DAC0830 / DAC0832 8位微处理器兼容，双缓冲模数转换器
2002年3月
DAC0830/DAC0832
8位微处理器兼容，双缓冲模数转换器
概述
该DAC0830是一种先进的CMOS /硅铬8位乘法
DAC设计与8080 ， 8048直接对接，
8085, Z80
和其他流行的微处理器。沉积的
硅铬R- 2R梯形电阻网络的分
参考电流，并提供电路具有优良的
温度跟踪特性（满量程的0.05 ％
范围最大线性误差随温度） 。该税务局局长
扣器使用CMOS电流开关和控制逻辑
实现低功耗和低输出泄漏
当前错误。特殊的电路提供了TTL逻辑输入电压
年龄层次的兼容性。
双缓冲允许这些DAC输出电压
对应于一个数字字而保持在下
数字字。这样，可以对任何的同时更新
数模转换器的数目。
该DAC0830系列是一个家庭的8位成员
微处理器兼容的DAC （ MICRO- DAC
).
特点
n
双缓冲，单缓冲或流通过数字
数据输入
n
轻松交换和引脚兼容的12位
DAC1230系列
n
直接接口到所有流行的微处理器
n
线性与指定的零点和满度调整
只有 - 不是最佳直线拟合。
n
作品
±
10V参考全四象限乘法
n
所用的电压切换模式被用来
n
符合TTL电平规范的逻辑输入（ 1.4V
逻辑阈值）
n
运行“独立” （无μP ）如果需要的话
n
可提供20引脚小外形或模芯片载体
包
关键的特定连接的阳离子
n
n
n
n
n
n
目前的稳定时间： 1微秒
分辨率：8位
线性： 8,9 ，或10位（保证温度过高）
增益温度系数： 0.0002 ％ FS /℃
低功耗： 20毫瓦
单电源供电： 5 15 V
DC
典型用途
00560801
BI- FET
和MICRO -DAC
是美国国家半导体公司的商标。
Z80
是Zilog公司公司的注册商标。
2002美国国家半导体公司
DS005608
www.national.com
DAC0830/DAC0832
电气特性
V
REF
=10.000 V
DC
除非另有说明。
黑体字限额适用于温度T
民
≤T
A
≤T
最大
.
对于所有其他限制
T
A
=25C.
V
CC
=15.75 V
DC
符号
参数
条件
SEE
记
经过测试
极限
（注5 ）
V
CC
=12
V
DC
±
5％至15
V
DC
±
5%
设计极限
（注6 ）
V
CC
=4.75 V
DC
经过测试
极限
（注5 ）
V
CC
=5
V
DC
±
5%
设计
极限
（注6 ）
典型值
（注12 ）
典型值
（注12 ）
极限
单位
AC特性
t
s
当前设置
时间
t
W
写和XFER
脉冲宽度最小
t
DS
数据建立时间
民
t
DH
数据保持时间
民
t
CS
控制设置
时间
民
t
CH
控制保持时间V
IL
=0V,
V
IH
=5V
民
9
0
V
IL
=0V,
V
IH
=5V
9
110
V
IL
=0V,
V
IH
=5V
9
V
IL
=0V,
V
IH
=5V
V
IL
=0V,
V
IH
=5V
11
9
9
100
100
250
320
250
320
30
30
250
320
0
0
320
10
0
600
320
320
375
375
600
900
600
900
50
50
900
1100
0
0
1100
900
ns
900
V
IL
=0V,
V
IH
=5V
1.0
1.0
s
注1 ：
最大极限值是指超出这可能会损坏设备的限制。操作时，直流和交流电气规格不适用
该设备超出规定的操作条件。
注2 ：
所有电压相对于GND测量，除非另有规定ED 。
注3 ：
最大功耗必须在高温下会减小，由T决定
JMAX
,
θ
JA
和环境温度，T
A
。最大
在任何温度下允许功耗为：P
D
= (T
JMAX
T
A
)/θ
JA
还是在绝对最大额定值给出的数字，以较低者为准。对于这个装置，
T
JMAX
= 125℃ （塑料）和150C（陶瓷） ，以及歼封装的电路板安装时的典型结到环境的热阻为80℃ / W 。对于N个
包，该数字将增加至100℃/ W，并在V包这个数目为120℃ / W 。
注4 ：
对于电流开关应用中，我
OUT1
我
OUT2
必须到地面或运算放大器的“虚地” 。线性误差被降低
大约V
OS
÷ V
REF
。例如，若V
REF
= 10V ，然后一个1 mV的偏移量，V
OS
关于我
OUT1
还是我
OUT2
将引入额外的0.01 ％的线性误差。
注5 ：
测试的范围，保证国家的AOQL （平均出厂质量水平） 。
注6 ：
保证，但不是100 ％生产测试。这些限制不用于计算呼出的质量水平。
注7 ：
保证在V
REF
=
±
10 V
DC
和V
REF
=
±
1 V
DC
.
注8 ：
单位“ FSR ”代表“全量程范围。 ” “线性误差”和“电源抑制比”指标是基于本机上，以消除对依赖
特别是V
REF
参数值，并指示所述部分的真实表现。该DAC0830的“线性误差”指定为“ FSR （MAX）中的0.05 ％” 。这保证
在执行一个零点和满度调整后（见第2.5和2.6 ）的256模拟电压输出的情节将分别在0.05 ％ XV
REF
A的
直线穿过零点和满量程。
注9：粗体
测试限制仅适用于在LJ和LCJ后缀部分。
注10 ：
一个100nA的漏电流为R
fb
= 20K和V
REF
= 10V对应的零误差（ 100×10
9
x20x10
3
）×100 / 10，它是FS的0.02％。
注11 ：
全写入脉冲必须在有效数据区间内发生指定吨
W
, t
DS
, t
DH
和叔
S
以应用。
注12 ：
标准被定在25℃，代表最可能的参数指标。
注13 ：
人体模型， 100pF的放电通过1.5 kΩ电阻。
5
www.national.com
DAC0830 / DAC0832 8位微处理器兼容，双缓冲模数转换器
2002年3月
DAC0830/DAC0832
8位微处理器兼容，双缓冲模数转换器
概述
该DAC0830是一种先进的CMOS /硅铬8位乘法
DAC设计与8080 ， 8048直接对接，
8085, Z80
和其他流行的微处理器。沉积的
硅铬R- 2R梯形电阻网络的分
参考电流，并提供电路具有优良的
温度跟踪特性（满量程的0.05 ％
范围最大线性误差随温度） 。该税务局局长
扣器使用CMOS电流开关和控制逻辑
实现低功耗和低输出泄漏
当前错误。特殊的电路提供了TTL逻辑输入电压
年龄层次的兼容性。
双缓冲允许这些DAC输出电压
对应于一个数字字而保持在下
数字字。这样，可以对任何的同时更新
数模转换器的数目。
该DAC0830系列是一个家庭的8位成员
微处理器兼容的DAC （ MICRO- DAC
).
特点
n
双缓冲，单缓冲或流通过数字
数据输入
n
轻松交换和引脚兼容的12位
DAC1230系列
n
直接接口到所有流行的微处理器
n
线性与指定的零点和满度调整
只有 - 不是最佳直线拟合。
n
作品
±
10V参考全四象限乘法
n
所用的电压切换模式被用来
n
符合TTL电平规范的逻辑输入（ 1.4V
逻辑阈值）
n
运行“独立” （无μP ）如果需要的话
n
可提供20引脚小外形或模芯片载体
包
关键的特定连接的阳离子
n
n
n
n
n
n
目前的稳定时间： 1微秒
分辨率：8位
线性： 8,9 ，或10位（保证温度过高）
增益温度系数： 0.0002 ％ FS /℃
低功耗： 20毫瓦
单电源供电： 5 15 V
DC
典型用途
00560801
BI- FET
和MICRO -DAC
是美国国家半导体公司的商标。
Z80
是Zilog公司公司的注册商标。
2002美国国家半导体公司
DS005608
www.national.com
DAC0830/DAC0832
电气特性
V
REF
=10.000 V
DC
除非另有说明。
黑体字限额适用于温度T
民
≤T
A
≤T
最大
.
对于所有其他限制
T
A
=25C.
V
CC
=15.75 V
DC
符号
参数
条件
SEE
记
经过测试
极限
（注5 ）
V
CC
=12
V
DC
±
5％至15
V
DC
±
5%
设计极限
（注6 ）
V
CC
=4.75 V
DC
经过测试
极限
（注5 ）
V
CC
=5
V
DC
±
5%
设计
极限
（注6 ）
典型值
（注12 ）
典型值
（注12 ）
极限
单位
AC特性
t
s
当前设置
时间
t
W
写和XFER
脉冲宽度最小
t
DS
数据建立时间
民
t
DH
数据保持时间
民
t
CS
控制设置
时间
民
t
CH
控制保持时间V
IL
=0V,
V
IH
=5V
民
9
0
V
IL
=0V,
V
IH
=5V
9
110
V
IL
=0V,
V
IH
=5V
9
V
IL
=0V,
V
IH
=5V
V
IL
=0V,
V
IH
=5V
11
9
9
100
100
250
320
250
320
30
30
250
320
0
0
320
10
0
600
320
320
375
375
600
900
600
900
50
50
900
1100
0
0
1100
900
ns
900
V
IL
=0V,
V
IH
=5V
1.0
1.0
s
注1 ：
最大极限值是指超出这可能会损坏设备的限制。操作时，直流和交流电气规格不适用
该设备超出规定的操作条件。
注2 ：
所有电压相对于GND测量，除非另有规定ED 。
注3 ：
最大功耗必须在高温下会减小，由T决定
JMAX
,
θ
JA
和环境温度，T
A
。最大
在任何温度下允许功耗为：P
D
= (T
JMAX
T
A
)/θ
JA
还是在绝对最大额定值给出的数字，以较低者为准。对于这个装置，
T
JMAX
= 125℃ （塑料）和150C（陶瓷） ，以及歼封装的电路板安装时的典型结到环境的热阻为80℃ / W 。对于N个
包，该数字将增加至100℃/ W，并在V包这个数目为120℃ / W 。
注4 ：
对于电流开关应用中，我
OUT1
我
OUT2
必须到地面或运算放大器的“虚地” 。线性误差被降低
大约V
OS
÷ V
REF
。例如，若V
REF
= 10V ，然后一个1 mV的偏移量，V
OS
关于我
OUT1
还是我
OUT2
将引入额外的0.01 ％的线性误差。
注5 ：
测试的范围，保证国家的AOQL （平均出厂质量水平） 。
注6 ：
保证，但不是100 ％生产测试。这些限制不用于计算呼出的质量水平。
注7 ：
保证在V
REF
=
±
10 V
DC
和V
REF
=
±
1 V
DC
.
注8 ：
单位“ FSR ”代表“全量程范围。 ” “线性误差”和“电源抑制比”指标是基于本机上，以消除对依赖
特别是V
REF
参数值，并指示所述部分的真实表现。该DAC0830的“线性误差”指定为“ FSR （MAX）中的0.05 ％” 。这保证
在执行一个零点和满度调整后（见第2.5和2.6 ）的256模拟电压输出的情节将分别在0.05 ％ XV
REF
A的
直线穿过零点和满量程。
注9：粗体
测试限制仅适用于在LJ和LCJ后缀部分。
注10 ：
一个100nA的漏电流为R
fb
= 20K和V
REF
= 10V对应的零误差（ 100×10
9
x20x10
3
）×100 / 10，它是FS的0.02％。
注11 ：
全写入脉冲必须在有效数据区间内发生指定吨
W
, t
DS
, t
DH
和叔
S
以应用。
注12 ：
标准被定在25℃，代表最可能的参数指标。
注13 ：
人体模型， 100pF的放电通过1.5 kΩ电阻。
5
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DAC0830 ， DAC0832
www.ti.com
SNAS534B - 1999年5月 - 修订2013年3月
DAC0830 / DAC0832 8位
μP
兼容，双缓冲模数转换器
检查样品：
DAC0830 ， DAC0832
1
特点
关键的特定连接的阳离子
目前的稳定时间： 1
μs
分辨率：8位
线性： 8,9 ，或10位（有保证的过
温度）。
增益温度系数： 0.0002 ％ FS /℃
低功耗： 20毫瓦
单电源供电： 5 15 V
DC
双缓冲，单缓冲或液流 -
通过数字数据输入
易于交换和引脚兼容的12
位DAC1230系列
直接接口到所有流行
微处理器
线性与指定的零点和满度
只调整-NOT最佳直线拟合。
具有± 10V参考 - 全四象限工作
乘法
可用于在电压开关模式
逻辑输入符合TTL电平
规格（ 1.4V的逻辑阈值）
运行“独立” （无
μP)
if
所需
提供20引脚SOIC和PLCC封装
234
描述
该DAC0830是一种先进的CMOS /硅铬8位
乘法DAC设计与直接连接
8080, 8048, 8085, Z80
和其他流行
微处理器。沉积的硅铬R- 2R
梯形电阻网络划分基准电流
并提供电路具有优良的温度
跟踪特性（满量程的0.05 ％
最大线性误差在整个温度范围） 。该电路
使用CMOS电流开关和控制逻辑
实现低功耗和低输出
漏电流误差。特殊的电路提供了TTL
逻辑输入电压电平的兼容性。
双缓冲允许这些DAC输出一个
对应于一个数字字，而电压
持下一个数字字。这允许
同时更新的任何数量的DAC 。
该DAC0830系列是一个8位成员
系列微处理器兼容的DAC （微
DAC ） 。
典型用途
1
2
3
4
请注意，一个重要的通知有关可用性，标准保修，并且在关键的应用程序中使用
德州仪器公司的半导体产品和免责条款及其出现在此数据表的末尾。
BI- FET是德州仪器的商标。
Z80是Zilog公司公司的注册商标。
所有其他商标均为其各自所有者的财产。
版权所有 1999年至2013年，德州仪器
PRODUCTION数据信息为出版日期。
产品符合占德州条款规范
仪器标准保修。生产加工过程中不
不一定包括所有参数进行测试。
DAC0830 ， DAC0832
SNAS534B - 1999年5月 - 修订2013年3月
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连接图
（俯视图）
图1. PDIP ， CDIP和SOIC封装
图2. PLCC封装
这些器件具有有限的内置ESD保护。引线应短接在一起或设备放置在导电泡棉
储存或搬运过程中，以防止对静电损坏MOS大门。
绝对最大额定值
(1) (2) (3)
电源电压（V
CC
)
电压在任何数字输入
电压V
REF
输入
存储温度范围
65°C
至+ 150°C
包装消耗在
T
A
=25°C
(4)
直流电压适用于
I
OUT1
还是我
OUT2 （5）
ESD Susceptability
(5) (6)
领导
温度
（焊接， 10
秒）。
PDIP封装（塑料）
CDIP封装（陶瓷）
SOIC封装
气相（ 60秒）
红外（15秒）。
(1)
(2)
(3)
(4)
17 V
DC
V
CC
到GND
±25V
500毫瓦
100
mV至V
CC
800V
260°C
300°C
215°C
220°C
(5)
(6)
所有电压相对于GND测量，除非另有规定ED 。
最大极限值是指超出这可能会损坏设备的限制。直流和交流电气规格不
经营超出其规定的工作条件设备时适用。
如果是用于军事/航空专用设备，请联系TI销售办事处/经销商咨询具体可用性和规格。
最大功耗必须在高温下会减小，由T决定
JMAX
,
θ
JA
和环境温度，
T
A
。在任何温度下的最大允许功耗为：P
D
= (T
JMAX
T
A
)/θ
JA
或给定的绝对数量
最大额定值，以较低者为准。对于此设备，T
JMAX
= 125°C （塑料）或150 ° C（陶瓷） ，典型的结点至环境
歼封装的基板安装时的热阻为80℃ / W 。为NFH包，该数字将增加至100℃ / W，并为
在FN包这个数字是120 ° C / W 。
对于电流开关应用中，我
OUT1
我
OUT2
必须到地面或运算放大器的“虚地” 。该
线性误差是由大致V降解
OS
÷ V
REF
。例如，若V
REF
= 10V ，然后一个1 mV的偏移量，V
OS
关于我
OUT1
还是我
OUT2
将
引入另外的0.01％的线性误差。
人体模型， 100pF的放电通过1.5 kΩ电阻。
2
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版权所有 1999年至2013年，德州仪器
产品文件夹链接：
DAC0830 DAC0832
DAC0830 ， DAC0832
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SNAS534B - 1999年5月 - 修订2013年3月
工作条件
温度范围
T
民
≤T
A
≤T
最大
与“ LCN ”后缀的部件号
与“ LCWM ”后缀的部件号
与“ LCV ”后缀的部件号
与“ LCJ ”后缀的部件号
与“ LJ ”后缀的部件号
电压在任何数字输入
0 ° C至+ 70°C
0 ° C至+ 70°C
0 ° C至+ 70°C
40°C
至+ 85°C
55°C
至+ 125°C
V
CC
到GND
电气特性
V
REF
=10.000 V
DC
除非另有说明。
黑体字限额适用于温度T
民
≤T
A
≤T
最大
.
(1)
对于所有其他限制
T
A
=25°C.
SEE
记
V
CC
= 4.75 V
DC
V
CC
= 15.75 V
DC
典型值
(3)
转换器特性
决议
线性误差最大
DAC0830LJ & LCJ
DAC0832LJ & LCJ
DAC0830LCN ， LCWM &
LCV
DAC0831LCN
DAC0832LCN ， LCWM &
LCV
微分非线性
最大
DAC0830LJ & LCJ
DAC0832LJ & LCJ
DAC0830LCN ， LCWM &
LCV
DAC0831LCN
DAC0832LCN ， LCWM &
LCV
单调性
增益误差最大值
10V≤V
REF
≤+10V
LJ & LCJ
LCN ， LCWM & LCV
SEE
(7)
参数
条件
V
CC
= 5 V
DC
±5%
V
CC
= 12 V
DC
±5%
到15 V
DC
±5%
设计
极限
(5)
8
经过测试
极限
(4)
8
极限
单位
(2)
8
零点和满度调整
10V≤V
REF
≤+10V
和
SEE
(6)
(2)
位
0.05
0.2
0.05
0.1
0.2
零点和满度调整
10V≤V
REF
≤+10V
SEE
(6)
和
(2)
0.1
0.4
0.1
0.2
0.4
SEE
(6)
±0.2
8
8
±1
0.05
0.2
0.05
0.1
0.2
％ FSR
％ FSR
％ FSR
％ FSR
％ FSR
0.1
0.4
0.1
0.2
0.4
8
8
±1
％ FSR
％ FSR
％ FSR
％ FSR
％ FSR
位
位
％ FS
%
FS / ℃，
使用内部研发
fb
10V≤V
REF
≤+10V
增益误差温度系数最大
使用内部研发
fb
0.0002
0.0006
(1)
(2)
(3)
(4)
(5)
(6)
(7)
粗体
测试限制仅适用于在LJ和LCJ后缀部分。
“线性误差”和“电源抑制比”指标是基于本机上杜绝单位“ FSR ”代表“全量程范围。 ”
在一个特定的V依赖性
REF
参数值，并指示所述部分的真实表现。的的“线性误差”规范
DAC0830是“ 0.05 ％ FSR （最大值） ” 。这确保了执行零点和满度调整后（见第
零点调整
和
满度调节） ，
的256模拟电压输出的情节将分别在0.05 ％ ×V
REF
的直线穿过的
通过零点和满度。
标准被定在25℃，代表最可能的参数指标。
测试的限制，以确保TI的AOQL （平均出厂质量水平） 。
保证，但不是100 ％生产测试。这些限制不用于计算呼出的质量水平。
对于电流开关应用中，我
OUT1
我
OUT2
必须到地面或运算放大器的“虚地” 。该
线性误差是由大致V降解
OS
÷ V
REF
。例如，若V
REF
= 10V ，然后一个1 mV的偏移量，V
OS
关于我
OUT1
还是我
OUT2
将
引入另外的0.01％的线性误差。
在V指定
REF
=±10 V
DC
和V
REF
=±1 V
DC
.
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3
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DAC0830 DAC0832
DAC0830 ， DAC0832
SNAS534B - 1999年5月 - 修订2013年3月
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电气特性（续）
V
REF
=10.000 V
DC
除非另有说明。
黑体字限额适用于温度T
民
≤T
A
≤T
最大
.
(1)
对于所有其他限制
T
A
=25°C.
SEE
记
V
CC
= 4.75 V
DC
V
CC
= 15.75 V
DC
典型值
(3)
电源抑制
所有数字输入锁定高
V
CC
= 14.5V到15.5V
11.5V到12.5V
4.5V至5.5V
参考
输入
最大
民
V
REF
= 20 VP - P，F = 100千赫
所有数据输入锁存低
所有数据输入
锁存低
I
OUT2
产量
电容
I
OUT1
I
OUT2
I
OUT1
I
OUT2
数字输入
电压
最大
所有数据输入
锁定高
所有数据输入
锁存低
所有数据输入
锁定高
逻辑低
LJ ： 4.75V
LJ ： 15.75V
LCJ ：
LCJ ：
民
数字输入
电流
最大
逻辑高
数字输入
<0.8V
数字
inputs>2.0V
电源电流
漏
(8)
最大
4.75V
15.75V
LJ & LCJ
LCN ， LCWM & LCV
LJ & LCJ
LCN ， LCWM & LCV
45
115
130
30
0.6
0.8
0.7
0.8
0.95
2.0
1.9
50
0.1
1.2
200
160
+10
+8
3.5
1.7
0.8
2.0
2.0
200
200
+10
+10
3.5
2.0
mA
V
DC
μA
μA
μA
V
DC
SEE
(8)
0.0002
0.0006
0.013
15
15
3
100
50
100
50
100
100
100
100
0.015
20
10
20
10
kΩ
kΩ
MVP -P
nA
nA
pF
pF
0.0025
%
FSR / V
经过测试
极限
(4)
V
CC
= 5 V
DC
±5%
V
CC
= 12 V
DC
±5%
到15 V
DC
±5%
设计
极限
(5)
极限
单位
(2)
参数
条件
输出馈通误差
输出漏
当前最大
(8)
I
OUT1
数字化和DC特性
LCN ， LCWM ， LCV
LJ & LCJ
LCN ， LCWM ， LCV
LJ & LCJ
LCN ， LCWM ， LCV
LJ & LCJ
LCN ， LCWM ， LCV
LJ & LCJ
LCN ， LCWM ， LCV
一个100nA的漏电流为R
fb
= 20K和V
REF
= 10V对应于（ 100 × 10零误差
9
×20×10
3
）×一十分之百是FS的0.02％。
4
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SNAS534B - 1999年5月 - 修订2013年3月
电气特性
V
REF
=10.000 V
DC
除非另有说明。
黑体字限额适用于温度T
民
≤T
A
≤T
最大
.
(1)
对于所有其他限制
T
A
=25°C.
符号
参数
条件
SEE
记
V
CC
=15.75 V
DC
典型值
(2)
经过测试
极限
(3)
V
CC
=12 V
DC
±5%
到15 V
DC
±5%
设计极限
(4)
V
CC
=4.75 V
DC
典型值
(2)
经过测试
极限
(3)
V
CC
=5
V
DC
±5%
设计
极限
(4)
极限
单位
AC特性
(5)
t
s
t
W
当前设置
时间
写和XFER
脉冲宽度最小
t
DS
数据建立时间
民
t
DH
数据保持时间
民
t
CS
控制设置
时间
民
t
CH
控制保持时间
民
(1)
(2)
(3)
(4)
(5)
V
IL
=0V, V
IH
=5V
SEE
(
1)
V
IL
=0V, V
IH
=5V
V
IL
=0V, V
IH
=5V
SEE
(
5)
1.0
100
250
320
100
250
320
320
320
1.0
375
600
900
375
600
900
50
50
600
320
10
0
900
1100
0
0
1100
900
900
μs
SEE
(
1)
V
IL
=0V, V
IH
=5V
SEE
(
1)
V
IL
=0V, V
IH
=5V
SEE
1)
(
30
30
ns
V
IL
=0V, V
IH
=5V
SEE
1)
(
110
250
320
0
0
0
粗体
测试限制仅适用于在LJ和LCJ后缀部分。
标准被定在25℃，代表最可能的参数指标。
测试的限制，以确保TI的AOQL （平均出厂质量水平） 。
保证，但不是100 ％生产测试。这些限制不用于计算呼出的质量水平。
全写入脉冲必须在有效数据区间内发生指定吨
W
, t
DS
, t
DH
和叔
S
以应用。
开关波形
封装脚位排列的定义
控制信号的
（所有的控制信号电平驱动）
CS ：
ILE ：
芯片选择
（低有效）。在CS与ILE将使WR组合
1
.
输入锁存使能
（高电平有效） 。与CS相结合的ILE使WR
1
.
WR
1
：写1 。
该低电平有效WR
1
用于加载所述数字输入数据比特（DI）到输入锁存器。在数据
输入锁存器进行锁存时WR
1
高。更新输入锁存CS和WR
1
要低，而ILE
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