GS74116TP/J/U
SOJ ， TSOP ， FP -BGA
商用温度
工业级温度
特点
快速存取时间： 8 ， 10 ， 12 ，为15ns
CMOS低功耗运行： 170/145/130/110毫安min.cycle时间。
单3.3V ± 0.3V电源
所有输入和输出为TTL兼容
字节控制
全静态工作
工业温度选项： -40°至85°C
封装阵容
记者： 400mil ， 44引脚封装SOJ
TP ： 400mil ， 44引脚TSOP II型封装
U： 7.20毫米X 11.65毫米细间距球栅阵列封装
256K ×16
4MB SRAM的异步
SOJ 256K ×16引脚配置
A
4
A
3
A
2
A
1
A
0
CE
DQ
1
DQ
2
DQ
3
DQ
4
V
DD
V
SS
DQ
5
DQ6
DQ7
DQ
8
WE
A
15
A
14
A
13
A
12
A
16
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
8，10 ，12，为15ns
3.3V V
DD
中心V
DD
＆放大器; V
SS
顶视图
44 PIN
SOJ
描述
该GS74116是一个高速CMOS静态RAM组织为
262,144字×16位。静态设计省去了克斯特
最终时钟或定时选通。工作在3.3V单电源供电
和所有的输入和输出为TTL兼容。该GS74116是可用
能够在7.2x11.65毫米细间距BGA封装， 400万和SOJ
400万TSOP II型封装。
44
43
42
41
40
39
38
37
36
35
34
33
32
31
30
29
28
27
26
25
24
23
A
5
A
6
A
7
OE
UB
LB
DQ
16
DQ
15
DQ
14
DQ
13
V
SS
V
DD
DQ
12
DQ
11
DQ
10
DQ
9
NC
A
8
A
9
A
10
A
11
A
17
引脚说明
符号
A
0
到A
17
DQ
1
到DQ
16
CE
LB
UB
WE
OE
V
DD
V
SS
NC
描述
地址输入
数据输入/输出
芯片使能输入
低字节使能输入
（ DQ1到DQ8 ）
高字节使能输入
（ DQ9到DQ16 ）
写使能输入
输出使能输入
+ 3.3V电源
地
无连接
细间距BGA 256K ×16配置跳车
1
2
3
4
5
6
A
B
C
D
E
F
G
H
LB
DQ
16
OE
UB
A
0
A
3
A
5
A
17
NC
A
8
A
10
A
13
A
1
A
4
A
6
A
7
A
16
A
9
A
11
A
14
A
2
CE
DQ
2
DQ
4
DQ
5
DQ
7
WE
A
15
NC
DQ
1
DQ
3
V
DD
V
SS
DQ
6
DQ
8
NC
DQ
14
DQ
15
V
SS
V
DD
DQ
13
DQ
12
DQ
11
DQ
10
DQ
9
NC
NC
A
12
7.2x11.65mm 0.75毫米凸块间距
顶视图
冯： 2.02 3/2000
1/14
1999 ，千兆半导体公司
N
规格援引如有更改，恕不另行通知。对于最新的文档，请参见http://www.gsitechnology.com 。
GS74116TP/J/U
TSOP -II 256K ×16引脚配置
A
4
A
3
A
2
A
1
A
0
CE
DQ
1
DQ
2
DQ
3
DQ
4
V
DD
V
SS
DQ
5
DQ
6
DQ
7
DQ
8
WE
A
15
A14
A
13
A
12
A
16
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
44
43
42
41
40
39
38
37
36
35
34
33
32
31
30
29
28
27
26
25
24
23
A
5
A
6
A
7
OE
UB
LB
DQ
16
DQ
15
DQ
14
DQ
13
V
SS
V
DD
DQ
12
DQ
11
DQ
10
DQ
9
NC
A
8
A
9
A
10
A
11
A
17
顶视图
44 PIN
TSOP II
框图
A
0
地址
输入
卜FF器
ROW
解码器
存储阵列
A
17
CE
WE
控制
OE
UB
_____
LB
_____
COLUMN
解码器
I / O缓冲器
DQ
1
DQ
16
冯： 2.02 3/2000
2/14
1999 ，千兆半导体公司
N
规格援引如有更改，恕不另行通知。对于最新的文档，请参见http://www.gsitechnology.com 。
GS74116TP/J/U
真值表
CE
H
OE
X
WE
X
LB
X
L
UB
X
L
H
L
L
H
L
X
H
DQ
1
到DQ
8
未选择
读
读
高Z
写
写
不写，高Z
高Z
高Z
DQ
9
到DQ
16
未选择
读
高Z
读
写
不写，高Z
写
高Z
高Z
V
DD
当前
ISB
1
， ISB
2
L
L
H
L
H
L
L
X
L
L
H
I
DD
L
L
H
X
H
X
X
H
注：X：为“H”或“L”的
绝对最大额定值
参数
电源电压
输入电压
输出电压
允许功耗
储存温度
符号
V
DD
V
IN
V
OUT
PD
T
英镑
等级
-0.5到+4.6
-0.5到V
DD
+0.5
（ ≤ 4.6V最大值）。
-0.5到V
DD
+0.5
（ ≤ 4.6V最大值）。
0.7
-55到150
单位
V
V
V
W
o
C
注意：
如果绝对最大额定值被超过，可能会出现永久性设备损坏。功能操作应限于推荐
工作条件。暴露于高比长时间推荐的电压可能会影响器件的可靠性。
冯： 2.02 3/2000
3/14
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GS74116TP/J/U
推荐工作条件
参数
电源电压为-10/12/15
电源电压为-8
输入高电压
输入低电压
环境温度下，
商用系列
环境温度下，
工业温度范围
符号
V
DD
V
DD
V
IH
V
IL
T
Ac
T
A
I
民
3.0
3.135
2.0
-0.3
0
-40
典型值
3.3
3.3
-
-
-
-
最大
3.6
3.6
V
DD
+0.3
0.8
70
85
单位
V
V
V
V
o
C
C
o
注意：
1.输入过冲电压应小于V
DD
+ 2V ，不超过20ns的。
2.输入下冲电压应大于-2V更大，不超过20ns的。
电容
参数
输入电容
输出电容
符号
C
IN
C
OUT
测试条件
V
IN
=0V
V
OUT
=0V
最大
5
7
单位
pF
pF
注意事项：
1.测试在T
A
= 25 ° C，F = 1MHz的
2.这些参数进行采样和不是100 ％测试
DC I / O引脚特性
参数
输入漏
当前
输出漏
当前
输出高电压
输出低电压
符号
I
IL
I
LO
V
OH
V
OL
测试条件
V
IN
= 0至V
DD
输出高Z
V
OUT
= 0至V
DD
I
OH
= - 4毫安
I
LO
= + 4毫安
民
-1uA
-1uA
2.4
最大
1uA
1uA
0.4V
冯： 2.02 3/2000
4/14
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N
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GS74116TP/J/U
电源电流
参数
符号
测试条件
CE
≤
V
IL
所有其它输入
≥
V
IH
or
≤
V
IL
分钟。周期
I
OUT
= 0毫安
CE
≥
V
IH
所有其它输入
≥
V
IH
or
≤V
IL
分钟。周期
CE
≥
V
DD
- 0.2V
所有其它输入
≥
V
DD
- 0.2V或
≤
0.2V
0至70℃
8ns
10ns
12ns
15ns
10ns
-40到85°C
12ns
15ns
操作
供应
当前
I
DD
170mA
145mA
130mA
110mA
155mA
140mA
120mA
待机
当前
I
SB1
70mA
65mA
60mA
55mA
75mA
70mA
65mA
待机
当前
I
SB2
30mA
40mA
AC测试条件
参数
输入高电平
输入低电平
输入上升时间
输入下降时间
输入参考电平
输出参考电平
输出负载
条件
V
IH
=2.4V
V
IL
=0.4V
tr=1V/ns
tf=1V/ns
1.4V
1.4V
图。 1& 2
输出负载1
DQ
50
VT=1.4V
30pF
1
输出负载2
3.3V
DQ
5pF
1
589
434
注意：
1.包括范围和夹具电容。
指定与输出负载，如图2的试验条件。 1
除非另有说明
3.输出负载2吨
LZ
, t
HZ
, t
OLZ
和T
OHZ
.
冯： 2.02 3/2000
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N
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GS74116TP/J/U
SOJ ， TSOP ， FP -BGA
商用温度
工业级温度
特点
快速存取时间： 8 ， 10 ， 12 ，为15ns
CMOS低功耗运行： 170/145/130/110毫安min.cycle时间。
单3.3V ± 0.3V电源
所有输入和输出为TTL兼容
字节控制
全静态工作
工业温度选项： -40°至85°C
封装阵容
记者： 400mil ， 44引脚封装SOJ
TP ： 400mil ， 44引脚TSOP II型封装
U： 7.20毫米X 11.65毫米细间距球栅阵列封装
256K ×16
4MB SRAM的异步
SOJ 256K ×16引脚配置
A
4
A
3
A
2
A
1
A
0
CE
DQ
1
DQ
2
DQ
3
DQ
4
V
DD
V
SS
DQ
5
DQ6
DQ7
DQ
8
WE
A
15
A
14
A
13
A
12
A
16
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
8，10 ，12，为15ns
3.3V V
DD
中心V
DD
＆放大器; V
SS
顶视图
44 PIN
SOJ
描述
该GS74116是一个高速CMOS静态RAM组织为
262,144字×16位。静态设计省去了克斯特
最终时钟或定时选通。工作在3.3V单电源供电
和所有的输入和输出为TTL兼容。该GS74116是可用
能够在7.2x11.65毫米细间距BGA封装， 400万和SOJ
400万TSOP II型封装。
44
43
42
41
40
39
38
37
36
35
34
33
32
31
30
29
28
27
26
25
24
23
A
5
A
6
A
7
OE
UB
LB
DQ
16
DQ
15
DQ
14
DQ
13
V
SS
V
DD
DQ
12
DQ
11
DQ
10
DQ
9
NC
A
8
A
9
A
10
A
11
A
17
引脚说明
符号
A
0
到A
17
DQ
1
到DQ
16
CE
LB
UB
WE
OE
V
DD
V
SS
NC
描述
地址输入
数据输入/输出
芯片使能输入
低字节使能输入
（ DQ1到DQ8 ）
高字节使能输入
（ DQ9到DQ16 ）
写使能输入
输出使能输入
+ 3.3V电源
地
无连接
细间距BGA 256K ×16配置跳车
1
2
3
4
5
6
A
B
C
D
E
F
G
H
LB
DQ
16
OE
UB
A
0
A
3
A
5
A
17
NC
A
8
A
10
A
13
A
1
A
4
A
6
A
7
A
16
A
9
A
11
A
14
A
2
CE
DQ
2
DQ
4
DQ
5
DQ
7
WE
A
15
NC
DQ
1
DQ
3
V
DD
V
SS
DQ
6
DQ
8
NC
DQ
14
DQ
15
V
SS
V
DD
DQ
13
DQ
12
DQ
11
DQ
10
DQ
9
NC
NC
A
12
7.2x11.65mm 0.75毫米凸块间距
顶视图
冯： 2.02 3/2000
1/14
1999 ，千兆半导体公司
N
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本站由ICminer.com电子图书馆服务版权所有2003
GS74116TP/J/U
TSOP -II 256K ×16引脚配置
A
4
A
3
A
2
A
1
A
0
CE
DQ
1
DQ
2
DQ
3
DQ
4
V
DD
V
SS
DQ
5
DQ
6
DQ
7
DQ
8
WE
A
15
A14
A
13
A
12
A
16
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
44
43
42
41
40
39
38
37
36
35
34
33
32
31
30
29
28
27
26
25
24
23
A
5
A
6
A
7
OE
UB
LB
DQ
16
DQ
15
DQ
14
DQ
13
V
SS
V
DD
DQ
12
DQ
11
DQ
10
DQ
9
NC
A
8
A
9
A
10
A
11
A
17
顶视图
44 PIN
TSOP II
框图
A
0
地址
输入
卜FF器
ROW
解码器
存储阵列
A
17
CE
WE
控制
OE
UB
_____
LB
_____
COLUMN
解码器
I / O缓冲器
DQ
1
DQ
16
冯： 2.02 3/2000
2/14
1999 ，千兆半导体公司
N
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本站由ICminer.com电子图书馆服务版权所有2003
GS74116TP/J/U
真值表
CE
H
OE
X
WE
X
LB
X
L
UB
X
L
H
L
L
H
L
X
H
DQ
1
到DQ
8
未选择
读
读
高Z
写
写
不写，高Z
高Z
高Z
DQ
9
到DQ
16
未选择
读
高Z
读
写
不写，高Z
写
高Z
高Z
V
DD
当前
ISB
1
， ISB
2
L
L
H
L
H
L
L
X
L
L
H
I
DD
L
L
H
X
H
X
X
H
注：X：为“H”或“L”的
绝对最大额定值
参数
电源电压
输入电压
输出电压
允许功耗
储存温度
符号
V
DD
V
IN
V
OUT
PD
T
英镑
等级
-0.5到+4.6
-0.5到V
DD
+0.5
（ ≤ 4.6V最大值）。
-0.5到V
DD
+0.5
（ ≤ 4.6V最大值）。
0.7
-55到150
单位
V
V
V
W
o
C
注意：
如果绝对最大额定值被超过，可能会出现永久性设备损坏。功能操作应限于推荐
工作条件。暴露于高比长时间推荐的电压可能会影响器件的可靠性。
冯： 2.02 3/2000
3/14
1999 ，千兆半导体公司
N
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本站由ICminer.com电子图书馆服务版权所有2003
GS74116TP/J/U
推荐工作条件
参数
电源电压为-10/12/15
电源电压为-8
输入高电压
输入低电压
环境温度下，
商用系列
环境温度下，
工业温度范围
符号
V
DD
V
DD
V
IH
V
IL
T
Ac
T
A
I
民
3.0
3.135
2.0
-0.3
0
-40
典型值
3.3
3.3
-
-
-
-
最大
3.6
3.6
V
DD
+0.3
0.8
70
85
单位
V
V
V
V
o
C
C
o
注意：
1.输入过冲电压应小于V
DD
+ 2V ，不超过20ns的。
2.输入下冲电压应大于-2V更大，不超过20ns的。
电容
参数
输入电容
输出电容
符号
C
IN
C
OUT
测试条件
V
IN
=0V
V
OUT
=0V
最大
5
7
单位
pF
pF
注意事项：
1.测试在T
A
= 25 ° C，F = 1MHz的
2.这些参数进行采样和不是100 ％测试
DC I / O引脚特性
参数
输入漏
当前
输出漏
当前
输出高电压
输出低电压
符号
I
IL
I
LO
V
OH
V
OL
测试条件
V
IN
= 0至V
DD
输出高Z
V
OUT
= 0至V
DD
I
OH
= - 4毫安
I
LO
= + 4毫安
民
-1uA
-1uA
2.4
最大
1uA
1uA
0.4V
冯： 2.02 3/2000
4/14
1999 ，千兆半导体公司
N
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本站由ICminer.com电子图书馆服务版权所有2003
GS74116TP/J/U
电源电流
参数
符号
测试条件
CE
≤
V
IL
所有其它输入
≥
V
IH
or
≤
V
IL
分钟。周期
I
OUT
= 0毫安
CE
≥
V
IH
所有其它输入
≥
V
IH
or
≤V
IL
分钟。周期
CE
≥
V
DD
- 0.2V
所有其它输入
≥
V
DD
- 0.2V或
≤
0.2V
0至70℃
8ns
10ns
12ns
15ns
10ns
-40到85°C
12ns
15ns
操作
供应
当前
I
DD
170mA
145mA
130mA
110mA
155mA
140mA
120mA
待机
当前
I
SB1
70mA
65mA
60mA
55mA
75mA
70mA
65mA
待机
当前
I
SB2
30mA
40mA
AC测试条件
参数
输入高电平
输入低电平
输入上升时间
输入下降时间
输入参考电平
输出参考电平
输出负载
条件
V
IH
=2.4V
V
IL
=0.4V
tr=1V/ns
tf=1V/ns
1.4V
1.4V
图。 1& 2
输出负载1
DQ
50
VT=1.4V
30pF
1
输出负载2
3.3V
DQ
5pF
1
589
434
注意：
1.包括范围和夹具电容。
指定与输出负载，如图2的试验条件。 1
除非另有说明
3.输出负载2吨
LZ
, t
HZ
, t
OLZ
和T
OHZ
.
冯： 2.02 3/2000
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1999 ，千兆半导体公司
N
规格援引如有更改，恕不另行通知。对于最新的文档，请参见http://www.gsitechnology.com 。
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GS74116TP/J/U
SOJ ， TSOP ， FP -BGA
商用温度
工业级温度
特点
快速存取时间： 8 ， 10 ， 12 ，为15ns
CMOS低功耗运行： 170/145/130/110毫安min.cycle时间。
单3.3V ± 0.3V电源
所有输入和输出为TTL兼容
字节控制
全静态工作
工业温度选项： -40°至85°C
封装阵容
记者： 400mil ， 44引脚封装SOJ
TP ： 400mil ， 44引脚TSOP II型封装
U： 7.20毫米X 11.65毫米细间距球栅阵列封装
256K ×16
4MB SRAM的异步
SOJ 256K ×16引脚配置
A
4
A
3
A
2
A
1
A
0
CE
DQ
1
DQ
2
DQ
3
DQ
4
V
DD
V
SS
DQ
5
DQ6
DQ7
DQ
8
WE
A
15
A
14
A
13
A
12
A
16
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
8，10 ，12，为15ns
3.3V V
DD
中心V
DD
＆放大器; V
SS
顶视图
44 PIN
SOJ
描述
该GS74116是一个高速CMOS静态RAM组织为
262,144字×16位。静态设计省去了克斯特
最终时钟或定时选通。工作在3.3V单电源供电
和所有的输入和输出为TTL兼容。该GS74116是可用
能够在7.2x11.65毫米细间距BGA封装， 400万和SOJ
400万TSOP II型封装。
44
43
42
41
40
39
38
37
36
35
34
33
32
31
30
29
28
27
26
25
24
23
A
5
A
6
A
7
OE
UB
LB
DQ
16
DQ
15
DQ
14
DQ
13
V
SS
V
DD
DQ
12
DQ
11
DQ
10
DQ
9
NC
A
8
A
9
A
10
A
11
A
17
引脚说明
符号
A
0
到A
17
DQ
1
到DQ
16
CE
LB
UB
WE
OE
V
DD
V
SS
NC
描述
地址输入
数据输入/输出
芯片使能输入
低字节使能输入
（ DQ1到DQ8 ）
高字节使能输入
（ DQ9到DQ16 ）
写使能输入
输出使能输入
+ 3.3V电源
地
无连接
细间距BGA 256K ×16配置跳车
1
2
3
4
5
6
A
B
C
D
E
F
G
H
LB
DQ
16
OE
UB
A
0
A
3
A
5
A
17
NC
A
8
A
10
A
13
A
1
A
4
A
6
A
7
A
16
A
9
A
11
A
14
A
2
CE
DQ
2
DQ
4
DQ
5
DQ
7
WE
A
15
NC
DQ
1
DQ
3
V
DD
V
SS
DQ
6
DQ
8
NC
DQ
14
DQ
15
V
SS
V
DD
DQ
13
DQ
12
DQ
11
DQ
10
DQ
9
NC
NC
A
12
7.2x11.65mm 0.75毫米凸块间距
顶视图
冯： 2.02 3/2000
1/14
1999 ，千兆半导体公司
N
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GS74116TP/J/U
TSOP -II 256K ×16引脚配置
A
4
A
3
A
2
A
1
A
0
CE
DQ
1
DQ
2
DQ
3
DQ
4
V
DD
V
SS
DQ
5
DQ
6
DQ
7
DQ
8
WE
A
15
A14
A
13
A
12
A
16
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
44
43
42
41
40
39
38
37
36
35
34
33
32
31
30
29
28
27
26
25
24
23
A
5
A
6
A
7
OE
UB
LB
DQ
16
DQ
15
DQ
14
DQ
13
V
SS
V
DD
DQ
12
DQ
11
DQ
10
DQ
9
NC
A
8
A
9
A
10
A
11
A
17
顶视图
44 PIN
TSOP II
框图
A
0
地址
输入
卜FF器
ROW
解码器
存储阵列
A
17
CE
WE
控制
OE
UB
_____
LB
_____
COLUMN
解码器
I / O缓冲器
DQ
1
DQ
16
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GS74116TP/J/U
真值表
CE
H
OE
X
WE
X
LB
X
L
UB
X
L
H
L
L
H
L
X
H
DQ
1
到DQ
8
未选择
读
读
高Z
写
写
不写，高Z
高Z
高Z
DQ
9
到DQ
16
未选择
读
高Z
读
写
不写，高Z
写
高Z
高Z
V
DD
当前
ISB
1
， ISB
2
L
L
H
L
H
L
L
X
L
L
H
I
DD
L
L
H
X
H
X
X
H
注：X：为“H”或“L”的
绝对最大额定值
参数
电源电压
输入电压
输出电压
允许功耗
储存温度
符号
V
DD
V
IN
V
OUT
PD
T
英镑
等级
-0.5到+4.6
-0.5到V
DD
+0.5
（ ≤ 4.6V最大值）。
-0.5到V
DD
+0.5
（ ≤ 4.6V最大值）。
0.7
-55到150
单位
V
V
V
W
o
C
注意：
如果绝对最大额定值被超过，可能会出现永久性设备损坏。功能操作应限于推荐
工作条件。暴露于高比长时间推荐的电压可能会影响器件的可靠性。
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GS74116TP/J/U
推荐工作条件
参数
电源电压为-10/12/15
电源电压为-8
输入高电压
输入低电压
环境温度下，
商用系列
环境温度下，
工业温度范围
符号
V
DD
V
DD
V
IH
V
IL
T
Ac
T
A
I
民
3.0
3.135
2.0
-0.3
0
-40
典型值
3.3
3.3
-
-
-
-
最大
3.6
3.6
V
DD
+0.3
0.8
70
85
单位
V
V
V
V
o
C
C
o
注意：
1.输入过冲电压应小于V
DD
+ 2V ，不超过20ns的。
2.输入下冲电压应大于-2V更大，不超过20ns的。
电容
参数
输入电容
输出电容
符号
C
IN
C
OUT
测试条件
V
IN
=0V
V
OUT
=0V
最大
5
7
单位
pF
pF
注意事项：
1.测试在T
A
= 25 ° C，F = 1MHz的
2.这些参数进行采样和不是100 ％测试
DC I / O引脚特性
参数
输入漏
当前
输出漏
当前
输出高电压
输出低电压
符号
I
IL
I
LO
V
OH
V
OL
测试条件
V
IN
= 0至V
DD
输出高Z
V
OUT
= 0至V
DD
I
OH
= - 4毫安
I
LO
= + 4毫安
民
-1uA
-1uA
2.4
最大
1uA
1uA
0.4V
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GS74116TP/J/U
电源电流
参数
符号
测试条件
CE
≤
V
IL
所有其它输入
≥
V
IH
or
≤
V
IL
分钟。周期
I
OUT
= 0毫安
CE
≥
V
IH
所有其它输入
≥
V
IH
or
≤V
IL
分钟。周期
CE
≥
V
DD
- 0.2V
所有其它输入
≥
V
DD
- 0.2V或
≤
0.2V
0至70℃
8ns
10ns
12ns
15ns
10ns
-40到85°C
12ns
15ns
操作
供应
当前
I
DD
170mA
145mA
130mA
110mA
155mA
140mA
120mA
待机
当前
I
SB1
70mA
65mA
60mA
55mA
75mA
70mA
65mA
待机
当前
I
SB2
30mA
40mA
AC测试条件
参数
输入高电平
输入低电平
输入上升时间
输入下降时间
输入参考电平
输出参考电平
输出负载
条件
V
IH
=2.4V
V
IL
=0.4V
tr=1V/ns
tf=1V/ns
1.4V
1.4V
图。 1& 2
输出负载1
DQ
50
VT=1.4V
30pF
1
输出负载2
3.3V
DQ
5pF
1
589
434
注意：
1.包括范围和夹具电容。
指定与输出负载，如图2的试验条件。 1
除非另有说明
3.输出负载2吨
LZ
, t
HZ
, t
OLZ
和T
OHZ
.
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