1997年10月
FDV302P
数字场效应晶体管, P沟道
概述
这种P沟道逻辑电平增强模式场效应
晶体管采用飞兆半导体专有的,高细胞产生
密度, DMOS技术。这非常高密度的过程
特别是针对减少通态电阻。这
设备已被设计特别适用于低电压
应用程序作为替换为数字晶体管。自
偏置电阻器不是必需的,这一个P沟道场效应晶体管可以
不同的偏置电阻更换几个数字晶体管
如DTCx和DCDx系列。
特点
-25 V, -0.12连续, - 0.5 A峰值。
R
DS ( ON)
= 13
@ V
GS
= -2.7 V
R
DS ( ON)
= 10
@ V
GS
= -4.5 V.
非常低的水平栅极驱动要求可直接
操作3V电路。 V
GS ( TH)
< 1.5V 。
门源齐纳的ESD耐用性。
>6kV人体模型
紧凑的工业标准SOT- 23表面贴装
封装。
取代许多PNP数字晶体管( DTCx和DCDx )
一个DMOS FET 。
SOT-23
马克: 302
SuperSOT -6
TM
SuperSOT
TM
-8
SO-8
SOT-223
SOIC-16
D
G
S
绝对最大额定值
符号
V
DSS
V
GSS
I
D
P
D
T
J
,T
英镑
ESD
参数
漏源电压
栅源电压
漏电流
T
A
= 25
o
C除非另有说明
FDV302P
-25
-8
单位
V
V
A
- 连续
- 脉冲
-0.12
-0.5
0.35
-55到150
6.0
最大功率耗散
工作和存储温度范围
静电放电额定值MIL -STD- 883D
人体模型( 100pF电容/ 1500欧姆)
W
°C
kV
热特性
R
θ
JA
热阻,结到环境
357
° C / W
1997仙童半导体公司
FDV302P REV 。 F
电气特性
(T
A
= 25
O
C除非另有说明)
符号
参数
条件
民
典型值
最大
单位
开关特性
BV
DSS
漏源击穿电压
击穿电压温度。系数
零栅极电压漏极电流
V
GS
= 0 V,I
D
= -250 A
I
D
= -250 μA ,参考25
o
C
V
DS
= -20 V, V
GS
= 0 V
T
J
= 55°C
I
GSS
门 - 体泄漏电流
(注)
-25
-20
-1
-10
-100
V
毫伏/
o
C
A
A
nA
毫伏/
o
C
-1.5
13
10
18
A
0.135
S
V
BV
DSS
/
T
J
I
DSS
V
GS
= -8 V, V
DS
= 0 V
I
D
= -250 μA ,参考25
o
C
V
DS
= V
GS
, I
D
= -250 A
V
GS
= -2.7 V,I
D
= -0.05 A
V
GS
= -4.5 V,I
D
= -0.2 A
T
J
=125°C
-0.65
1.9
-1
10.6
7.9
12
-0.05
基本特征
V
GS ( TH)
/
T
J
V
GS ( TH)
R
DS ( ON)
栅极阈值电压温度。系数
栅极阈值电压
静态漏源导通电阻
I
D(上)
g
FS
C
国际空间站
C
OSS
C
RSS
t
D(上)
t
r
t
D(关闭)
t
f
Q
g
Q
gs
Q
gd
I
S
V
SD
通态漏电流
正向跨导
V
GS
= -2.7 V, V
DS
= -5 V
V
DS
= -5 V,I
D
= -0.2 A
V
DS
= -10 V, V
GS
= 0 V,
F = 1.0 MHz的
动态特性
输入电容
输出电容
反向传输电容
(注)
11
7
1.4
pF
pF
pF
开关特性
打开 - 延迟时间
打开 - 上升时间
打开 - 关闭延迟时间
打开 - 关闭下降时间
总栅极电荷
栅极 - 源电荷
栅极 - 漏极电荷
V
DD
= -6 V,I
D
= -0.2 A,
V
GS
= -4.5 V ,R
根
= 50
5
8
9
5
12
16
18
10
0.31
ns
ns
ns
ns
nC
nC
nC
V
DS
= -5 V,I
D
= -0.2 A,
V
GS
= -4.5 V
0.22
0.11
0.04
漏源二极管的特性和最大额定值
最大连续漏源二极管的正向电流
漏源二极管的正向电压
V
GS
= 0 V,I
S
= -0.2 A
(注)
-0.2
-1
-1.5
A
V
注意:
脉冲测试:脉冲宽度< 300μS ,占空比< 2.0 % 。
FDV302P REV 。 F
1997年10月
FDV302P
数字场效应晶体管, P沟道
概述
这种P沟道逻辑电平增强模式场效应
晶体管采用飞兆半导体专有的,高细胞产生
密度, DMOS技术。这非常高密度的过程
特别是针对减少通态电阻。这
设备已被设计特别适用于低电压
应用程序作为替换为数字晶体管。自
偏置电阻器不是必需的,这一个P沟道场效应晶体管可以
不同的偏置电阻更换几个数字晶体管
如DTCx和DCDx系列。
特点
-25 V, -0.12连续, - 0.5 A峰值。
R
DS ( ON)
= 13
@ V
GS
= -2.7 V
R
DS ( ON)
= 10
@ V
GS
= -4.5 V.
非常低的水平栅极驱动要求可直接
操作3V电路。 V
GS ( TH)
< 1.5V 。
门源齐纳的ESD耐用性。
>6kV人体模型
紧凑的工业标准SOT- 23表面贴装
封装。
取代许多PNP数字晶体管( DTCx和DCDx )
一个DMOS FET 。
SOT-23
马克: 302
SuperSOT -6
TM
SuperSOT
TM
-8
SO-8
SOT-223
SOIC-16
D
G
S
绝对最大额定值
符号
V
DSS
V
GSS
I
D
P
D
T
J
,T
英镑
ESD
参数
漏源电压
栅源电压
漏电流
T
A
= 25
o
C除非另有说明
FDV302P
-25
-8
单位
V
V
A
- 连续
- 脉冲
-0.12
-0.5
0.35
-55到150
6.0
最大功率耗散
工作和存储温度范围
静电放电额定值MIL -STD- 883D
人体模型( 100pF电容/ 1500欧姆)
W
°C
kV
热特性
R
θ
JA
热阻,结到环境
357
° C / W
1997仙童半导体公司
FDV302P REV 。 F
电气特性
(T
A
= 25
O
C除非另有说明)
符号
参数
条件
民
典型值
最大
单位
开关特性
BV
DSS
漏源击穿电压
击穿电压温度。系数
零栅极电压漏极电流
V
GS
= 0 V,I
D
= -250 A
I
D
= -250 μA ,参考25
o
C
V
DS
= -20 V, V
GS
= 0 V
T
J
= 55°C
I
GSS
门 - 体泄漏电流
(注)
-25
-20
-1
-10
-100
V
毫伏/
o
C
A
A
nA
毫伏/
o
C
-1.5
13
10
18
A
0.135
S
V
BV
DSS
/
T
J
I
DSS
V
GS
= -8 V, V
DS
= 0 V
I
D
= -250 μA ,参考25
o
C
V
DS
= V
GS
, I
D
= -250 A
V
GS
= -2.7 V,I
D
= -0.05 A
V
GS
= -4.5 V,I
D
= -0.2 A
T
J
=125°C
-0.65
1.9
-1
10.6
7.9
12
-0.05
基本特征
V
GS ( TH)
/
T
J
V
GS ( TH)
R
DS ( ON)
栅极阈值电压温度。系数
栅极阈值电压
静态漏源导通电阻
I
D(上)
g
FS
C
国际空间站
C
OSS
C
RSS
t
D(上)
t
r
t
D(关闭)
t
f
Q
g
Q
gs
Q
gd
I
S
V
SD
通态漏电流
正向跨导
V
GS
= -2.7 V, V
DS
= -5 V
V
DS
= -5 V,I
D
= -0.2 A
V
DS
= -10 V, V
GS
= 0 V,
F = 1.0 MHz的
动态特性
输入电容
输出电容
反向传输电容
(注)
11
7
1.4
pF
pF
pF
开关特性
打开 - 延迟时间
打开 - 上升时间
打开 - 关闭延迟时间
打开 - 关闭下降时间
总栅极电荷
栅极 - 源电荷
栅极 - 漏极电荷
V
DD
= -6 V,I
D
= -0.2 A,
V
GS
= -4.5 V ,R
根
= 50
5
8
9
5
12
16
18
10
0.31
ns
ns
ns
ns
nC
nC
nC
V
DS
= -5 V,I
D
= -0.2 A,
V
GS
= -4.5 V
0.22
0.11
0.04
漏源二极管的特性和最大额定值
最大连续漏源二极管的正向电流
漏源二极管的正向电压
V
GS
= 0 V,I
S
= -0.2 A
(注)
-0.2
-1
-1.5
A
V
注意:
脉冲测试:脉冲宽度< 300μS ,占空比< 2.0 % 。
FDV302P REV 。 F