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FIN1102 LVDS 2端口高速转发
2002年1月
修订后的2002年2月
FIN1102
LVDS 2端口高速转发
概述
这2个端口中继器是专为高速在互连
采用低电压差分信号( LVDS ) nects
技术。该FIN1102能够接受和输出LVDS电平
以330 mV的典型差分输出摆幅其中亲
国际志愿组织低EMI的,即使在高超低功耗
频率。该FIN1102提供了一个V
BB
交流参考
耦合的输入。另外FIN1102还可以
直接接受LVPECL ,HSTL和SSTL - 2翻译
为LVDS 。
特点
s
大于800 Mbps的全差分路径
s
3.3V电源工作
s
3.5 ps的最大随机抖动和135 ps的最大
确定性抖动
s
宽轨到轨共模范围
s
LVDS接收器输入接受LVPECL ,HSTL和
SSTL - 2直接
s
超低功耗
s
20 ps的典型通道至通道偏移
s
断电保护
s
& GT ;
7 kV的HBM ESD保护
s
符合或超过TIA / EIA- 644 -A标准的LVDS
s
14引脚TSSOP封装,节省空间
s
开路故障安全保护
s
V
BB
参考输出
订购代码:
订单号
FIN1102MTC
包装数
MTC14
包装说明
14引脚超薄紧缩小型封装( TSSOP ) , JEDEC MO- 153 , 4.4毫米宽
在磁带和卷轴可用的设备也。通过附加后缀字母“X”的订货代码指定。
引脚说明
引脚名称
R
IN1+
, R
IN2+
R
IN1
, R
IN2
描述
非反相LVDS输入
反相LVDS输入
接线图
D
OUT1+
, D
OUT2+
非反相驱动器输出
D
OUT1
, D
OUT2
反相驱动器输出
EN
V
CC
GND
V
BB
驱动使能引脚的所有输出
电源
参考电压输出
功能表
输入
EN
H
H
H
L
H
=
高逻辑电平
L
=
低逻辑电平
X
=
不关心
Z
=
高阻抗
输出
D
IN-
L
H
X
D
OUT +
H
L
H
Z
D
OUT-
L
H
L
Z
工作原理图
D
IN +
H
L
X
故障安全案例
2002仙童半导体公司
DS500657
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FIN1102
绝对最大额定值
(注1 )
电源电压(V
CC
)
LVDS的直流输入电压(V
IN
)
LVDS输出直流电压(V
OUT
)
司机短路电流(I
OSD
)
存储温度范围(T
英镑
)
最高结温(T
J
)
引线温度(T
L
)
(焊接, 10秒)
ESD(人体模型)
ESD(机器型号)
260
°
C
7000V
300V
0.5V至
+
4.6V
0.5V至
+
4.6V
0.5V至
+
4.6V
连续10毫安
推荐工作
条件
电源电压(V
CC
)
差的幅度
电压( | V
ID
|)
共模电压
范围(V
IC
)
工作温度(T
A
)
(0V
+
|V
ID
| / 2)至(Ⅴ
CC
|V
ID
|/2)
100 mV至V
CC
3.0V至3.6V
65
°
C到
+
150
°
C
150
°
C
40
°
C到
+
85
°
C
注1 :
“绝对最大额定值” :超出该等值
可能会损坏设备。本数据手册规范应该是
met的,无不以确保该系统的设计是可靠的过其
电源,温度和输入/输出负荷变量。飞兆半导体
不建议电路的运行数据手册规范之外。
DC电气特性
符号
V
TH
V
TL
V
IH
V
IL
V
OD
V
OD
V
OS
V
OS
I
OS
参数
测试条件
典型值
(注2 )
100
100
2.0
GND
250
R
L
=
100
,
驱动使能,
见图2
1.125
1.23
330
V
CC
0.8
450
25
1.375
25
D
OUT
+
=
0V和D
OUT
=
0V,
驱动程序启用
V
OD
=
0V ,驱动程序启用
I
IN
I
关闭
I
CCZ
I
CC
I
OZ
V
IC
C
IN
C
OUT
V
BB
输入电流( EN ,D
INX
+
, D
INX
)
V
IN
=
0V至V
CC
,其他输入
=
V
CC
或0V
(差分输入)
关闭电源输入或输出电流V
CC
=
0V, V
IN
或V
OUT
=
0V至3.6V
残疾人电源电流
电源电流
驱动器被禁止
驱动程序启用,任何有效的输入条件
D
OUT
=
0V至3.6V
共模电压范围
输入电容
输出电容
输出参考电压
V
CC
=
3.3V ,我
BB
=
0
275 A
1.125
|V
ID
|
=
100 mV至V
CC
使能输入
LVDS输入
0V
+
|V
ID
|/2
2.5
2.1
2.8
1.2
1.375
4
16.7
3.4
±3.4
6
±6
±20
±20
7
23
±20
V
CC
(|V
ID
|/2)
最大
单位
mV
mV
V
V
mV
mV
V
mV
mA
mA
A
A
mA
mA
A
V
pF
pF
V
差分输入门槛高,见图1 ; V
IC
= +0.05V, +1.2V,
或V
CC
0.05V
差分输入门槛低
输入高电压( EN )
输入低电压( EN )
输出电压差
V
OD
从变化幅度
差分低到高
失调电压
从偏移幅度变化
差分低到高
短路输出电流
参见图1 ; V
IC
= +0.05V, +1.2V,
或V
CC
0.05V
残疾人输出漏电流驱动器禁用,D
OUT
+
=
0V至3.6V或
注2 :
所有典型值是在T
A
=
25 ℃,并在V
CC
=
3.3V.
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2
FIN1102
AC电气特性
在电源电压和工作温度范围,除非另有说明
符号
t
PLHD
t
PHLD
t
TLHD
t
THLD
t
SK (p)的
t
SK ( LH )
,
t
SK( HL)。
t
SK (PP)的
f
最大
t
PZHD
t
PZLD
t
PHZD
t
PLZD
t
DJ
t
RJ
参数
差分输出传输延迟
低到高
差分输出传输延迟
HIGH到LOW
差动输出下降时间(80% 20%)
脉冲偏斜|吨
PLH
- t
PHL
|
通道至通道偏移
(注4 )
部分到部分偏移(注5 )
最大频率(注6 ) (注7 )
差分输出使能时间
从Z到HIGH
差分输出使能时间
从Z到低
差分输出禁止时间
从高到Z
差分输出禁止时间
从低到Z
LVDS数据抖动,
确定
LVDS时钟抖动,
随机( RMS )
|V
ID
|
=
300毫伏, PRBS
=
2
23
- 1,
V
IC
=
1.2V ,在800 Mbps的
|V
ID
|
=
300毫伏,
V
IC
=
1.2V在400MHz
R
L
=
100
,
C
L
=
5 pF的,
参见图5和图6中
400
800
2.3
2.5
1.6
1.9
85
2.1
5
5
5
5
135
3.5
R
L
=
100
,
C
L
=
5 pF的,
V
IC
=
|V
ID
| / 2至V
CC
(|V
ID
|/2),
占空比
=
50%,
参见图3和图4中
差动输出上升时间(20 %80% ) | V
ID
|
=
200 mV至450 mV时,
测试条件
典型值
(注3)
0.75
0.75
0.29
0.29
1.1
1.1
0.4
0.4
0.02
0.02
0.02
1.75
1.75
0.58
0.58
0.2
0.15
0.5
最大
单位
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
兆赫
ns
ns
ns
ns
ps
ps
注3 :
所有典型值是在T
A
=
25 ℃,并在V
CC
=
3.3V, V
ID
=
300毫伏,V
IC
=
1.2V,除非另有规定。
注4 :
t
SK ( LH )
, t
SK( HL)。
是一个单一的设备的特定输出时的输出具有相同的负载,并且开关在相同的方向之间的偏差
化。
注5 :
t
SK (PP)的
是在相同的两个装置的开关相同的信道之间的差的传播延迟时间之差的大小
方向(或由低到高或高到低)时,这两个设备具有相同的电源电压,相同温度下操作,并且具有相同的测试电路。
注6 :
通过标准的最大频率是输出电压V
OD
& GT ;
200毫伏,而占空比是45 %至55%的所有信道的切换。
注7 :
输出负载只有输电线路的环境;
L
is
& LT ;
杂散测试夹具电容1 pF的。
图1.差分接收器的电压参数和
传播和过渡时间测试电路
注答:所有的LVDS输入脉冲频率有
=
10兆赫,T
R
or
t
F
& LT ; =
0.5纳秒
注B:C
L
包括所有的探头和测试夹具电容
图2.差分驱动器DC测试电路
图3.差分驱动器传播延迟
和过渡时间测试电路
3
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FIN1102
图4. AC波形
注一:所有输入脉冲的频率
=
10MHz时,T
R
或T
F
& LT ; =
2纳秒
注B:C
L
包括所有的探头和测试夹具电容
图5.差分驱动器启用和禁用电路
图6.启用和禁用AC波形
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4
FIN1102 LVDS 2端口高速转发
14引脚超薄紧缩小型封装( TSSOP ) , JEDEC MO- 153 , 4.4毫米宽
包装数MTC14
飞兆半导体不承担使用上述任何电路的任何责任,也不提供其专利许可和
飞兆半导体公司保留在任何时间的权利,恕不另行通知更改上述电路和规格。
生命支持政策
飞兆半导体的产品不得用于生命支持的关键部件
设备或系统未经明确的书面许可, FAIRCHILD总统
半导体公司版权所有。如本文所用:
1.生命支持设备或系统的设备或系统
其中, ( a)打算通过外科手术移植到
体,或(b )支持或维持生命,和(c) ,其故障
执行时,依照正确使用
在标签规定的使用说明,可说明原因
sonably预计将造成显著伤害
用户。
5
在生命支持任何组件2.关键部件
设备或系统,其未能履行可说明原因
sonably预期造成的生命支持故障
装置或系统,或影响其安全性或有效性。
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