存器。数据
0
为LSB数据
31
是MSB。
八校验位输入线输入校验比特进行差错检测，并也可用于输入校正子位为错误
校正中的64位应用程序。
锁存使能是数据输入锁存器。控制锁存输入数据。数据输入锁存器和校验位输入
锁存器锁存到之前的状态低时。当高，数据输入锁存和校验位输入锁存
按照输入数据和输入校验比特。
一个多功能引脚其中，低的时候，是校验位生成模式。在这种模式下，设备生成的
校验位或GENERATE针对在数据输入锁存器中的数据部分的校验比特。生成的校验位
被放置在SC上输出。此外，在低的时候，将数据输出锁存器锁存到以前的状态。
高电平时，该设备是在检测或修正模式。在此模式中，设备检测单个和多个
错误和生成基于数据输入锁存器的内容综合征位和校验位输入锁存器。
在修正模式，单比特错误也被自动校正，校正后的数据被放置在
的数据输出锁存输入。该综合征的结果被放置在SC的输出，并且指示在一个编码形式
错误的数量和具体的位中误差。当高电平时，数据输出锁存如下的输出
数据输入锁存器作为改性通过校正逻辑网络。在修正模式，单个位错误是由校正
被装入到该数据输出锁存之前的网络。在检测模式下，数据输入锁存器中的内容
是通过校正网络改变到数据输出锁存器。数据输出锁存器是
残疾人，其内容不变，如果EDC是在生成模式。
SC
0–7
O
综合症检查位输出。 8个输出端保持校验位和部分校验位时， EDC是
生成模式，并会保持综合征/分综合征位时，该设备在检测或纠正
模式。都是三态输出。
输出使能综合征校验位。在HIGH状态时，SC输出处于高阻抗状态。
低电平时，所有的SC输出线启用。
在检测或修正模式，此输出将变低，如果一个或多个数据或校验位包含一个错误。当
高，没有错误被检测到。该引脚强制为高，在生成模式。
在检测或修正模式，此输出将变低，如果已检测到两个或两个以上比特错误。高水平
表示一个或没有错误被检测到。该引脚强制为高，在生成模式。
正确的输入端，高电平时，允许校正网络来校正在数据输入的任何单个位错误
锁存器（通过补充位中误差）把球送入数据输出锁存器之前。低电平时，器件将
直接从数据输入驱动器的数据锁存到数据输出锁存器而不进行校正。
输出使能，字节0 ， 1，2， 3，数据输出锁存器。控制三态输出缓冲器的每个四
字节的数据输出锁存器。当低，它们使数据输出锁存器的输出缓冲区。当高，
他们迫使数据输出锁存缓冲器进入高阻抗模式。的数据输出锁存一个字节
通过分别选择四个使能线容易激活。
选择正确的诊断方式。它们控制的EDC的初始化，诊断，正常运行。
这两个码识别输入识别要处理的总的数据字的大小。这两个允许
数据字长为32位和64位以及它们各自的改良汉明码指定32/39和
64/72 。特码号
1,0
输入01也被用来指示EDC的信号代码编号
1,0
， DIAG MODE
1,0
和正确的是对取自诊断锁定，而不是从输入控制线路。
这是锁存使能为诊断锁定。高电平时，诊断锁定遵循的32位数据
输入线。当低，诊断锁存器的输出被锁存到以前的状态。诊断
锁存器保持诊断校验位和内部控制信号的ID码
1,0
， DIAG MODE
1,0
和正确的。
2584 TBL 01
LE
OUT
/
生成
OE
SC
错误
MULT
错误
正确
I
O
O
I
OE
字节
0–3
I
DIAG
模式
1,0
ID CODE
1,0
I
I
LE
DIAG
I
11.6
5
QQ：2880707522 复制
