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位置:首页 > IC型号导航 > 首字符B型号页 > 首字符B的型号第841页 > BS62LV8000BI
BSI
特点
非常低的功率/电压CMOS SRAM
1M ×8位
概述
BS62LV8000
宽的Vcc工作电压: 2.4V 5.5V
极低的功耗:
VCC = 3V C-等级: 20毫安(最大)工作电流
我优级: 25毫安(最大)工作电流
电流降至0.5uA (典型值) CMOS待机电流
VCC = 5V C-等级: 45毫安(最大)工作电流
我优级: 50毫安(最大)工作电流
微安(典型值) CMOS待机电流
高速存取时间:
-70
70ns的(最大)在Vcc = 3V
-10
为100ns (最大值)在Vcc = 3V
自动断电,当芯片被取消
三态输出与TTL兼容
全静态工作
数据保持电源电压低至1.5V
易于扩展与CE1 , CE2和OE选项
该BS62LV8000是一款高性能,低功耗CMOS
由8位, 1,048,576字静态随机存取存储器
而工作在广泛的2.4V至5.5V的电源电压。
先进的CMOS技术和电路技术提供兼具高
有一个典型的CMOS待机电流的速度和低功耗的特点,
在3V工作电压为70ns的0.5uA的和最大的访问时间。
容易记忆膨胀是由一个低有效芯片提供
使能( CE1 ) ,高电平有效芯片使能( CE2 )和低电平有效输出
启用( OE )和三态输出驱动器。
该BS62LV8000具有自动断电功能,减少了
功耗显著当芯片被取消。
该BS62LV8000是44针TSOP2和48引脚BGA型可用。
产品系列
产品
家庭
BS62LV8000EC
BS62LV8000BC
BS62LV8000EI
BS62LV8000BI
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
1
操作
温度
+0
O
C至+70
O
C
-40
O
C至+ 85
O
C
VCC
范围
2.4V ~ 5.5V
2.4V ~ 5.5V
速度
(纳秒)
Vcc=3V
( I
CCSB1
马克斯)
功耗
待机
操作
( I
CC
马克斯)
PKG型
TSOP2-44
BGA-48-0810
TSOP2-44
BGA-48-0810
Vcc=3V
Vcc=5V
Vcc=3V
Vcc=5V
70 / 100
70 / 100
3uA
6uA
30uA
100uA
20mA
25mA
45mA
50mA
销刀豆网络gurations
A4
A3
A2
A1
A0
CE1
NC
NC
DQ0
DQ1
VCC
GND
DQ2
DQ3
NC
NC
WE
A19
A18
A17
A16
A15
44
43
42
41
40
39
38
37
36
35
34
33
32
31
30
29
28
27
26
25
24
23
5
6
A5
A6
A7
OE
CE2
A8
NC
NC
DQ7
DQ6
GND
VCC
DQ5
DQ4
NC
NC
A9
A10
A11
A12
A13
A14
功能框图
BS62LV8000EC
BS62LV8000EI
A13
A17
A15
A18
A16
A14
A12
A7
A6
A5
A4
地址
输入
卜FF器
22
ROW
解码器
2048
存储阵列
2048 X 4096
2
3
4
4096
DQ0
DQ1
DQ2
DQ3
DQ4
DQ5
DQ6
DQ7
CE1
CE2
WE
OE
VDD
GND
8
数据
输入
卜FF器
8
列I / O
写入驱动器
SENSE AMP
512
列解码器
18
控制
地址输入缓冲器
A
NC
OE
A0
A1
A2
CE2
B
NC
NC
A3
A4
CE1
NC
8
C
D0
NC
A5
A6
NC
D4
数据
产量
卜FF器
8
D
VSS
D1
A17
A7
D5
VCC
E
VCC
D2
VCC
A16
D6
VSS
F
D3
NC
A14
A15
NC
D7
A11A9 A8 A3 A2 A1 A0A10 A19
G
NC
NC
A12
A13
WE
NC
H
A18
A8
A9
A10
A11
A19
百联半导体公司
。保留随时修改文档内容,恕不另行通知。
R0201-BS62LV8000
48球CSP顶视图
1
修订版2.4
2002年4月
BSI
引脚说明
BS62LV8000
功能
这20个地址输入选择在RAM中的1048576个8位字中的一个
CE1为低电平有效和CE2为高电平有效。这两个芯片使时必须被激活
从或读取数据写入到该设备。如果任一芯片使能是不活动的,则设备
取消并处于备用电源模式。 DQ管脚将在高
阻抗状态,当设备被取消。
is
名字
A0 - A19地址输入
CE1芯片使能输入1
CE2芯片使能输入2
我们写使能输入
写使能输入为低电平有效和控制读取和写入操作。与
芯片选择,当WE为高电平和OE为低电平时,输出数据将存在于
DQ引脚;当WE为低电平,在DQ管脚的数据的内容就被写入到
选择的存储位置。
OE输出使能输入
输出使能输入为低电平有效。如果输出使能处于激活状态,该芯片是
选择并允许写入的是不活动的,数据将出现在DQ管脚和它们
将被启用。 DQ管脚将处于高阻抗状态时, OE是不活动的。
DQ0 - DQ7数据输入/输出
端口
VCC
GND
这些8个双向端口用于读取数据或将数据写入到RAM中。
电源
真值表
模式
未选择
(断电)
输出禁用
WE
X
X
H
H
L
CE1
H
X
L
L
L
CE2
X
L
H
H
H
OE
X
X
H
L
X
I / O操作
高Z
高Z
D
OUT
D
IN
VCC电流
I
CCSB
, I
CCSB1
I
CC
I
CC
I
CC
绝对最大额定值
(1)
符号
V
TERM
T
BIAS
T
英镑
P
T
I
OUT
参数
与端电压
对于GND
在偏置温度
储存温度
功耗
直流输出电流
工作范围
单位
V
O
等级
-0.5到
Vcc+0.5
-40到+125
-60到+150
1.0
20
范围
广告
产业
环境
温度
0
O
C至+70
O
C
-40
O
C至+ 85
O
C
VCC
2.4V ~ 5.5V
2.4V ~ 5.5V
C
C
O
W
mA
电容
(1)
( TA = 25
o
C,F = 1.0兆赫)
符号
1.强调超过绝对最大上市
额定值可能会导致器件的永久性损坏。这是一个
值仅为该器件在功能操作
或高于任何其他条件,在操作说明
本规范的部分将得不到保证。暴露在绝对
最大额定值条件下工作会影响
可靠性。
C
IN
C
DQ
参数
输入
电容
输入/输出
电容
条件
马克斯。
单位
V
IN
=0V
V
I / O
=0V
10
12
pF
pF
1.此参数是保证,而不是测试。
R0201-BS62LV8000
2
修订版2.4
2002年4月
BSI
DC电气特性
( TA = 0
o
C至+ 70
o
C )
参数
名字
V
IL
V
IH
I
IL
I
OL
V
OL
V
OH
I
CC
I
CCSB
I
CCSB1
BS62LV8000
测试条件
Vcc=3V
Vcc=5V
Vcc=3V
Vcc=5V
参数
保证输入低
(2)
电压
保证输入高
(2)
电压
输入漏电流
输出漏电流
输出低电压
输出高电压
工作电源
当前
待机电流-TTL
待机电流CMOS
分钟。
-0.5
-0.5
2.0
2.2
--
--
--
2.4
--
--
--
--
--
--
典型值。
(1)
--
--
--
--
--
--
--
--
--
--
--
--
0.5
3
马克斯。
0.8
0.8
Vcc+0.2
Vcc+0.2
1
1
0.4
--
20
45
1
2
3
30
单位
V
V
uA
uA
V
V
mA
mA
uA
VCC =最大,V
IN
= 0V至VCC
VCC =最大, CE1 = V
IH
或CE2 = V
IL
or
OE = V
IH
, V
I / O
= 0V至VCC
VCC =最大,我
OL
= 2毫安
VCC =最小,我
OH
= -1mA
CE1 = V
IL
, CE2 = V
IH ,
I
DQ
= 0毫安,
(3)
F =最大频率
CE1 = V
IH
, CE2 = V
白细胞介素,
I
DQ
= 0毫安
CE1 VCC- 0.2V , 0.2V CE2
VCC - 0.2V或V
IN
0.2V
V
IN
Vcc=3V
Vcc=5V
Vcc=3V
Vcc=5V
Vcc=3V
Vcc=5V
Vcc=3V
Vcc=5V
Vcc=3V
Vcc=5V
1.典型的特点是在TA = 25
o
C.
2.这是相对于地面设备包括绝对值和所有因系统或测试通知过冲。
3.的Fmax = 1 /吨
RC
.
数据保持特性
( TA = 0 + 70
o
C )
符号
V
DR
参数
VCC为数据保留
CE1
V
IN
CE1
V
IN
测试条件
VCC - 0.2V或CE2
VCC - 0.2V或V
IN
0.2V或
0.2V
分钟。
1.5
典型值。
(1)
--
马克斯。
--
单位
V
I
CCDR
t
CDR
t
R
数据保持电流
芯片取消到数据
保留时间
手术恢复时间
VCC - 0.2V或CE2
0.2V
VCC - 0.2V或V
IN
0.2V
--
0
0.4
--
(2)
2
--
--
uA
ns
ns
见保留波形
T
RC
--
1. VCC = 1.5V ,T
A
= + 25
O
C
2. t
RC
=读周期时间
低V
CC
数据保存波形图( 1 )
( CE1控制)
数据保持方式
V
DR
1.5V
VCC
V
IH
VCC
VCC
t
CDR
CE1
VCC - 0.2V
t
R
V
IH
CE1
低V
CC
数据保存波形图( 2 )
( CE2控制)
数据保持方式
VCC
VCC
V
DR
1.5V
VCC
t
CDR
t
R
CE2
0.2V
CE2
V
IL
V
IL
R0201-BS62LV8000
3
修订版2.4
2002年4月
BSI
AC测试条件
输入脉冲电平
输入上升和下降时间
输入和输出
时序参考电平
Vcc/0
5ns
0.5Vcc
波形
输入
BS62LV8000
关键开关波形
输出
必须是
稳定
变化
从H到L
变化
以L至H
变化:
状态
未知
中心
线为高
阻抗
“关”状态
必须是
稳定
可能改变
从H到L
1269
交流测试负载和波形
3.3V
产量
100PF
INCLUDING
夹具
范围
1269
3.3V
产量
可能改变
以L至H
不会在意:
任何改变
许可
申请
,
5PF
1404
INCLUDING
夹具
范围
1404
图1A
戴维南等效
667
所有的输入脉冲
图1b
产量
1.73V
VCC
GND
10%
90% 90%
10%
5ns
图2
AC电气特性
( TA = 0
o
C至+ 70
o
C, VCC = 3V )
读周期
JEDEC
参数
名字
参数
名字
描述
读周期时间
地址访问时间
芯片选择访问时间
芯片选择访问时间
(CE1)
(CE2)
BS62LV8000-70
分钟。典型值。马克斯。
BS62LV8000-10
分钟。典型值。马克斯。
单位
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
t
AVAX
t
AVQV
t
E1LQV
t
E2LQV
t
GLQV
t
ELQX
t
GLQX
t
EHQZ
t
GHQZ
t
AXOX
t
RC
t
AA
t
ACS1
t
ACS2
t
OE
t
CLZ
t
OLZ
t
CHZ
t
OHZ
t
OH
70
--
--
--
--
10
10
0
0
10
--
--
--
--
--
--
--
--
--
--
--
70
70
70
35
--
--
35
30
--
100
--
--
--
--
15
15
0
0
15
--
--
--
--
--
--
--
--
--
--
--
100
100
100
50
--
--
40
35
--
输出使能到输出有效
片选到输出低Z
输出使能到输出中低Z
芯片取消在高Z输出
输出禁止到输出中高Z
输出禁止到输出地址变更
R0201-BS62LV8000
4
修订版2.4
2002年4月
BSI
开关波形(读周期
)
读CYCLE1
(1,2,4)
BS62LV8000
t
RC
地址
t
D
OUT
t
OH
AA
t
OH
READ循环2
(1,3,4)
CE2
t
t
ACS2
ACS1
CE1
t
D
OUT
(5)
CLZ
t
CHZ
(5)
读CYCLE3
(1,4)
地址
t
RC
t
OE
AA
t
CE2
OE
t
OH
t
t
t
t
(5)
CLZ
ACS2
CE1
OLZ
ACS1
t
t
OHZ
CHZ
(5)
(1,5)
D
OUT
注意事项:
1.我们是高读周期。
2.设备不断选择当CE1 = V
IL
和CE2 = V
IH
.
3.地址有效之前或重合CE1过渡低, CE2过渡高。
4. OE = V
IL
.
5.转换测量
±
为500mV从稳定状态用C
L
= 5pF的,如图1B所示。
该参数是保证,但不是100 %测试。
R0201-BS62LV8000
5
修订版2.4
2002年4月
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    电话:0755-82780082
    联系人:杨小姐
    地址:深圳市福田区振兴路156号上步工业区405栋3层

    BS62LV8000BI
    -
    -
    -
    -
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