CAT28F001
1兆位的CMOS引导块闪存
特点
I
快速读取访问时间：一百二十分之九十〇 NS
I
芯片上地址和数据锁存器
I
封锁架构
英特尔授权
第二个来源
H
根
FR
ALO
EE
LE
A
D
F
R
E
E
TM
I
深掉电模式
I
I
I
I
I
- 一个8 KB的引导块W /上锁
顶部或底部位置
- 两个4 KB参数块
- 一个112 KB的主座
低功耗CMOS操作
12.0V
±
5％的编程和擦除电压
自动程序&擦除算法
高速编程
商用，工业和汽车
温度范围
I
I
I
I
I
I
— 0.05
A I
CC
典型
— 0.8
A I
PP
典型
硬件数据保护
电子签名
100000编程/擦除周期和10年
数据保留
JEDEC标准管脚引出线：
- 32引脚DIP
- 32引脚PLCC
- 32引脚TSOP
复位/深度掉电模式
可用"Green"封装选项
描述
该CAT28F001是高速128K ×8位的电
可擦除和重新编程的闪存最好
适合需要在系统或售后应用
代码更新。
该CAT28F001有一个8阻塞架构
KB引导块，两个4 KB参数块和一个112
KB的主座。引导块部分可以是在顶部
或存储器映射的底部，并包括reprogram-
明写锁定功能，以保证数据的完整性。它
旨在遏制安全的代码，会弹出
系统最小和代码下载到其他某些地区可能
系统蒸发散CAT28F001的。
该CAT28F001被设计为具有签名模式
其允许识别出IC制造商的用户和
设备类型。该CAT28F001还设计有导通
芯片地址锁存器，数据锁存器，编程和
擦除算法。
该CAT28F001使用Catalyst的AD-制造
vanced CMOS浮栅技术。它被设计
忍受100,000编程/擦除周期，并具有数据
保持10年。该器件可在JEDEC
批准的32引脚塑料DIP ， PLCC和TSOP封装。
框图
I/O0–I/O7
地址
计数器
I / O缓冲器
写状态
机
RP
WE
命令
注册
编程电压
开关
CE， OE逻辑
数据
LATCH
SENSE
AMP
擦除电压
开关
状态
注册
CE
OE
地址锁存
Y型GATING
y解码器
8K字节的引导块
4K字节的参数块
4K字节的参数块
112K字节的主BLOCK
A0–A16
电压以确认
开关
X解码器
比较
2005 Catalyst半导体公司
特性如有变更，恕不另行通知
1
文档。 1078号，版本我
CAT28F001
绝对最大额定值*
高温下偏置................... -55 ° C至+ 95°C
存储温度....................... -65 ° C至+ 150°C
任何引脚的电压
对于地面
(1)
........... -2.0V到+ V
CC
+ 2.0V
（除A
9
,
RP ， OE ，
V
CC
和V
PP
)
引脚上的电压
9
,
RP
和
OE
同
对于地面
(1)
................... -2.0V至+ 13.5V
V
PP
相对于地面
在编程/擦除
(1)
.............. -2.0V至+ 14.0V
V
CC
相对于地面
(1)
............ -2.0V至+ 7.0V
封装功耗
能力（T
A
= 25 ° C） .................................为1.0W
引线焊接温度（ 10秒） ............ 300℃
输出短路电流
(2)
........................百毫安
* COMMENT
注意，超出上述绝对最大的“上市
“，可能对器件造成永久性损坏。
这些压力额定值只和功能的操作
该设备在这些或那些之外的任何其他条件
在操作部分中列出的本规范不
暗示。暴露于任何绝对最大额定值
长时间可能会影响器件的性能和
可靠性。
可靠性的特点
符号
N
END(3)
T
DR(3)
V
ZAP(3)
I
LTH(3)(4)
参数
耐力
数据保留
ESD敏感性
闭锁
分钟。
100K
10
2000
100
马克斯。
单位
周期/字节
岁月
伏
mA
测试方法
MIL - STD-883标准，测试方法1033
MIL - STD-883标准，测试方法1008
MIL - STD-883标准，测试方法3015
JEDEC标准17
电容
T
A
= 25 ° C，F = 1.0 MHz的
范围
符号
C
IN(3)
C
OUT(3)
C
VPP(3)
TEST
输入引脚电容
输出引脚电容
V
PP
供应电容
民
马克斯。
8
12
25
单位
pF
pF
pF
条件
V
IN
= 0V
V
OUT
= 0V
V
PP
= 0V
注意：
（1 ）最小的直流输入电压为-0.5V 。在转换过程中，输入可能下冲至-2.0V为小于20毫微秒周期。最大直流
电压输出引脚为V
CC
+ 0.5V ，这可能会过冲至V
CC
+ 2.0V为小于20ns的周期。
（2）输出短路不超过一秒。不超过一个输出短路的时间。
（ 3 ）此参数与最初设计或工艺变更影响的参数后进行测试。
提供（ 4 ）闩锁保护的压力高达100毫安的地址和数据引脚从-1V到V
CC
+1V.
3
文档。 1078号，版本我
CAT28F001
直流工作特性
V
CC
= +5V
±10%,
除非另有说明
范围
符号
I
LI
I
LO
I
SB1
I
SB2
I
PPD
I
CC1
I
CC2(1)
I
CC3(1)
I
PPS
I
PP1
I
PP2(1)
I
PP3(1)
V
IL
V
OL
V
IH
V
OH
V
ID
I
ID
I
CCD
I
CCES
I
PPES
参数
输入漏电流
输出漏电流
V
CC
待机电流CMOS
V
CC
待机电流TTL
V
PP
深掉电电流
V
CC
读操作工作电流
V
CC
编程电流
V
CC
擦除电流
V
PP
待机电流
V
PP
读电流
V
PP
编程电流
V
PP
擦除电流
输入低电平
输出低电平
输入高电平
输出高电平
A
9
签名电压
A
9
当前签名
V
CC
深掉电电流
V
CC
擦除挂起电流
V
PP
擦除挂起电流
2.0
2.4
11.5
13.0
500
1.0
10
300
–0.5
分钟。
马克斯。
±1.0
±10
100
1.5
1.0
30
20
20
±10
200
200
30
30
0.8
0.45
V
CC
+0.5
单位
A
A
A
mA
A
mA
mA
mA
A
A
A
mA
mA
V
V
V
V
V
A
A
mA
A
I
OH
= 2.5毫安，V
CC
= 4.5V
A
9
= V
ID
A
9
= V
ID
RP = GND ±0.2V
擦除暂停CE = V
IH
擦除暂停V
PP
=V
PPH
I
OL
= 5.8毫安，V
CC
= 4.5V
测试条件
V
IN
= V
CC
或V
SS
V
CC
= 5.5V
V
OUT
= V
CC
或V
SS
,
V
CC
= 5.5V
CE = V
CC
±0.2V
= RP
V
CC
= 5.5V
CE = RP = V
IH
, V
CC
= 5.5V
RP = GND ±0.2V
V
CC
= 5.5V ，CE = V
IL
,
I
OUT
= 0毫安， F = 8 MHz的
V
CC
= 5.5V,
编程中
V
CC
= 5.5V,
删除进展
V
PP
＆ LT ;
V
CC
V
PP
＆ GT ;
V
CC
V
PP
= V
PPH
V
PP
= V
PPH
,
编程中
V
PP
= V
PPH
,
删除进展
注意：
（ 1 ）此参数与最初设计或工艺变更影响的参数后进行测试。
文档。 1078号，版本我
4
CAT28F001
电源特性
范围
符号
V
LKO
V
CC
V
PPL
V
PPH
V
HH
参数
V
CC
擦/写锁电压
V
CC
电源电压
V
PP
在读操作
V
PP
在擦除/编程
RP ， OE解锁电压
民
2.5
4.5
0
11.4
11.4
5.5
6.5
12.6
12.6
马克斯。
单位
V
V
V
V
V
交流的特点，读操作
V
CC
= +5V
±10%,
除非另有说明
JEDEC
符号
t
AVAV
t
ELQV
t
AVQV
t
GLQV
-
t
GLQX
t
ELQX
t
GHQZ
t
EHQZ
t
PHQV
标准
符号
t
RC
t
CE
t
加
t
OE
t
OH
t
OLZ(1)(6)
t
LZ(1)(6)
t
DF(1)(2)
t
HZ(1)(2)
t
威尔斯亲王医院
参数
读周期时间
CE
存取时间
地址访问时间
OE
存取时间
从地址输出保持
OE
/
CE
变化
OE
到输出低-Z
CE
到输出低-Z
OE
高到输出高阻
CE
高到输出高阻
RP
高到输出延迟
0
0
0
30
35
600
28F001-90
(7)
民
最大
90
90
90
35
0
0
0
30
55
600
28F001-12
(7)
民
最大
120
120
120
50
单位
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
图1.交流测试输入/输出波形
(3)(4)(5)
VCC - 0.3V
输入脉冲电平
0.0 V
0.8 V
2.0 V
参考点
图2.高速交流测试输入/输出
Waveform(3)(4)(5)
3.0 V
输入脉冲电平
0.0 V
1.5 V
参考点
测试负载电路（例如）
1.3V
1N914
测试负载电路（例如）
1.3V
1N914
3.3K
设备
下
TEST
OUT
CL = 100 pF的
CL INCLUDES夹具电容
3.3K
设备
下
TEST
OUT
CL = 30 pF的
CL INCLUDES夹具电容
注意：
（ 1 ）此参数与最初设计或工艺变更影响的参数后进行测试。
（2）输出的浮动（高Z ）被定义为其中所述外部数据线是由输出缓冲器不再驱动时的状态。
（ 3 ）输入上升和下降时间（ 10 ％至90 ％ ）和LT ; 10纳秒。
（ 4 ）输入脉冲电平= 0.45V和2.4V 。对于高速输入脉冲电平0.0V和3.0V 。
（ 5 ）输入和输出时序参考= 0.8V和2.0V 。对于高速输入和输出时序参考= 1.5V 。
（6 ）低Z被定义为所述外部数据可以由输出缓冲器来驱动，但可能是无效的状态。
（7）为负载和参考点，参照图1
5
文档。 1078号，版本我
CAT28F001
1兆位的CMOS引导块
FL灰内存
特点
s
快速读取访问时间：一百二十分之九十〇 NS
s
芯片上地址和数据锁存器
s
封锁架构
英特尔授权
第二个来源
s
深掉电模式
s
s
s
s
s
- 一个8 KB的引导块W /上锁
顶部或底部位置
- 两个4 KB参数块
- 一个112 KB的主座
低功耗CMOS操作
12.0V
±
5％的编程和擦除电压
自动程序&擦除算法
高速编程
商用，工业和汽车
温度范围
s
s
s
s
s
s
— 0.05
A I
CC
典型
— 0.8
A I
PP
典型
硬件数据保护
电子签名
100000编程/擦除周期和10年
数据保留
JEDEC标准管脚引出线：
- 32引脚DIP
- 32引脚PLCC
- 32引脚TSOP
复位/深度掉电模式
可用"Green"封装选项
描述
该CAT28F001是高速128K ×8位的电
可擦除和重新编程的闪存最好
适合需要在系统或售后应用
代码更新。
该CAT28F001有一个8阻塞架构
KB引导块，两个4 KB参数块和一个112
KB的主座。引导块部分可以是在顶部
或存储器映射的底部，并包括reprogram-
明写锁定功能，以保证数据的完整性。它
旨在遏制安全的代码，会弹出
系统最小和代码下载到其他某些地区可能
系统蒸发散CAT28F001的。
该CAT28F001被设计为具有签名模式
其允许识别出IC制造商的用户和
设备类型。该CAT28F001还设计有导通
芯片地址锁存器，数据锁存器，编程和
擦除算法。
该CAT28F001使用Catalyst的AD-制造
vanced CMOS浮栅技术。它被设计
忍受100,000编程/擦除周期，并具有数据
保持10年。该器件可在JEDEC
批准的32引脚塑料DIP ， PLCC和TSOP封装。
框图
I/O0–I/O7
地址
计数器
I / O缓冲器
写状态
机
RP
WE
命令
注册
编程电压
开关
CE， OE逻辑
数据
LATCH
SENSE
AMP
擦除电压
开关
状态
注册
CE
OE
地址锁存
Y型GATING
y解码器
8K字节的引导块
4K字节的参数块
4K字节的参数块
112K字节的主BLOCK
A0–A16
电压以确认
开关
X解码器
2008 SCILLC 。版权所有。
特性如有变更，恕不另行通知
比较
1
文档。编号MD- 1078 ，修订版
CAT28F001
绝对最大额定值*
高温下偏置................... -55 ° C至+ 95°C
存储温度....................... -65 ° C至+ 150°C
任何引脚的电压
对于地面
(1)
........... -2.0V到+ V
CC
+ 2.0V
（除A
9
,
RP ， OE ，
V
CC
和V
PP
)
引脚上的电压
9
,
RP
和
OE
同
对于地面
(1)
................... -2.0V至+ 13.5V
V
PP
相对于地面
在编程/擦除
(1)
.............. -2.0V至+ 14.0V
V
CC
相对于地面
(1)
............ -2.0V至+ 7.0V
封装功耗
能力（T
A
= 25 ° C） .................................为1.0W
引线焊接温度（ 10秒） ............ 300℃
输出短路电流
(2)
........................百毫安
* COMMENT
注意，超出上述绝对最大的“上市
“，可能对器件造成永久性损坏。
这些压力额定值只和功能的操作
该设备在这些或那些之外的任何其他条件
在操作部分中列出的本规范不
暗示。暴露于任何绝对最大额定值
长时间可能会影响器件的性能和
可靠性。
可靠性的特点
符号
N
END(3)
T
DR(3)
V
ZAP(3)
I
LTH(3)(4)
参数
耐力
数据保留
ESD敏感性
闭锁
分钟。
100K
10
2000
100
马克斯。
单位
周期/字节
岁月
伏
mA
测试方法
MIL - STD-883标准，测试方法1033
MIL - STD-883标准，测试方法1008
MIL - STD-883标准，测试方法3015
JEDEC标准17
电容
T
A
= 25 ° C，F = 1.0 MHz的
范围
符号
C
IN(3)
C
OUT(3)
C
VPP(3)
TEST
输入引脚电容
输出引脚电容
V
PP
供应电容
民
马克斯。
8
12
25
单位
pF
pF
pF
条件
V
IN
= 0V
V
OUT
= 0V
V
PP
= 0V
注意：
（1 ）最小的直流输入电压为-0.5V 。在转换过程中，输入可能下冲至-2.0V为小于20毫微秒周期。最大直流
电压输出引脚为V
CC
+ 0.5V ，这可能会过冲至V
CC
+ 2.0V为小于20ns的周期。
（2）输出短路不超过一秒。不超过一个输出短路的时间。
（ 3 ）此参数与最初设计或工艺变更影响的参数后进行测试。
提供（ 4 ）闩锁保护的压力高达100毫安的地址和数据引脚从-1V到V
CC
+1V.
2008 SCILLC 。版权所有。
特性如有变更，恕不另行通知
3
文档。编号MD- 1078 ，修订版
CAT28F001
直流工作特性
V
CC
= +5V
±10%,
除非另有说明
范围
符号
I
LI
I
LO
I
SB1
I
SB2
I
PPD
I
CC1
I
CC2(1)
I
CC3(1)
I
PPS
I
PP1
I
PP2(1)
I
PP3(1)
V
IL
V
OL
V
IH
V
OH
V
ID
I
ID
I
CCD
I
CCES
I
PPES
参数
输入漏电流
输出漏电流
V
CC
待机电流CMOS
V
CC
待机电流TTL
V
PP
深掉电电流
V
CC
读操作工作电流
V
CC
编程电流
V
CC
擦除电流
V
PP
待机电流
V
PP
读电流
V
PP
编程电流
V
PP
擦除电流
输入低电平
输出低电平
输入高电平
输出高电平
A
9
签名电压
A
9
当前签名
V
CC
深掉电电流
V
CC
擦除挂起电流
V
PP
擦除挂起电流
2.0
2.4
11.5
13.0
500
1.0
10
300
–0.5
分钟。
马克斯。
±1.0
±10
100
1.5
1.0
30
20
20
±10
200
200
30
30
0.8
0.45
V
CC
+0.5
单位
A
A
A
mA
A
mA
mA
mA
A
A
A
mA
mA
V
V
V
V
V
A
A
mA
A
I
OH
= 2.5毫安，V
CC
= 4.5V
A
9
= V
ID
A
9
= V
ID
RP = GND ±0.2V
擦除暂停CE = V
IH
擦除暂停V
PP
=V
PPH
I
OL
= 5.8毫安，V
CC
= 4.5V
测试条件
V
IN
= V
CC
或V
SS
V
CC
= 5.5V
V
OUT
= V
CC
或V
SS
,
V
CC
= 5.5V
CE = V
CC
±0.2V
= RP
V
CC
= 5.5V
CE = RP = V
IH
, V
CC
= 5.5V
RP = GND ±0.2V
V
CC
= 5.5V ，CE = V
IL
,
I
OUT
= 0毫安， F = 8 MHz的
V
CC
= 5.5V,
编程中
V
CC
= 5.5V,
删除进展
V
PP
＆ LT ;
V
CC
V
PP
＆ GT ;
V
CC
V
PP
= V
PPH
V
PP
= V
PPH
,
编程中
V
PP
= V
PPH
,
删除进展
注意：
（ 1 ）此参数与最初设计或工艺变更影响的参数后进行测试。
文档。编号MD- 1078 ，修订版
4
2008 SCILLC 。版权所有。
特性如有变更，恕不另行通知
CAT28F001
电源特性
范围
符号
V
LKO
V
CC
V
PPL
V
PPH
V
HH
参数
V
CC
擦/写锁电压
V
CC
电源电压
V
PP
在读操作
V
PP
在擦除/编程
RP ， OE解锁电压
民
2.5
4.5
0
11.4
11.4
5.5
6.5
12.6
12.6
马克斯。
单位
V
V
V
V
V
交流的特点，读操作
V
CC
= +5V
±10%,
除非另有说明
JEDEC
符号
t
AVAV
t
ELQV
t
AVQV
t
GLQV
-
t
GLQX
t
ELQX
t
GHQZ
t
EHQZ
t
PHQV
标准
符号
t
RC
t
CE
t
加
t
OE
t
OH
t
OLZ(1)(6)
t
LZ(1)(6)
t
DF(1)(2)
t
HZ(1)(2)
t
威尔斯亲王医院
参数
读周期时间
CE
存取时间
地址访问时间
OE
存取时间
从地址输出保持
OE
/
CE
变化
OE
到输出低-Z
CE
到输出低-Z
OE
高到输出高阻
CE
高到输出高阻
RP
高到输出延迟
0
0
0
30
35
600
28F001-90
(7)
民
最大
90
90
90
35
0
0
0
30
55
600
28F001-12
(7)
民
最大
120
120
120
50
单位
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
图1.交流测试输入/输出波形
(3)(4)(5)
VCC - 0.3V
输入脉冲电平
0.0 V
0.8 V
2.0 V
参考点
图2.高速交流测试输入/输出
Waveform(3)(4)(5)
3.0 V
输入脉冲电平
0.0 V
1.5 V
参考点
测试负载电路（例如）
1.3V
1N914
测试负载电路（例如）
1.3V
1N914
3.3K
设备
下
TEST
OUT
CL = 100 pF的
CL INCLUDES夹具电容
3.3K
设备
下
TEST
OUT
CL = 30 pF的
CL INCLUDES夹具电容
注意：
（ 1 ）此参数与最初设计或工艺变更影响的参数后进行测试。
（2）输出的浮动（高Z ）被定义为其中所述外部数据线是由输出缓冲器不再驱动时的状态。
（ 3 ）输入上升和下降时间（ 10 ％至90 ％ ）和LT ; 10纳秒。
（ 4 ）输入脉冲电平= 0.45V和2.4V 。对于高速输入脉冲电平0.0V和3.0V 。
（ 5 ）输入和输出时序参考= 0.8V和2.0V 。对于高速输入和输出时序参考= 1.5V 。
（6 ）低Z被定义为所述外部数据可以由输出缓冲器来驱动，但可能是无效的状态。
（7）为负载和参考点，参照图1
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