UNISONIC TECHNOLOGIES CO 。 ， LTD。
CD4001B
初步
CMOS IC
四2输入或非
BUFFERED B系列门
描述
该
UTC CD4001B
包含四个独立的二输入NOR
门，他们
执行该功能的
Y = A + B
在正逻辑。
SOP-14
特点
* 5V - 10V- 15V参数额定值
*四2输入或非门
*对称输出特性
*为1uA ，在15V以上完整包装Temper-最大输入电流
ATURE愤怒
*低功耗TTL ：
扇出的2驾驶74L兼容性或1驾驶74LS
订购信息
订购数量
无铅
无卤
CD4001BL-S14-R
CD4001BG-S14-R
包
SOP-14
填料
带盘
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2011 Unisonic技术有限公司
1 5
QW-R502-599.a
CD4001B
引脚配置
1A
1B
1Y
2Y
2A
2B
V
SS
初步
CMOS IC
1
2
3
4
5
6
7
14 V
DD
13 4B
12 4A
11 4Y
10 3Y
9
8
3B
3A
功能表
（每个门）
输入
(
A
)
H
H
L
L
输入
(
B
)
H
L
H
L
产量
(
Y
)
L
L
L
H
逻辑图
（正逻辑）
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2 5
QW-R502-599.a
CD4001B
初步
CMOS IC
绝对最大额定值
(T
a
=25°С,
除非另有规定编）
参数
符号
评级
单位
电源电压
V
DD
-0.5 ~ 18
V
输入电压
V （NA ， NB ）
-0.5 ~ V
DD
+0.5
V
输出电压
V（纽约州）
-0.5 ~ V
DD
+0.5
V
储存温度
T
英镑
-65 ~ + 150
℃
注意：绝对最大额定值是那些超出该装置可以永久损坏的值。
绝对最大额定值的压力额定值只和功能的设备操作不暗示。
推荐工作条件
参数
电源电压
工作温度图
符号
V
DD
T
OP
评级
3
~
15
-40 ~ 125
单位
V
℃
电气特性
(T
a
=25°С)
测试条件
V
DD
= 5V, V
O
=0.5V
高
V
IH
V
DD
= 10V, V
O
=1.0V
V
DD
= 15V, V
O
=1.5V
输入电压
V
DD
= 5V, V
O
=4.5V
低
V
IL
V
DD
= 10V, V
O
=9.0V
V
DD
= 15V, V
O
=13.5V
V
DD
= 5V ，我
OH
=-1A
高
V
OH
V
DD
= 10V ，我
OH
=-1A
V
DD
= 15V ，我
OH
=-1A
输出电压
V
DD
= 5V ，我
OL
=1A
低
V
OL
V
DD
= 10V ，我
OL
=1A
V
DD
= 15V ，我
OL
=1A
V
DD
= 5V, V
O
=4.6V
高
I
OH
V
DD
= 10V, V
O
=9.5V
输出电流
V
DD
= 15V, V
O
=13.5V
（注）
V
DD
= 5V, V
O
=0.4V
低
I
OL
V
DD
= 10V, V
O
=0.5V
V
DD
= 15V, V
O
=1.5V
输入漏电流
I
我（泄漏）
V
DD
= 15V ,V
IN
= V
DD
或GND
V
DD
= 5V, V
IN
= V
DD
或V
SS
, I
OUT
= 0
静态电源电流
I
Q
V
DD
= 10V, V
IN
= V
DD
或V
SS
, I
OUT
= 0
V
DD
= 15V, V
IN
= V
DD
或V
SS
, I
OUT
= 0
注：我
OL
我
OH
在测试一个输出一次
参数
符号
民
3.5
7.0
11.0
典型值
3
6
9
2
4
6
5
10
15
0
0
0
-0.88
-2.25
-8.8
0.88
2.25
8.8
0.004
0.005
0.006
最大
单位
V
1.5
3.0
4.0
V
4.95
9.95
14.95
V
0.05
0.05
0.05
V
-0.51
-1.3
-3.4
0.51
1.3
3.4
mA
0.1
0.25
0.5
1.0
A
A
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3 5
QW-R502-599.a
CD4001B
参数
符号
t
PLH
传输延迟
输入（ A或B）到输出（Y ）
t
PHL
t
TLH
t
THL
初步
CMOS IC
开关特性
(T
A
= 25 ° С ，输入：吨
R
=t
F
=20ns,unless
另有规定编
)
测试条件
V
DD
= 5V ，C
L
= 50pF的，R
L
=200k
V
DD
= 10V ，C
L
= 50pF的，R
L
=200k
V
DD
= 15V ，C
L
= 50pF的，R
L
=200k
V
DD
= 5V ，C
L
= 50pF的，R
L
=200k
V
DD
= 10V ，C
L
= 50pF的，R
L
=200k
V
DD
= 15V ，C
L
= 50pF的，R
L
=200k
V
DD
= 5V ，C
L
= 50pF的，R
L
=200k
V
DD
= 10V ，C
L
= 50pF的，R
L
=200k
V
DD
= 15V ，C
L
= 50pF的，R
L
=200k
民
典型值
110
50
35
120
50
35
90
50
40
最大
250
100
70
250
100
70
200
100
80
单位
ns
转换时间
ns
工作特性
(T
a
=25°С)
参数
平均输入电容
功率耗散电容
符号
C
IN
C
PD
测试条件
任何输入
任意门
民
典型值
5
14
最大
7.5
单位
pF
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4 5
QW-R502-599.a
CD4001B
产量
C
L
50pF
初步
CMOS IC
测试电路和波形
R
L
200kΩ
V
V
CC
50%
50%
0V
Vo
50%
50%
V
OH
V
OL
注： CL包括探针和夹具电容。
UTC不承担由于使用产品价值的设备故障不承担责任的原则
超越，即使是瞬间，额定数值（例如最大额定值，工作环境范围或
其他参数）的任何产品规格及所有UTC产品上市的描述或包含
在本文中。 UTC产品并非设计用于生命支持设备，装置或系统中使用
这些产品的故障可合理预期会导致人身伤害。再现
不得全部或部分未经版权所有人的事先书面同意。信息
本文件并不构成任何报价或合同的一部分提出的，被认为是准确的
可靠，可恕不另行通知。
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5
QW-R502-599.a
CD4001BC / CD4011BC四2输入或非缓冲B系列门四2输入与非缓冲B系列门
1987年10月
修订后的2002年3月
CD4001BC/CD4011BC
四2输入或非缓冲B系列门
四2输入与非缓冲B系列门
概述
该CD4001BC和CD4011BC四门均为单芯片
互补MOS （CMOS ）集成电路CON-
structed与N沟道和P沟道增强型转录
电阻取值。他们有平等的源和吸收电流
能力和符合标准的B系列输出驱动器。
该器件还拥有缓冲输出其改善
通过提供非常高的增益传输特性。
所有的输入保护，防止静电放电二极管用
到V
DD
和V
SS
.
特点
s
低功耗TTL ：
扇出2驾驶74L的兼容性：
s
5V - 10V - 15V额定参数
s
对称的输出特性
s
最大输入漏电流1
一个在15V以上全
温度范围
或1驾驶74LS
订购代码：
订单号
CD4001BCM
CD4001BCSJ
CD4001BCN
CD4011BCM
CD4011BCN
包装数
M14A
M14D
N14A
M14A
N14A
包装说明
14引脚小外形集成电路（ SOIC ） ， JEDEC MS- 012 ， 0.150"窄
14引脚小外形封装（ SOP ） ， EIAJ TYPE II ， 5.3毫米宽
14引脚塑料双列直插式封装（ PDIP ） ， JEDEC MS- 001 ， 0.300"宽
14引脚小外形集成电路（ SOIC ） ， JEDEC MS- 012 ， 0.150"窄
14引脚塑料双列直插式封装（ PDIP ） ， JEDEC MS- 001 ， 0.300"宽
在磁带和卷轴可用的设备也。通过附加的后缀字母“X”的订货代码指定。
连接图
引脚分配为DIP ， SOIC和SOP
CD4001BC
引脚分配为DIP和SOIC
CD4011BC
顶视图
顶视图
2002仙童半导体公司
DS005939
www.fairchildsemi.com
CD4001BM CD4001BC四2输入或非缓冲B系列门
CD4011BM CD4011BC四2输入与非缓冲B系列门
1988年3月
CD4001BM CD4001BC四2输入
NOR缓冲B系列门
CD4011BM CD4011BC四2输入
NAND缓冲B系列门
概述
这些四门均为单芯片互补MOS
用N型和P信构造（CMOS）集成电路
NEL增强型晶体管他们有平等的来源
和吸收电流的能力，并符合标准的B SE-
里斯输出驱动装置也有缓冲输出
它通过提供非常完善的传输特性
高增益
所有的输入保护，防止静电放电二极管用
到V
DD
和V
SS
特点
Y
Y
Y
Y
低功耗TTL
扇出2驾驶74L
兼容性
或1驾驶74LS
5V 15V 10V-额定参数
对称的输出特性
最大输入漏电流1
mA
在15V在整个温度
TURE系列
原理图
CD4001BC BM
设备的显示
J
e
A
a
B
逻辑' 1'， '
e
高
逻辑' 0''
e
低
TL F 5939 - 2
用标准保护所有输入
CMOS电路保护
TL F 5939 - 1
CD4011BC BM
设备的显示
J
e
A
B
逻辑' 1'， '
e
高
逻辑' 0''
e
低
TL F 5939 - 6
用标准保护所有输入
CMOS电路保护
TL F 5939 - 5
C
1995年全国半导体公司
TL F 5939
RRD - B30M105印制在U S A
DC电气特性
CD4001BC
符号
I
DD
参数
静态器件
当前
低层
输出电压
高层
输出电压
低层
输入电压
高层
输入电压
低电平输出
当前
（注3）
高电平输出
当前
（注3）
输入电流
条件
V
DD
e
5V V
IN
e
V
DD
或V
SS
V
DD
e
10V V
IN
e
V
DD
或V
SS
V
DD
e
15V V
IN
e
V
DD
或V
SS
V
DD
e
5V
V
DD
e
10V
V
DD
e
15V
V
DD
e
5V
V
DD
e
10V
V
DD
e
15V
CD4011BC （注2）
b
40 C
a
25 C
a
85 C
单位
mA
mA
mA
V
V
V
V
V
V
民
最大
1
2
4
0 05
0 05
0 05
民
典型值
0 004
0 005
0 006
0
0
0
最大
1
2
4
0 05
0 05
0 05
民
最大
75
15
30
0 05
0 05
0 05
V
OL
V
OH
V
IL
V
DD
e
5V V
O
e
4 5V
V
DD
e
10V V
O
e
9 0V
V
DD
e
15V V
O
e
13 5V
V
DD
e
5V V
O
e
0 5V
V
DD
e
10V V
O
e
1 0V
V
DD
e
15V V
O
e
1 5V
V
DD
e
5V V
O
e
0 4V
V
DD
e
10V V
O
e
0 5V
V
DD
e
15V V
O
e
1 5V
V
DD
e
5V V
O
e
4 6V
V
DD
e
10V V
O
e
9 5V
V
DD
e
15V V
O
e
13 5V
V
DD
e
15V V
IN
e
0V
V
DD
e
15V V
IN
e
15V
35
70
11 0
0 52
13
36
b
0 52
b
1 3
b
3 6
(
(
ll
l
I
O
l
k
1
mA
I
O
k
1
mA
4 95
9 95
14 95
4 95
9 95
14 95
15
30
40
35
70
11 0
0 44
11
30
b
0 44
b
1 1
b
3 0
b
0 30
5
10
15
2
4
6
3
6
9
0 88
2 25
88
b
0 88
b
2 25
b
8 8
b
10
b
5
b
0 30
4 95
9 95
14 95
15
30
40
35
70
11 0
0 36
09
24
b
0 36
b
0 9
b
2 4
b
1 0
15
30
40
V
V
V
V
V
V
mA
mA
mA
mA
mA
mA
V
IH
I
OL
I
OH
I
IN
0 30
10
b
5
0 30
10
mA
mA
AC电气特性
CD4001BC CD4001BM
T
A
e
25 C输入吨
r
t
f
e
20 ns的
L
e
50 pF的
L
e
200K典型温度系数为0 3 ％C
符号
t
PHL
参数
传播延迟时间
高到低的水平
传播延迟时间
低到高的电平
转换时间
条件
V
DD
e
5V
V
DD
e
10V
V
DD
e
15V
V
DD
e
5V
V
DD
e
10V
V
DD
e
15V
V
DD
e
5V
V
DD
e
10V
V
DD
e
15V
任何输入
任意门
典型值
120
50
35
110
50
35
90
50
40
5
14
最大
250
100
70
250
100
70
200
100
80
75
单位
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
pF
pF
t
PLH
t
THL
t
TLH
C
IN
C
PD
平均输入电容
功率耗散能力
AC参数都保证了DC相关测试
注1
''绝对最大额定值''是那些价值超过该设备的安全性不能得到保证除'工作温度范围''
它们不意味着暗示该设备应在这些限制下操作的''电气特性“”该表提供了条件，实际的设备
手术
注2
相对于V测量的电压
SS
除非另有说明
注3
I
OL
我
OH
在测试一个输出一次
3
重要通知
德州仪器（TI）及其附属公司（ TI）保留随时修改他们的产品或终止的权利
任何产品或服务，恕不另行通知，并告知客户获得相关信息的最新版本
验证，在下订单之前，该信息被依靠的最新及完整。所有产品的销售
受在订单确认时所提供的销售条款和条件，包括
关于保修，专利侵权，并赔偿责任限制。
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根据TI的标准保修服务。测试和其它质量控制技术被利用的程度
TI认为有必要支持这项保证。每个器件的所有参数的具体测试不一定
除了那些由政府强制要求执行。
采用半导体产品的某些应用程序可能涉及的潜在风险
死亡，人身伤害，或严重的财产或环境损害（ “ CRITICAL
应用程序“） 。 TI半导体产品并非设计，授权，或
担保能适用用于生命支持设备或系统或其他
关键应用。 TI产品在这些应用中夹杂物被理解为
完全根据客户的风险。
为了最小化与用户的应用程序，适当的设计与操作相关的风险
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1999年，德州仪器
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