HY27US ( 08/16 ) 121A系列
HY27SS ( 08/16 ) 121A系列
512Mbit的( 64Mx8bit / 32Mx16bit )NAND闪存
文档标题
512Mbit的( 64Mx8bit / 32Mx16bit )NAND闪存
修订历史
调整
号
0.0
最初的草案。
历史
草案日期
2004年9月
备注
初步
0.1
1 )正确的零件号(更改模式)
- 2A 1A -> (顺序排写着:禁止->启用)
2 )正确Table.5 &表12
- 正确的命令集
- 正确的交流时序特性( TWP : 40 ->为25ns ,雷公藤: 20 ->15ns )
3 )正确的摘要说明& page.7
- 缓存功能是在总结说明删除。
10月22日2004年
- 注3将被删除。 ( page.7 )
4 )使用CE不在乎(页面添加系统接口。 38 )
5 )变更TSOP1 , WSOP1 , FBGA封装尺寸&数字。
- 改变TSOP1 , WSOP1 , FBGA封装机械数据
- 改变TSOP1 , WSOP封装的数字
6 )正确TSOP1 , WSOP1引脚配置
- 第38届NC表示已更改Lockpre (图2,3 )
7 )加入坏块管理
1) LOCKPRE改变为PRE
- 文本,表格和数字,被改变。
2 )修改命令集
- 读A ,B更改为是Read1 。
- 读取C变化到Read2则。
3 )改变AC, DC特性的影响
初步
0.2
- TRB , tCRY , tCEH和TOH加入。
4 )正确的程序时间(最大值)
- 前: 700us
- 后
: 500US
5 )编辑数字
- 地址名称更改。
6 )改变FBGA封装尺寸
- FD1 : 1.70 (前) -> 0.90 (后)
三月08. 2005年初步
修订版1.3 / 2006年6月
1
HY27US ( 08/16 ) 121A系列
HY27SS ( 08/16 ) 121A系列
512Mbit的( 64Mx8bit / 32Mx16bit )NAND闪存
修订历史
调整
号
历史
1 )改变AC特性( 1.8V器件)
TRC
前
后
50
60
激进党
25
40
tREH定义
15
20
TWC
50
60
TWP
25
40
亿千瓦时
15
20
TREA
30
40
- 续
草案日期
备注
2 )改变AC参数
0.3
前
后
tCRY(3.3V)
50+tr(R/B#)
60+tr(R/B#)
tCRY(1.8V)
50+tr(R/B#)
80+tr(R/B#)
TOH
15
10
七月08 2005
初步
3 )变更图20,22
4 )添加读取ID表
5 )变更PAD配置
- GND改变为VSS。
6 )添加标识信息
1 )测试条件我
CC1
工作电流进行校正。
tCRY(3.3V)
前
0.4
t
RC
=50ns,
CE#
V
IL
,
I
OUT
=0mA
t
RC
(1.8V=60ns,
3.3V=50ns)
CE#
V
IL
,
I
OUT
=0mA
七月15, 2005
初步
后
修订版1.3 / 2006年6月
2
HY27US ( 08/16 ) 121A系列
HY27SS ( 08/16 ) 121A系列
512Mbit的( 64Mx8bit / 32Mx16bit )NAND闪存
修订历史
调整
号
历史
1)试验条件进行校正。
测试条件(
I
CC1)
前
测试条件(
I
李,
I
LO
)
VIN = VOUT = 0 3.6V
- 续
草案日期
备注
t
RC
=50ns
,
CE#
V
IL
,
I
OUT
=
0mA
t
RC
(1.8V=60ns,
3.3V=50ns)
CE#
V
IL
,
I
OUT
=
0mA
0.5
后
VIN = VOUT = ( 1.8V , 0至1.95V )
= ( 3.3V , 0至3.6V )
七月20, 2005
初步
2 )改变VIL参数(最大)
1.8V
前
后
0.2xVcc
0.4
3.3V
0.2xVcc
0.8
1 )修正测试条件( DC特性表)
测试条件(
I
李,
I
LO
)
前
VIN = VOUT = ( 1.8V , 0至1.95V )
= ( 3.3V , 0至3.6V )
VIN = VOUT = 0到Vcc (最大)
0.6
后
七月22, 2005
初步
2 )改变AC条件表
3 )加入TWW参数( TWW = 100ns内,分)
- 文本&数字相加。
- TWW在AC时序特性表增加。
1 )编辑复制返回编程操作步骤
2 )使用CE不在乎图编辑系统接口。
3 )改变AC特性( 3.3V器件)
0.7
前
后
激进党
30
25
TREA
35
30
八月01. 2005年
初步
4 )正确的地址周期地图。
1 )正确的PKG尺寸( TSOP , USOP PKG )
CP
0.8
前
后
0.9
0.050
0.100
十一月07. 2005年
初步
8月29日2005年
初步
1 )正确USOP的身影。
修订版1.3 / 2006年6月
3
HY27US ( 08/16 ) 121A系列
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512Mbit的( 64Mx8bit / 32Mx16bit )NAND闪存
修订历史
调整
号
1.0
1.1
1.2
1 )初步DELET 。
1 )正确的数字32 。
1 )添加ECC算法。 ( 1位/ 512字节)
2 )正确读取ID命名
1 )改变AC参数
tWHR
- 续
历史
草案日期
十一月08. 2005年
二月06. 2006年
五月。 09. 2006年
备注
1.3
前
后
60纳秒
50纳秒
六月20, 2006
修订版1.3 / 2006年6月
4
HY27US ( 08/16 ) 121A系列
HY27SS ( 08/16 ) 121A系列
512Mbit的( 64Mx8bit / 32Mx16bit )NAND闪存
功能摘要
高密度NAND闪存
- 成本效益的解决方案,为大容量存储的应用
NAND接口
- x8或x16总线宽度。
- 复用的地址/数据
- 适用于所有密度引脚兼容
快速块擦除
- 块擦除时间: 2毫秒(典型值)
状态寄存器
电子签名
- 第一个周期:制造商代码
- 第二个周期:设备代码
电源电压
- 3.3V器件: VCC = 2.7 3.6V
: HY27USXX121A
CHIP ENABLE DO NOT CARE
- 简单的接口与微控制器
自动翻页0阅读POWER- UP选项
- 从NAND引导支持
- 自动记忆下载
序列号选项
硬件数据保护
- 在电源转换编程/擦除锁定
数据完整性
- 100,000编程/擦除周期
(有1位/ 512byte的ECC )
- 10年的数据保留
包
- HY27 ( U / S) S( 08/16 ) 121A -T ( P)
: 48引脚TSOP1 ( 12 ×20 ×1.2 MM)
- HY27 ( U / S) S( 08/16 ) 121A -T (铅)
- HY27 ( U / S) S( 08/16 ) 121A -TP (无铅)
- HY27 ( U / S) S( 08/16 ) 121A -S ( P)
: 48引脚USOP1 ( 12 ×17× 0.65毫米)
- HY27 ( U / S) S( 08/16 ) 121A -S (主承销商)
- HY27 ( U / S) S( 08/16 ) 121A -SP (无铅)
- HY27 ( U / S) S( 08/16 ) 121A -F ( P)
: 63球FBGA ( 9 ×11 ×1.0 MM)
- HY27 ( U / S) S( 08/16 ) 121A -F (主承销商)
- HY27 ( U / S) S( 08/16 ) 121A -FP (无铅)
- 1.8V器件: VCC = 1.7 1.95V : HY27SSXX121A
存储单元阵列
= ( 512 + 16 )字节×32页X 4096块
= ( 256 + 8 )字× 32页X 4096块
PAGE SIZE
- X8装置: ( 512 + 16备用)字节
: HY27 ( U / S) S08121A
- X16设备: ( 256 + 8备用)词
: HY27 ( U / S) S16121A
BLOCK SIZE
- X8设备: ( 16K + 512备用)字节
- X16设备: ( 8K + 256备用)词
PAGE读取/编程
- 随机访问: 3.3V : 12us (最大)
1.8V : 15US (最大)
- 顺序存取: 3.3V器件:为50ns (分钟)
1.8V器件:为60ns (分钟)
- 页编程时间: 200us的(典型值)。
复制回编程模式
- 快速页复印,无需外部缓冲
修订版1.3 / 2006年6月
5