CAT28F102
1兆位的CMOS闪存
特点
s
快速读取访问时间: 45/55/70/90 NS
s
低功耗CMOS功耗:
英特尔授权
第二个来源
s
64K ×16的Word组织
s
停止定时器编程/擦除
s
芯片上地址和数据锁存器
s
JEDEC标准管脚引出线:
-active :30 mA(最大值) ( CMOS / TTL电平)
-Standby :最大1毫安( TTL电平)
-Standby : 100
A(最大值) ( CMOS电平)
s
高速编程:
–10
每个的byte
-1秒典型芯片项目
-40引脚DIP
-44引脚PLCC
-40引脚TSOP
s
100,000编程/擦除周期
s
10年的数据保存
s
电子签名
s
0.5秒典型芯片擦除
s
12.0V
±
5%的编程和擦除电压
s
商用,工业和汽车
温度范围
描述
该CAT28F102是高速64K ×16位的电
可擦除和重新编程的闪存最好
适合需要在系统的应用程序或售后
代码更新。全记忆中的电擦除
内容是在0.5秒内典型地实现。
它与标准的引脚和读时序兼容
EPROM和E
2
PROM器件。编程和擦除
通过一个操作被执行,并验证algo-
rithm 。所述指令输入通过I / O总线,用
两个写周期的计划。地址和数据锁存
以释放I / O总线和地址总线的写操作期间
操作。
该CAT28F102使用Catalyst的AD-制造
vanced CMOS浮栅技术。它被设计成
忍受100,000编程/擦除周期,并具有数据
保持10年。该器件可在JEDEC
批准的40引脚DIP , 44引脚PLCC ,或40引脚TSOP
包。
I/O0–I/O15
框图
I / O缓冲器
擦除电压
开关
WE
命令
注册
编程电压
开关
CE, OE逻辑
数据
LATCH
SENSE
AMP
CE
OE
地址锁存
Y型GATING
y解码器
1,048,576-BIT
内存
ARRAY
A0–A15
X解码器
电压以确认
开关
28F101-1
1998年由Catalyst半导体公司
特性如有变更,恕不另行通知
1
文档。 25038-0A第2/98 F- 1
CAT28F102
引脚配置
引脚功能
引脚名称
A
0
–A
15
I / O
0
-I / O
15
A15
A14
TYPE
输入
I / O
输入
输入
输入
功能
地址输入
存储器寻址
数据输入/输出
芯片使能
OUTPUT ENABLE
写使能
电源
地
编程/擦除
电源
无连接
PLCC封装( N)
I/O13
I/O14
I/O15
CE
NC
VCC
WE
NC
VPP
CE
OE
WE
A13
A12
A11
A10
A9
VSS
NC
A8
A7
A6
A5
I/O12
I/O11
I/O10
I/O9
I/O8
VSS
NC
I/O7
I/O6
I/O5
I/O4
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
6 5 4 3 2 1 44 43 42 41 40
39
38
37
36
35
34
33
32
31
30
V
CC
V
SS
V
PP
NC
29
17
18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28
I/O3
I/O2
I/O1
I/O0
OE
NC
A0
A1
A2
A3
A4
TSOP封装( T14 )
A9
A10
A11
A12
A13
A14
A15
NC
WE
VCC
VPP
CE
I/O15
I/O14
I/O13
I/O12
I/O11
I/O10
I/O9
I/O8
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
40
39
38
37
36
35
34
33
32
31
30
29
28
27
26
25
24
23
22
21
VSS
A8
A7
A6
A5
A4
A3
A2
A1
A0
OE
I/O0
I/O1
I/O2
I/O3
I/O4
I/O5
I/O6
I/O7
VSS
28F101-3
28F101-2
DIP封装( P)
VPP
CE
I/O15
I/O14
I/O13
I/O12
I/O11
I/O10
I/O9
I/O8
VSS
I/O7
I/O6
I/O5
I/O4
I/O3
I/O2
I/O1
I/O0
OE
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
40
39
38
37
36
35
34
33
32
31
30
29
28
27
26
25
24
23
22
21
VCC
WE
NC
A15
A14
A13
A12
A11
A10
A9
VSS
A8
A7
A6
A5
A4
A3
A2
A1
A0
反向TSOP封装( T14R )
A0
A1
A2
A3
A4
A5
A6
A7
A8
GND
A9
A10
A11
A12
A13
A14
A15
NC
WE
VCC
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
40
39
38
37
36
35
34
33
32
31
30
29
28
27
26
25
24
23
22
21
OE
I/O0
I/O1
I/O2
I/O3
I/O4
I/O5
I/O6
I/O7
GND
I/O8
I/O9
I/O10
I/O11
I/O12
I/O13
I/O14
I/O15
VPP
CE
28F102 TSOP2
文档。 25038-0A第2/98 F- 1
2
CAT28F102
绝对最大额定值*
高温下偏置................... -55 ° C至+ 95°C
存储温度....................... -65 ° C至+ 150°C
任何引脚的电压
对于地面
(1)
........... -0.6V到+ V
CC
+ 2.0V
引脚上的电压
9
同
对于地面
(1)
................... -2.0V至+ 13.5V
V
PP
相对于地面
在编程/擦除
(1)
.............. -0.6V至+ 14.0V
V
CC
相对于地面
(1)
............ -2.0V至+ 7.0V
封装功耗
能力(T
A
= 25 ° C) .................................为1.0W
引线焊接温度( 10秒) ............ 300℃
输出短路电流
(2)
........................百毫安
可靠性的特点
符号
N
END(3)
T
DR(3)
V
ZAP(3)
I
LTH(3)(4)
参数
耐力
数据保留
ESD敏感性
闭锁
分钟。
100K
10
2000
100
马克斯。
* COMMENT
注意,超出上述绝对最大的“上市
“,可能对器件造成永久性损坏。
这些压力额定值只和功能的操作
该设备在这些或那些之外的任何其他条件
在操作部分中列出的本规范不
暗示。暴露于任何绝对最大额定值
长时间可能会影响器件的性能和
可靠性。
单位
周期/字节
岁月
伏
mA
测试方法
MIL - STD-883标准,测试方法1033
MIL - STD-883标准,测试方法1008
MIL - STD-883标准,测试方法3015
JEDEC标准17
电容
T
A
= 25 ° C,F = 1.0 MHz的
范围
符号
C
IN(3)
C
OUT(3)
C
VPP(3)
TEST
输入引脚电容
输出引脚电容
V
PP
供应电容
民
马克斯。
6
10
25
单位
pF
pF
pF
条件
V
IN
= 0V
V
OUT
= 0V
V
PP
= 0V
注意:
(1 )最小的直流输入电压为-0.5V 。在转换过程中,输入可能下冲至-2.0V为小于20毫微秒周期。最大直流
电压输出引脚为V
CC
+ 0.5V ,这可能会过冲至V
CC
+ 2.0V为小于20ns的周期。
(2)输出短路不超过一秒。不超过一个输出短路的时间。
( 3 )此参数与最初设计或工艺变更影响的参数后进行测试。
提供( 4 )闩锁保护的压力高达100毫安的地址和数据引脚从-1V到V
CC
+1V.
3
文档。 25038-0A第2/98 F- 1
CAT28F102
交流的特点,读操作
V
CC
= +5V
±10%,
除非另有说明
JEDEC
符号
t
AVAV
t
ELQV
t
AVQV
t
GLQV
t
AXQX
t
GLQX
t
ELQX
t
GHQZ
t
EHQZ(1)(2)
t
WHGL
标准
符号
t
RC
t
CE
t
加
t
OE
t
OH
t
OLZ(1)(6)
t
LZ(1)(6)
t
DF(1)(2)
-
参数
读周期时间
CE
存取时间
地址访问时间
OE
存取时间
从地址输出保持
OE / CE
陈
OE
到输出低-Z
CE
到输出低-Z
OE
高到输出高阻
CE
高到输出高阻
写恢复时间之前,
读
6
0
0
0
15
15
6
28F102-45
(7)
Vcc=5V+5%
28F102-55
(7)
28F102-70
(7)
28F102- 90
(8)
Vcc=5V+5%
分钟。
45
马克斯。
MIN 。 MAX 。 MIN 。
55
70
55
55
25
0
0
0
15
15
6
0
0
0
马克斯。
分钟。
90
最大
单位
ns
45
45
20
70
70
28
0
0
0
18
25
6
90
90
35
ns
ns
ns
ns
ns
ns
20
30
ns
ns
s
图1.交流测试输入/输出波形
(3)(4)(5)
2.4 V
输入脉冲电平
0.45 V
0.8 V
5108 FHD F03
2.0 V
参考点
图2.交流测试负载电路(例如)
1.3V
1N914
3.3K
设备
下
TEST
OUT
CL = 100 pF的
CL INCLUDES夹具电容
5108 FHD F04
图3.高速AC测试输入/输出波形
(3)(4)(5)
3V
2.4 V
输入脉冲电平
2.0 V
1.5V
0.8 V
参考点
0.0
0.45 V
图4.高速AC测试负载电路(例如)
1.3V
1N914
3.3K
设备
下
TEST
OUT
CL = 100 pF的
30
CL INCLUDES夹具电容
注意:
( 1 )此参数与最初设计或工艺变更影响的参数后进行测试。
(2)输出的浮动(高Z )被定义为其中所述外部数据线是由输出缓冲器不再驱动时的状态。
( 3 )输入上升和下降时间( 10 %至90 % )和LT ; 10纳秒。
( 4 )输入脉冲电平= 0.45V和2.4V 。对于高速输入脉冲电平0.0V和3.0V 。
( 5 )输入和输出时序参考= 0.8V和2.0V 。对于高速输入和输出时序参考= 1.5V 。
(6 )低Z被定义为所述外部数据可以由输出缓冲器来驱动,但可能是无效的状态。
(7)为负载和基准点见图3和图4
( 8 )对于负载和基准点见图1和图2
5
文档。 25038-0A第2/98 F- 1
CAT28F102
1兆位的CMOS闪存
特点
s
快速读取访问时间: 45/55/70/90 NS
s
低功耗CMOS功耗:
英特尔授权
第二个来源
s
64K ×16的Word组织
s
停止定时器编程/擦除
s
芯片上地址和数据锁存器
s
JEDEC标准管脚引出线:
-active :30 mA(最大值) ( CMOS / TTL电平)
-Standby :最大1毫安( TTL电平)
-Standby : 100
A(最大值) ( CMOS电平)
s
高速编程:
–10
每个的byte
-1秒典型芯片项目
-40引脚DIP
-44引脚PLCC
-40引脚TSOP
s
100,000编程/擦除周期
s
10年的数据保存
s
电子签名
s
0.5秒典型芯片擦除
s
12.0V
±
5%的编程和擦除电压
s
商用,工业和汽车
温度范围
描述
该CAT28F102是高速64K ×16位的电
可擦除和重新编程的闪存最好
适合需要在系统的应用程序或售后
代码更新。全记忆中的电擦除
内容是在0.5秒内典型地实现。
它与标准的引脚和读时序兼容
EPROM和E
2
PROM器件。编程和擦除
通过一个操作被执行,并验证algo-
rithm 。所述指令输入通过I / O总线,用
两个写周期的计划。地址和数据锁存
以释放I / O总线和地址总线的写操作期间
操作。
该CAT28F102使用Catalyst的AD-制造
vanced CMOS浮栅技术。它被设计成
忍受100,000编程/擦除周期,并具有数据
保持10年。该器件可在JEDEC
批准的40引脚DIP , 44引脚PLCC ,或40引脚TSOP
包。
I/O0–I/O15
框图
I / O缓冲器
擦除电压
开关
WE
命令
注册
编程电压
开关
CE, OE逻辑
数据
LATCH
SENSE
AMP
CE
OE
地址锁存
Y型GATING
y解码器
1,048,576-BIT
内存
ARRAY
A0–A15
X解码器
电压以确认
开关
28F101-1
1998年由Catalyst半导体公司
特性如有变更,恕不另行通知
1
文档。 25038-0A第2/98 F- 1
CAT28F102
引脚配置
引脚功能
引脚名称
A
0
–A
15
I / O
0
-I / O
15
A15
A14
TYPE
输入
I / O
输入
输入
输入
功能
地址输入
存储器寻址
数据输入/输出
芯片使能
OUTPUT ENABLE
写使能
电源
地
编程/擦除
电源
无连接
PLCC封装( N)
I/O13
I/O14
I/O15
CE
NC
VCC
WE
NC
VPP
CE
OE
WE
A13
A12
A11
A10
A9
VSS
NC
A8
A7
A6
A5
I/O12
I/O11
I/O10
I/O9
I/O8
VSS
NC
I/O7
I/O6
I/O5
I/O4
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
6 5 4 3 2 1 44 43 42 41 40
39
38
37
36
35
34
33
32
31
30
V
CC
V
SS
V
PP
NC
29
17
18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28
I/O3
I/O2
I/O1
I/O0
OE
NC
A0
A1
A2
A3
A4
TSOP封装( T14 )
A9
A10
A11
A12
A13
A14
A15
NC
WE
VCC
VPP
CE
I/O15
I/O14
I/O13
I/O12
I/O11
I/O10
I/O9
I/O8
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
40
39
38
37
36
35
34
33
32
31
30
29
28
27
26
25
24
23
22
21
VSS
A8
A7
A6
A5
A4
A3
A2
A1
A0
OE
I/O0
I/O1
I/O2
I/O3
I/O4
I/O5
I/O6
I/O7
VSS
28F101-3
28F101-2
DIP封装( P)
VPP
CE
I/O15
I/O14
I/O13
I/O12
I/O11
I/O10
I/O9
I/O8
VSS
I/O7
I/O6
I/O5
I/O4
I/O3
I/O2
I/O1
I/O0
OE
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
40
39
38
37
36
35
34
33
32
31
30
29
28
27
26
25
24
23
22
21
VCC
WE
NC
A15
A14
A13
A12
A11
A10
A9
VSS
A8
A7
A6
A5
A4
A3
A2
A1
A0
反向TSOP封装( T14R )
A0
A1
A2
A3
A4
A5
A6
A7
A8
GND
A9
A10
A11
A12
A13
A14
A15
NC
WE
VCC
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
40
39
38
37
36
35
34
33
32
31
30
29
28
27
26
25
24
23
22
21
OE
I/O0
I/O1
I/O2
I/O3
I/O4
I/O5
I/O6
I/O7
GND
I/O8
I/O9
I/O10
I/O11
I/O12
I/O13
I/O14
I/O15
VPP
CE
28F102 TSOP2
文档。 25038-0A第2/98 F- 1
2
CAT28F102
绝对最大额定值*
高温下偏置................... -55 ° C至+ 95°C
存储温度....................... -65 ° C至+ 150°C
任何引脚的电压
对于地面
(1)
........... -0.6V到+ V
CC
+ 2.0V
引脚上的电压
9
同
对于地面
(1)
................... -2.0V至+ 13.5V
V
PP
相对于地面
在编程/擦除
(1)
.............. -0.6V至+ 14.0V
V
CC
相对于地面
(1)
............ -2.0V至+ 7.0V
封装功耗
能力(T
A
= 25 ° C) .................................为1.0W
引线焊接温度( 10秒) ............ 300℃
输出短路电流
(2)
........................百毫安
可靠性的特点
符号
N
END(3)
T
DR(3)
V
ZAP(3)
I
LTH(3)(4)
参数
耐力
数据保留
ESD敏感性
闭锁
分钟。
100K
10
2000
100
马克斯。
* COMMENT
注意,超出上述绝对最大的“上市
“,可能对器件造成永久性损坏。
这些压力额定值只和功能的操作
该设备在这些或那些之外的任何其他条件
在操作部分中列出的本规范不
暗示。暴露于任何绝对最大额定值
长时间可能会影响器件的性能和
可靠性。
单位
周期/字节
岁月
伏
mA
测试方法
MIL - STD-883标准,测试方法1033
MIL - STD-883标准,测试方法1008
MIL - STD-883标准,测试方法3015
JEDEC标准17
电容
T
A
= 25 ° C,F = 1.0 MHz的
范围
符号
C
IN(3)
C
OUT(3)
C
VPP(3)
TEST
输入引脚电容
输出引脚电容
V
PP
供应电容
民
马克斯。
6
10
25
单位
pF
pF
pF
条件
V
IN
= 0V
V
OUT
= 0V
V
PP
= 0V
注意:
(1 )最小的直流输入电压为-0.5V 。在转换过程中,输入可能下冲至-2.0V为小于20毫微秒周期。最大直流
电压输出引脚为V
CC
+ 0.5V ,这可能会过冲至V
CC
+ 2.0V为小于20ns的周期。
(2)输出短路不超过一秒。不超过一个输出短路的时间。
( 3 )此参数与最初设计或工艺变更影响的参数后进行测试。
提供( 4 )闩锁保护的压力高达100毫安的地址和数据引脚从-1V到V
CC
+1V.
3
文档。 25038-0A第2/98 F- 1
CAT28F102
交流的特点,读操作
V
CC
= +5V
±10%,
除非另有说明
JEDEC
符号
t
AVAV
t
ELQV
t
AVQV
t
GLQV
t
AXQX
t
GLQX
t
ELQX
t
GHQZ
t
EHQZ(1)(2)
t
WHGL
标准
符号
t
RC
t
CE
t
加
t
OE
t
OH
t
OLZ(1)(6)
t
LZ(1)(6)
t
DF(1)(2)
-
参数
读周期时间
CE
存取时间
地址访问时间
OE
存取时间
从地址输出保持
OE / CE
陈
OE
到输出低-Z
CE
到输出低-Z
OE
高到输出高阻
CE
高到输出高阻
写恢复时间之前,
读
6
0
0
0
15
15
6
28F102-45
(7)
Vcc=5V+5%
28F102-55
(7)
28F102-70
(7)
28F102- 90
(8)
Vcc=5V+5%
分钟。
45
马克斯。
MIN 。 MAX 。 MIN 。
55
70
55
55
25
0
0
0
15
15
6
0
0
0
马克斯。
分钟。
90
最大
单位
ns
45
45
20
70
70
28
0
0
0
18
25
6
90
90
35
ns
ns
ns
ns
ns
ns
20
30
ns
ns
s
图1.交流测试输入/输出波形
(3)(4)(5)
2.4 V
输入脉冲电平
0.45 V
0.8 V
5108 FHD F03
2.0 V
参考点
图2.交流测试负载电路(例如)
1.3V
1N914
3.3K
设备
下
TEST
OUT
CL = 100 pF的
CL INCLUDES夹具电容
5108 FHD F04
图3.高速AC测试输入/输出波形
(3)(4)(5)
3V
2.4 V
输入脉冲电平
2.0 V
1.5V
0.8 V
参考点
0.0
0.45 V
图4.高速AC测试负载电路(例如)
1.3V
1N914
3.3K
设备
下
TEST
OUT
CL = 100 pF的
30
CL INCLUDES夹具电容
注意:
( 1 )此参数与最初设计或工艺变更影响的参数后进行测试。
(2)输出的浮动(高Z )被定义为其中所述外部数据线是由输出缓冲器不再驱动时的状态。
( 3 )输入上升和下降时间( 10 %至90 % )和LT ; 10纳秒。
( 4 )输入脉冲电平= 0.45V和2.4V 。对于高速输入脉冲电平0.0V和3.0V 。
( 5 )输入和输出时序参考= 0.8V和2.0V 。对于高速输入和输出时序参考= 1.5V 。
(6 )低Z被定义为所述外部数据可以由输出缓冲器来驱动,但可能是无效的状态。
(7)为负载和基准点见图3和图4
( 8 )对于负载和基准点见图1和图2
5
文档。 25038-0A第2/98 F- 1