FGH60N6S2
2003年8月
FGH60N6S2
600V ,开关电源II系列N沟道IGBT
概述
该FGH60N6S2是一个低栅极电荷,低电压高原
年龄SMPS的第二IGBT的组合的开关速度快
开关电源的IGBT与低栅极电荷和高原
电压和雪崩能力( UIS) 。这些设备LGC
缩短延迟时间,并降低的功率要求
栅极驱动。这些器件非常适用于高电压
年龄的开关模式电源的应用中的低
导通损耗,快速开关时间和UIS能力是
必不可少的。 SMPS II LGC设备已经专门设计
签署:
功率因数校正( PFC )电路
全桥拓扑结构
半桥拓扑
推挽电路
不间断电源
零电压和零电流开关电路
特点
在390V , 52A 100kHz的操作
在390V , 31A的200kHz工作
600V开关SOA能力
典型的下降时间。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。在TJ 77ns = 125
o
C
低栅极电荷。 。 。 。 。 。 。 。 140nC在V
GE
= 15V
低高原电压。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 .6.5V典型
UIS评级。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 700mJ
低传导损耗
以前发育类型TA49346 。
包
TO-247
符号
E
C
G
C
G
集热器
(背金属)
E
器件的最大额定值
T
C
= 25 ° C除非另有说明
符号
BV
CES
I
C25
I
C110
I
CM
V
GES
V
创业板
SSOA
E
AS
P
D
T
J
参数
集电极到发射极击穿电压
连续集电极电流,T
C
= 25°C
连续集电极电流,T
C
= 110°C
集电极电流脉冲(注1 )
门到发射极电压连续
门到发射极电压脉冲
开关安全工作区在T
J
= 150℃,如图2
脉冲雪崩能量,我
CE
= 20A , L = 1.3mH ,V
DD
= 50V
功率耗散总T
C
= 25°C
功耗降额牛逼
C
> 25℃
工作结温范围
评级
600
75
75
320
±20
±30
200A在600V
700
625
5
-55到150
mJ
W
W / ℃,
°C
单位
V
A
A
A
V
V
存储结温范围
-55到150
°C
T
英镑
注意:如果运行条件超过上述“设备最大额定值”,可能对器件造成永久性损坏。这是一个压力只有额定值和
该设备在这些或以上的本规范的业务部门所标明的任何其他条件的操作不暗示。
注意:
1.脉冲宽度有限的最高结温。
2003仙童半导体公司
FGH60N6S2牧师A2
FGH60N6S2
包装标志和订购信息
器件标识
60N6S2
设备
FGH60N6S2
包
TO-247
带尺寸
管
胶带宽度
不适用
QUANTITY
30
电气特性
T
J
= 25 ° C除非另有说明
符号
参数
测试条件
民
典型值
最大
单位
关态特征
BV
CES
BV
ECS
I
CES
I
GES
集电极到发射极击穿电压
发射极到集电极击穿电压
集电极到发射极漏电流
门到发射极漏电流
I
C
= 250μA ,V
GE
= 0
I
C
= -10mA ,V
GE
= 0
V
CE
= 600V
V
GE
= ± 20V
T
J
= 25°C
T
J
= 125°C
600
20
-
-
-
-
-
-
-
-
-
-
250
3
±250
V
V
A
mA
nA
对国家特性
V
CE ( SAT )
集电极到发射极饱和电压
I
C
= 40A,
V
GE
= 15V
T
J
= 25°C
T
J
= 125°C
-
-
1.9
1.65
2.5
2.2
V
V
动态特性
Q
G( ON)的
V
GE (日)
V
GEP
栅极电荷
门到发射极阈值电压
门到发射极电压高原
I
C
= 40A,
V
CE
= 300V
V
GE
= 15V
V
GE
= 20V
-
-
3.5
-
140
180
4.3
6.5
175
225
5.0
8.0
nC
nC
V
V
I
C
= 250μA ,V
CE
= V
GE
I
C
= 40A ,V
CE
= 300V
开关特性
SSOA
t
D( ON )I
t
rI
t
D( OFF )I
t
fI
E
ON1
E
ON2
E
关闭
t
D( ON )I
t
rI
t
D( OFF )I
t
fI
E
ON1
E
ON2
E
关闭
开关SOA
电流导通延迟时间
电流上升时间
电流关断延迟时间
电流下降时间
开启能量(注2 )
开启能量(注2 )
关断能量(注3 )
电流导通延迟时间
电流上升时间
电流关断延迟时间
电流下降时间
开启能量(注2 )
开启能量(注2 )
关断能量(注3 )
IGBT和二极管在T
J
= 125°C
I
CE
= 40A,
V
CE
= 390V,
V
GE
= 15V,
R
G
= 3
L = 100μH
测试电路 - 图20
T
J
= 150℃ ,R
G
= 3, V
GE
=
15V , L = 100μH ,V
CE
= 600V
IGBT和二极管在T
J
= 25°C,
I
CE
= 40A,
V
CE
= 390V,
V
GE
= 15V,
R
G
= 3
L = 100μH
测试电路 - 图20
200
-
-
-
-
-
-
-
-
-
-
-
-
-
-
-
18
15
70
50
400
490
310
27
32
110
77
400
750
688
-
-
-
-
-
-
-
450
-
-
150
90
450
850
950
A
ns
ns
ns
ns
J
J
J
ns
ns
ns
ns
J
J
J
热特性
R
θJC
注意:
2.
值
热阻结案件
TO-247
-
-
0.2
° C / W
两个导通损耗条件示为电路设计者的便利性。 ê
ON1
是导通损耗
IGBT的唯一。 ê
ON2
是当一个典型的二极管被用在测试电路中的导通损耗和二极管是在同一
J
作为IGBT 。二极管类型被指定在图20中。
3.
打开-O FF
能量损失(E
关闭
)被定义为瞬时功率损耗的开始处的后缘的积分
输入脉冲和结束的点处的集电极电流等于零(我
CE
= 0A ) 。所有器件每个测试
JEDEC标准号24-1方法的功率器件关断开关损耗测量。这种测试方法生产
ES真正的总导通关的能量损失。
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