AEDR- 8400-140和AEDR- 8400-142
反射式表面贴装光学编码器
可靠性数据表
描述
下面的累积的测试结果已得到
从安华高科技马来西亚进行测试
按照JEDEC标准的最新修订版。
安华在绝对最大额定条件测试部分
系统蒸发散推荐用于该设备。实际perfor-
曼斯您Avago的部分获得依赖于
您的应用程序的电气和环境特性
阳离子但可能比性能更好
在表1中概述。
故障率预测
半导体器件的故障率被确定
通过该装置的结温。的关系
环境由以下给出的船：
T
J
（ ° C） = T
A
(°C) +
q
JA
P
AVG
其中，
T
A
=环境温度下在
°C
q
JA
=结点到环境的热阻
°C/
瓦
P
AVG
=平均功率消耗在瓦
估计平均无故障时间和故障率在温度
比实际应力的温度下，可以决定
通过使用阿伦尼乌斯模型下开采
加速。这种计算的结果示于
以下，使用0.43eV的激活能的表
（参照MIL - HDBK -217 ） 。
表1.寿命试验
性能展示
点典型性能
测试名称
高温
工作寿命
压力测试
条件
V
CC
= 3.0V ，T
A
=85°C,
1500hours
设备总
小时
45,000
单位
经过测试
30
总
失败
0
MTTF
49,180
故障率
（ ％ / 1万小时）
2.03
表2中。
环境
温度
(°C)
85
75
65
55
45
35
25
连接点
温度
(°C)
89.7
79.7
69.7
59.7
49.7
39.7
29.7
点典型性能
[1]
在时间
MTTF
[1]
49,180
72,640
109,800
170,000
270,700
443,800
751,900
故障率
（ ％ / 1K小时）
2.03
1.38
0.91
0.59
0.37
0.23
0.13
在时间性能
[2]
（90％置信度）
MTTF
[2]
19,520
28,840
43,580
67,500
107,400
176,200
298,500
故障率
（ ％ / 1K小时）
5.12
3.47
2.29
1.48
0.93
0.57
0.34
注意事项：
1.点典型的MTTF （代表60％置信水平）是由故障的次数除以该器件总小时。在零的情况下
失败，失败一次假定该计算。
2. 90％置信度的MTTF表示的可靠性性能是由90％的所有样本的预期的最低水平。这种信心
间隔是基于故障的分布的统计数据。失败的假设分布是指数。这种特殊的分布
常用于描述使用寿命故障。
3，失败是灾难性的或参数。灾难性故障是开放的，总之，没有逻辑输出，而参数失效无动力参数
有失败，以满足产品目录，如输出电压，占空比或错误状态指定的电特性。
故障率计算示例
假设一个设备运行8小时/天，5天/周。利用系数，给出168小时/周为：
（ 8小时/天）× / （168小时/周） = 0.25 （ /每周5天）
在55 ° C的环境温度下，每年的点故障率（ 8760小时）是：
（ 0.59 ％ / 1K小时）× 0.25× （ 8760小时/年） =每年1.29 ％
类似地，每年在55℃下90 ％的置信水平的故障率：
（ 1.48 ％ / 1K小时） X 0.25 X（ 8760小时/年） =每年3.24 ％
表3.环境测试
测试名称
温度循环
潮湿高温存储寿命
测试条件
-40 ° C至85°C ， 15分钟的停留时间， 5分钟转让， 1000次
T
A
= 85 ℃， RH = 85 ％后，1000小时
单元测试
30
30
单位失败
0
0
表4.电气测试
测试名称
的ESD人体模型
的ESD机型号
参考
HBM-JESD22-A114D
MM-JESD22-A115-A
测试条件
高达4KV适用于所有引脚对地
高达300V适用于所有引脚对地
单元测试
9
9
单位失败
0
0
表5.机械振动和冲击
测试名称
机械冲击
振动冲击
测试条件
15,20,30g 11毫秒，
在3台垂直轴的每个方向5次完整的冲击
15,25,30g 20-2kHz ， 10次为ACH克的水平。
单元测试
15
15
单位失败
通
通
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AV02-0370EN - 2007年4月27日
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