CAT28F002
2兆位的CMOS引导块闪存
特点
s
快速读取访问时间： 90/120/150 NS
s
芯片上地址和数据锁存器
s
被阻止的架构：
s
电子签名
英特尔授权
第二个来源
s
100000编程/擦除周期和10年
数据保留
s
标准管脚引出线：
- 一个16 KB的受保护的引导块
顶部或底部位置
- 两个8 KB参数块
- 一个96 KB的主座
- 一个128 KB的主座
s
硬件数据保护
s
自动编程和擦除算法
s
自动省电功能
s
低功耗CMOS操作
s
12.0V
- 40引脚TSOP
- 40引脚PDIP
s
高速编程
s
商用，工业和汽车温
PERATURE值域
s
复位/深度掉电模式
— 0.2
A I
CC
典型
- 充当复位的启动操作
±
5％的编程和擦除电压
描述
该CAT28F002是高速256K ×8位的电
可擦除和重新编程的闪存最好
适合需要在系统或售后应用
代码更新。
该CAT28F002有一个16封闭的体系结构
KB引导块， 2个8 KB参数块，一个96 KB
主座和一个128 KB的主座。引导块
部可以是在存储器映射的顶部或底部。
引导块部分包括重新编程写入
锁定功能，保证数据的完整性。这是DE-
签订含有安全的代码，将弹出
系统微创和下载代码的其它位置
的CAT28F002 。
该CAT28F002被设计为具有签名模式
其允许识别出IC制造商的用户和
设备类型。该CAT28F002还设计有导通
芯片地址锁存器，数据锁存器，编程和
擦除算法。深掉电模式降低
总V
cc
功率消耗1μW典型。
该CAT28F002使用Catalyst的AD-制造
vanced CMOS浮栅技术。它被设计
忍受100,000编程/擦除周期，并具有数据
保持10年。该器件可在JEDEC
批准的40引脚TSOP和40引脚PDIP封装。
框图
地址
计数器
写状态
机
RP
WE
命令
注册
编程电压
开关
CE， OE逻辑
擦除电压
开关
I/O0–I/O7
I / O缓冲器
状态
注册
数据
LATCH
比较
地址锁存
SENSE
AMP
CE
OE
Y型GATING
y解码器
16K字节的BOOT BLOCK
8K字节的参数块
8K字节的参数块
96K字节的主BLOCK
128K字节的主BLOCK
A0–A17
电压以确认
开关
X解码器
28F002 F01
1998年由Catalyst半导体公司
特性如有变更，恕不另行通知
1
文档。第25072-00 2/98 F- 1
CAT28F002
绝对最大额定值*
高温下偏置................... -55 ° C至+ 95°C
存储温度....................... -65 ° C至+ 150°C
任何引脚的电压
对于地面
(1)
........... -2.0V到+ V
CC
+ 2.0V
引脚上的电压
9
同
对于地面
(1)
................... -2.0V至+ 13.5V
V
PP
相对于地面
在编程/擦除
(1)
.............. -2.0V至+ 14.0V
V
CC
相对于地面
(1)
............ -2.0V至+ 7.0V
封装功耗
能力（T
A
= 25 ° C） .................................为1.0W
引线焊接温度（ 10秒） ............ 300℃
输出短路电流
(2)
........................百毫安
* COMMENT
注意，超出上述绝对最大的“上市
“，可能对器件造成永久性损坏。
这些压力额定值只和功能的操作
该设备在这些或那些之外的任何其他条件
在操作部分中列出的本规范不
暗示。暴露于任何绝对最大额定值
长时间可能会影响器件的性能和
可靠性。
可靠性的特点
符号
N
END(3)
T
DR(3)
V
ZAP(3)
I
LTH(3)(4)
参数
耐力
数据保留
ESD敏感性
闭锁
分钟。
100K
10
2000
100
马克斯。
单位
周期/字节
岁月
伏
mA
测试方法
MIL - STD-883标准，测试方法1033
MIL - STD-883标准，测试方法1008
MIL - STD-883标准，测试方法3015
JEDEC标准17
电容
T
A
= 25 ° C，F = 1.0 MHz的
范围
符号
C
IN(3)
C
OUT(3)
C
VPP(3)
TEST
输入引脚电容
输出引脚电容
V
PP
供应电容
民
马克斯。
8
12
25
单位
pF
pF
pF
条件
V
IN
= 0V
V
OUT
= 0V
V
PP
= 0V
注意：
（1 ）最小的直流输入电压为-0.5V 。在转换过程中，输入可能下冲至-2.0V为小于20毫微秒周期。最大直流
电压输出引脚为V
CC
+ 0.5V ，这可能会过冲至V
CC
+ 2.0V为小于20ns的周期。
（2）输出短路不超过一秒。不超过一个输出短路的时间。
（ 3 ）此参数与最初设计或工艺变更影响的参数后进行测试。
提供（ 4 ）闩锁保护的压力高达100毫安的地址和数据引脚从-1V到V
CC
+1V.
3
文档。第25072-00 2/98 F- 1
CAT28F002
直流工作特性
V
CC
= +5V
±10%,
除非另有说明
范围
符号
I
LI
I
LO
I
SB1
I
SB2
I
PPD
I
CC1
I
CC2(1)
I
CC3(1)
I
PPS
I
PP1
I
PP2(1)
I
PP3(1)
V
IL
V
OL
V
IH
V
OH1
V
ID
I
ID
I
CCD
I
CCES
I
PPES
I
RP
V
OH2
参数
输入漏电流
输出漏电流
V
CC
待机电流CMOS
V
CC
待机电流TTL
V
PP
深掉电电流
V
CC
读操作工作电流
V
CC
编程电流
V
CC
擦除电流
V
PP
待机电流
V
PP
读电流
V
PP
编程电流
V
PP
擦除电流
输入低电平
输出低电平
输入高电平
输出高电平TTL
A
9
签名电压
A
9
当前签名
V
CC
深掉电电流
V
CC
擦除挂起电流
V
PP
擦除挂起电流
RP引导块解锁电流
输出高电平TTL
0.85 V
CC
2.0
2.4
10.8
13.2
500
1.0
10
200
500
–0.5
分钟。
马克斯。
±1.0
±10
100
1.5
5.0
55
50
30
±10
200
200
20
15
0.8
0.45
V
CC
+0.5
单位
A
A
A
mA
A
mA
mA
mA
A
A
A
mA
mA
V
V
V
V
V
A
A
mA
A
A
V
I
OH
= -2.5mA ，V
CC
= 4.5V
A
9
= V
ID
A
9
= V
ID
RP
= GND ±0.2V
擦除暂停
CE
= V
IH
擦除暂停V
PP
=V
PPH
RP
= V
HH
V
CC
= V
CCmin
I
OH
= -1.5mA
I
OL
= 5.8毫安，V
CC
= 4.5V
测试条件
V
IN
= V
CC
或V
SS
V
CC
= 5.5V
V
OUT
= V
CC
或V
SS
,
V
CC
= 5.5V
CE
= V
CC
±0.2V
=
RP
V
CC
= 5.5V
CE
=
RP
= V
IH
, V
CC
= 5.5V
RP
= GND ±0.2V
V
CC
= 5.5V ，CE = GND ，
I
OUT
= 0毫安， F = 10 MHz的
V
CC
= 5.5V,
编程中
V
CC
= 5.5V,
删除进展
V
PP
＆ LT ;
V
CC
V
PP
＆ GT ;
V
CC
V
PP
= V
PPH
V
PP
= V
PPH
,
编程中
V
PP
= V
PPH
,
删除进展
注意：
（ 1 ）此参数与最初设计或工艺变更影响的参数后进行测试。
文档。第25072-00 2/98 F- 1
4
CAT28F002
电源特性
范围
符号
V
LKO
V
CC
V
PPL
V
PPH
V
HH
V
PPLK
参数
V
CC
擦/写锁电压
V
CC
电源电压
V
PP
在读操作
V
PP
在擦除/编程
RP ， OE
解锁电压
V
PP
锁定电压
民
2.0
4.5
0
11.4
10.8
0
5.5
6.5
12.6
13.2
6.5
马克斯。
单位
V
V
V
V
V
V
交流的特点，读操作
V
CC
= +5V
±10%,
除非另有说明
JEDEC标准
符号
t
AVAV
t
ELQV
t
AVQV
t
GLQV
-
t
GLQX
t
ELQX
t
GHQZ
t
EHQZ
t
PHQV
符号
t
RC
t
CE
t
加
t
OE
t
OH
t
LZ(1)(6)
t
DF(1)(2)
t
HZ(1)(2)
t
威尔斯亲王医院
参数
读周期时间
CE
存取时间
地址访问时间
OE
存取时间
从地址输出保持
OE / CE
变化
0
0
0
30
30
300
28F002-90
分钟。马克斯。
90
90
90
40
0
0
0
30
30
300
28F002-12 28F002-15
分钟。马克斯。分钟。马克斯。单位
120
120
120
40
0
0
0
30
30
300
150
150
150
40
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
t
OLZ(1)(6)
OE
到输出低-Z
CE
到输出低-Z
OE
高到输出高阻
CE
高到输出高阻
RP
高到输出延迟
图1.交流测试输入/输出波形
(3)(4)(5)
2.4 V
输入脉冲电平
0.45 V
0.8 V
5108 FHD F03
2.0 V
参考点
图2.交流测试负载电路（例如）
1.3V
1N914
3.3K
设备
下
TEST
OUT
CL = 100 pF的
5108 FHD F04
CL INCLUDES夹具电容
注意：
（ 1 ）此参数与最初设计或工艺变更影响的参数后进行测试。
（2）输出的浮动（高Z ）被定义为其中所述外部数据线是由输出缓冲器不再驱动时的状态。
（ 3 ）输入上升和下降时间（ 10 ％至90 ％ ）和LT ; 10纳秒。
（ 4 ）输入脉冲电平= 0.45V和2.4V 。
（ 5 ）输入和输出时序参考= 0.8V和2.0V 。
（6 ）低Z被定义为所述外部数据可以由输出缓冲器来驱动，但可能是无效的状态。
5
文档。第25072-00 2/98 F- 1
CAT28F002
2兆位的CMOS引导块闪存
特点
s
快速读取访问时间： 90/120/150 NS
s
芯片上地址和数据锁存器
s
被阻止的架构：
s
电子签名
英特尔授权
第二个来源
s
100000编程/擦除周期和10年
数据保留
s
标准管脚引出线：
- 一个16 KB的受保护的引导块
顶部或底部位置
- 两个8 KB参数块
- 一个96 KB的主座
- 一个128 KB的主座
s
硬件数据保护
s
自动编程和擦除算法
s
自动省电功能
s
低功耗CMOS操作
s
12.0V
- 40引脚TSOP
- 40引脚PDIP
s
高速编程
s
商用，工业和汽车温
PERATURE值域
s
复位/深度掉电模式
— 0.2
A I
CC
典型
- 充当复位的启动操作
±
5％的编程和擦除电压
描述
该CAT28F002是高速256K ×8位的电
可擦除和重新编程的闪存最好
适合需要在系统或售后应用
代码更新。
该CAT28F002有一个16封闭的体系结构
KB引导块， 2个8 KB参数块，一个96 KB
主座和一个128 KB的主座。引导块
部可以是在存储器映射的顶部或底部。
引导块部分包括重新编程写入
锁定功能，保证数据的完整性。这是DE-
签订含有安全的代码，将弹出
系统微创和下载代码的其它位置
的CAT28F002 。
该CAT28F002被设计为具有签名模式
其允许识别出IC制造商的用户和
设备类型。该CAT28F002还设计有导通
芯片地址锁存器，数据锁存器，编程和
擦除算法。深掉电模式降低
总V
cc
功率消耗1μW典型。
该CAT28F002使用Catalyst的AD-制造
vanced CMOS浮栅技术。它被设计
忍受100,000编程/擦除周期，并具有数据
保持10年。该器件可在JEDEC
批准的40引脚TSOP和40引脚PDIP封装。
框图
地址
计数器
写状态
机
RP
WE
命令
注册
编程电压
开关
CE， OE逻辑
擦除电压
开关
I/O0–I/O7
I / O缓冲器
状态
注册
数据
LATCH
比较
地址锁存
SENSE
AMP
CE
OE
Y型GATING
y解码器
16K字节的BOOT BLOCK
8K字节的参数块
8K字节的参数块
96K字节的主BLOCK
128K字节的主BLOCK
A0–A17
电压以确认
开关
X解码器
28F002 F01
1998年由Catalyst半导体公司
特性如有变更，恕不另行通知
1
文档。第25072-00 2/98 F- 1
CAT28F002
绝对最大额定值*
高温下偏置................... -55 ° C至+ 95°C
存储温度....................... -65 ° C至+ 150°C
任何引脚的电压
对于地面
(1)
........... -2.0V到+ V
CC
+ 2.0V
引脚上的电压
9
同
对于地面
(1)
................... -2.0V至+ 13.5V
V
PP
相对于地面
在编程/擦除
(1)
.............. -2.0V至+ 14.0V
V
CC
相对于地面
(1)
............ -2.0V至+ 7.0V
封装功耗
能力（T
A
= 25 ° C） .................................为1.0W
引线焊接温度（ 10秒） ............ 300℃
输出短路电流
(2)
........................百毫安
* COMMENT
注意，超出上述绝对最大的“上市
“，可能对器件造成永久性损坏。
这些压力额定值只和功能的操作
该设备在这些或那些之外的任何其他条件
在操作部分中列出的本规范不
暗示。暴露于任何绝对最大额定值
长时间可能会影响器件的性能和
可靠性。
可靠性的特点
符号
N
END(3)
T
DR(3)
V
ZAP(3)
I
LTH(3)(4)
参数
耐力
数据保留
ESD敏感性
闭锁
分钟。
100K
10
2000
100
马克斯。
单位
周期/字节
岁月
伏
mA
测试方法
MIL - STD-883标准，测试方法1033
MIL - STD-883标准，测试方法1008
MIL - STD-883标准，测试方法3015
JEDEC标准17
电容
T
A
= 25 ° C，F = 1.0 MHz的
范围
符号
C
IN(3)
C
OUT(3)
C
VPP(3)
TEST
输入引脚电容
输出引脚电容
V
PP
供应电容
民
马克斯。
8
12
25
单位
pF
pF
pF
条件
V
IN
= 0V
V
OUT
= 0V
V
PP
= 0V
注意：
（1 ）最小的直流输入电压为-0.5V 。在转换过程中，输入可能下冲至-2.0V为小于20毫微秒周期。最大直流
电压输出引脚为V
CC
+ 0.5V ，这可能会过冲至V
CC
+ 2.0V为小于20ns的周期。
（2）输出短路不超过一秒。不超过一个输出短路的时间。
（ 3 ）此参数与最初设计或工艺变更影响的参数后进行测试。
提供（ 4 ）闩锁保护的压力高达100毫安的地址和数据引脚从-1V到V
CC
+1V.
3
文档。第25072-00 2/98 F- 1
CAT28F002
直流工作特性
V
CC
= +5V
±10%,
除非另有说明
范围
符号
I
LI
I
LO
I
SB1
I
SB2
I
PPD
I
CC1
I
CC2(1)
I
CC3(1)
I
PPS
I
PP1
I
PP2(1)
I
PP3(1)
V
IL
V
OL
V
IH
V
OH1
V
ID
I
ID
I
CCD
I
CCES
I
PPES
I
RP
V
OH2
参数
输入漏电流
输出漏电流
V
CC
待机电流CMOS
V
CC
待机电流TTL
V
PP
深掉电电流
V
CC
读操作工作电流
V
CC
编程电流
V
CC
擦除电流
V
PP
待机电流
V
PP
读电流
V
PP
编程电流
V
PP
擦除电流
输入低电平
输出低电平
输入高电平
输出高电平TTL
A
9
签名电压
A
9
当前签名
V
CC
深掉电电流
V
CC
擦除挂起电流
V
PP
擦除挂起电流
RP引导块解锁电流
输出高电平TTL
0.85 V
CC
2.0
2.4
10.8
13.2
500
1.0
10
200
500
–0.5
分钟。
马克斯。
±1.0
±10
100
1.5
5.0
55
50
30
±10
200
200
20
15
0.8
0.45
V
CC
+0.5
单位
A
A
A
mA
A
mA
mA
mA
A
A
A
mA
mA
V
V
V
V
V
A
A
mA
A
A
V
I
OH
= -2.5mA ，V
CC
= 4.5V
A
9
= V
ID
A
9
= V
ID
RP
= GND ±0.2V
擦除暂停
CE
= V
IH
擦除暂停V
PP
=V
PPH
RP
= V
HH
V
CC
= V
CCmin
I
OH
= -1.5mA
I
OL
= 5.8毫安，V
CC
= 4.5V
测试条件
V
IN
= V
CC
或V
SS
V
CC
= 5.5V
V
OUT
= V
CC
或V
SS
,
V
CC
= 5.5V
CE
= V
CC
±0.2V
=
RP
V
CC
= 5.5V
CE
=
RP
= V
IH
, V
CC
= 5.5V
RP
= GND ±0.2V
V
CC
= 5.5V ，CE = GND ，
I
OUT
= 0毫安， F = 10 MHz的
V
CC
= 5.5V,
编程中
V
CC
= 5.5V,
删除进展
V
PP
＆ LT ;
V
CC
V
PP
＆ GT ;
V
CC
V
PP
= V
PPH
V
PP
= V
PPH
,
编程中
V
PP
= V
PPH
,
删除进展
注意：
（ 1 ）此参数与最初设计或工艺变更影响的参数后进行测试。
文档。第25072-00 2/98 F- 1
4
CAT28F002
电源特性
范围
符号
V
LKO
V
CC
V
PPL
V
PPH
V
HH
V
PPLK
参数
V
CC
擦/写锁电压
V
CC
电源电压
V
PP
在读操作
V
PP
在擦除/编程
RP ， OE
解锁电压
V
PP
锁定电压
民
2.0
4.5
0
11.4
10.8
0
5.5
6.5
12.6
13.2
6.5
马克斯。
单位
V
V
V
V
V
V
交流的特点，读操作
V
CC
= +5V
±10%,
除非另有说明
JEDEC标准
符号
t
AVAV
t
ELQV
t
AVQV
t
GLQV
-
t
GLQX
t
ELQX
t
GHQZ
t
EHQZ
t
PHQV
符号
t
RC
t
CE
t
加
t
OE
t
OH
t
LZ(1)(6)
t
DF(1)(2)
t
HZ(1)(2)
t
威尔斯亲王医院
参数
读周期时间
CE
存取时间
地址访问时间
OE
存取时间
从地址输出保持
OE / CE
变化
0
0
0
30
30
300
28F002-90
分钟。马克斯。
90
90
90
40
0
0
0
30
30
300
28F002-12 28F002-15
分钟。马克斯。分钟。马克斯。单位
120
120
120
40
0
0
0
30
30
300
150
150
150
40
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
t
OLZ(1)(6)
OE
到输出低-Z
CE
到输出低-Z
OE
高到输出高阻
CE
高到输出高阻
RP
高到输出延迟
图1.交流测试输入/输出波形
(3)(4)(5)
2.4 V
输入脉冲电平
0.45 V
0.8 V
5108 FHD F03
2.0 V
参考点
图2.交流测试负载电路（例如）
1.3V
1N914
3.3K
设备
下
TEST
OUT
CL = 100 pF的
5108 FHD F04
CL INCLUDES夹具电容
注意：
（ 1 ）此参数与最初设计或工艺变更影响的参数后进行测试。
（2）输出的浮动（高Z ）被定义为其中所述外部数据线是由输出缓冲器不再驱动时的状态。
（ 3 ）输入上升和下降时间（ 10 ％至90 ％ ）和LT ; 10纳秒。
（ 4 ）输入脉冲电平= 0.45V和2.4V 。
（ 5 ）输入和输出时序参考= 0.8V和2.0V 。
（6 ）低Z被定义为所述外部数据可以由输出缓冲器来驱动，但可能是无效的状态。
5
文档。第25072-00 2/98 F- 1
QQ：2880707522 复制
