GS840Z18/36AT-180/166/150/100
100引脚TQFP
商用温度
工业级温度
特点
256K ×18和128K ×36配置
用户可配置的管道和流量通过模式
NBT (无总线转左右)功能,允许零等待
读 - 写 - 读总线利用率
引脚完全兼容两种流水线和流过
NtRAM , NOBL 和ZBT SRAM的
有2M , 8M和16M器件引脚兼容
3.3 V +10 % / - 5 %,核心供电
2.5 V或3.3 V的I / O供电
LBO引脚的直线或交错突发模式
字节写操作( 9位字节)
3芯片使能轻松深度扩展信号
时钟控制,注册地址,数据和控制
ZZ引脚自动断电
JEDEC标准的100引脚TQFP封装
无铅100引脚TQFP封装
4MB流水线和流量通过
同步NBT SRAM的
180兆赫, 100兆赫
3.3 V V
DD
2.5 V和3.3 V V
DDQ
因为它是一种同步装置,地址,数据输入,并
读/写控制输入端上捕获的上升沿
输入时钟。突发顺序控制( LBO)必须连接到电源
铁路正常运行。异步输入包括
休眠模式使能( ZZ )和输出使能。输出使能
用于改写输出的同步控制
司机把RAM的输出驱动器关闭,在任何时候。
写周期是内部自定时的由上升开始
在时钟输入的边缘。这个特性消除了复杂的场外
通过异步SRAM芯片所需的写入脉冲的产生
并简化了输入信号的定时。
该GS840Z18 / 36AT可以由用户进行配置
工作在管道或流通方式。操作为
流水线同步装置中,除了在起立边沿
触发寄存器捕获输入信号,该装置
包括一个上升沿触发的输出寄存器。对于读
周期,流水线SRAM的输出数据由暂时存储
的边缘接入周期中触发输出寄存器和
然后释放到输出驱动器的下一次上升边缘
时钟。
该GS840Z18 / 36AT与GSI的实现高
高性能的CMOS技术,是在一个JEDEC-可用
标准的100引脚TQFP封装。
功能说明
该GS840Z18 / 36AT是4Mbit的同步静态SRAM 。
GSI的NBT SRAM的,像ZBT , NtRAM , NOBL或其他
流水线的读/双晚写或流经读/单
后期写的SRAM ,允许使用所有可用总线
带宽不再需要插入取消选择周期
当设备从切换的读写周期。
参数简介
管道
3-1-1-1
溢流
通过
2-1-1-1
TCYCLE
t
KQ
I
DD
t
KQ
TCYCLE
I
DD
–180
5.5纳秒
3.2纳秒
335毫安
8纳秒
9.1纳秒
210毫安
–166
6.0纳秒
3.5纳秒
310毫安
8.5纳秒
10纳秒
190毫安
–150
6.6纳秒
3.8纳秒
280毫安
10纳秒
12纳秒
165毫安
–100
10纳秒
4.5纳秒
190毫安
12纳秒
15纳秒
135毫安
冯: 1.03 11/2004
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2001年, GSI技术
规格援引如有更改,恕不另行通知。对于最新的文档,请参见http://www.gsitechnology.com 。
GS840Z18/36AT-180/166/150/100
GS840Z18AT引脚(包T)
V
DDQ
V
SS
NC
NC
DQ
B
DQ
B
V
SS
V
DDQ
DQ
B
DQ
B
FT
V
DD
V
DD
V
SS
DQ
B
DQ
B
V
DDQ
V
SS
DQ
B
DQ
B
DQP
B
NC
V
SS
V
DDQ
NC
NC
NC
NC
NC
NC
100 99 98 97 96 95 94 93 92 91 90 89 88 87 86 85 84 83 82 81
1
80
2
79
3
78
4
77
5
76
6
75
7
74
8
73
9
72
256K ×18
10
71
顶视图
11
70
12
69
13
68
14
67
15
66
16
65
17
64
18
63
19
62
20
61
21
60
22
59
23
58
24
57
25
56
26
55
27
54
28
53
29
52
30
51
31 32 33 34 35 36 37 38 39 40 41 42 43 44 45 46 47 48 49 50
A
A
E
1
E
2
NC
NC
B
B
B
A
E
3
V
DD
V
SS
CK
W
CKE
G
ADV
NC
NC
A
A
A
NC
NC
V
DDQ
V
SS
NC
DQP
A
DQ
A
DQ
A
V
SS
V
DDQ
DQ
A
DQ
A
V
SS
NC
V
DD
ZZ
DQ
A
DQ
A
V
DDQ
V
SS
DQ
A
DQ
A
NC
NC
V
SS
V
DDQ
NC
NC
NC
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LBO
A
A
A
A
A
1
A
0
NC
NC
V
SS
V
DD
NC
NC
A
A
A
A
A
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GS840Z18/36AT-180/166/150/100
GS840Z36AT引脚(包T)
DQP
C
DQ
C
DQ
C
V
DDQ
V
SS
DQ
C
DQ
C
DQ
C
DQ
C
V
SS
V
DDQ
DQ
C
DQ
C
FT
V
DD
V
DD
V
SS
DQ
D
DQ
D
V
DDQ
V
SS
DQ
D
DQ
D
DQ
D
DQ
D
V
SS
V
DDQ
DQ
D
DQ
D
DQP
D
100 99 98 97 96 95 94 93 92 91 90 89 88 87 86 85 84 83 82 81
1
80
2
79
3
78
4
77
5
76
6
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7
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128K X 36
10
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顶视图
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17
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18
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62
20
61
21
60
22
59
23
58
24
57
25
56
26
55
27
54
28
53
29
52
30
51
31 32 33 34 35 36 37 38 39 40 41 42 43 44 45 46 47 48 49 50
A
A
E
1
E
2
B
D
B
C
B
B
B
A
E
3
V
DD
V
SS
CK
W
CKE
G
ADV
NC
NC
A
A
DQP
B
DQ
B
DQ
B
V
DDQ
V
SS
DQ
B
DQ
B
DQ
B
DQ
B
V
SS
V
DDQ
DQ
B
DQ
B
V
SS
NC
V
DD
ZZ
DQ
A
DQ
A
V
DDQ
V
SS
DQ
A
DQ
A
DQ
A
DQ
A
V
SS
V
DDQ
DQ
A
DQ
A
DQ
A
冯: 1.03 11/2004
LBO
A
A
A
A
A
1
A
0
NC
NC
V
SS
V
DD
NC
NC
A
A
A
A
A
A
A
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GS840Z18/36AT-180/166/150/100
100引脚TQFP引脚说明
符号
A
0
, A
1
A
CK
B
A
B
B
B
C
B
D
W
E
1
E
2
E
3
G
ADV
CKE
DQ
A
DQ
B
DQ
C
DQ
D
ZZ
FT
LBO
V
DD
V
SS
V
DDQ
NC
TYPE
In
In
In
In
In
In
In
In
In
In
In
In
In
In
I / O
I / O
I / O
I / O
In
In
In
In
In
In
—
描述
突发地址输入;预装爆计数器
地址输入
时钟输入信号
数据输入DQ字节写入信号
A1
-DQ
A9
;低电平有效
数据输入DQ字节写入信号
B1
-DQ
B9
;低电平有效
数据输入DQ字节写入信号
C1
-DQ
C9
;低电平有效
数据输入DQ字节写入信号
D1
-DQ
D9
;低电平有效
写使能;低电平有效
芯片使能;低电平有效
芯片使能;高电平有效;自解码的深度扩张
芯片使能;活性低,对自解码的深度扩展
输出使能;低电平有效
前进/负载突发地址计数器控制引脚
时钟输入缓冲器使能;低电平有效
字节的数据输入和输出引脚
字节B数据输入和输出引脚
字节C数据输入和输出引脚
字节D数据输入和输出引脚
掉电控制;高电平有效
管线/流过模式控制;低电平有效
线性突发顺序;低电平有效
3.3 V电源
地
降噪3.3 V输出电源
无连接
冯: 1.03 11/2004
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2001年, GSI技术
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GS840Z18/36AT-180/166/150/100
GS840Z18 / 36A NBT SRAM功能框图
DQA - DQN
FT
Q
写数据
K
注册1
D
写数据
写地址
BURST
计数器
K
注册2
SA1’
SA0’
数据一致性
读,写和
D
K
K
控制逻辑
SA1
SA0
K
写地址
注册1
MATCH
Q
B
A
B
B
B
C
B
D
E
1
E
2
ADV
LBO
E
3
W
K
FT
CKE
冯: 1.03 11/2004
A0–
5/24
CK
2001年, GSI技术
规格援引如有更改,恕不另行通知。对于最新的文档,请参见http://www.gsitechnology.com 。
G
编写驱动程序
内存
ARRAY
注册2
K
检测放大器
K