日期: 2002年10月4日
日立半导体技术更新
分类
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内存
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TN-M62-112A/E
规格变化
文件的补充
使用限制
变化面膜
改变生产线
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1
主题
SRAM :使用注意事项
LOT号
产品
名字
所有的4 - Mbit的速度快
SRAM C-面膜
制品
所有批次
参考
文件
日立IC存储器数据表
ADE-203-1196B(Z)/1198B(Z)/1199B(Z)/
1200C(Z)/1294D(Z)/1202C(Z)/1263A(Z)
/1283A(Z)/1304A(Z)/1305A(Z)
生效日期
永久
由于SRAM产品崛起的运行速度,保证了各种设计裕度越来越
难。因此,存在噪声的从输入信号或电源的可能性增加
线作为一个障碍的SRAM产品的正常运行。为了避免故障的4兆位
快速SRAM (C面罩)产品时,请注意以下几点。
1.公告
在执行写与 - 验证与一个4M比特的快速SRAM (C-掩模)的产品操作,不正确的数据
由于噪声可以被读等,即使当数据已经被正确写入(参见图1和注
1) 。不会出现这个问题有进一步的读操作。如果您有类型的问题
描述或您的项目可能会受到此类问题,请点下面的相应
对策。
2.对策
请申请对策( 1 )和( 2 )根据您的具体情况如下。
( 1)避免在同一周期中,因为下面的写操作执行所读取的验证。验证
输入地址或开关/ CS信号后写入的数据。
(2 )请确认您的设计不会受到因变形或倾斜的不良影响
嚣的输入波形(图2)。确定在DIN数据后,驱动器/ WE低(写) (见图3 ) 。
添加
/ CS
/ OE
/ WE
DIN
STRB
读操作
电压
/D
D
固定到一个低电平
*1:
写校验:当数据写入在同
地址周期中,执行数据读取操作。
输入阈值电压
图1.写时序验证
/ WE
DIN
/D
D
经过DIN数据
确定,驱动/ WE低。
输入波形的失真
图3写校验时序(应用对策)
喧嚣的波形偏斜
时间
图2锭输入波形
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