DAC
853
4
www.ti.com
DAC8574
SLAS377A - 2003年1月 - 修订2003年6月
QUAD ， 16位，低功耗，电压输出，
I
2
C接口数位类比转换器
特点
微功耗
操作： 950 μA ，在5 V V
DD
上电复位至零
+ 2.7V至+ 5.5V模拟电源
16位单调性
建立时间： 10微秒到
±0.003%
FSR
I
2
C接口高达3.4 Mbps的
数据传输能力
片内输出缓冲放大器，轨到轨
手术
双缓冲输入寄存器
地址支持多达十六DAC8574s
最多64个同步更新支持
频道
工作温度范围-40 ° C至105℃
小型16引脚TSSOP封装
描述
该DAC8574是一种低功耗，四通道， 16位
缓冲电压输出DAC 。其片上精密输出
放放大器允许轨到轨输出摆幅为
实现的。该DAC8574采用了我
2
C兼容型2
线串行接口，支持高速接口
与地址支持多达16 DAC8574的模式
总共64个信道的总线上的。
该DAC8574需要一个外部参考电压
设置DAC的输出范围。该DAC8574
集成了一个上电复位电路，确保
DAC输出上电时零伏和遗体
在那里，直到一个有效的写操作的装置。该
DAC8574包含一个掉电功能，访问
经由内部控制寄存器中，降低电流
该设备为200 nA的在5 V.消费
这部分在正常的低功耗
操作特性，非常适合便携式电池
供电设备。功耗更低
超过5毫瓦V
DD
= 5 V降至1 μW的
掉电模式。
该DAC8574是采用16引脚TSSOP封装
年龄。
应用
过程控制
数据采集系统
闭环伺服控制
PC外设
便携式仪表
V
DD
IOV
DD
V
REF
H
数据
缓冲液A
DAC
寄存器A
DAC A
V
OUT
A
V
OUT
B
V
OUT
C
数据
缓冲液D
18
DAC
寄存器D
DAC
V
OUT
D
SCL
SDA
I
2
C座
8
卜FF器
控制
注册
控制
掉电
控制逻辑
电阻器
网
A0
A1
GND
A2
A3
LDAC
V
REF
L
I2C是飞利浦公司的商标。
请注意，一个重要的通知有关可用性，标准保修，并在德州仪器公司的关键应用程序使用
半导体产品和免责条款及其出现在此数据表的末尾。
PRODUCTION数据信息为出版日期。
产品符合每德州仪器条款规范
标准保修。生产加工并不在 -
所有参数的CLUDE测试。
版权所有2003 ，德州仪器
DAC8574
SLAS377A - 2003年1月 - 修订2003年6月
www.ti.com
这个集成电路可以被ESD损坏。德州仪器建议所有集成
电路与适当的预防措施进行处理。如果不遵守正确的操作和安装
程序会造成损坏。
ESD损害的范围可以从细微的性能下降，完成设备故障。精确
集成电路可能更容易受到损害，因为非常小的参数变化可能
导致设备不能满足其公布的规格。
封装/订购信息
产品
包
包
制图
数
PW
规范
温度
范围
-40 ° C至+ 105°C
包
记号
D8574I
订购
数
DAC8574IPW
DAC8574IPWR
传输介质
DAC8574
16-TSSOP
90管件
2000件磁带和卷轴
PW包
（ TOPVIEW ）
针
名字
V
OUT
A
V
OUT
B
V
REF
H
V
DD
V
REF
L
GND
V
OUT
C
V
OUT
D
LDAC
SCL
SDA
IOV
DD
A0
A1
A2
A3
引脚说明
描述
从DAC A的模拟输出电压
来自DAC B的模拟输出电压
正参考电压输入
模拟电源电压输入
负基准电压输入
对所有电路接地参考点
部分
来自DAC C模拟输出电压
来自DAC D模拟输出电压
H / W同步V
OUT
更新
串行时钟输入
串行数据输入
I / O电源电压输入
设备地址选择 - 我
2
C
设备地址选择 - 我
2
C
设备地址选择 - 扩展
设备地址选择 - 扩展
V
OUT
A
V
OUT
B
V
REF
H
V
DD
V
REF
L
GND
V
OUT
C
V
OUT
D
1
2
3
4
5
6
7
8
DAC8574
16 A3
15 A2
14 A1
13 A0
12 IOV
DD
11 SDA
10 SCL
9 LDAC
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
绝对最大额定值
(1)
V
DD
到GND
数字输入电压至GND
V
OUT
到GND
工作温度范围
存储温度范围
结温范围（T
J
MAX ）
功耗：
热阻抗（ ΘJA ）
热阻抗（ ΘJC ）
焊接温度，焊接：
气相（ 60秒）
红外（ 15S ）
(1)
0.3 V至6 V
0.3 V到V
DD
+ 0.3 V
0.3 V到V
DD
+ 0.3 V
40 ° C至+ 105°C
65 ° C至+ 150°C
+150°C
118°C/W
29°C/W
215°C
220°C
注意，超出上述绝对最大额定值可能会导致器件永久性损坏。暴露在绝对
最大的条件下长时间可能会影响器件的可靠性。
2
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DAC8574
SLAS377A - 2003年1月 - 修订2003年6月
电气特性
V
DD
= 2.7 V至5.5 V ，R
L
= 2 kΩ到GND ;
L
= 200 pF到GND ;所有规格-40 ° C至+ 105 ° C，除非另有规定。
参数
静态性能
(1) (2)
决议
相对精度
微分非线性
零刻度误差
满量程误差
增益误差
零代码误差漂移
增益温度COEF网络cient
PSRR
输出特性
(3)
输出电压范围
输出电压建立时间（满量程）
压摆率
直流串扰
AC串扰
容性负载稳定性
数模转换毛刺脉冲
数字馈通
直流输出阻抗
短路电流
开机时间
V
DD
= 5 V
V
DD
= 3 V
走出掉电模式下，V
DD
=
+5 V
走出掉电模式下，V
DD
=
+3 V
参考输入
V
REF
H输入范围
V
REF
L输入范围
参考输入阻抗
参考电流
逻辑输入（ 3 ）
输入电流
V
IN_L
，输入低电压
V
IN_H
，输入高电压
引脚电容
电源要求
V
DD
， IOV
DD
I
DD
（正常操作）
I
DD
@ V
DD
= + 3.6V至+ 5.5V
(1)
(2)
(3)
不包括负载电流
V
IH
= IOV
DD
和V
IL
= GND
950
1600
A
2.7
5.5
V
V
DD
= 3 V
0.7xIOV
DD
3
±
1
0.3xIOV
DD
A
V
V
pF
V
REF
=V
DD
= +5 V
V
REF
=V
DD
= +3 V
V
REF
L < V
REF
H
0
0
GND
35
135
80
180
120
V
DD
V
DD
V
V
k
A
1 kHz正弦波
R
L
=
∞
R
L
= 2 k
1 LSB变化主进位
R
L
= 2 kΩ的; 0 pF的<
L
< 200 pF的
R
L
= 2 kΩ的;
L
= 500 pF的
0
8
12
1
0.25
-100
470
1000
20
0.5
1
50
20
2.5
5
-96
V
REF
H
10
V
s
s
V / μs的
最低位
dB
pF
pF
nV-s表示
nV-s表示
mA
mA
s
s
V
DD
= 5 V
±7
±
3
0.75
指定的单调设计
5
-0.15
测试条件
民
16
±
0.0987
±
1
20
±1.0
±
1.0
典型值
最大
单位
位
％ FSR的
最低位
mV
％ FSR的
％ FSR的
μV/°C
PPM的FSR /°C的
mV / V的
线性测试使用的485到64714减少代码范围;输出卸载。
V
REF
H = V
DD
- 0.1 V, V
REF
L = GND
通过设计和特性参数，未经生产测试。
3
DAC8574
SLAS377A - 2003年1月 - 修订2003年6月
www.ti.com
电气特性（续）
V
DD
= 2.7 V至5.5 V ，R
L
= 2 kΩ到GND ;
L
= 200 pF到GND ;所有规格-40 ° C至+ 105 ° C，除非另有规定。
参数
I
DD
@ V
DD
= + 2.7V至+ 3.6V
I
DD
（所有掉电模式）
I
DD
@ V
DD
= + 3.6V至+ 5.5V
I
DD
@ V
DD
= + 2.7V至+ 3.6V
功率英法fi效率
I
OUT
/I
DD
温度范围
指定的性能
-40
+105
°C
I
负载
= 2毫安， V
DD
= +5 V
93%
V
IH
= IOV
DD
和IOV
IL
= GND
V
IH
= V
DD
和V
IL
= GND
0.2
0.05
1
1
A
A
测试条件
V
IH
= IOV
DD
和V
IL
= GND
民
典型值
900
最大
1500
单位
A
时序特性
V
DD
= 2.7 V至5.5 V ，R
L
= 2 kΩ到GND ;所有规格-40 ° C至+ 105 ° C，除非另有规定。
符号
参数
测试条件
标准模式
快速模式
f
SCL
SCL时钟频率
高速模式，C
B
= 100 pF的
最大
高速模式，C
B
= 400 pF的最大
t
BUF
总线空闲时间之间的
停止和启动条件
保持时间（重复）启动
条件
标准模式
快速模式
标准模式
t
HD
; t
STA
快速模式
高速模式
标准模式
t
低
SCL时钟的低电平周期
快速模式
高速模式，C
B
= 100 pF的最大值
高速模式，C
B
= 400 pF的最大
标准模式
快速模式
t
高
高周期的SCL时钟
高速模式，C
B
= 100 pF的
最大
高速模式，C
B
= 400 pF的最大
标准模式
t
SU
; t
STA
对重复设置的时间
启动条件
快速模式
高速模式
标准模式
t
SU
; t
DAT
数据建立时间
快速模式
高速模式
标准模式
t
HD
; t
DAT
数据保持时间
快速模式
高速模式，C
B
= 100 pF的最大值
高速模式，C
B
= 400 pF的最大
标准模式
t
RCL
上升的SCL信号的时间
快速模式
高速模式，C
B
= 100 pF的最大值
高速模式，C
B
= 400 pF的最大
4.7
1.3
4.0
600
160
4.7
1.3
160
320
4.0
600
60
120
4.7
600
160
250
100
10
0
0
0
0
20
×
0.1C
B
20
×
0.1C
B
10
20
3.45
0.9
70
150
1000
300
40
80
民
典型值
最大
100
400
3.4
1.7
单位
千赫
千赫
兆赫
兆赫
s
s
s
ns
ns
s
s
ns
ns
s
ns
ns
ns
s
ns
ns
ns
ns
ns
s
s
ns
ns
ns
ns
ns
ns
4
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DAC8574
SLAS377A - 2003年1月 - 修订2003年6月
时序特性（续）
V
DD
= 2.7 V至5.5 V ，R
L
= 2 kΩ到GND ;所有规格-40 ° C至+ 105 ° C，除非另有规定。
符号
参数
测试条件
标准模式
t
RCL1
经过一个上升SCL信号的时间
快速模式
重复启动条件
和一个应答位，高速模式，C
B
= 100 pF的最大值
高速模式，C
B
= 400 pF的最大
标准模式
t
整箱
落下的SCL信号的时间
快速模式
高速模式，C
B
= 100 pF的最大值
高速模式，C
B
= 400 pF的最大
标准模式
t
RDA
上升SDA信号的时间
快速模式
高速模式，C
B
= 100 pF的最大值
高速模式，C
B
= 400 pF的最大
标准模式
t
FDA
秋季SDA信号的时间
快速模式
高速模式，C
B
= 100 pF的最大值
高速模式，C
B
= 400 pF的最大
标准模式
t
SU
; t
申通快递
停止条件建立时间
容性负载的SDA和
SCL
秒杀支持的脉冲宽度
压制
噪声容限的高
对于每个连接的DE-水平
副（包括滞后）
噪声容限为低电平
对于每个连接的设备
（包括滞后）
快速模式
高速模式
标准模式
快速模式
高速模式
标准模式
快速模式
高速模式
0.1 V
DD
V
0.2 V
DD
V
快速模式
高速模式
C
B
t
SP
民
20
×
0.1C
B
20
×
0.1C
B
10
20
20
×
0.1C
B
20
×
0.1C
B
10
20
20
×
0.1C
B
20
×
0.1C
B
10
20
20
×
0.1C
B
20
×
0.1C
B
10
20
4.0
600
160
400
50
10
典型值
最大
1000
300
80
160
300
300
40
80
1000
300
80
160
300
300
80
160
单位
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
s
ns
ns
pF
ns
ns
V
NH
V
NL
5
DAC
853
4
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DAC8574
SLAS377A - 2003年1月 - 修订2003年6月
QUAD ， 16位，低功耗，电压输出，
I
2
C接口数位类比转换器
特点
微功耗
操作： 950 μA ，在5 V V
DD
上电复位至零
+ 2.7V至+ 5.5V模拟电源
16位单调性
建立时间： 10微秒到
±0.003%
FSR
I
2
C接口高达3.4 Mbps的
数据传输能力
片内输出缓冲放大器，轨到轨
手术
双缓冲输入寄存器
地址支持多达十六DAC8574s
最多64个同步更新支持
频道
工作温度范围-40 ° C至105℃
小型16引脚TSSOP封装
描述
该DAC8574是一种低功耗，四通道， 16位
缓冲电压输出DAC 。其片上精密输出
放放大器允许轨到轨输出摆幅为
实现的。该DAC8574采用了我
2
C兼容型2
线串行接口，支持高速接口
与地址支持多达16 DAC8574的模式
总共64个信道的总线上的。
该DAC8574需要一个外部参考电压
设置DAC的输出范围。该DAC8574
集成了一个上电复位电路，确保
DAC输出上电时零伏和遗体
在那里，直到一个有效的写操作的装置。该
DAC8574包含一个掉电功能，访问
经由内部控制寄存器中，降低电流
该设备为200 nA的在5 V.消费
这部分在正常的低功耗
操作特性，非常适合便携式电池
供电设备。功耗更低
超过5毫瓦V
DD
= 5 V降至1 μW的
掉电模式。
该DAC8574是采用16引脚TSSOP封装
年龄。
应用
过程控制
数据采集系统
闭环伺服控制
PC外设
便携式仪表
V
DD
IOV
DD
V
REF
H
数据
缓冲液A
DAC
寄存器A
DAC A
V
OUT
A
V
OUT
B
V
OUT
C
数据
缓冲液D
18
DAC
寄存器D
DAC
V
OUT
D
SCL
SDA
I
2
C座
8
卜FF器
控制
注册
控制
掉电
控制逻辑
电阻器
网
A0
A1
GND
A2
A3
LDAC
V
REF
L
I2C是飞利浦公司的商标。
请注意，一个重要的通知有关可用性，标准保修，并在德州仪器公司的关键应用程序使用
半导体产品和免责条款及其出现在此数据表的末尾。
PRODUCTION数据信息为出版日期。
产品符合每德州仪器条款规范
标准保修。生产加工并不在 -
所有参数的CLUDE测试。
版权所有2003 ，德州仪器
DAC8574
SLAS377A - 2003年1月 - 修订2003年6月
www.ti.com
这个集成电路可以被ESD损坏。德州仪器建议所有集成
电路与适当的预防措施进行处理。如果不遵守正确的操作和安装
程序会造成损坏。
ESD损害的范围可以从细微的性能下降，完成设备故障。精确
集成电路可能更容易受到损害，因为非常小的参数变化可能
导致设备不能满足其公布的规格。
封装/订购信息
产品
包
包
制图
数
PW
规范
温度
范围
-40 ° C至+ 105°C
包
记号
D8574I
订购
数
DAC8574IPW
DAC8574IPWR
传输介质
DAC8574
16-TSSOP
90管件
2000件磁带和卷轴
PW包
（ TOPVIEW ）
针
名字
V
OUT
A
V
OUT
B
V
REF
H
V
DD
V
REF
L
GND
V
OUT
C
V
OUT
D
LDAC
SCL
SDA
IOV
DD
A0
A1
A2
A3
引脚说明
描述
从DAC A的模拟输出电压
来自DAC B的模拟输出电压
正参考电压输入
模拟电源电压输入
负基准电压输入
对所有电路接地参考点
部分
来自DAC C模拟输出电压
来自DAC D模拟输出电压
H / W同步V
OUT
更新
串行时钟输入
串行数据输入
I / O电源电压输入
设备地址选择 - 我
2
C
设备地址选择 - 我
2
C
设备地址选择 - 扩展
设备地址选择 - 扩展
V
OUT
A
V
OUT
B
V
REF
H
V
DD
V
REF
L
GND
V
OUT
C
V
OUT
D
1
2
3
4
5
6
7
8
DAC8574
16 A3
15 A2
14 A1
13 A0
12 IOV
DD
11 SDA
10 SCL
9 LDAC
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
绝对最大额定值
(1)
V
DD
到GND
数字输入电压至GND
V
OUT
到GND
工作温度范围
存储温度范围
结温范围（T
J
MAX ）
功耗：
热阻抗（ ΘJA ）
热阻抗（ ΘJC ）
焊接温度，焊接：
气相（ 60秒）
红外（ 15S ）
(1)
0.3 V至6 V
0.3 V到V
DD
+ 0.3 V
0.3 V到V
DD
+ 0.3 V
40 ° C至+ 105°C
65 ° C至+ 150°C
+150°C
118°C/W
29°C/W
215°C
220°C
注意，超出上述绝对最大额定值可能会导致器件永久性损坏。暴露在绝对
最大的条件下长时间可能会影响器件的可靠性。
2
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DAC8574
SLAS377A - 2003年1月 - 修订2003年6月
电气特性
V
DD
= 2.7 V至5.5 V ，R
L
= 2 kΩ到GND ;
L
= 200 pF到GND ;所有规格-40 ° C至+ 105 ° C，除非另有规定。
参数
静态性能
(1) (2)
决议
相对精度
微分非线性
零刻度误差
满量程误差
增益误差
零代码误差漂移
增益温度COEF网络cient
PSRR
输出特性
(3)
输出电压范围
输出电压建立时间（满量程）
压摆率
直流串扰
AC串扰
容性负载稳定性
数模转换毛刺脉冲
数字馈通
直流输出阻抗
短路电流
开机时间
V
DD
= 5 V
V
DD
= 3 V
走出掉电模式下，V
DD
=
+5 V
走出掉电模式下，V
DD
=
+3 V
参考输入
V
REF
H输入范围
V
REF
L输入范围
参考输入阻抗
参考电流
逻辑输入（ 3 ）
输入电流
V
IN_L
，输入低电压
V
IN_H
，输入高电压
引脚电容
电源要求
V
DD
， IOV
DD
I
DD
（正常操作）
I
DD
@ V
DD
= + 3.6V至+ 5.5V
(1)
(2)
(3)
不包括负载电流
V
IH
= IOV
DD
和V
IL
= GND
950
1600
A
2.7
5.5
V
V
DD
= 3 V
0.7xIOV
DD
3
±
1
0.3xIOV
DD
A
V
V
pF
V
REF
=V
DD
= +5 V
V
REF
=V
DD
= +3 V
V
REF
L < V
REF
H
0
0
GND
35
135
80
180
120
V
DD
V
DD
V
V
k
A
1 kHz正弦波
R
L
=
∞
R
L
= 2 k
1 LSB变化主进位
R
L
= 2 kΩ的; 0 pF的<
L
< 200 pF的
R
L
= 2 kΩ的;
L
= 500 pF的
0
8
12
1
0.25
-100
470
1000
20
0.5
1
50
20
2.5
5
-96
V
REF
H
10
V
s
s
V / μs的
最低位
dB
pF
pF
nV-s表示
nV-s表示
mA
mA
s
s
V
DD
= 5 V
±7
±
3
0.75
指定的单调设计
5
-0.15
测试条件
民
16
±
0.0987
±
1
20
±1.0
±
1.0
典型值
最大
单位
位
％ FSR的
最低位
mV
％ FSR的
％ FSR的
μV/°C
PPM的FSR /°C的
mV / V的
线性测试使用的485到64714减少代码范围;输出卸载。
V
REF
H = V
DD
- 0.1 V, V
REF
L = GND
通过设计和特性参数，未经生产测试。
3
DAC8574
SLAS377A - 2003年1月 - 修订2003年6月
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电气特性（续）
V
DD
= 2.7 V至5.5 V ，R
L
= 2 kΩ到GND ;
L
= 200 pF到GND ;所有规格-40 ° C至+ 105 ° C，除非另有规定。
参数
I
DD
@ V
DD
= + 2.7V至+ 3.6V
I
DD
（所有掉电模式）
I
DD
@ V
DD
= + 3.6V至+ 5.5V
I
DD
@ V
DD
= + 2.7V至+ 3.6V
功率英法fi效率
I
OUT
/I
DD
温度范围
指定的性能
-40
+105
°C
I
负载
= 2毫安， V
DD
= +5 V
93%
V
IH
= IOV
DD
和IOV
IL
= GND
V
IH
= V
DD
和V
IL
= GND
0.2
0.05
1
1
A
A
测试条件
V
IH
= IOV
DD
和V
IL
= GND
民
典型值
900
最大
1500
单位
A
时序特性
V
DD
= 2.7 V至5.5 V ，R
L
= 2 kΩ到GND ;所有规格-40 ° C至+ 105 ° C，除非另有规定。
符号
参数
测试条件
标准模式
快速模式
f
SCL
SCL时钟频率
高速模式，C
B
= 100 pF的
最大
高速模式，C
B
= 400 pF的最大
t
BUF
总线空闲时间之间的
停止和启动条件
保持时间（重复）启动
条件
标准模式
快速模式
标准模式
t
HD
; t
STA
快速模式
高速模式
标准模式
t
低
SCL时钟的低电平周期
快速模式
高速模式，C
B
= 100 pF的最大值
高速模式，C
B
= 400 pF的最大
标准模式
快速模式
t
高
高周期的SCL时钟
高速模式，C
B
= 100 pF的
最大
高速模式，C
B
= 400 pF的最大
标准模式
t
SU
; t
STA
对重复设置的时间
启动条件
快速模式
高速模式
标准模式
t
SU
; t
DAT
数据建立时间
快速模式
高速模式
标准模式
t
HD
; t
DAT
数据保持时间
快速模式
高速模式，C
B
= 100 pF的最大值
高速模式，C
B
= 400 pF的最大
标准模式
t
RCL
上升的SCL信号的时间
快速模式
高速模式，C
B
= 100 pF的最大值
高速模式，C
B
= 400 pF的最大
4.7
1.3
4.0
600
160
4.7
1.3
160
320
4.0
600
60
120
4.7
600
160
250
100
10
0
0
0
0
20
×
0.1C
B
20
×
0.1C
B
10
20
3.45
0.9
70
150
1000
300
40
80
民
典型值
最大
100
400
3.4
1.7
单位
千赫
千赫
兆赫
兆赫
s
s
s
ns
ns
s
s
ns
ns
s
ns
ns
ns
s
ns
ns
ns
ns
ns
s
s
ns
ns
ns
ns
ns
ns
4
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DAC8574
SLAS377A - 2003年1月 - 修订2003年6月
时序特性（续）
V
DD
= 2.7 V至5.5 V ，R
L
= 2 kΩ到GND ;所有规格-40 ° C至+ 105 ° C，除非另有规定。
符号
参数
测试条件
标准模式
t
RCL1
经过一个上升SCL信号的时间
快速模式
重复启动条件
和一个应答位，高速模式，C
B
= 100 pF的最大值
高速模式，C
B
= 400 pF的最大
标准模式
t
整箱
落下的SCL信号的时间
快速模式
高速模式，C
B
= 100 pF的最大值
高速模式，C
B
= 400 pF的最大
标准模式
t
RDA
上升SDA信号的时间
快速模式
高速模式，C
B
= 100 pF的最大值
高速模式，C
B
= 400 pF的最大
标准模式
t
FDA
秋季SDA信号的时间
快速模式
高速模式，C
B
= 100 pF的最大值
高速模式，C
B
= 400 pF的最大
标准模式
t
SU
; t
申通快递
停止条件建立时间
容性负载的SDA和
SCL
秒杀支持的脉冲宽度
压制
噪声容限的高
对于每个连接的DE-水平
副（包括滞后）
噪声容限为低电平
对于每个连接的设备
（包括滞后）
快速模式
高速模式
标准模式
快速模式
高速模式
标准模式
快速模式
高速模式
0.1 V
DD
V
0.2 V
DD
V
快速模式
高速模式
C
B
t
SP
民
20
×
0.1C
B
20
×
0.1C
B
10
20
20
×
0.1C
B
20
×
0.1C
B
10
20
20
×
0.1C
B
20
×
0.1C
B
10
20
20
×
0.1C
B
20
×
0.1C
B
10
20
4.0
600
160
400
50
10
典型值
最大
1000
300
80
160
300
300
40
80
1000
300
80
160
300
300
80
160
单位
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
s
ns
ns
pF
ns
ns
V
NH
V
NL
5
DAC
8 53
4
DAC8574
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QUAD ， 16位，低功耗，电压输出，
I 2 C接口数位类比转换器
2
特点
微功耗
操作： 950 μA ，在5 V V
DD
上电复位至零
+ 2.7 V至+ 5.5 V模拟电源
16位单调性
建立时间： 10微秒到
±0.003%
FSR
I
2
C接口高达3.4 Mbps的
数据传输能力
片内输出缓冲放大器，轨到轨
手术
双缓冲输入寄存器
地址支持多达十六DAC8574s
最多64个同步更新支持
频道
工作温度范围-40 ° C至105℃
小型16引脚TSSOP封装
描述
该DAC8574是一种低功耗，四通道， 16位
缓冲电压输出DAC 。其片上精密
输出放大器允许轨到轨输出摆幅为
实现的。该DAC8574采用了我
2
C兼容
两线串行接口，支持高速
与地址最多可支持16接口方式
DAC8574s为总共64个信道的总线上的。
该DAC8574需要一个外部参考电压
设置DAC的输出范围。该DAC8574
集成了一个上电复位电路，确保
该DAC输出上电在零伏和
仍然在那里，直到一个有效的写操作的
装置。该DAC8574包含掉电为特色的
TURE ，通过内部控制寄存器访问，该
降低了装置200的消耗电流
nA的5 V.
这部分在正常的低功耗
操作特性，非常适合便携式电池
供电设备。功耗更低
超过5毫瓦V
DD
= 5 V降至1 μW的
掉电模式。
该DAC8574是采用16引脚TSSOP
封装。
IOV
DD
V
REF
H
应用
过程控制
数据采集系统
闭环伺服控制
PC外设
便携式仪表
V
DD
数据
缓冲液A
DAC
寄存器A
DAC A
V
OUT
A
V
OUT
B
18
数据
缓冲液D
DAC
寄存器D
V
OUT
C
DAC
V
OUT
D
SCL
I
2
C座
SDA
8
卜FF器
控制
注册
控制
掉电
控制逻辑
电阻器
网
A0
A1
GND
A2
A3
LDAC
V
REF
L
请注意，一个重要的通知有关可用性，标准保修，并在得克萨斯州的关键应用程序使用
仪器的半导体产品和免责条款及其出现在此数据表的末尾。
2
C是飞利浦公司的商标。
I
PRODUCTION数据信息为出版日期。
产品符合占德州条款规范
仪器标准保修。生产加工过程中不
不一定包括所有参数进行测试。
版权所有2003-2004 ，德州仪器
DAC8574
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这个集成电路可以被ESD损坏。德州仪器建议所有集成
电路与适当的预防措施进行处理。如果不遵守正确的操作和安装
程序会造成损坏。
ESD损害的范围可以从细微的性能下降，完成设备故障。精确
集成电路可能更容易受到损害，因为非常小的参数变化可能
导致设备不能满足其公布的规格。
封装/订购信息
产品
包
包
制图
数
PW
规范
温度
范围
-40 ° C至+ 105°C
包
记号
D8574I
订购
数
DAC8574IPW
DAC8574IPWR
传输介质
DAC8574
16-TSSOP
90管件
2000件磁带和卷轴
PW包
（ TOPVIEW ）
针
名字
V
OUT
A
V
OUT
B
V
REF
H
V
DD
V
REF
L
GND
V
OUT
C
V
OUT
D
LDAC
SCL
SDA
IOV
DD
A0
A1
A2
A3
引脚说明
描述
从DAC A的模拟输出电压
来自DAC B的模拟输出电压
正参考电压输入
模拟电源电压输入
负基准电压输入
对所有电路接地参考点
部分
来自DAC C模拟输出电压
来自DAC D模拟输出电压
H / W同步V
OUT
更新
串行时钟输入
串行数据输入
I / O电源电压输入
设备地址选择 - 我
2
C
设备地址选择 - 我
2
C
设备地址选择 - 扩展
设备地址选择 - 扩展
V
OUT
A
V
OUT
B
V
REF
H
V
DD
V
REF
L
GND
V
OUT
C
V
OUT
D
1
2
3
4
5
6
7
8
DAC8574
16 A3
15 A2
14 A1
13 A0
12 IOV
DD
11 SDA
10 SCL
9 LDAC
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
绝对最大额定值
(1)
V
DD
到GND
数字输入电压至GND
V
OUT
到GND
工作温度范围
存储温度范围
结温范围（T
J
MAX ）
功耗：
焊接温度，焊接：
热阻抗（ ΘJA ）
热阻抗（ ΘJC ）
气相（ 60秒）
红外（ 15S ）
(1)
0.3 V至6 V
0.3 V到V
DD
+ 0.3 V
0.3 V到V
DD
+ 0.3 V
40 ° C至+ 105°C
65 ° C至+ 150°C
+150°C
118°C/W
29°C/W
215°C
220°C
注意，超出上述绝对最大额定值可能会导致器件永久性损坏。暴露在绝对
最大的条件下长时间可能会影响器件的可靠性。
2
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电气特性
V
DD
= 2.7 V至5.5 V ，R
L
= 2 kΩ到GND ;
L
= 200 pF到GND ;所有规格-40 ° C至+ 105 ° C，除非另有规定。
参数
静态性能
(1) (2)
决议
相对精度
微分非线性
零刻度误差
满量程误差
增益误差
零代码误差漂移
增益温度COEF网络cient
PSRR
产量
特征
(3)
0
R
L
= 2 kΩ的; 0 pF的<
L
< 200 pF的
R
L
= 2 kΩ的;
L
= 500 pF的
压摆率
直流串扰
AC串扰
容性负载稳定性
数模转换毛刺脉冲
数字馈通
直流输出阻抗
短路电流
开机时间
V
DD
= 5 V
V
DD
= 3 V
走出掉电模式，
V
DD
= +5 V
走出掉电模式，
V
DD
= +3 V
参考输入
V
REF
H输入范围
V
REF
L输入范围
参考输入阻抗
参考电流
逻辑输入
输入电流
V
IN_L
，输入低电压
V
IN_H
，输入高电压
引脚电容
电源要求
V
DD
， IOV
DD
I
DD
（正常操作）
I
DD
@ V
DD
= + 3.6V至+ 5.5V
I
DD
@ V
DD
= + 2.7V至+ 3.6V
(1)
(2)
(3)
不包括负载电流
V
IH
= IOV
DD
和V
IL
= GND
V
IH
= IOV
DD
和V
IL
= GND
950
900
1600
1500
A
A
2.7
5.5
V
V
DD
= 3 V
0.7xIOV
DD
3
(3)
测试条件
民
16
典型值
最大
单位
位
±
0.0987
指定的单调设计
5
-0.15
±7
±
3
V
DD
= 5 V
0.75
V
REF
H
8
12
1
0.25
1 kHz正弦波
R
L
=
∞
R
L
= 2 k
1 LSB变化主进位
-100
470
1000
20
0.5
1
50
20
2.5
5
-96
10
±
1
20
±1.0
±
1.0
％ FSR的
最低位
mV
％ FSR的
％ FSR的
μV/°C
PPM的FSR /°C的
mV / V的
V
s
s
V / μs的
最低位
dB
pF
pF
nV-s表示
nV-s表示
mA
mA
s
s
输出电压范围
输出电压建立时间（满量程）
0
V
REF
L < V
REF
H
V
REF
=V
DD
= +5 V
V
REF
=V
DD
= +3 V
0
GND
35
135
80
V
DD
V
DD
180
120
±
1
0.3xIOV
DD
V
V
k
A
A
V
V
pF
线性测试使用的485到64714减少代码范围;输出卸载。
V
REF
H = V
DD
- 0.1 V, V
REF
L = GND
通过设计和特性参数，未经生产测试。
3
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电气特性（续）
V
DD
= 2.7 V至5.5 V ，R
L
= 2 kΩ到GND ;
L
= 200 pF到GND ;所有规格-40 ° C至+ 105 ° C，除非另有规定。
参数
I
DD
（所有掉电模式）
I
DD
@ V
DD
= + 3.6V至+ 5.5V
I
DD
@ V
DD
= + 2.7V至+ 3.6V
功率英法fi效率
I
OUT
/I
DD
温度范围
指定的性能
-40
+105
°C
I
负载
= 2毫安， V
DD
= +5 V
93%
V
IH
= IOV
DD
和IOV
IL
= GND
V
IH
= V
DD
和V
IL
= GND
0.2
0.05
1
1
A
A
测试条件
民
典型值
最大
单位
时序特性
V
DD
= 2.7 V至5.5 V ，R
L
= 2 kΩ到GND ;所有规格-40 ° C至+ 105 ° C，除非另有规定。
符号
参数
测试条件
标准模式
快速模式
f
SCL
SCL时钟频率
高速模式，C
B
= 100 pF的
最大
高速模式，C
B
= 400 pF的最大
t
BUF
总线空闲时间之间的
停止和启动条件
保持时间（重复）启动
条件
标准模式
快速模式
标准模式
t
HD
; t
STA
快速模式
高速模式
标准模式
t
低
SCL时钟的低电平周期
快速模式
高速模式，C
B
= 100 pF的最大值
高速模式，C
B
= 400 pF的最大
标准模式
快速模式
t
高
高周期的SCL时钟
高速模式，C
B
= 100 pF的
最大
高速模式，C
B
= 400 pF的最大
标准模式
t
SU
; t
STA
对重复设置的时间
启动条件
快速模式
高速模式
标准模式
t
SU
; t
DAT
数据建立时间
快速模式
高速模式
标准模式
t
HD
; t
DAT
数据保持时间
快速模式
高速模式，C
B
= 100 pF的最大值
高速模式，C
B
= 400 pF的最大
标准模式
t
RCL
上升的SCL信号的时间
快速模式
高速模式，C
B
= 100 pF的最大值
高速模式，C
B
= 400 pF的最大
20 + 0.1C
B
10
20
4.7
1.3
4.0
600
160
4.7
1.3
160
320
4.0
600
60
120
4.7
600
160
250
100
10
0
0
0
0
3.45
0.9
70
150
1000
300
40
80
民
典型值
最大
100
400
3.4
1.7
单位
千赫
千赫
兆赫
兆赫
s
s
s
ns
ns
s
s
ns
ns
s
ns
ns
ns
s
ns
ns
ns
ns
ns
s
s
ns
ns
ns
ns
ns
ns
4
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时序特性（续）
V
DD
= 2.7 V至5.5 V ，R
L
= 2 kΩ到GND ;所有规格-40 ° C至+ 105 ° C，除非另有规定。
符号
参数
测试条件
民
20 + 0.1C
B
10
20
20 + 0.1C
B
10
20
20 + 0.1C
B
10
20
20 + 0.1C
B
10
20
4.0
600
160
400
快速模式
高速模式
标准模式
快速模式
高速模式
标准模式
快速模式
高速模式
0.1 V
DD
V
0.2 V
DD
V
50
10
典型值
最大
1000
300
80
160
300
300
40
80
1000
300
80
160
300
300
80
160
单位
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
s
ns
ns
pF
ns
ns
标准模式
经过一个上升SCL信号的时间
快速模式
重复启动条件
和一个应答位，高速模式，C
B
= 100 pF的最大值
高速模式，C
B
= 400 pF的最大
标准模式
t
整箱
落下的SCL信号的时间
快速模式
高速模式，C
B
= 100 pF的最大值
高速模式，C
B
= 400 pF的最大
标准模式
t
RDA
上升SDA信号的时间
快速模式
高速模式，C
B
= 100 pF的最大值
高速模式，C
B
= 400 pF的最大
标准模式
t
FDA
秋季SDA信号的时间
快速模式
高速模式，C
B
= 100 pF的最大值
高速模式，C
B
= 400 pF的最大
标准模式
t
SU
; t
申通快递
停止条件建立时间
容性负载的SDA和
SCL
秒杀支持的脉冲宽度
压制
噪声容限的高
对于每个连接的DE-水平
副（包括滞后）
噪声容限为低电平
对于每个连接的设备
（包括滞后）
快速模式
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C
B
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RCL1
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