IC275系列
（测试接触器）
通孔 - 弹簧探针接触形式
特定网络阳离子
1,000M
W
分钟。在100V DC
绝缘电阻：
耐电压： 100V AC ，1分钟
接触电阻：
200m
W
最大。可达10mA / 20mV的最大值。
工作温度范围： -30 ° C至+ 100°C
产品型号
（详细内容）
IC275
系列号
-
048 49
联系针脚数
材料及表面处理
外壳：聚醚砜（ PES ） ，玻璃填充和
聚醚酰亚胺（ PEI ） ，玻璃类网络LLED
联系方式：铍铜（铍铜）
电镀：镀金镍
设计号
订购流程
注意：
每个测试接触器插座是定制的。
特点
í
开顶处理器插槽类型为LGA / BGA / CSP封装
í
在TH弹簧探针接触
í
人口减少可用的版本
客户必须指定的数量
触针，间距要求，所有的设备
参数和任何其他特殊要求。
最终的零件号码将被确定
由山一。
插座/处理程序库（盖可选）
插座横截面
产品型号
IC275-04833
IC275-04849
IC275-05450
IC275-38828
引脚数
48
48
48
388
沥青
0.75
0.75
0.75
1.27
网格尺寸
6x8
6x8
6x8
26 x 26
IC车身尺寸
6.0 x 8.0
6.94 x 14.40
6.5 x 6.5
35.0 x 30.0
包
TYPE
CSP
BGA
BGA
BGA
E-10
测试&老化测试
规格可随时更改，恕不另行通知 - IN毫米尺寸
IC274系列
（测试接触器）
SMT - 弹簧探针接触形式
特定网络阳离子
1M
W
分钟。在500V DC
绝缘电阻：
耐电压： 100V AC ，1分钟
接触电阻：
200m
W
最大。可达10mA / 20mV的最大值。
工作温度范围： -40 ° C至+ 100°C
触点压力：
每针15克 80克
产品型号
（详细内容）
IC274
-
119 01
系列号
联系针脚数
设计号
材料及表面处理
外壳：聚醚砜（ PES ） ，玻璃填充和
聚醚酰亚胺（ PEI ） ，玻璃类网络LLED
联系方式：铍铜（铍铜）
电镀：镀金镍
特点
í
开顶处理器插槽类型为LGA / BGA / CSP封装
í
在SMT弹簧探针接触
í
人口减少可用的版本
插座/处理器基地
插座/处理器底座与盖
51.50±0.05
11.00
0.50±0.05
0.50±0.05
11.00
47.00
SECTION A - A
DETAIL 'B'
13.30
规格可随时更改，恕不另行通知 - IN毫米尺寸
测试&老化测试
E-11
IC275系列
（测试接触器）
通孔 - 弹簧探针接触形式
特定网络阳离子
1,000M
W
分钟。在100V DC
绝缘电阻：
耐电压： 100V AC ，1分钟
接触电阻：
200m
W
最大。可达10mA / 20mV的最大值。
工作温度范围： -30 ° C至+ 100°C
产品型号
（详细内容）
IC275
系列号
-
048 49
联系针脚数
材料及表面处理
外壳：聚醚砜（ PES ） ，玻璃填充和
聚醚酰亚胺（ PEI ） ，玻璃类网络LLED
联系方式：铍铜（铍铜）
电镀：镀金镍
设计号
订购流程
注意：
每个测试接触器插座是定制的。
特点
í
开顶处理器插槽类型为LGA / BGA / CSP封装
í
在TH弹簧探针接触
í
人口减少可用的版本
客户必须指定的数量
触针，间距要求，所有的设备
参数和任何其他特殊要求。
最终的零件号码将被确定
由山一。
插座/处理程序库（盖可选）
插座横截面
产品型号
IC275-04833
IC275-04849
IC275-05450
IC275-38828
引脚数
48
48
48
388
沥青
0.75
0.75
0.75
1.27
网格尺寸
6x8
6x8
6x8
26 x 26
IC车身尺寸
6.0 x 8.0
6.94 x 14.40
6.5 x 6.5
35.0 x 30.0
包
TYPE
CSP
BGA
BGA
BGA
E-10
测试&老化测试
规格可随时更改，恕不另行通知 - IN毫米尺寸
IC274系列
（测试接触器）
SMT - 弹簧探针接触形式
特定网络阳离子
1M
W
分钟。在500V DC
绝缘电阻：
耐电压： 100V AC ，1分钟
接触电阻：
200m
W
最大。可达10mA / 20mV的最大值。
工作温度范围： -40 ° C至+ 100°C
触点压力：
每针15克 80克
产品型号
（详细内容）
IC274
-
119 01
系列号
联系针脚数
设计号
材料及表面处理
外壳：聚醚砜（ PES ） ，玻璃填充和
聚醚酰亚胺（ PEI ） ，玻璃类网络LLED
联系方式：铍铜（铍铜）
电镀：镀金镍
特点
í
开顶处理器插槽类型为LGA / BGA / CSP封装
í
在SMT弹簧探针接触
í
人口减少可用的版本
插座/处理器基地
插座/处理器底座与盖
51.50±0.05
11.00
0.50±0.05
0.50±0.05
11.00
47.00
SECTION A - A
DETAIL 'B'
13.30
规格可随时更改，恕不另行通知 - IN毫米尺寸
测试&老化测试
E-11
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