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位置:首页 > IC型号导航 > 首字符F型号页 > 首字符F的型号第401页 > F29C51004T12P
新茂
F29C51004T/F29C51004B
4兆位( 524288 ×8位)
5伏CMOS FLASH MEMORY
描述
该F29C51004T / F29C51004B是高速
524,288 ×8位CMOS闪存。写作或
擦除设备与单5伏完成
电源。该设备有独立的芯片使能
CE,写使能WE和输出使能OE
控制,以消除总线争用。
该F29C51004T / F29C51004B提供combi-
的国家:引导块与扇区擦除/写
模式。写/擦除周期结束时由检测
我DATA轮询/ O
7
或切换位I / O
6
.
TheF29C51004T / F29C51004B有
扇区擦除操作,让每个部门
被擦除和重新编程,而不影响
存储在其他部门的数据。该设备还
支持整片擦除。
引导块架构使该器件能够
从位于任一在被保护的扇区的引导
顶( F29C51004T )或底部( F29C51004B ) 。
所有的输入和输出的CMOS和TTL
兼容。
该F29C51004T / F29C51004B是理想的
需要更新的代码和数据的应用程序
存储。
特点
s
s
s
s
s
s
512Kx8位组织
地址访问时间: 70 , 90 , 120纳秒
单5V
±
10 %的电力供应
扇区擦除模式操作
16KB的引导块(锁定)
1K字节每扇区, 512扇区
- 扇区擦除周期时间: 10毫秒(最大值)
- 字节写周期时间: 20
S(最大)
最低万擦除 - 编程周期
低功耗
- 读操作工作电流: 20毫安(典型值)
- 活动程序电流: 30毫安(典型值)
- 待机电流: 50
A(最大值)
硬件数据保护
低V
CC
编程禁止低于3.5V
自定时写/擦除操作与结束赛扬的
CLE检测
- 数据查询
- 触发位
CMOS和TTL接口
有两个版本
- F29C51004T (顶部引导块)
- F29C51004B (底部引导块)
包:
- 32引脚塑料DIP
- 32引脚TSOP -I
- 32引脚PLCC
s
s
s
s
s
s
s
s
设备使用图
访问时间(纳秒)
操作
温度
范围
0
°
C至70
°
C
–40
°
C至+ 85
°
C
包装外形
P
T
J
70
90
120
温度
标志
空白
I
F29C51004T/F29C51004B
V1.0
1998年11月
1
新茂
F
29
C
51 004
T
F29C51004T/F29C51004B
工作电压
51: 5V
设备
速度
P = PDIP
T = TSOP -I
J = PLCC
PKG 。
温度。
空( 0 ° C至70 ° C)
I
( -40 ° C至+ 85°C )
51004-01
BOOT块位置
T:顶部
B:底部
70 :为70ns
90 :为90ns
12 : 120ns的
销刀豆网络gurations
V
CC
WE
A
12
A
15
A
16
A
18
A18
A16
A15
A12
A7
A6
A5
A4
A3
A2
A1
A0
I/O0
I/O1
I/O2
GND
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
32
31
30
29
28
27
32引脚PDIP
26
顶视图
25
24
23
22
21
20
19
18
17
51004-02
引脚名称
V
CC
WE
A17
A14
A13
A8
A9
A11
OE
A10
CE
I/O7
I/O6
I/O5
I/O4
I/O3
A
17
A
0
–A
18
I / O
0
-I / O
7
29
28
27
26
25
24
23
22
21
地址输入
数据输入/输出
芯片使能
OUTPUT ENABLE
写使能
5V
±
10 %的电力供应
无连接
4
3
2
1 32 31 30
A
7
A
6
A
5
A
4
A
3
A
2
A
1
A
0
I / O
0
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14 15 16 17 18 19 20
A
14
A
13
A
8
A
9
A
11
OE
A
10
CE
I / O
7
CE
OE
WE
V
CC
GND
NC
32引脚PLCC
顶视图
I / O
1
I / O
2
I / O
3
I / O
4
I / O
5
GND
I / O
6
51004-03
A11
A9
A8
A13
A14
A17
WE
VCC
A18
A16
A15
A12
A7
A6
A5
A4
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
32引脚TSOP I
标准引脚
顶视图
32
31
30
29
28
27
26
25
24
23
22
21
20
19
18
17
51004-04
OE
A10
CE
I/O7
I/O6
I/O5
I/O4
I/O3
GND
I/O2
I/O1
I/O0
A0
A1
A2
A3
F29C51004T/F29C51004B
V1.0
十一月
2
新茂
功能框图
F29C51004T/F29C51004B
X解码器
4,194,304位
存储单元阵列
A
0
–A
18
地址缓冲器&门锁
y解码器
CE
OE
WE
控制逻辑
I / O缓冲器&数据锁存器
I / O
0
-I / O
7
51004-07
电容
(1,2)
符号
C
IN
C
OUT
C
IN2
参数
输入电容
输出电容
控制引脚电容
测试设置
V
IN
= 0
V
OUT
= 0
V
IN
= 0
典型值。
6
8
8
马克斯。
8
12
10
单位
pF
pF
pF
注意:
1.电容进行采样,而不是100 %测试。
2. T
A
= 25
°
C,V
CC
= 5V
±
的10%中,f = 1兆赫。
闭锁特性
(1)
参数
输入电压相对于GND上的
9
, OE
输入电压相对于GND的I / O地址或控制引脚
V
CC
当前
注意:
1.包括除V所有引脚
CC
。测试条件: V
CC
= 5V ,一个销的时间。
分钟。
-1
-1
-100
马克斯。
+13
V
CC
+ 1
+100
单位
V
V
mA
AC测试负载
+5.0 V
IN3064
或同等学历
设备下
TEST
IN3064或等效
C
L
= 100 pF的
6.2 k
IN3064或等效
IN3064或等效
51004-08
2.7 k
F29C51004T/F29C51004B
V1.0
1998年11月
3
新茂
绝对最大额定值
(1)
符号
V
IN
V
IN
V
CC
T
英镑
T
OPR
I
OUT
F29C51004T/F29C51004B
参数
输入电压(输入或I / O引脚)
输入电压(A
9
针, OE )
电源电压
存储Temerpature (塑胶)
工作温度
短路电流
(2)
广告
-2至+7
-2到+13
-0.5到+5.5
-65到+125
0至+70
200 (最大)。
产业
-2至+7
-2到+13
-0.5到+5.5
-65到+150
-40+ 85
200 (最大)。
单位
V
V
V
°
C
°
C
mA
注意:
1.应力大于上市下“绝对最大额定值”,可能对器件造成永久性损坏。这是一个应力
只有与设备,在这些或以上的任何其他条件的业务部门所标明的功能操作评级
本规范是不是暗示。暴露在绝对最大额定值条件下工作会影响可靠性。
2.不超过一个输出短路可能的时间和不超过一秒钟的。
DC电气特性
(在商业经营范围)
参数
名字
V
IL
V
IH
I
IL
I
OL
V
OL
V
OH
I
CC1
参数
输入低电压
输入高电压
输入漏电流
输出漏电流
输出低电压
输出高电压
读电流
测试条件
V
CC
= V
CC
分钟。
V
CC
= V
CC
马克斯。
V
IN
= GND到V
CC
, V
CC
= V
CC
马克斯。
V
OUT
= GND到V
CC
, V
CC
= V
CC
马克斯。
V
CC
= V
CC
分钟,我
OL
= 2.1毫安
V
CC
= V
CC
分钟,我
OH
= -400
A
CE = OE = V
IL
我们= V
IH
,所有I / O开放,
地址输入= V
IL
/V
IH
,在f = 1 /吨
RC
分,
V
CC
= V
CC
马克斯。
CE = WE = VIL , OE = V
IH
, V
CC
= V
CC
马克斯。
CE = OE = WE = V
IH
, V
CC
= V
CC
马克斯。
CE = OE = WE = V
CC
– 0.3V, V
CC
= V
CC
马克斯。
CE = OE = V
IL
我们= V
IH
CE = OE = V
IL
我们= V
IH
, A9 = V
H
马克斯。
分钟。
2
2.4
马克斯。
0.8
±
1
±
10
0.4
30
单位
V
V
A
A
V
V
mA
I
CC2
I
SB
I
SB1
V
H
I
H
写入电流
TTL待机电流
CMOS待机电流
设备ID的电压对于A
9
设备ID的电流,以
9
11.5
40
1
50
12.5
50
mA
mA
A
V
A
F29C51004T/F29C51004B
V1.0
1998年11月
4
新茂
AC电气特性
(在所有温度范围)
读周期
参数
名字
t
RC
t
AA
t
ACS
t
OE
t
CLZ
t
OLZ
t
DF
t
OH
F29C51004T/F29C51004B
-70
参数
读周期时间
地址访问时间
芯片使能存取时间
输出启用访问时间
CE低到输出有效
OE低到输出有效
OE或CE高到输出中高Z
从地址变更输出保持
-90
马克斯。
70
70
35
30
-12
马克斯。
90
90
45
40
分钟。
70
0
0
0
0
分钟。
90
0
0
0
0
分钟。
120
0
0
0
0
马克斯。
120
120
60
50
单位
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
计划(擦除/编程)循环
参数
名字
参数
t
WC
t
AS
t
AH
t
CS
t
CH
t
OES
t
OEH
t
WP
t
WPH
t
DS
t
DH
t
WHWH1
t
WHWH2
t
WHWH3
写周期时间
地址建立时间
地址保持时间
CE建立时间
CE保持时间
OE建立时间
OE高保持时间
WE脉冲宽度
WE脉冲宽度高
数据建立时间
数据保持时间
编程周期
扇区擦除周期
芯片擦除周期
-70
分钟。
70
0
45
0
0
0
0
35
20
30
0
-90
马克斯。
20
10
-12
马克斯。
20
10
典型值。
2
分钟。
90
0
45
0
0
0
0
45
30
30
0
典型值。
2
分钟。
120
0
50
0
0
0
0
50
35
30
0
典型值。
2
马克斯。
20
10
单位
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
s
ms
美国证券交易委员会
F29C51004T/F29C51004B
V1.0
1998年11月
5
新茂
F29C51004T/F29C51004B
4兆位( 524288 ×8位)
5伏CMOS FLASH MEMORY
描述
该F29C51004T / F29C51004B是高速
524,288 ×8位CMOS闪存。写作或
擦除设备与单5伏完成
电源。该设备有独立的芯片使能
CE,写使能WE和输出使能OE
控制,以消除总线争用。
该F29C51004T / F29C51004B提供combi-
的国家:引导块与扇区擦除/写
模式。写/擦除周期结束时由检测
我DATA轮询/ O
7
或切换位I / O
6
.
TheF29C51004T / F29C51004B有
扇区擦除操作,让每个部门
被擦除和重新编程,而不影响
存储在其他部门的数据。该设备还
支持整片擦除。
引导块架构使该器件能够
从位于任一在被保护的扇区的引导
顶( F29C51004T )或底部( F29C51004B ) 。
所有的输入和输出的CMOS和TTL
兼容。
该F29C51004T / F29C51004B是理想的
需要更新的代码和数据的应用程序
存储。
特点
s
s
s
s
s
s
512Kx8位组织
地址访问时间: 70 , 90 , 120纳秒
单5V
±
10 %的电力供应
扇区擦除模式操作
16KB的引导块(锁定)
1K字节每扇区, 512扇区
- 扇区擦除周期时间: 10毫秒(最大值)
- 字节写周期时间: 20
S(最大)
最低万擦除 - 编程周期
低功耗
- 读操作工作电流: 20毫安(典型值)
- 活动程序电流: 30毫安(典型值)
- 待机电流: 50
A(最大值)
硬件数据保护
低V
CC
编程禁止低于3.5V
自定时写/擦除操作与结束赛扬的
CLE检测
- 数据查询
- 触发位
CMOS和TTL接口
有两个版本
- F29C51004T (顶部引导块)
- F29C51004B (底部引导块)
包:
- 32引脚塑料DIP
- 32引脚TSOP -I
- 32引脚PLCC
s
s
s
s
s
s
s
s
设备使用图
访问时间(纳秒)
操作
温度
范围
0
°
C至70
°
C
–40
°
C至+ 85
°
C
包装外形
P
T
J
70
90
120
温度
标志
空白
I
F29C51004T/F29C51004B
V1.0
1998年11月
1
新茂
F
29
C
51 004
T
F29C51004T/F29C51004B
工作电压
51: 5V
设备
速度
P = PDIP
T = TSOP -I
J = PLCC
PKG 。
温度。
空( 0 ° C至70 ° C)
I
( -40 ° C至+ 85°C )
51004-01
BOOT块位置
T:顶部
B:底部
70 :为70ns
90 :为90ns
12 : 120ns的
销刀豆网络gurations
V
CC
WE
A
12
A
15
A
16
A
18
A18
A16
A15
A12
A7
A6
A5
A4
A3
A2
A1
A0
I/O0
I/O1
I/O2
GND
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
32
31
30
29
28
27
32引脚PDIP
26
顶视图
25
24
23
22
21
20
19
18
17
51004-02
引脚名称
V
CC
WE
A17
A14
A13
A8
A9
A11
OE
A10
CE
I/O7
I/O6
I/O5
I/O4
I/O3
A
17
A
0
–A
18
I / O
0
-I / O
7
29
28
27
26
25
24
23
22
21
地址输入
数据输入/输出
芯片使能
OUTPUT ENABLE
写使能
5V
±
10 %的电力供应
无连接
4
3
2
1 32 31 30
A
7
A
6
A
5
A
4
A
3
A
2
A
1
A
0
I / O
0
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14 15 16 17 18 19 20
A
14
A
13
A
8
A
9
A
11
OE
A
10
CE
I / O
7
CE
OE
WE
V
CC
GND
NC
32引脚PLCC
顶视图
I / O
1
I / O
2
I / O
3
I / O
4
I / O
5
GND
I / O
6
51004-03
A11
A9
A8
A13
A14
A17
WE
VCC
A18
A16
A15
A12
A7
A6
A5
A4
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
32引脚TSOP I
标准引脚
顶视图
32
31
30
29
28
27
26
25
24
23
22
21
20
19
18
17
51004-04
OE
A10
CE
I/O7
I/O6
I/O5
I/O4
I/O3
GND
I/O2
I/O1
I/O0
A0
A1
A2
A3
F29C51004T/F29C51004B
V1.0
十一月
2
新茂
功能框图
F29C51004T/F29C51004B
X解码器
4,194,304位
存储单元阵列
A
0
–A
18
地址缓冲器&门锁
y解码器
CE
OE
WE
控制逻辑
I / O缓冲器&数据锁存器
I / O
0
-I / O
7
51004-07
电容
(1,2)
符号
C
IN
C
OUT
C
IN2
参数
输入电容
输出电容
控制引脚电容
测试设置
V
IN
= 0
V
OUT
= 0
V
IN
= 0
典型值。
6
8
8
马克斯。
8
12
10
单位
pF
pF
pF
注意:
1.电容进行采样,而不是100 %测试。
2. T
A
= 25
°
C,V
CC
= 5V
±
的10%中,f = 1兆赫。
闭锁特性
(1)
参数
输入电压相对于GND上的
9
, OE
输入电压相对于GND的I / O地址或控制引脚
V
CC
当前
注意:
1.包括除V所有引脚
CC
。测试条件: V
CC
= 5V ,一个销的时间。
分钟。
-1
-1
-100
马克斯。
+13
V
CC
+ 1
+100
单位
V
V
mA
AC测试负载
+5.0 V
IN3064
或同等学历
设备下
TEST
IN3064或等效
C
L
= 100 pF的
6.2 k
IN3064或等效
IN3064或等效
51004-08
2.7 k
F29C51004T/F29C51004B
V1.0
1998年11月
3
新茂
绝对最大额定值
(1)
符号
V
IN
V
IN
V
CC
T
英镑
T
OPR
I
OUT
F29C51004T/F29C51004B
参数
输入电压(输入或I / O引脚)
输入电压(A
9
针, OE )
电源电压
存储Temerpature (塑胶)
工作温度
短路电流
(2)
广告
-2至+7
-2到+13
-0.5到+5.5
-65到+125
0至+70
200 (最大)。
产业
-2至+7
-2到+13
-0.5到+5.5
-65到+150
-40+ 85
200 (最大)。
单位
V
V
V
°
C
°
C
mA
注意:
1.应力大于上市下“绝对最大额定值”,可能对器件造成永久性损坏。这是一个应力
只有与设备,在这些或以上的任何其他条件的业务部门所标明的功能操作评级
本规范是不是暗示。暴露在绝对最大额定值条件下工作会影响可靠性。
2.不超过一个输出短路可能的时间和不超过一秒钟的。
DC电气特性
(在商业经营范围)
参数
名字
V
IL
V
IH
I
IL
I
OL
V
OL
V
OH
I
CC1
参数
输入低电压
输入高电压
输入漏电流
输出漏电流
输出低电压
输出高电压
读电流
测试条件
V
CC
= V
CC
分钟。
V
CC
= V
CC
马克斯。
V
IN
= GND到V
CC
, V
CC
= V
CC
马克斯。
V
OUT
= GND到V
CC
, V
CC
= V
CC
马克斯。
V
CC
= V
CC
分钟,我
OL
= 2.1毫安
V
CC
= V
CC
分钟,我
OH
= -400
A
CE = OE = V
IL
我们= V
IH
,所有I / O开放,
地址输入= V
IL
/V
IH
,在f = 1 /吨
RC
分,
V
CC
= V
CC
马克斯。
CE = WE = VIL , OE = V
IH
, V
CC
= V
CC
马克斯。
CE = OE = WE = V
IH
, V
CC
= V
CC
马克斯。
CE = OE = WE = V
CC
– 0.3V, V
CC
= V
CC
马克斯。
CE = OE = V
IL
我们= V
IH
CE = OE = V
IL
我们= V
IH
, A9 = V
H
马克斯。
分钟。
2
2.4
马克斯。
0.8
±
1
±
10
0.4
30
单位
V
V
A
A
V
V
mA
I
CC2
I
SB
I
SB1
V
H
I
H
写入电流
TTL待机电流
CMOS待机电流
设备ID的电压对于A
9
设备ID的电流,以
9
11.5
40
1
50
12.5
50
mA
mA
A
V
A
F29C51004T/F29C51004B
V1.0
1998年11月
4
新茂
AC电气特性
(在所有温度范围)
读周期
参数
名字
t
RC
t
AA
t
ACS
t
OE
t
CLZ
t
OLZ
t
DF
t
OH
F29C51004T/F29C51004B
-70
参数
读周期时间
地址访问时间
芯片使能存取时间
输出启用访问时间
CE低到输出有效
OE低到输出有效
OE或CE高到输出中高Z
从地址变更输出保持
-90
马克斯。
70
70
35
30
-12
马克斯。
90
90
45
40
分钟。
70
0
0
0
0
分钟。
90
0
0
0
0
分钟。
120
0
0
0
0
马克斯。
120
120
60
50
单位
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
计划(擦除/编程)循环
参数
名字
参数
t
WC
t
AS
t
AH
t
CS
t
CH
t
OES
t
OEH
t
WP
t
WPH
t
DS
t
DH
t
WHWH1
t
WHWH2
t
WHWH3
写周期时间
地址建立时间
地址保持时间
CE建立时间
CE保持时间
OE建立时间
OE高保持时间
WE脉冲宽度
WE脉冲宽度高
数据建立时间
数据保持时间
编程周期
扇区擦除周期
芯片擦除周期
-70
分钟。
70
0
45
0
0
0
0
35
20
30
0
-90
马克斯。
20
10
-12
马克斯。
20
10
典型值。
2
分钟。
90
0
45
0
0
0
0
45
30
30
0
典型值。
2
分钟。
120
0
50
0
0
0
0
50
35
30
0
典型值。
2
马克斯。
20
10
单位
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
s
ms
美国证券交易委员会
F29C51004T/F29C51004B
V1.0
1998年11月
5
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    电话:0755-82780082
    联系人:杨小姐
    地址:深圳市福田区振兴路156号上步工业区405栋3层

    F29C51004T12P
    -
    -
    -
    -
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电话:13910052844(微信同步)
联系人:刘先生
地址:海淀区增光路27号院增光佳苑2号楼1单元1102室
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