HI- 8685 ， HI- 8686
2006年9月
ARINC接口设备
ARINC 429 & 561串行数据转换为16位并行数据
销刀豆网络gurations
（ TOP VIEW ）
DATARDY
D15
D14
D13
D12
D11
D10
D9
D8
D7
D6
D5
D4
GND
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
28
27
26
25
24
VCC
GAPCLK
特斯塔
TESTB
RESET
RINB （ -10 ）
RINA （ -10 ）
错误
奇偶ENB
读
D0
D1
D2
D3
描述
在HI- 8685和HI- 8686顷系统组件
对接收到的ARINC-429信号转换为16位并行
使用经过验证的+ 5V模拟/数字CMOS工艺的数据。
这两款产品集成了数字逻辑和模拟线路
接收器电路，在一个单一的设备。
在HI- 8685的接收器和HI- 8686连接
直接到ARINC-429总线和翻译传入
信号正常CMOS电平。内部比较器电平
被设定略低于标准6.5伏的最小数据
阈值和略高于标准2.5伏最大空
门槛。 -10版的HI- 8685的使
外部10K的结合
W
串联电阻
每个ARINC输入防雷不影响
ARINC水平检测。
这两种产品都提供了高速16位并行总线接口，
一个32位缓冲器，以及错误检测字长度和奇偶校验。
复位引脚还提供了上电初始化。
HI-8685PSI
23
HI-8685PST
22
＆放大器;
21
HI-8685PSI-10
HI-8685PST-10
20
19
18
17
16
15
特点
!
自动转换序列ARINC 429 ， 575 &
561数据转换为16位并行数据
HI-8685
28引脚塑料SOIC - WB封装
29 - DATARDY
27 - GAPCLK
!
!
!
!
!
!
!
错误检测 - 字长度和奇偶校验
复位输入上电初始化
片上线接收器
中的至少2伏输入滞后
测试lnputs绕过模拟输入
简化的防雷与能力
加10千欧的外部串联电阻
SOIC ， TQFP和PLCC
N / C - 1
D12 - 2
D11 - 3
D10 - 4
D9 - 5
D8 - 6
D7 - 7
D6 - 8
28 - Vcc的
高速并行的16位数据总线
25 - TESTB
26 - 种皮
32 - D13
31 - D14
30 - D15
24 - RESET
23 - RINB - 10
22 - RINB
21 - RINA
20 - RINA - 10
19 - 错误
18 - 奇偶校验ENB
17 - N / C
HI-8686PQI
HI-8686PQT
!
小型，表面贴装塑料封装选项：
!
军事领域可用
D4 - 10
D3 - 12
D2 - 13
D1 - 14
D0 - 15
应用
!
航空电子设备的数据通信
!
串行到并行转换
!
并行到串行转换
HI-8686
32引脚封装PlasticTQFP
（额外的引脚配置，请参阅第8页）
（ Ds8685修订版L）
HOLT集成电路
www.holtic.com
阅读 - 16
GND - 11
D5 - 9
09/06
HI- 8685 ， HI- 8686
引脚说明
信号
数据RDY
D0到D15
GND
读
奇偶ENB
错误
功能
产量
产量
动力
输入
输入
产量
描述
接收数据准备好标志。高电平表示数据是在接收可用
缓冲区。标志变为低电平时，第一个16位字节被读出。
16位并行数据总线（三态）
0V
读选通。低水平的传输接收缓冲器中的数据到数据总线
奇偶启用 - 高水平的激活奇数奇偶校验，以取代
第32 ARINC位有错误位。否则，第32 ARINC位不变
错误标志。高电平表示一个比特计数误差（ ARINC-位数是
小于或大于32 ）和/或奇偶校验错误，如果已启用奇偶校验检测
（奇偶校验ENB高）
正直接ARINC串行数据输入（包括RINA和RINA - 10 HI- 8686 ）
负直接ARINC串行数据输入（包括RINB和RINB - 10的HI- 8686 ）
内部逻辑状态都与一个低电平初始化
用于与TESTB输入结合使用，以绕过内置的模拟线路
接收器电路
用于与种皮输入结合使用，以绕过内置的模拟线路
接收器电路
差距时钟。确定用于ARINC字之间所需的最小时间
检测。最小的字间隔时间为16至17个时钟周期
这个信号。
+ 5V ± 5 ％电源
RINA/RINA-10
RINB/RINB-10
RESET
特斯塔
TESTB
GAPCLK
输入
输入
输入
输入
输入
输入
VCC
动力
功能说明
在HI- 8685和HI- 8686顷串行16位并行CON-
变流器。输入的数据流串行地移入一个
输入寄存器，进行错误检查，然后在杆转
等位基因到一个32位的接收缓冲区。接收的数据可以AC-
cessed使用两个16位并行读操作，而
正在接收一个串行数据蒸汽。
接收器输入端
同时为HI- 8685和HI- 8685-10框图
产品是在图1中有两个内置的接收器
无需额外的外部的ARINC水平DE-
tection电路。两个的精良的唯一区别
UCTS是串联的每个内部电阻的量
ARINC输入。
HI- 8685 ARINC输入（ RINA & RINB ）
翻译，所述缓冲输入驱动一差分放大器。
所述差分信号进行比较，以从来自水平
VCC和GND之间的分隔。标称设置cor-
至6.0V的单/零振幅和一个空的扩增反应
突地为3.3V 。有效的ARINC一/零输入设置一个锁存器和
一个空的输入口，复位锁存器。
HI- 8685-10 ARINC输入（ RINA - 10 & RINB - 10 ）
因为任何添加的外部串联电阻，会影响
电压转换，在HI- 8685-10产品只有25K
W
在35K的
W
需要进行适当的ARINC串联电阻
429电平检测。剩下的10K
W
需要的是可用
能够在外部电路用于结合用户如
防雷。
HI- 8686 ARINC INPUTS
内置35K
W
电阻器是串联的两个RINA和
RINB ARINC 429的输入。它们连接到电平转换器
他们到GND电阻通常为10K
W.
后级
在HI- 8686拥有两套ARINC投入， RINA / RINA - 10
和RINB / RINB -10提供给用户。
HOLT集成电路
2
HI- 8685 ， HI- 8686
奇偶
ENB
CLK
奇偶
检测
10KW
25KW
ESD
保护
＆放大器;
LINE
接收器
RXA
错误
检测
错误
RINA
RINB
10KW
25KW
RXB
时钟
＆放大器;
数据
检测
32位
32位
数据
32-BIT
移
注册。
32
32-BIT
接收32
卜FF器
32-BIT
TO
16位16
MUX
D0 - D15
RINA-10
RINB-10
特斯塔
TESTB
位
算
GAP
检测
字节
算
数据RDY
GAPCLK
RESET
读
图1.框图
功能说明（续）
协议检测
该ARINC时钟和一个/零数据都源于
内置的线路接收器的数字输出被示于
图3的数字数据的所得到的蒸汽被移入一个
32比特的输入寄存器。
该ARINC-时钟和单/零数据也可以被创建
从种皮和TESTB输入，如图4所示。
当任一测试输入为高时，内置的模拟线路驱动器
被禁用。
对于ARINC 561的操作，种皮和TESTB数字输入
放数据流必须从该ARINC- 561数据导出的，
时钟和同步信号与外部逻辑。
数据总线
TYPE
429
位周期
(s)
10
最小间隙
(s)
45
GAP时钟
兆赫
0.75
1.0
1.5
0.1
0.1
0.2
间隙检测
时间（μs ）
21.3 - 22.7
16 - 17
10.7 - 11.3
160 - 170
160 - 170
80 - 85
间隙检测
一个数据字的结束是由一个内部计数器检测出
当对于一个没有接收超时一个数据的一个或零
周期等于GAPCLK信号的16个周期。差距
检测时间可能会有所不同的16至17个周期
GAPCLK信号由于输入数据和GAPCLK是
通常不会同步输入。所要求的频率
GAPCLK是对于指定的最低限度的间隙时间的函数
被接收的ARINC-数据的类型。表1表示
可使用的各种数据的典型的频率
利率通常会遇到的。
429
575
561
69 - 133
69 - 133
69 - 133
310 - 599
310 - 599
103 - 200
表1 - 典型的间隙检测时报
HOLT集成电路
3
HI- 8685 ， HI- 8686
2001年2月
ARINC接口设备
ARINC 429 & 561串行数据转换为16位并行数据
销刀豆网络gurations
（ TOP VIEW ）
DATARDY
D15
D14
D13
D12
D11
D10
D9
D8
D7
D6
D5
D4
GND
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
28
27
26
25
24
VCC
GAPCLK
特斯塔
TESTB
RESET
RINB （ -10 ）
RINA （ -10 ）
错误
奇偶ENB
读
D0
D1
D2
D3
描述
在HI- 8685和HI- 8686顷系统组件
对接收到的ARINC-429信号转换为16位并行
使用经过验证的+ 5V模拟/数字CMOS工艺的数据。
这两款产品集成了数字逻辑和模拟线路
接收器电路，在一个单一的设备。
在HI- 8685的接收器和HI- 8686连接
直接到ARINC-429总线和翻译传入
信号正常CMOS电平。内部比较器电平
被设定略低于标准6.5伏的最小数据
阈值和略高于标准2.5伏最大空
门槛。 -10版的HI- 8685的使
外部10K的结合
串联电阻
每个ARINC输入防雷不影响
ARINC水平检测。
这两种产品都提供了高速16位并行总线接口，
一个32位缓冲器，以及错误检测字长度和奇偶校验。
复位引脚还提供了上电初始化。
HI-8685PSI
23
HI-8685PST
22
＆放大器;
21
HI-8685PSI-10
HI-8685PST-10
20
19
18
17
16
15
特点
!
自动转换序列ARINC 429 ， 575 &
561数据转换为16位并行数据
HI-8685
28引脚塑料SOIC - WB封装
!
高速并行的16位数据总线
!
错误检测 - 字长度和奇偶校验
!
复位输入上电初始化
!
片上线接收器
!
中的至少2伏输入滞后
!
测试lnputs绕过模拟输入
!
简体防雷与补充的能力
10千欧的外部串联电阻
SOIC ， TQFP和PLCC
N / C - 1
D12 - 2
D11 - 3
D10 - 4
D9 - 5
D8 - 6
D7 - 7
D6 - 8
24 - RESET
23 - RINB - 10
22 - RINB
21 - RINA
20 - RINA - 10
19 - 错误
18 - 奇偶校验ENB
17 - N / C
HI-8686PQI
HI-8686PQT
!
小型，表面贴装塑料封装选项：
!
军事领域可用
HI-8686
32引脚封装PlasticTQFP
（额外的引脚配置，请参阅第8页）
（ DS8685修订版G）
HOLT集成电路
1
02/01
HI- 8685 ， HI- 8686
引脚说明
信号
数据RDY
D0到D15
GND
读
奇偶ENB
错误
功能
产量
产量
动力
输入
输入
产量
描述
接收数据准备好标志。高电平表示数据是在接收可用
缓冲区。标志变为低电平时，第一个16位字节被读出。
16位并行数据总线（三态）
0V
读选通。低水平的传输接收缓冲器中的数据到数据总线
奇偶启用 - 高水平的激活奇数奇偶校验，以取代
第32 ARINC位有错误位。否则，第32 ARINC位不变
错误标志。高电平表示一个比特计数误差（ ARINC-位数是
小于或大于32 ）和/或奇偶校验错误，如果已启用奇偶校验检测
（奇偶校验ENB高）
正直接ARINC串行数据输入（包括RINA和RINA - 10 HI- 8686 ）
负直接ARINC串行数据输入（包括RINB和RINB - 10的HI- 8686 ）
内部逻辑状态都与一个低电平初始化
用于与TESTB输入结合使用，以绕过内置的模拟线路
接收器电路
用于与种皮输入结合使用，以绕过内置的模拟线路
接收器电路
差距时钟。确定用于ARINC字之间所需的最小时间
检测。最小的字间隔时间为16至17个时钟周期
这个信号。
+ 5V ± 10 ％电源
RINA/RINA-10
RINB/RINB-10
RESET
特斯塔
TESTB
GAPCLK
输入
输入
输入
输入
输入
输入
VCC
动力
功能说明
在HI- 8685和HI- 8686顷串行16位并行变流
ERS 。输入的数据流串行地移位到一个输入
寄存器，进行错误检查，然后在平行传送到
一个32位的接收缓冲区。接收数据可被访问US-
荷兰国际集团两个16位并行读取操作，而在下一个串行
正在接收的数据的蒸汽。
接收器输入端
同时为HI- 8685和框图的HI- 8685-10的精良
UCTS在图1中有两个内置的接收器消除
内廷需要额外的外部的ARINC电平检测
电路。这两种产品之间的唯一区别是
内部电阻的串联数量与每个ARINC- IN-
放。
HI- 8685 ARINC输入（ RINA & RINB ）
通常， 35K
电阻器是串联的两个RINA和
RINB ARINC 429的输入。它们连接到电平转换器
他们到GND电阻通常为10K
.
级传输后
LATION ，所述缓冲输入驱动一差分放大器。该
差分信号与从分频器来自水平
与VCC和GND 。标称设置对应
一个一/零幅度6.0V和3.3V的空幅度。一
有效的ARINC一/零输入设置一个锁存器和一个空重新输入
设置锁存器。
HI- 8685-10 ARINC输入（ RINA - 10 & RINB - 10 ）
由于添加任何外部串联电阻，会影响电压
年龄译， HI- 8685-10产品只有25K
of
在35K
需要进行适当的ARINC 429的串联电阻
电平检测。剩下的10K
所需的是提供给
在外部电路，例如用于掺入该用户
防雷保护。
HI- 8686 ARINC INPUTS
在HI- 8686拥有两套ARINC投入， RINA / RINA - 10
和RINB / RINB -10提供给用户。
HOLT集成电路
2
HI- 8685 ， HI- 8686
奇偶
ENB
CLK
奇偶
检测
10K
25K
ESD
保护
＆放大器;
LINE
接收器
RXA
错误
检测
错误
RINA
RINB
10K
25K
RXB
时钟
＆放大器;
数据
检测
32位
32位
数据
32-BIT
移
注册。
32
32-BIT
接收32
卜FF器
32-BIT
TO
16位16
MUX
D0 - D15
RINA-10
RINB-10
特斯塔
TESTB
位
算
GAP
检测
字节
算
数据RDY
GAPCLK
RESET
读
图1.框图
功能说明（续）
协议检测
该ARINC时钟和一个/零数据都源于
内置的线路接收器的数字输出被示于
图3的数字数据的所得到的蒸汽被移入一个
32比特的输入寄存器。
该ARINC-时钟和单/零数据也可以被创建
从种皮和TESTB输入，如图4所示。
当任一测试输入为高时，内置的模拟线路驱动器
被禁用。
对于ARINC 561的操作，种皮和TESTB数字输入
放数据流必须从该ARINC- 561数据导出的，
时钟和同步信号与外部逻辑。
数据总线
TYPE
429
位周期
(
s)
10
最小间隙
(
s)
45
GAP时钟
兆赫
0.75
1.0
1.5
0.1
0.1
0.2
间隙检测
时间（
s)
21.3 - 22.7
16 - 17
10.7 - 11.3
160 - 170
160 - 170
80 - 85
间隙检测
一个数据字的结束是由一个内部计数器检测出
当对于一个没有接收超时一个数据的一个或零
周期等于GAPCLK信号的16个周期。差距
检测时间可能会有所不同的16至17个周期
GAPCLK信号由于输入数据和GAPCLK是
通常不会同步输入。所要求的频率
GAPCLK是对于指定的最低限度的间隙时间的函数
被接收的ARINC-数据的类型。表1表示
可使用的各种数据的典型的频率
利率通常会遇到的。
429
575
561
69 - 133
69 - 133
69 - 133
310 - 599
310 - 599
103 - 200
表1 - 典型的间隙检测时报
HOLT集成电路
3
HI- 8685 ， HI- 8686
功能说明（续）
错误检查
一次一个字间隙被检测，在输入时，该数据字稳压
存器传送给接收缓冲器，并检查ER-
RORS 。
当启用奇偶校验检测（奇偶校验ENB高）时，
接收到的字被选中为奇校验。如果存在一个奇偶
错误，则接收到的数据字的第32位被设置为高。
如果奇偶校验被禁用（奇偶ENB低）第32
该数据字的位始终为ARINC-位接收的第32个。
ERROR标志位输出被置高一接收到字的
因为以前的间隙和比特数接收
字隙小于32. ERROR标志小于或大于
是，当一个有效的ARINC字被写入复位低
接收缓冲区或复位时，低脉冲。
读取接收缓冲
当数据字被传输到接收缓冲器中，该
数据RDY引脚变为高电平。的数据字可以被读
在2个16位字节的通过脉冲READ输入低至indi-
符在图5中第一个读周期复位数据RDY
低，会使内部计数器递增到第二
16位字节。的每个位之间的关系
接收的ARINC字和两个16位数据的每一位
总线的字节中指定在图2中。
当接收到一个新的ARINC字总是覆盖
接收缓冲器。如果前一个字的第一个字节
没有被读出，则先前的数据将丢失，并且在接收
缓冲区将包含新的ARINC字。然而，如果
数据RDY引脚变为第一的读数之间的高
和第二字节，第一个字节不再有效，因为
对应的第二个字节已经覆盖了
新的ARINC字。还有，下一次读取将是第一个的
由于内部字节计数器新的ARINC字字节
总是被重置为第一个字节时，新的数据传输
ferred到接收缓冲区。
读
1st
2nd
字节
1个字节
2字节
数据总线位数
D0 - D15
D0 - D15
ARINC位
ARINC 1 - ARINC 16
ARINC 17 - ARINC 32
接收到的数据图2.订单
RESET
在RESET输入的低电平设置一个触发器用于初始化
内部逻辑。当RESET变为高电平时，内部逻辑重新
电源在初始化状态，直到第一字间隙是DE-
tected防止接收部分字。
测试模式
内置的差分线路接收器可以被禁用，从而允许
直接驱动的数据和时钟检测电路
同的数字信号。逻辑或外种皮的功能
和TESTB在真相表1两组输入可以被定义
用于测试的接收器逻辑和用于输入ARINC
从另一个源/协议来自429的数据类型。看
图4为典型的测试输入定时。
该装置应始终与RESET二份初始化
在进入测试模式之后diately清除部分字
可能已自最后一个字间隙接收。 Oth-
erwise ，可能会出现错误的条件和前32位
在测试输入数据可能不能被正确地接收。
此外，当进入测试模式，既种皮和TESTB
应设置为高，并在这种状态中的至少一个保持
复位后字的间隙期间（ 17缺口时钟）变高。
当退出测试模式下，测试输入要追究
低与复位初始化设备。
真值表1 。
RINA （ -10 ）
-1.50V至+ 1.50V
-3.25V到-6.50V
+ 3.25V至+ 6.50V
X
X
X
X =不关心
HOLT集成电路
4
RINB （ -10 ）
-1.50V至+ 1.50V
+ 3.25V至+ 6.50V
-3.25V到-6.50V
X
X
X
特斯塔
0
0
0
0
1
1
TESTB
0
0
0
1
0
1
RXA
0
0
1
0
1
0
RXB
0
1
0
1
0
0
QQ：2880707522 复制
