FQB33N10L / FQI33N10L
典型特征
(续)
1.2
3.0
2.5
BV
DSS
(归一化)
漏源击穿电压
R
DS ( ON)
(归一化)
漏源导通电阻
1.1
2.0
1.0
1.5
1.0
0.9
※
注意事项:
1. V
GS
= 0 V
2. I
D
= 250
μ
A
0.5
※
注意事项:
1. V
GS
= 10 V
2. I
D
= 16.5 A
0.8
-100
-50
0
50
100
o
150
200
0.0
-100
-50
0
50
100
o
150
200
T
J
,结温[C]
T
J
,结温[C]
图7.击穿电压变化
与温度的关系
图8.导通电阻变化
与温度的关系
35
在这一领域
由R有限公司
DS ( ON)
2
30
10
I
D
,漏电流[ A]
I
D
,漏电流[ A]
100
s
1毫秒
10毫秒
25
20
10
1
15
DC
10
※
注意事项:
1. T
C
= 25 C
o
10
0
2. T
J
= 175 C
3.单脉冲
0
o
5
10
10
1
10
2
0
25
50
75
100
125
150
175
V
DS
,漏源电压[V]
T
C
,外壳温度[
℃
]
图9.最高安全工作区
图10.最大漏极电流
与外壳温度
(T )和T H的ê马币一l研究(E S) P 0:N发E
10
0
D = 0 .5
0 .2
0 .1
10
-1
※
OTES :
1 . Z
θ
J·C
( t ) = 1 . 1 8
℃
/ W M A X 。
2 。 ü吨和Y F是C T O服务R,D = T
1
/t
2
3 . T
J·M
- T
C
= P
D M
* Z
θ
J·C
( t )
0 .0 5
P
DM
0 .0 2
0 .0 1
S IN克乐P ü LS ê
-2
θ
JC
t
1
t
2
Z
10
10
-5
10
-4
10
-3
10
-2
10
-1
10
0
10
1
t
1
,S单方W AVE P ü LS E D市建局TIO N [秒]
图11.瞬态热响应曲线
2000仙童半导体国际
版本A , 2000年9月