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SONY
CXK77P36E160GB / CXK77P18E160GB
4/42/43/44
初步
16MB LW RL HSTL高速同步SRAM ( 512K ×36或1M ×18 )
8MB LW RL W / EC HSTL高速同步SRAM ( 256K ×36或512K ×18 )
描述
该CXK77P36E160GB ( 36位组织为524,288字)和CXK77P18E160GB (组织为1,048,576字
由18位)是高速CMOS同步静态RAM与通用I / O引脚。这些同步SRAM集成了输入
寄存器,高速RAM中,输出锁存器,和一个1级深的写入缓冲器在一个单片IC上。注册会员 - 锁存器( R- L)阅读
操作和写延时(LW)的写入操作的支持,提供了一个高性能的用户界面。
操作两个不同的RL模式支持,通过M2模式引脚选择。当M 2为“高” ,这些器件的功能
作为常规16Mb的RL的SRAM ,和销2B用作常规的SA地址输入。当M 2为“低” ,这些器件
功能纠错( EC )和8Mb RL的SRAM和引脚2B被忽略。
当选择纠错8Mb的RL的模式下, SRAM被分为两个存储体的内部 - 一个“主”银行和一个
“次要”的银行。在写操作中,输入的数据最终被写入到内部都银行(通过写的一个阶段
流水线) 。在读操作期间,数据从内部两岸读取和基层银行数据的每个字节都被单独
奇偶校验检查。如果主数据的一个特定字节的奇偶性是正确的(即, “奇数” ) ,它的驱动有效的外部。如果
主数据的一个特定字节的奇偶校验位不正确(即, “偶” ) ,它被丢弃,并且二次对应字节
银行数据驱动的有效外部。初级/次级的银行数据选择执行对每个数据字节独立。
从二级银行的读数据不校验检查。
从写缓冲区中读取数据不校验检查。
除ZZ所有的地址和控制输入信号(睡眠模式)上注册K(输入时钟)的上升沿。
在读操作期间,输出数据是从钾下降沿被有效时,地址后半个时钟周期被登记。
在写操作中,输入数据被登记K上的上升沿,该地址后一个完整的时钟周期被登记。
输出驱动器系列终止,并且输出阻抗是可编程的,通过一个外部阻抗匹配
电阻RQ 。通过ZQ和V之间的连接RQ
SS
中,所有DQ管脚的输出阻抗可以被精确地控制。
休眠(低功耗模式)的控制是通过异步ZZ输入提供。从单一得到250MHz的工作频率
3.3V电源。采用IEEE 1149.1标准的协议的一个子集,提供JTAG边界扫描接口。
特点
4速箱
-4 ( -4A ) ( -4B )
-42 ( -42A ) ( -42B )
-43 ( -43A ) ( -43B )
-44
周期时间/访问时间
4.0ns / 3.9ns ( 3.8ns ) ( 3.7ns )
4.2ns / 4.2ns ( 4.1ns ) ( 4.0ns )
4.3ns / 4.5ns ( 4.4ns ) ( 4.3ns )
4.4ns / 4.7ns
单3.3V电源(V
DD
): 3.3V
±
5%
专用输出电源电压(V
DDQ
) : 1.9V典型
与专用的输入参考电压HSTL兼容的I / O接口(V
REF
) : 0.85V典型
注册会员 - 锁存器( R- L)读操作
晚写( LW )写操作
传统16Mb的操作或纠错( EC )和8Mb模式,通过专用的模式引脚可选( M2 )
完全读/写一致性
字节写能力
一个周期取消
差分输入时钟(K / K)
可编程阻抗输出驱动器
睡眠(断电)通过专用的模式引脚模式( ZZ )
JTAG边界扫描( IEEE子集标准1149.1 )
119引脚( 7x17 ) , 1.27mm间距, 14毫米X 22毫米球栅阵列( BGA )封装
16MB LW R-L和8MB LW R-L W / EC ,修订版1.1
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2001年3月2日
SONY
CXK77P36E160GB / CXK77P18E160GB
512K ×36引脚分配(顶视图)
1
A
B
C
D
E
F
G
H
J
K
L
M
N
P
R
T
U
V
DDQ
NC
NC
DQC
DQC
V
DDQ
DQC
DQC
V
DDQ
DQD
DQD
V
DDQ
DQD
DQD
NC
NC
V
DDQ
2
SA
SA
(5)
SA
DQC
DQC
DQC
DQC
DQC
V
DD
DQD
DQD
DQD
DQD
DQD
SA
NC
(1)
TMS
3
SA
SA
SA
V
SS
V
SS
V
SS
SBWc
V
SS
V
REF
V
SS
SBWd
V
SS
V
SS
V
SS
M1
(3)
SA
TDI
4
NC
NC
V
DD
ZQ
SS
G
(6)
NC
NC
V
DD
K
K
SW
SA
SA
V
DD
SA
TCK
5
SA
SA
SA
V
SS
V
SS
V
SS
SBWb
V
SS
V
REF
V
SS
SBWa
V
SS
V
SS
V
SS
M2
(4)
SA
TDO
6
SA
SA
SA
DQB
DQB
DQB
DQB
DQB
V
DD
DQA
DQA
DQA
DQA
DQA
SA
NC
(1)
RSVD
(2)
初步
7
V
DDQ
NC
NC
DQB
DQB
V
DDQ
DQB
DQB
V
DDQ
DQA
DQA
V
DDQ
DQA
DQA
NC
ZZ
V
DDQ
注意事项:
1.焊盘位置2T和6T是真正的无式接口。然而,它们被定义为在×18 LW SRAM的SA的地址输入端。
2.垫位置6U必须悬空。它是用于内部测试目的而使用索尼。
3.垫位置3R被定义为M1模式引脚LW的SRAM 。但是,它必须在将器件连接的“高” 。
4.垫位置5R被定义为M2的模销在该装置中。它必须连接的“高”或“低” 。当M2绑
“高”时,此装置用作常规16Mb的RL的SRAM中。当M 2是并列“低” ,这种装置的功能
作为一个纠错8Mb的R-L的SRAM 。
5.垫地点2B被定义为在16Mb的LW的SRAM的SA地址输入。然而,它的功能与常规
在该装置SA地址输入,只有当M2绑“高” 。正是在这样的设备被忽略时, M2是绑“低” 。
6.垫地点4F被定义为绿色输出使能输入在LW的SRAM 。但是,它必须在将器件连接“低” 。
16MB LW R-L和8MB LW R-L W / EC ,修订版1.1
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2001年3月2日
SONY
CXK77P36E160GB / CXK77P18E160GB
1M ×18引脚分配(顶视图)
1
A
B
C
D
E
F
G
H
J
K
L
M
N
P
R
T
U
V
DDQ
NC
NC
DQB
NC
(1b)
V
DDQ
NC
(1b)
DQB
V
DDQ
NC
(1b)
DQB
V
DDQ
DQB
NC
(1b)
NC
NC
V
DDQ
2
SA
SA
(5)
SA
NC
(1b)
DQB
NC
(1b)
DQB
NC
(1b)
V
DD
DQB
NC
(1b)
DQB
NC
(1b)
DQB
SA
SA
TMS
3
SA
SA
SA
V
SS
V
SS
V
SS
SBWb
V
SS
V
REF
V
SS
V
SS
V
SS
V
SS
V
SS
M1
(3)
SA
TDI
4
NC
NC
V
DD
ZQ
SS
G
(6)
NC
NC
V
DD
K
K
SW
SA
SA
V
DD
NC
(1a)
TCK
5
SA
SA
SA
V
SS
V
SS
V
SS
V
SS
V
SS
V
REF
V
SS
SBWa
V
SS
V
SS
V
SS
M2
(4)
SA
TDO
6
SA
SA
SA
DQA
NC
(1b)
DQ6a
NC
(1b)
DQA
V
DD
NC
(1b)
DQA
NC
(1b)
DQA
NC
(1b)
SA
SA
RSVD
(2)
初步
7
V
DDQ
NC
NC
NC
(1b)
DQA
V
DDQ
DQA
NC
(1b)
V
DDQ
DQA
NC
(1b)
V
DDQ
NC
(1b)
DQA
NC
ZZ
V
DDQ
注意事项:
1A 。垫位置4T是一个真正的无连接。然而,它被定义为在对x36 LW的SRAM的SA地址输入。
1B 。焊盘位置2D , 7D , 1E , 6E , 2F , 1G , 6G , 2H , 7H , 1K , 6K , 2L , 7L , 6M , 2N , 7N , 1P和6P是真正的无式接口。
然而,它们被定义为DQ数据输入/在对x36 LW SRAM的输出。
2.垫位置6U必须悬空。它是用于内部测试目的而使用索尼。
3.垫位置3R被定义为M1模式引脚LW的SRAM 。但是,它必须在将器件连接的“高” 。
4.垫位置5R被定义为M2的模销在该装置中。它必须连接的“高”或“低” 。当M2绑
“高”时,此装置用作常规16Mb的RL的SRAM中。当M 2是并列“低” ,这种装置的功能
作为一个纠错8Mb的R-L的SRAM 。
5.垫地点2B被定义为在16Mb的LW的SRAM的SA地址输入。然而,它的功能与常规
在该装置SA地址输入,只有当M2绑“高” 。正是在这样的设备被忽略时, M2是绑“低” 。
6.垫地点4F被定义为绿色输出使能输入在LW的SRAM 。但是,它必须在将器件连接“低” 。
16MB LW R-L和8MB LW R-L W / EC ,修订版1.1
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SONY
CXK77P36E160GB / CXK77P18E160GB
引脚说明
初步
符号
SA
DQA , DQB
DQC , DQD
TYPE
输入
I / O
描述
同步地址输入 - 注册于K的上升沿
同步数据输入/输出 - 写操作期间登记日K的上升沿。
在读操作期间选自K的下降沿驱动。
DQA - 表示数据字节一个
DQB - 表示数据字节B
DQC - 表示数据字节
DQD - 表示数据字节
差分输入时钟
同步选择输入 - 注册于K的上升沿
指定一个写操作时, SW = 0
SS = 0
指定读出操作时, SW = 1
指定一个取消操作
SS = 1
全球同步的写使能输入 - 注册于K的上升沿
指定一个写操作时, SS = 0的
SW = 0
指定读出操作时, SS = 0
SW = 1
同步字节写使能输入 - 注册于K的上升沿
SBWa = 0指定数据写入一个字节时, SS = 0, SW = 0
SBWb = 0指定写入的数据字节b当SS = 0, SW = 0
SBWc = 0指定数据字节写入c当SS = 0, SW = 0
SBWd = 0指定写入的数据字节d出现SS = 0, SW = 0
异步输出使能输入 - 不支持。这种控制引脚必须为“低” 。
异步睡眠模式输入 - 断言(高)强制SRAM进入低功耗模式。
读操作协议选择1 - 此模式引脚必须连接到“高” ,选择注册 - 锁存
读操作。
读操作协议选择2 - 此模式引脚必须连接到“高”或“低” 。
M2 = 0
选择纠错8Mb的R-L的功能
M2 = 1
选择常规16Mb的R-L的功能
输出阻抗控制电阻输入
3.3V内核电源 - 核心供电电压。
输出电源 - 输出缓冲器的电源电压。
输入参考电压 - 输入缓冲区阈值电压。
K, K
SS
输入
输入
SW
输入
SBWa , SBWb ,
SBWc , SBWd
输入
G
ZZ
M1
M2
输入
输入
输入
输入
ZQ
V
DD
V
DDQ
V
REF
V
SS
TCK
TMS
TDI
TDO
RSVD
NC
输入
输入
输入
输入
产量
JTAG时钟
JTAG模式选择
在JTAG数据
JTAG数据输出
保留 - 该引脚只用于索尼的测试目的。必须悬空。
无连接 - 这些引脚是真正的无连接时,即没有内部芯片连接到这些
销。他们可以悬空或者直接连接到V
DD
, V
DDQ
或V
SS
.
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2001年3月2日
16MB LW R-L和8MB LW R-L W / EC ,修订版1.1
SONY
CXK77P36E160GB / CXK77P18E160GB
初步
时钟真值表
K
X
L
H
L
H
L
H
L
H
L
H
ZZ
H
L
L
L
L
L
SS
(t
n
)
X
H
L
L
L
L
SW
(t
n
)
X
X
H
L
L
L
SBWx
(t
n
)
X
X
X
L
X
H
手术
休眠(低功耗模式)
DESELECT
写的所有字节
写字节, SBWx = L
中止写
DQ
(t
n
)
嗨 - z
嗨 - z
Q (T
n
)
嗨 - z
嗨 - z
嗨 - z
DQ
(t
n+1
)
嗨 - z
X
X
(T
n
)
(T
n
)
X
动态M2模式引脚状态变化
虽然M2被定义为静态的输入(即,它必须连接到“高”或“低”在加电时) ,在某些情况下(如
驱动器测试)过程中,可能希望以动态地改变它的状态(即,无需首先关闭电源的SRAM)的
同时保留在存储器阵列的内容。如果是的话,下面的条件必须满足:
1.至少两(2 )个连续取消选择操作之前必须改变M2的状态开始,以确保
最近读或写操作成功完成。
2.至少有32 ( 32 )连续取消操作之前必须读任何改变M2的状态后启动
或写操作可以被发起的,以使SRAM的足够的时间来识别状态的改变。
休眠(低功耗模式)
睡眠(省电)模式,通过异步输入信号ZZ提供。当ZZ是断言(高) ,输出
司机会去高阻状态, SRAM将开始绘制的待机电流。存储器阵列的内容将是
保存完好。一个使能时间(t
ZZE
)必须满足的SRAM被保证是处于睡眠模式之前,并且恢复时间
(t
ZZR
)必须得到满足之前, SRAM可以恢复正常运行。
可编程阻抗输出驱动器
这些器件具有可编程阻抗输出驱动器。的输出阻抗是由一个外部电阻器来控制,
RQ ,连接之间的SRAM的ZQ引脚和V
SS
和等于五分之一此电阻的值,名义上。看
欲了解更多信息直流电气特性部分。
输出阻抗被更新时,输出驱动器处于高阻状态。因此,阻抗会更新
写发生在和取消操作。在加电时,随后的阻抗更新8192个时钟周期通过一
以上所述的三种方法都需要确保输出阻抗达到所希望的值。后
电时,通过写周期阻抗更新或取消选择,也需要操作,以确保输出阻抗
ANCE保持规定的公差范围内。
上电顺序
对于可靠性的目的, Sony建议的电源开机按以下顺序: V
SS
, V
DD
, V
DDQ
,
V
REF
和输入。 V
DDQ
不应该超过V
DD
。如果此电源时序不能满足,大旁路二极管
可能需要V之间
DD
和V
DDQ
。请联系索尼记忆应用部门以获取更多信息。
16MB LW R-L和8MB LW R-L W / EC ,修订版1.1
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2001年3月2日
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    -
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电话:13910052844(微信同步)
联系人:刘先生
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