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CSD17312Q5
www.ti.com
SLPS256 - 2010年3月
30V N通道NexFET功率MOSFET
检查样品:
CSD17312Q5
1
特点
优化5V栅极驱动器
超低Q
g
和Q
gd
低热阻
额定雪崩
无铅端子电镀
符合RoHS
无卤
SON 5毫米×6毫米的塑料包装
V
DS
Q
g
Q
gd
R
DS ( ON)
V
GS ( TH)
产品概述
漏源极电压
栅极电荷总数( 4.5V )
栅极电荷栅漏
30
28
6
V
GS
= 3V
漏极至源极导通电阻
V
GS
= 4.5V
V
GS
= 8V
阈值电压
1.1
1.8
1.4
1.2
V
nC
nC
m
m
m
V
2
订购信息
设备
CSD17312Q5
SON 5毫米×6毫米
塑料包装
媒体
13-Inch
REEL
数量
2500
磁带和
REEL
应用
笔记本电脑负载点的
同步降压在负载点的
网络,电信和计算机系统
绝对最大额定值
描述
该NexFET功率MOSFET的设计
最大限度地减少电源转换应用的损失
并优化了5V栅极驱动应用。
顶视图
S
1
8
D
T
A
= 25 ° C除非另有说明
V
DS
V
GS
I
D
I
DM
P
D
T
J
,
T
英镑
E
AS
漏源极电压
栅极至源极电压
连续漏电流,T
C
= 25°C
连续漏电流
(1)
(1)
(2)
价值
30
+10 / –8
100
38
200
3.2
-55到150
845
单位
V
V
A
A
A
W
°C
mJ
漏电流脉冲,T
A
= 25°C
功耗
工作结存储
温度范围
S
2
7
D
雪崩能量,单脉冲
I
D
= 130A ,L = 0.1mH ,R
G
= 25
S
3
D
6
D
G
4
5
D
P0094-01
( 1 )典型
qJA
= 39 ° C /安装在1英寸的当W
2
(6.45-cm
2
) , 2盎司在0.06英寸( 0.071毫米厚)的Cu垫
( 1.52毫米)厚的FR4 PCB 。
(2)脉冲持续时间
≤300ms,
占空比
≤2%
TextAddedForSpacing
Text_added_for_spacing_Text_added_for_spacing
栅极电荷
8
R
DS ( ON)
VS V
GS
4
R
DS ( ON)
- 导通状态电阻 - mΩ的
V
GS
- 栅极 - 源极电压 - V
3.5
3
T
C
= 125°C
2.5
2
1.5
1
0.5
0
0
1
2
3
4
5
6
7
8
V
GS
- 栅极 - 源极电压 - V
T
C
= 25°C
I
D
= 35A
7
6
5
4
3
2
1
0
I
D
= 35A
V
DS
= 15V
9
10
G006
0
10
20
30
Q
g
- 栅极电荷 - 数控
40
50
G003
1
2
请注意,一个重要的通知有关可用性,标准保修,并在得克萨斯州的关键应用程序使用
仪器的半导体产品和免责条款及其出现在此数据表的末尾。
的NexFET是德州仪器的商标。
2010 ,德州仪器
PRODUCTION数据信息为出版日期。
产品符合占德州条款规范
仪器标准保修。生产加工过程中不
不一定包括所有参数进行测试。
CSD17312Q5
SLPS256 - 2010年3月
www.ti.com
这些器件具有有限的内置ESD保护。引线应短接在一起或设备放置在导电泡棉
储存或搬运过程中,以防止对静电损坏MOS大门。
电气特性
(T
A
= 25 ° C除非另有说明)
参数
静态特性
BV
DSS
I
DSS
I
GSS
V
GS ( TH)
R
DS ( ON)
g
fs
C
国际空间站
C
OSS
C
RSS
R
G
Q
g
Q
gd
Q
gs
Q
G( TH )
Q
OSS
t
D(上)
t
r
t
D(关闭)
t
f
V
SD
Q
rr
t
rr
漏源极电压
漏极至源极漏电流
门源漏电流
门源阈值电压
漏极至源极导通电阻
输入电容
输出电容
反向传输电容
串联门极电阻
栅极电荷总数( 4.5V )
栅极电荷栅漏
栅极电荷门源
栅极电荷在Vth的
输出充电
打开延迟时间
上升时间
关闭延迟时间
下降时间
二极管的正向电压
反向恢复电荷
反向恢复时间
I
SD
= 35A ,V
GS
= 0V
V
DD
= 14.8V ,我
F
= 35A,
的di / dt = 300A / MS
V
DS
= 15V, V
GS
= 4.5V,
I
DS
= 35A ,R
G
= 2
V
DS
= 14.8V, V
GS
= 0V
V
DS
= 15V,
I
DS
= 35A
V
GS
= 0V, V
DS
= 15V,
F = 1MHz的
V
GS
= 0V时,我
D
= 250毫安
V
GS
= 0V, V
DS
= 24V
V
DS
= 0V, V
GS
= +10/–8V
V
DS
= V
GS
, I
D
= 250毫安
V
GS
= 3V ,我
D
= 35A
V
GS
= 4.5V ,我
D
= 35A
V
GS
= 8V ,我
D
= 35A
V
DS
= 15V ,我
D
= 35A
动态特性
4030 5240
2220 2890
93
1.1
28
6
8.4
4.4
57
9.5
27
35
23
0.8
88
43
1
120
2.2
36
pF
pF
pF
nC
nC
nC
nC
nC
ns
ns
ns
ns
V
nC
ns
0.9
1.1
1.8
1.4
1.2
200
30
1
100
1.5
2.4
1.7
1.5
V
mA
nA
V
m
m
m
S
测试条件
TYP MAX
单位
二极管的特性
热特性
(T
A
= 25 ° C除非另有说明)
参数
R
QJC
R
qJA
(1)
(2)
热阻结到外壳
(1)
典型值
最大
1
49
单位
° C / W
° C / W
热阻结到环境
(1) (2)
R
QJC
与安装在一个1英寸的设备确定
2
(6.45-cm
2
) , 2盎司在1.5英寸× 1.5英寸( 3.81厘米× ( 0.071毫米厚) Cu焊盘
3.81厘米) , 0.06英寸( 1.52毫米)厚的FR4 PCB 。
QJC
由设计规定,而
qJA
是通过用户的电路板的设计来确定。
设备安装在FR4材料1英寸
2
(6.45-cm
2
) , 2盎司( 0.071毫米厚)的Cu 。
2
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2010 ,德州仪器
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SLPS256 - 2010年3月
N-二陈×6 QFN TTA MAX Rev3型
来源
N-二陈×6 QFN TTA MIN Rev3型
来源
最大
qJA
= 49 ° C / W
当安装在
1英寸
2
( 6.45厘米
2
)的
2盎司( 0.071毫米厚)
铜。
最大
qJA
= 119 ° C / W
安装在一个时
最小焊盘面积
2盎司( 0.071毫米厚)
铜。
M0137-01
M0137-02
TEXT增加了间距
TEXT增加了间距
TEXT增加了间距
TEXT增加了间距
典型MOSFET的特性
(T
A
= 25 ° C除非另有说明)
10
Z
qJA
- 归热阻抗
1
0.5
0.3
0.1
0.1
0.05
0.02
0.01
0.01
单脉冲
P
占空比= T
1
/t
2
t
1
t
2
典型
q
JA
= 95
°
C / W (分铜)
T
J
= P
Z
q
JA
R
q
JA
0.1
1
t
p
- 脉冲宽度 - S
10
100
1k
G012
0.001
0.001
0.01
图1.瞬态热阻抗
2010 ,德州仪器
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3
CSD17312Q5
SLPS256 - 2010年3月
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典型MOSFET的特性(续)
(T
A
= 25 ° C除非另有说明)
TEXT增加了间距
100
I
DS
- 漏极 - 源极电流 - 一个
I
DS
- 漏极 - 源极电流 - 一个
90
80
70
60
50
40
30
20
10
0
0
0.1
0.2
0.3
0.4
V
DS
- 漏极至源极电压 - V
0.5
G001
TEXT增加了间距
100
90
80
70
60
50
40
30
20
10
0
0
0.5
1
1.5
2
V
GS
- 栅极 - 源极电压 - V
2.5
3
G002
V
GS
= 2.5V
V
GS
= 3V
V
GS
= 3.5V
V
GS
= 4.5V
V
GS
= 8V
V
DS
= 5V
T
C
= 125°C
T
C
= 25°C
T
C
= -55°C
图2.饱和特性
TEXT增加了间距
TEXT增加了间距
8
V
GS
- 栅极 - 源极电压 - V
7
6
5
4
3
2
1
0
0
10
20
30
Q
g
- 栅极电荷 - 数控
40
50
G003
图3.传输特性
TEXT增加了间距
TEXT增加了间距
12
F = 1MHz的
V
GS
= 0V
I
D
= 35A
V
DS
= 15V
- 电容 - nF的
10
8
6
4
2
0
0
5
10
15
20
V
DS
- 漏极至源极电压 - V
C
RSS
= C
GGD
C
OSS
= C
ds
+ C
gd
C
国际空间站
= C
gd
+ C
GSGS
25
30
G004
图4.栅极电荷
TEXT增加了间距
TEXT增加了间距
1.6
图5.电容
TEXT增加了间距
TEXT增加了间距
4
R
DS ( ON)
- 导通状态电阻 - mΩ的
I
D
= 250A
1.4
V
GS ( TH)
- 阈值电压 - V
1.2
1
0.8
0.6
0.4
0.2
0
-75
3.5
3
T
C
= 125°C
2.5
2
1.5
1
0.5
0
T
C
= 25°C
I
D
= 35A
-25
25
75
T
C
- 外壳温度 -
°C
125
175
G005
0
1
2
3
4
5
6
7
8
V
GS
- 栅极 - 源极电压 - V
9
10
G006
图6.阈值电压随温度的变化
图7.导通电阻与栅极至源极电压
4
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2010 ,德州仪器
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SLPS256 - 2010年3月
典型MOSFET的特性(续)
(T
A
= 25 ° C除非另有说明)
TEXT增加了间距
1.8
归一化通态电阻
I
SD
- 源 - 漏电流 - 一个
1.6
1.4
1.2
1
0.8
0.6
0.4
0.2
-75
I
D
= 35A
V
GS
= 8V
100
10
1
0.1
0.01
0.001
0.0001
-25
25
75
T
C
- 外壳温度 -
°C
125
175
G007
TEXT增加了间距
T
C
= 125°C
T
C
= 25°C
0
0.2
0.4
0.6
0.8
V
SD
- 源极到漏极电压 - V
1
G008
图8.归通态电阻与温度
TEXT增加了间距
TEXT增加了间距
1k
I
(AV)
- 峰值雪崩电流 - 一个
I
DS
- 漏极 - 源极电流 - 一个
1k
图9.典型的二极管正向电压
TEXT增加了间距
TEXT增加了间距
100
1ms
10
10ms
100ms
11110
1
区有限公司
由R
DS ( ON)
0.1
单脉冲
典型
θJA
= 95 ℃/ W(分铜)
0.1
1
10
V
DS
- 漏极至源极电压 - V
1s
100
T
C
= 25°C
10
T
C
= 125°C
DC
100
G009
0.01
0.01
1
0.01
0.1
1
10
t
(AV)
- 时间在雪崩 - 质谱
100
G010
图10.最大安全工作区
图11.单脉冲松开电感开关
TEXT增加了间距
TEXT增加了间距
120
I
DS
- 漏极 - 源极电流 - 一个
100
80
60
40
20
0
-50
-25
0
25
50
75
100 125
T
C
- 外壳温度 -
°C
150
175
G011
图12.最大漏极电流与温度的关系
2010 ,德州仪器
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SLPS256A - 2010年3月 - 修订2010年10月
30V N通道NexFET功率MOSFET
检查样品:
CSD17312Q5
1
特点
优化5V栅极驱动器
超低Q
g
和Q
gd
低热阻
额定雪崩
无铅端子电镀
符合RoHS
无卤
SON 5毫米×6毫米的塑料包装
V
DS
Q
g
Q
gd
R
DS ( ON)
V
GS ( TH)
产品概述
漏源极电压
栅极电荷总数( 4.5V )
栅极电荷栅漏
30
28
6
V
GS
= 3V
漏极至源极导通电阻
V
GS
= 4.5V
V
GS
= 8V
阈值电压
1.1
1.8
1.4
1.2
V
nC
nC
m
m
m
V
2
订购信息
设备
CSD17312Q5
SON 5毫米×6毫米
塑料包装
媒体
13-Inch
REEL
数量
2500
磁带和
REEL
应用
笔记本电脑负载点的
同步降压在负载点的
网络,电信和计算机系统
绝对最大额定值
T
A
= 25 ° C除非另有说明
V
DS
V
GS
I
D
I
DM
P
D
T
J
,
T
英镑
漏源极电压
栅极至源极电压
连续漏电流,T
C
= 25°C
连续漏电流
(1)
(1)
价值
30
+10 / –8
100
38
200
3.2
-55到150
845
单位
V
V
A
A
A
W
°C
mJ
描述
该NexFET功率MOSFET的设计
最大限度地减少电源转换应用的损失
并优化了5V栅极驱动应用。
顶视图
S
1
8
D
漏电流脉冲,T
A
= 25°C
(2)
功耗
工作结存储
温度范围
雪崩能量,单脉冲
I
D
= 130A ,L = 0.1mH ,R
G
= 25
E
AS
S
2
7
D
S
3
D
6
D
G
4
5
D
P0094-01
( 1 )典型
qJA
= 39 ° C /安装在1英寸的当W
2
(6.45-cm
2
) , 2盎司在0.06英寸( 0.071毫米厚)的Cu垫
( 1.52毫米)厚的FR4 PCB 。
(2)脉冲持续时间
≤300ms,
占空比
≤2%
TextAddedForSpacing
Text_added_for_spacing_Text_added_for_spacing
栅极电荷
8
R
DS ( ON)
VS V
GS
4
R
DS ( ON)
- 导通状态电阻 - mΩ的
V
GS
- 栅极 - 源极电压 - V
3.5
3
T
C
= 125°C
2.5
2
1.5
1
0.5
0
0
1
2
3
4
5
6
7
8
V
GS
- 栅极 - 源极电压 - V
T
C
= 25°C
I
D
= 35A
7
6
5
4
3
2
1
0
I
D
= 35A
V
DS
= 15V
9
10
G006
0
10
20
30
Q
g
- 栅极电荷 - 数控
40
50
G003
1
2
请注意,一个重要的通知有关可用性,标准保修,并在得克萨斯州的关键应用程序使用
仪器的半导体产品和免责条款及其出现在此数据表的末尾。
的NexFET是德州仪器的商标。
2010 ,德州仪器
PRODUCTION数据信息为出版日期。
产品符合占德州条款规范
仪器标准保修。生产加工过程中不
不一定包括所有参数进行测试。
CSD17312Q5
SLPS256A - 2010年3月 - 修订2010年10月
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这些器件具有有限的内置ESD保护。引线应短接在一起或设备放置在导电泡棉
储存或搬运过程中,以防止对静电损坏MOS大门。
电气特性
(T
A
= 25 ° C除非另有说明)
参数
静态特性
BV
DSS
I
DSS
I
GSS
V
GS ( TH)
R
DS ( ON)
g
fs
C
国际空间站
C
OSS
C
RSS
R
G
Q
g
Q
gd
Q
gs
Q
G( TH )
Q
OSS
t
D(上)
t
r
t
D(关闭)
t
f
V
SD
Q
rr
t
rr
漏源极电压
漏极至源极漏电流
门源漏电流
门源阈值电压
漏极至源极导通电阻
输入电容
输出电容
反向传输电容
串联门极电阻
栅极电荷总数( 4.5V )
栅极电荷栅漏
栅极电荷门源
栅极电荷在Vth的
输出充电
打开延迟时间
上升时间
关闭延迟时间
下降时间
二极管的正向电压
反向恢复电荷
反向恢复时间
I
SD
= 35A ,V
GS
= 0V
V
DD
= 14.8V ,我
F
= 35A,
的di / dt = 300A / MS
V
DS
= 15V, V
GS
= 4.5V,
I
DS
= 35A ,R
G
= 2
V
DS
= 14.8V, V
GS
= 0V
V
DS
= 15V,
I
DS
= 35A
V
GS
= 0V, V
DS
= 15V,
F = 1MHz的
V
GS
= 0V时,我
D
= 250毫安
V
GS
= 0V, V
DS
= 24V
V
DS
= 0V, V
GS
= +10/–8V
V
DS
= V
GS
, I
D
= 250毫安
V
GS
= 3V ,我
D
= 35A
V
GS
= 4.5V ,我
D
= 35A
V
GS
= 8V ,我
D
= 35A
V
DS
= 15V ,我
D
= 35A
动态特性
4030 5240
2220 2890
93
1.1
28
6
8.4
4.4
57
9.5
27
35
23
0.8
88
43
1
120
2.2
36
pF
pF
pF
nC
nC
nC
nC
nC
ns
ns
ns
ns
V
nC
ns
0.9
1.1
1.8
1.4
1.2
200
30
1
100
1.5
2.4
1.7
1.5
V
mA
nA
V
m
m
m
S
测试条件
TYP MAX
单位
二极管的特性
热特性
(T
A
= 25 ° C除非另有说明)
参数
R
QJC
R
qJA
(1)
(2)
热阻结到外壳
(1)
热阻结到环境
(1) (2)
典型值
最大
1
49
单位
° C / W
° C / W
R
QJC
与安装在一个1英寸的设备确定
2
(6.45-cm
2
) , 2盎司在1.5英寸× 1.5英寸( 3.81厘米× ( 0.071毫米厚) Cu焊盘
3.81厘米) , 0.06英寸( 1.52毫米)厚的FR4 PCB 。
QJC
由设计规定,而
qJA
是通过用户的电路板的设计来确定。
设备安装在FR4材料1英寸
2
(6.45-cm
2
) , 2盎司( 0.071毫米厚)的Cu 。
2
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2010 ,德州仪器
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SLPS256A - 2010年3月 - 修订2010年10月
N-二陈×6 QFN TTA MAX Rev3型
来源
N-二陈×6 QFN TTA MIN Rev3型
来源
最大
qJA
= 49 ° C / W
当安装在
1英寸
2
( 6.45厘米
2
)的
2盎司( 0.071毫米厚)
铜。
最大
qJA
= 119 ° C / W
安装在一个时
最小焊盘面积
2盎司( 0.071毫米厚)
铜。
M0137-01
M0137-02
TEXT增加了间距
TEXT增加了间距
TEXT增加了间距
TEXT增加了间距
典型MOSFET的特性
(T
A
= 25 ° C除非另有说明)
10
Z
qJA
- 归热阻抗
1
0.5
0.3
0.1
0.1
0.05
0.02
0.01
0.01
单脉冲
P
占空比= T
1
/t
2
t
1
t
2
典型
q
JA
= 95
°
C / W (分铜)
T
J
= P
Z
q
JA
R
q
JA
0.1
1
t
p
- 脉冲宽度 - S
10
100
1k
G012
0.001
0.001
0.01
图1.瞬态热阻抗
2010 ,德州仪器
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3
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典型MOSFET的特性(续)
(T
A
= 25 ° C除非另有说明)
TEXT增加了间距
100
I
DS
- 漏极 - 源极电流 - 一个
TEXT增加了间距
100
I
DS
- 漏极 - 源极电流 - 一个
90
80
70
60
50
40
30
20
10
0
T
C
= -55°C
T
C
= 25°C
T
C
= 125°C
V
DS
= 5V
90
80
70
60
50
40
30
20
10
0
0
0.1
V
GS
= 8V
V
GS
= 3.5V
V
GS
= 4.5V
V
GS
= 2.5V
V
GS
= 3V
0.2
0.3
0.4
V
DS
- 漏极至源极电压 - V
0.5
G001
0
0.5
1
1.5
2
V
GS
- 栅极 - 源极电压 - V
2.5
3
G002
图2.饱和特性
TEXT增加了间距
TEXT增加了间距
8
V
GS
- 栅极 - 源极电压 - V
7
6
5
4
3
2
1
0
0
10
20
30
Q
g
- 栅极电荷 - 数控
40
50
G003
图3.传输特性
TEXT增加了间距
TEXT增加了间距
12
F = 1MHz的
V
GS
= 0V
I
D
= 35A
V
DS
= 15V
10
- 电容 - nF的
8
6
4
2
0
0
5
10
15
20
V
DS
- 漏极至源极电压 - V
C
RSS
= C
GGD
C
OSS
= C
ds
+ C
gd
C
国际空间站
= C
gd
+ C
GSGS
25
30
G004
图4.栅极电荷
TEXT增加了间距
TEXT增加了间距
1.6
图5.电容
TEXT增加了间距
TEXT增加了间距
4
R
DS ( ON)
- 导通状态电阻 - mΩ的
I
D
= 250A
1.4
V
GS ( TH)
- 阈值电压 - V
1.2
1
0.8
0.6
0.4
0.2
0
-75
3.5
3
T
C
= 125°C
2.5
2
1.5
1
0.5
0
T
C
= 25°C
I
D
= 35A
-25
25
75
T
C
- 外壳温度 -
°C
125
175
G005
0
1
2
3
4
5
6
7
8
V
GS
- 栅极 - 源极电压 - V
9
10
G006
图6.阈值电压随温度的变化
图7.导通电阻与栅极至源极电压
4
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2010 ,德州仪器
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SLPS256A - 2010年3月 - 修订2010年10月
典型MOSFET的特性(续)
(T
A
= 25 ° C除非另有说明)
TEXT增加了间距
1.8
归一化通态电阻
TEXT增加了间距
100
I
SD
- 源 - 漏电流 - 一个
1.6
1.4
1.2
1
0.8
0.6
0.4
0.2
-75
I
D
= 35A
V
GS
= 8V
10
1
0.1
0.01
0.001
0.0001
T
C
= 25°C
T
C
= 125°C
-25
25
75
T
C
- 外壳温度 -
°C
125
175
G007
0
0.2
0.4
0.6
0.8
V
SD
- 源极到漏极电压 - V
1
G008
图8.归通态电阻与温度
TEXT增加了间距
TEXT增加了间距
1k
I
(AV)
- 峰值雪崩电流 - 一个
I
DS
- 漏极 - 源极电流 - 一个
1k
图9.典型的二极管正向电压
TEXT增加了间距
TEXT增加了间距
100
1ms
10
10ms
100ms
11110
1
区有限公司
由R
DS ( ON)
0.1
单脉冲
典型
θJA
= 95 ℃/ W(分铜)
0.1
1
10
V
DS
- 漏极至源极电压 - V
1s
100
T
C
= 25°C
10
T
C
= 125°C
DC
100
G009
0.01
0.01
1
0.01
0.1
1
10
t
(AV)
- 时间在雪崩 - 质谱
100
G010
图10.最大安全工作区
图11.单脉冲松开电感开关
TEXT增加了间距
TEXT增加了间距
120
I
DS
- 漏极 - 源极电流 - 一个
100
80
60
40
20
0
-50
-25
0
25
50
75
100 125
T
C
- 外壳温度 -
°C
150
175
G011
图12.最大漏极电流与温度的关系
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