CD4010B-Q1
www.ti.com
SCHS379A
–
2010年3月
–
经修订的2012年1月
CMOS六缓冲器/转换器
检查样品：
CD4010B-Q1
1
特点
通过汽车应用认证
100 ％测试静态电流为20 V
1最大输入电流
A
在18 V以上
全包温度范围：
100 nA的在18 V和25℃
5 -V ， 10 - V和15 -V的参数等级
闩锁性能满足每百毫安
JESD 78 ， I级
包
（ TOP VIEW ）
应用
CMOS至DTL / TTL十六进制转换器
CMOS电流"Sink"或"Source"驱动程序
CMOS高到低逻辑电平转换器
多路转换器： 1 - TO- 6或6 - TO- 1
描述
CD4010B十六进制缓冲器/转换器可以被用作CMOS为TTL或DTL逻辑电平转换器或CMOS
高吸收电流的驱动程序。
该CD4050B是首选的进制缓冲区替换为CD4010B除了多路复用器的所有应用程序。
如果不需要高灌电流或电压的转换， CD4069UB六角逆变器
推荐使用。
该CD4010B的16引脚密封双列直插式陶瓷（D ）封装提供。
订购信息
(1)
T
A
–40°C
至125℃
(1)
(2)
SOIC
–
D
包
(2)
2500卷
订购型号
CD4010BQDRQ1
顶部端标记
CD4010BQ
对于最新的封装和订购信息，请参阅封装选项附录本文档的末尾，或见TI
网站：
www.ti.com 。
包装图纸，热数据和符号可在
www.ti.com/packaging 。
1
请注意，一个重要的通知有关可用性，标准保修，并在得克萨斯州的关键应用程序使用
仪器的半导体产品和免责条款及其出现在此数据表的末尾。
PRODUCTION数据信息为出版日期。
产品符合占德州条款规范
仪器标准保修。生产加工过程中不
不一定包括所有参数进行测试。
版权
2010-2012年，德州仪器
CD4010B-Q1
SCHS379A
–
2010年3月
–
经修订的2012年1月
www.ti.com
这个集成电路可以被ESD损坏。德州仪器建议所有集成电路与处理
适当的预防措施。如果不遵守正确的操作和安装程序，可以造成损坏。
ESD损害的范围可以从细微的性能下降，完成设备故障。精密集成电路可能会更
容易受到伤害，因为很小的参数变化可能导致设备不能满足其公布的规格。
图1.原理图
–
其中六个相同阶段
工作原理图
2
提交文档反馈
产品文件夹链接（ S） ：
CD4010B-Q1
版权
2010-2012年，德州仪器
CD4010B-Q1
www.ti.com
SCHS379A
–
2010年3月
–
经修订的2012年1月
绝对最大额定值
(1)
在工作自由空气的温度范围内（除非另有说明）
价值
V
DD
直流电源电压范围内，电压参考V
SS
终奌站
输入电压范围内，所有输入
直流输入电流，在任何一个输入
T
A
=
–40°C
到+ 100℃的
P
D
每个封装功耗
每个输出设备的功耗
晶体管
T
A
T
英镑
工作温度范围
存储温度范围
每JESD 78 ， I级闭锁性能
人体模型（ HBM ）
ESD
静电放电额定值
(2)
机器模型（ MM ）
带电器件模型（ CDM）
(1)
(2)
T
A
= + 100 ° C至+ 125°C
T
A
=全包温度范围
（所有的包类型）
–0.5
至+20
–0.5
到V
DD
+0.5
±10
500
减免线性的
12毫瓦/ ℃至200毫瓦
100
–40
+125
–65
+150
100
500
100
1000
V
mW
单位
V
V
mA
mW
°C
°C
mA
强调超越那些在列
绝对最大额定值
可能对器件造成永久性损坏。这些压力额定值
只和功能在这些或任何其他条件超出下所指示的设备的操作
推荐工作
条件
是不是暗示。暴露于长时间处于最大绝对额定情况下会影响器件的可靠性。
经测试符合AEC- Q100标准。
推荐工作条件
民
V
DD
V
CC
V
I
(1)
电源电压范围
(1)
输入电压范围
3
3
V
CC
最大
18
V
DD
V
DD
单位
V
V
该CD4010B具有高至低的电平的电压转换功能，但并不低到高的电平;因此，建议
V
DD
＆ GT ;
V
I
＆ GT ;
V
CC
.
版权
2010-2012年，德州仪器
提交文档反馈
产品文件夹链接（ S） ：
CD4010B-Q1
3
QQ：2881677436 复制
