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HAT1029R
硅P沟道功率MOS FET
高速电源开关
ADE - 208-522 ( Z)
1日。版
1997年5月
特点
低导通电阻
能够2.5 V门极驱动
低驱动电流
高密度安装
概要
SOP–8
8
7
65
3
1 2
7 8
D D
5 6
D D
4
2
G
4
G
S1
S3
1, 3
来源
2, 4
5,6, 7,8排水
MOS1
MOS2
HAT1029R
绝对最大额定值
( TA = 25°C )
漏源极电压
栅极至源极电压
漏电流
漏电流峰值
符号
V
DSS
V
GSS
I
D
I
D(pulse)Note1
PCH
Note2
PCH
Note3
总胆固醇
TSTG
评级
–20
±10
–3.5
–28
–3.5
2
3
150
-55到+150
单位
V
V
A
A
A
W
W
°C
°C
体漏二极管的反向漏电流I
DR
散热通道
散热通道
通道温度
储存温度
注意:
1. PW
为10μs ,占空比
1 %
2. 1驱动器操作:当使用玻璃环氧板( FR4 40 ×40× 1.6毫米) , PW≤ 10秒
3. 2驱动器的操作:当使用玻璃环氧板( FR4 40 ×40× 1.6毫米) , PW≤ 10秒
2
HAT1029R
电气特性
( TA = 25°C )
漏源击穿
电压
栅源击穿
电压
门源漏电流
零门voltege漏电流
门源截止电压
静态漏源导通状态
阻力
正向转移导纳
输入电容
输出电容
反向传输电容
导通延迟时间
上升时间
打开-O FF延迟时间
下降时间
体漏二极管的正向
电压
体漏二极管的反向
恢复时间
注意:
4.脉冲测试
符号
V
( BR ) DSS
V
( BR ) GSS
I
GSS
I
DSS
V
GS ( OFF )
R
DS ( ON)
R
DS ( ON)
|y
fs
|
西塞
科斯
CRSS
t
D(上)
t
r
t
D(关闭)
t
f
V
DF
t
rr
–20
±10
–0.5
3
典型值
0.10
0.16
4.5
465
270
100
14
80
70
80
–0.95
55
最大
±10
–1
–1.5
0.14
0.23
–1.24
单位
V
V
A
A
V
S
pF
pF
pF
ns
ns
ns
ns
V
ns
IF = -3.5A ,V
GS
= 0
Note4
IF = -3.5A ,V
GS
= 0
DIF / DT = 20A / μs的
测试条件
I
D
= -10mA ,V
GS
= 0
I
G
=
±100A,
V
DS
= 0
V
GS
=
±8V,
V
DS
= 0
V
DS
= –20 V, V
GS
= 0
V
DS
= -10V ,我
D
= -1mA
I
D
= -2A ,V
GS
= –4V
Note4
I
D
= -2A ,V
GS
= –2.5V
Note4
I
D
= -2A ,V
DS
= –10V
Note4
V
DS
= –10V
V
GS
= 0
F = 1MHz的
V
GS
= -4V ,我
D
= –2A
V
DD
–10V
3
HAT1029R
主要特点
功率与温度降额
4.0
P沟(W)的
I
D
(A)
测试条件:
当使用玻璃环氧基板
( FR4 40x40x1.6毫米) , PW < 10秒
3.0
–100
–30
–10
–3
–1
PW
DC
Op
e
最高安全工作区
10
s
100
s
1m
=
s
散热通道
漏电流
10
2.0
1
Dr
m
1.0
香港专业教育学院
2
iv
Dr
ra
s
Op
er
at
离子
0
50
100
150
的Ta (℃)
200
环境温度
TA = 25
°C
-0.03 1次脉冲
-0.01 1驱动器操作
–1
–3
–10 –30 –100
–0.1 –0.3
漏极至源极电压V
DS
(V)
注5:
当使用玻璃环氧基板
( FR4 40x40x1.6毫米)
n
(P
-0.3行动
W
N
这个区域是
& LT ;
OTE
10
5
-0.1限制由R
DS ( ON)
s)
TIO
典型的输出特性
–10
–10 V –5 V
–4 V
–3.5 V
–3 V
脉冲测试
(A)
典型的传输特性
–10
e
e
Op
ra
n
TIO
I
D
(A)
–8
–8
–2.5 V
–6
TC = -25
°C
25
°C
75
°C
I
D
漏电流
–2 V
–6
漏电流
–4
–4
–2
V
GS
= –1.5 V
0
–2
–4
–6
漏源极电压
–8
–10
V
DS
(V)
–2
V
DS
= –10 V
脉冲测试
0
–1
–2
–3
栅极至源极电压
–4
–5
V
GS
(V)
4
HAT1029R
漏极至源极饱和电压与
栅极至源极电压
漏极至源极导通电阻
R
DS ( ON)
(
)
–0.5
漏极至源极饱和电压
V
DS ( ON)
(V)
静态漏极至源极通态电阻
与漏电流
1
0.5
0.2
0.1
–4 V
–0.4
–0.3
V
GS
= –2.5 V
–0.2
I
D
= –2 A
–1 A
–0.5 A
–6
–2
–4
栅极至源极电压
–10
V
GS
(V)
–8
0.05
–0.1
0.02
0.01
–0.1 –0.2
0
–0.5 –1 –2
–5
漏电流I
D
(A)
–10
静态漏极至源极通态电阻
R
DS ( ON)
(
)
正向转移导纳| Y
fs
| (S)
静态漏极至源极通态电阻
与温度的关系
0.5
正向转移导纳主场迎战
漏电流
20
10
TC = -25
°C
5
25
°C
75
°C
0.4
I
D
= –2 A
–1 A –0.5 A
0.3
2
1
0.5
0.2
–0.1 –0.2
0.2 V
GS
= –2.5 V
0.1
–4 V
0
–40
–2 A, –1 A, –0.5 A
V
DS
= –10 V
脉冲测试
–0.5 –1 –2
–5
漏电流I
D
(A)
–10
0
40
80
120
160
壳温度( ° C)
5
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