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位置:首页 > IC型号导航 > 首字符C型号页 > 首字符C的型号第97页 > CY6264-55SNC
1CY 626 4
初步
CY6264
8K ×8静态RAM
特点
55 , 70 ns访问时间
CMOS的最佳速度/功耗
易于扩展内存与CE
1
,CE
2
和OE为特色的
Tures的
TTL兼容的输入和输出
自动断电时取消
如果取消70%以上。该CY6264封装在一个
450密耳( 300 - mil主体) SOIC 。
一个低电平有效写使能信号( WE )控制令状
存储器的荷兰国际集团/读出操作。当CE
1
而我们在 -
看跌期权是低和CE
2
为高电平时,对八个数据数据
输入/输出管脚( I / O的
0
通过I / O
7
)被写入到存储器
位置上的地址寻址的地址本
销(A
0
至A
12
) 。读出装置通过完成
选择器件和使能输出端,CE
1
和OE
低电平有效,CE
2
高电平有效,当我们处于非活动状态或
HIGH 。在这些条件下,该位置的内容AD-
上的地址引脚穿着由所述信息存在于
八个数据输入/输出管脚。
输入/输出引脚保持,除非高阻抗状态
该芯片被选择,输出被使能,和写使能
(WE)为HIGH 。模头涂布用于确保阿尔法免疫力。
功能说明
该CY6264是一个高性能的CMOS静态RAM奥尔加
由8位认列8192字。简单的内存扩展
由低电平有效芯片使能( CE提供
1
) ,高电平有效
片选( CE
2
)和低电平有效输出使能( OE )和
三态驱动器。这两款器件都具有自动pow-
ER-断特性( CE
1
) ,降低了功率消耗
逻辑框图
引脚配置
SOIC
顶视图
NC
A
4
A
5
A
6
A
7
A
8
A
9
A
10
A
11
A
12
I / O
0
I / O
1
I / O
2
GND
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
28
27
26
25
24
23
22
21
20
19
18
17
16
15
V
CC
WE
CE
2
A
3
A
2
A
1
OE
A
0
CE
1
I / O
7
I / O
6
I / O
5
I / O
4
I / O
3
CY6264-2
I / O
0
输入缓冲器
I / O
1
A
1
A
2
A
3
A
4
A
5
A
6
A
7
A
8
I / O
2
I / O
3
256 x 32 x 8
ARRA
Y
I / O
4
I / O
5
I / O
6
CE
1
CE
2
WE
OE
CY6264-1
列解码器
动力
I / O
7
选购指南
CY6264-55
最大访问时间(纳秒)
最大工作电流(mA )
最大待机电流(mA )
阴影区域包含先进的信息。
CY6264-70
70
100
20/15
55
100
20/15
赛普拉斯半导体公司
3901北一街
圣荷西
CA 95134
408-943-2600
1994年10月 - 修订1996年6月
初步
最大额定值
(以上其中有用寿命可能受到损害。对于用户指南 -
线,没有测试。 )
存储温度................................. -65 ° C至+ 150°C
环境温度与
电源应用............................................. -55 ° C至+ 125°C
电源电压对地电位............... -0.5V至+ 7.0V
直流电压应用到输出的
在高Z状态
[1]
............................................ -0.5V至7.0 V
直流输入电压
[1]
......................................... -0.5V至+ 7.0V
CY6264
输出电流为输出( LOW ) ............................. 20毫安
静电放电电压.......................................... >2001V
(每MIL -STD -883方法3015 )
闩锁电流.............................................. ...... >200毫安
工作范围
范围
广告
环境
温度
0
°
C至+70
°
C
V
CC
5V
±
10%
电气特性
在整个工作范围
6264-55
参数
V
OH
V
OL
V
IH
V
IL
I
IX
I
OZ
I
OS
I
CC
I
SB1
I
SB2
描述
输出高电压
输出低电压
输入高电压
输入低电压
[1]
输入负载电流
输出漏
当前
输出短路
短路电流
[2]
V
CC
操作
电源电流
自动CE
1
掉电电流
自动CE
1
掉电电流
GND < V
I
& LT ; V
CC
GND < V
I
& LT ; V
CC
,
输出禁用
V
CC
=最大,
V
OUT
= GND
V
CC
=最大,
I
OUT
= 0毫安
最大。 V
CC
,CE
1
& GT ; V
IH ,
分钟。占空比= 100 %
最大。 V
CC
,CE
1
& GT ; V
CC
– 0.3V,
V
IN
& GT ; V
CC
- 0.3V或V
IN
& LT ; 0.3V
测试条件
V
CC
=最小值,我
OH
= -4.0毫安
V
CC
=最小值,我
OL
= 8.0毫安
2.2
–0.5
–5
–5
分钟。
2.4
0.4
V
CC
0.8
+5
+5
–300
100
20
15
2.2
–0.5
–5
–5
马克斯。
6264-70
分钟。
2.4
0.4
V
CC
0.8
+5
+5
–300
100
20
15
马克斯。
单位
V
V
V
V
A
A
mA
mA
mA
mA
阴影区域包含先进的信息。
电容
[3]
参数
C
IN
C
OUT
描述
输入电容
输出电容
测试条件
T
A
= 25 ° C,F = 1MHz时,
V
CC
= 5.0V
马克斯。
7
7
单位
pF
pF
注意事项:
1.最小电压等于-3.0V为脉冲持续时间小于30纳秒。
2.不超过1输出应在同一时间被短路。短路的持续时间不得超过30秒钟。
3.测试开始后任何设计或工艺变化,可能会影响这些参数。
交流测试负载和波形
5V
产量
30 pF的
INCLUDING
夹具
范围
相当于:
R1 481
5V
产量
R2
255
5 pF的
INCLUDING
夹具
范围
R1 481
所有的输入脉冲
3.0V
R2
255
GND
10%
90%
90%
10%
& LT ; 5纳秒
CY6264-4
& LT ; 5纳秒
(a)
(b)
CY6264-3
戴维南等效
产量
167
1.73V
2
初步
开关特性
在整个工作范围
[4]
6264-55
参数
读周期
t
RC
t
AA
t
OHA
t
ACE1
t
ACE2
t
美国能源部
t
LZOE
t
HZOE
t
LZCE1
t
LZCE2
t
HZCE
t
PU
t
PD
写周期
[7]
t
WC
t
SCE1
t
SCE2
t
AW
t
HA
t
SA
t
PWE
t
SD
t
HD
t
HZWE
t
LZWE
写周期时间
CE
1
低到写结束
CE
2
HIGH到写入结束
地址建立撰写完
从写端地址保持
地址建立到开始写
WE脉冲宽度
数据建立到写结束
从写端数据保持
WE低到高Z
[5]
WE高到低Z
5
50
40
30
40
0
0
25
25
0
20
5
70
60
50
55
0
0
40
35
0
30
读周期时间
地址到数据有效
从地址变化数据保持
CE
1
低到数据有效
CE
2
高到数据有效
OE低到DATA有效
OE低到低Z
OE高到高Z
[5]
CE
1
低到低Z
[6]
CE
2
高到低Z
CE
1
高到高阻
[5, 6]
CE
2
低到高Z
CE
1
低到电
CE
1
高到掉电
0
25
5
3
20
0
30
3
20
5
5
30
5
55
40
25
5
30
55
55
5
70
70
35
70
70
描述
分钟。
马克斯。
分钟。
6264-70
CY6264
马克斯。
单位
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
阴影区域包含先进的信息。
注意事项:
4.测试条件假设为5纳秒或更小的信号的过渡时间,定时1.5V的参考电平,为0的输入脉冲电平到3.0V ,并在指定的输出负载
I
OL
/I
OH
和30 pF负载电容。
5. t
HZOE ,
t
HZCE
和叔
HZWE
用C指定
L
= 5 pF的作为交流测试负载(b)部分。过渡测
±500
毫伏从稳态电压。
6.在任何给定的温度和电压条件下,叔
HZCE
小于吨
LZCE
对于任何给定的设备。
7.存储器的内部写入时间由CE的重叠限定
1
低,CE
2
高,和WE为低电平。这两个信号必须为低电平启动写,要么
信号可以通过去HIGH结束写入。的数据输入的设置和保持时间应参考该终止写信号的上升沿。
3
初步
开关波形
读周期1号
[8, 9]
t
RC
地址
t
OHA
数据输出
以前的数据有效
t
AA
数据有效
CY6264
CY6264-5
读周期2号
[10, 11]
CE
1
t
RC
CE
2
OE
OE
t
ACE
t
美国能源部
t
LZOE
高阻抗
t
LZCE
V
CC
供应
当前
t
PU
50%
t
HZOE
t
HZCE
数据有效
t
PD
ICC
50%
ISB
CY6264-6
阻抗
数据输出
写周期号1 (我们控制)
[9, 11]
t
WC
地址
t
SCE1
CE
1
CE
2
t
SCE2
OE
t
AW
WE
t
SA
t
PWE
t
HA
t
SD
DATA IN
数据
IN
有效
t
HZWE
数据I / O
数据中,未定义
t
HD
t
LZWE
高阻抗
CY6264-7
注意事项:
8.设备不断选择。 OE ,CE = V
IL
。 CE
2
= V
IH 。
9.地址之前或暗合了CE变为低电平有效。
10.我们是高读周期。
11.数据I / O是高阻抗,如果OE = V
IH
,CE
1
= V
IH
,或者我们= V
IL
.
4
初步
开关波形
(续)
写周期号2 ( CE控制)
[9, 11, 12]
t
WC
地址
CE
1
t
SA
CE
2
t
SCE2
t
AW
t
PWE
WE
t
SD
DATA IN
数据
IN
有效
t
HZWE
数据I / O
高阻抗
数据中,未定义
t
HD
t
HA
t
SCE1
CY6264
CY6264-8
注意:
12.如果CE变同时与WE高高时,输出保持在高阻抗状态。
典型的DC和AC特性
归一化电源电流
- 电源电压
1.4
1.2
1.0
0.8
0.6
0.6
0.4
0.2
0.0
4.0
4.5
5.0
I
SB
5.5
6.0
0.4
0.2
0.0
55
I
SB
25
125
V
CC
=5.0V
V
IN
=5.0V
60
40
20
0
0.0
1.0
2.0
3.0
4.0
I
CC
0.8
1.2
1.0
归一化电源电流
- 环境温度
输出源电流
与输出电压
120
100
80
I
CC
V
CC
=5.0V
T
A
=25°C
电源电压( V)
归一化存取时间
- 电源电压
1.4
1.3
1.2
1.2
1.1
T
A
=25°C
1.0
0.9
0.8
4.0
4.5
5.0
5.5
6.0
0.8
0.6
55
1.0
1.6
1.4
环境温度( ℃)
归一化存取时间
- 环境温度
140
120
100
80
60
V
CC
=5.0V
40
20
25
125
0
0.0
输出电压(V)
输出灌电流
与输出电压
V
CC
=5.0V
T
A
=25°C
1.0
2.0
3.0
4.0
电源电压( V)
环境温度( ℃)
输出电压(V)
5
1CY 626 4
初步
CY6264
8K ×8静态RAM
特点
55 , 70 ns访问时间
CMOS的最佳速度/功耗
易于扩展内存与CE
1
,CE
2
和OE为特色的
Tures的
TTL兼容的输入和输出
自动断电时取消
如果取消70%以上。该CY6264封装在一个
450密耳( 300 - mil主体) SOIC 。
一个低电平有效写使能信号( WE )控制令状
存储器的荷兰国际集团/读出操作。当CE
1
而我们在 -
看跌期权是低和CE
2
为高电平时,对八个数据数据
输入/输出管脚( I / O的
0
通过I / O
7
)被写入到存储器
位置上的地址寻址的地址本
销(A
0
至A
12
) 。读出装置通过完成
选择器件和使能输出端,CE
1
和OE
低电平有效,CE
2
高电平有效,当我们处于非活动状态或
HIGH 。在这些条件下,该位置的内容AD-
上的地址引脚穿着由所述信息存在于
八个数据输入/输出管脚。
输入/输出引脚保持,除非高阻抗状态
该芯片被选择,输出被使能,和写使能
(WE)为HIGH 。模头涂布用于确保阿尔法免疫力。
功能说明
该CY6264是一个高性能的CMOS静态RAM奥尔加
由8位认列8192字。简单的内存扩展
由低电平有效芯片使能( CE提供
1
) ,高电平有效
片选( CE
2
)和低电平有效输出使能( OE )和
三态驱动器。这两款器件都具有自动pow-
ER-断特性( CE
1
) ,降低了功率消耗
逻辑框图
引脚配置
SOIC
顶视图
NC
A
4
A
5
A
6
A
7
A
8
A
9
A
10
A
11
A
12
I / O
0
I / O
1
I / O
2
GND
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
28
27
26
25
24
23
22
21
20
19
18
17
16
15
V
CC
WE
CE
2
A
3
A
2
A
1
OE
A
0
CE
1
I / O
7
I / O
6
I / O
5
I / O
4
I / O
3
CY6264-2
I / O
0
输入缓冲器
I / O
1
A
1
A
2
A
3
A
4
A
5
A
6
A
7
A
8
I / O
2
I / O
3
256 x 32 x 8
ARRA
Y
I / O
4
I / O
5
I / O
6
CE
1
CE
2
WE
OE
CY6264-1
列解码器
动力
I / O
7
选购指南
CY6264-55
最大访问时间(纳秒)
最大工作电流(mA )
最大待机电流(mA )
阴影区域包含先进的信息。
CY6264-70
70
100
20/15
55
100
20/15
赛普拉斯半导体公司
3901北一街
圣荷西
CA 95134
408-943-2600
1994年10月 - 修订1996年6月
初步
最大额定值
(以上其中有用寿命可能受到损害。对于用户指南 -
线,没有测试。 )
存储温度................................. -65 ° C至+ 150°C
环境温度与
电源应用............................................. -55 ° C至+ 125°C
电源电压对地电位............... -0.5V至+ 7.0V
直流电压应用到输出的
在高Z状态
[1]
............................................ -0.5V至7.0 V
直流输入电压
[1]
......................................... -0.5V至+ 7.0V
CY6264
输出电流为输出( LOW ) ............................. 20毫安
静电放电电压.......................................... >2001V
(每MIL -STD -883方法3015 )
闩锁电流.............................................. ...... >200毫安
工作范围
范围
广告
环境
温度
0
°
C至+70
°
C
V
CC
5V
±
10%
电气特性
在整个工作范围
6264-55
参数
V
OH
V
OL
V
IH
V
IL
I
IX
I
OZ
I
OS
I
CC
I
SB1
I
SB2
描述
输出高电压
输出低电压
输入高电压
输入低电压
[1]
输入负载电流
输出漏
当前
输出短路
短路电流
[2]
V
CC
操作
电源电流
自动CE
1
掉电电流
自动CE
1
掉电电流
GND < V
I
& LT ; V
CC
GND < V
I
& LT ; V
CC
,
输出禁用
V
CC
=最大,
V
OUT
= GND
V
CC
=最大,
I
OUT
= 0毫安
最大。 V
CC
,CE
1
& GT ; V
IH ,
分钟。占空比= 100 %
最大。 V
CC
,CE
1
& GT ; V
CC
– 0.3V,
V
IN
& GT ; V
CC
- 0.3V或V
IN
& LT ; 0.3V
测试条件
V
CC
=最小值,我
OH
= -4.0毫安
V
CC
=最小值,我
OL
= 8.0毫安
2.2
–0.5
–5
–5
分钟。
2.4
0.4
V
CC
0.8
+5
+5
–300
100
20
15
2.2
–0.5
–5
–5
马克斯。
6264-70
分钟。
2.4
0.4
V
CC
0.8
+5
+5
–300
100
20
15
马克斯。
单位
V
V
V
V
A
A
mA
mA
mA
mA
阴影区域包含先进的信息。
电容
[3]
参数
C
IN
C
OUT
描述
输入电容
输出电容
测试条件
T
A
= 25 ° C,F = 1MHz时,
V
CC
= 5.0V
马克斯。
7
7
单位
pF
pF
注意事项:
1.最小电压等于-3.0V为脉冲持续时间小于30纳秒。
2.不超过1输出应在同一时间被短路。短路的持续时间不得超过30秒钟。
3.测试开始后任何设计或工艺变化,可能会影响这些参数。
交流测试负载和波形
5V
产量
30 pF的
INCLUDING
夹具
范围
相当于:
R1 481
5V
产量
R2
255
5 pF的
INCLUDING
夹具
范围
R1 481
所有的输入脉冲
3.0V
R2
255
GND
10%
90%
90%
10%
& LT ; 5纳秒
CY6264-4
& LT ; 5纳秒
(a)
(b)
CY6264-3
戴维南等效
产量
167
1.73V
2
初步
开关特性
在整个工作范围
[4]
6264-55
参数
读周期
t
RC
t
AA
t
OHA
t
ACE1
t
ACE2
t
美国能源部
t
LZOE
t
HZOE
t
LZCE1
t
LZCE2
t
HZCE
t
PU
t
PD
写周期
[7]
t
WC
t
SCE1
t
SCE2
t
AW
t
HA
t
SA
t
PWE
t
SD
t
HD
t
HZWE
t
LZWE
写周期时间
CE
1
低到写结束
CE
2
HIGH到写入结束
地址建立撰写完
从写端地址保持
地址建立到开始写
WE脉冲宽度
数据建立到写结束
从写端数据保持
WE低到高Z
[5]
WE高到低Z
5
50
40
30
40
0
0
25
25
0
20
5
70
60
50
55
0
0
40
35
0
30
读周期时间
地址到数据有效
从地址变化数据保持
CE
1
低到数据有效
CE
2
高到数据有效
OE低到DATA有效
OE低到低Z
OE高到高Z
[5]
CE
1
低到低Z
[6]
CE
2
高到低Z
CE
1
高到高阻
[5, 6]
CE
2
低到高Z
CE
1
低到电
CE
1
高到掉电
0
25
5
3
20
0
30
3
20
5
5
30
5
55
40
25
5
30
55
55
5
70
70
35
70
70
描述
分钟。
马克斯。
分钟。
6264-70
CY6264
马克斯。
单位
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
阴影区域包含先进的信息。
注意事项:
4.测试条件假设为5纳秒或更小的信号的过渡时间,定时1.5V的参考电平,为0的输入脉冲电平到3.0V ,并在指定的输出负载
I
OL
/I
OH
和30 pF负载电容。
5. t
HZOE ,
t
HZCE
和叔
HZWE
用C指定
L
= 5 pF的作为交流测试负载(b)部分。过渡测
±500
毫伏从稳态电压。
6.在任何给定的温度和电压条件下,叔
HZCE
小于吨
LZCE
对于任何给定的设备。
7.存储器的内部写入时间由CE的重叠限定
1
低,CE
2
高,和WE为低电平。这两个信号必须为低电平启动写,要么
信号可以通过去HIGH结束写入。的数据输入的设置和保持时间应参考该终止写信号的上升沿。
3
初步
开关波形
读周期1号
[8, 9]
t
RC
地址
t
OHA
数据输出
以前的数据有效
t
AA
数据有效
CY6264
CY6264-5
读周期2号
[10, 11]
CE
1
t
RC
CE
2
OE
OE
t
ACE
t
美国能源部
t
LZOE
高阻抗
t
LZCE
V
CC
供应
当前
t
PU
50%
t
HZOE
t
HZCE
数据有效
t
PD
ICC
50%
ISB
CY6264-6
阻抗
数据输出
写周期号1 (我们控制)
[9, 11]
t
WC
地址
t
SCE1
CE
1
CE
2
t
SCE2
OE
t
AW
WE
t
SA
t
PWE
t
HA
t
SD
DATA IN
数据
IN
有效
t
HZWE
数据I / O
数据中,未定义
t
HD
t
LZWE
高阻抗
CY6264-7
注意事项:
8.设备不断选择。 OE ,CE = V
IL
。 CE
2
= V
IH 。
9.地址之前或暗合了CE变为低电平有效。
10.我们是高读周期。
11.数据I / O是高阻抗,如果OE = V
IH
,CE
1
= V
IH
,或者我们= V
IL
.
4
初步
开关波形
(续)
写周期号2 ( CE控制)
[9, 11, 12]
t
WC
地址
CE
1
t
SA
CE
2
t
SCE2
t
AW
t
PWE
WE
t
SD
DATA IN
数据
IN
有效
t
HZWE
数据I / O
高阻抗
数据中,未定义
t
HD
t
HA
t
SCE1
CY6264
CY6264-8
注意:
12.如果CE变同时与WE高高时,输出保持在高阻抗状态。
典型的DC和AC特性
归一化电源电流
- 电源电压
1.4
1.2
1.0
0.8
0.6
0.6
0.4
0.2
0.0
4.0
4.5
5.0
I
SB
5.5
6.0
0.4
0.2
0.0
55
I
SB
25
125
V
CC
=5.0V
V
IN
=5.0V
60
40
20
0
0.0
1.0
2.0
3.0
4.0
I
CC
0.8
1.2
1.0
归一化电源电流
- 环境温度
输出源电流
与输出电压
120
100
80
I
CC
V
CC
=5.0V
T
A
=25°C
电源电压( V)
归一化存取时间
- 电源电压
1.4
1.3
1.2
1.2
1.1
T
A
=25°C
1.0
0.9
0.8
4.0
4.5
5.0
5.5
6.0
0.8
0.6
55
1.0
1.6
1.4
环境温度( ℃)
归一化存取时间
- 环境温度
140
120
100
80
60
V
CC
=5.0V
40
20
25
125
0
0.0
输出电压(V)
输出灌电流
与输出电压
V
CC
=5.0V
T
A
=25°C
1.0
2.0
3.0
4.0
电源电压( V)
环境温度( ℃)
输出电压(V)
5
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