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bq4024/bq4024Y
128Kx16非易失SRAM
特点
数据保留在没有
动力
自动写保护能很好地协同
荷兰国际集团上电/掉电周期
业界标准的40引脚128K X
16引脚排列
传统的SRAM操作;
没有写次数限制
10年的最低数据保留
在断电情况下
电池内部隔离,直到
电源施加
概述
在CMOS bq4024是非易失性
2,097,152位静态RAM举办
如131,072字由16位。该
积分控制电路和lith-
IUM能源提供了可靠的
非易失性再加上非
标准限量的写周期
SRAM 。
控制电路不断
监视5V单电源为
超差的情况。
当V
CC
属于出公差时,
SRAM是无条件地直写
保护,以防止意外的
写操作。
此时的积分能量
源被接通,以维持
内存中,直到经过V
CC
返回有效。
该bq4024采用极低
待机电流CMOS SRAM的cou-
PLED小纽扣锂电池,以
提供非易失性不长
写周期时间和写周期
限制与EEPROM相关联。
该bq4024无需外部税务局局长
cuitry和与兼容
行业标准的2Mb SRAM引脚
出。
引脚连接
NC
CE
DQ15
DQ14
DQ13
DQ12
DQ11
DQ10
DQ9
DQ8
VSS
DQ7
DQ6
DQ5
DQ4
DQ3
DQ2
DQ1
DQ0
OE
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
40
39
38
37
36
35
34
33
32
31
30
29
28
27
26
25
24
23
22
21
VCC
WE
A16
A15
A14
A13
A12
A11
A10
A9
VSS
A8
A7
A6
A5
A4
A3
A2
A1
A0
引脚名称
A
0
–A
16
地址输入
DQ
0
-DQ
15
数据输入/输出
CE
OE
WE
NC
V
CC
V
SS
芯片使能输入
输出使能输入
写使能输入
无连接
+5伏电源输入
框图
40引脚DIP模块
PN402401.eps
选购指南
部分
bq4024MA -85
bq4024MA -120
最大
ACCESS
时间(纳秒)
85
120
供应
公差
-5%
-5%
部分
bq4024YMA -85
bq4024YMA -120
最大
ACCESS
时间(纳秒)
85
120
供应
公差
-10%
-10%
1992年9月
1
bq4024/bq4024Y
功能说明
当功率是有效的,则bq4024用作标准
CMOS SRAM 。在断电和上电周期,
该bq4024用作非易失性存储器时,自动
保护和维护的存储内容。
掉电/上电控制电路不断MONI-
器的V
CC
供应电源故障检测阈值
V
PFD
。对于V的bq4024显示器
PFD
= 4.62V典型
使用含5%容差的供应系统。该bq4024Y
显示器的V
PFD
= 4.37V典型的系统中使用
有10 %的供应能力。
当V
CC
下降到低于V
PFD
阈值时,所述SRAM的
自动写保护数据。所有输出如下─
来到高阻抗,并且所有的输入都被视为
“不关心”。如果一个有效的连接过程在时间
掉电检测,存储周期持续的COM
完井。如果存储器周期未能在终止
时间T
WPT
,写保护发生。
为V
CC
属于过去的V
PFD
并接近3V ,控制
电路切换到内部锂电池备用电源,
它提供了数据保留,直到有效V
CC
被施加。
当V
CC
返回到内部备用上方的水平
单电池电压,电源被切换回至V
CC
。后
V
CC
斜上方的V
PFD
阈值时,写保护
持续一段时间t
CER
( 120ms的最大值) ,以允许
处理器的稳定。可以在正常的内存操作
在此时间后恢复。
所使用的bq4024内部硬币电池具有EX-
tremely长的保质期,并提供数据保存
超过10年,在没有系统电源。
由于运到Benchmarq ,积分锂电池
从存储器中电隔离。 (自我
排在该条件下大约为0.5 %,每
年)继V的第一个应用程序
CC
这间隔离
化被打破,而锂备份提供数据重新
张力在随后的断电。
真值表
模式
未选择
输出禁用
CE
H
L
L
L
WE
X
H
H
L
OE
X
H
L
X
I / O操作
高Z
高Z
D
OUT
D
IN
动力
待机
活跃
活跃
活跃
绝对最大额定值
符号
V
CC
V
T
T
OPR
T
英镑
T
BIAS
T
SOLDER
注意:
参数
直流电压施加于V
CC
相对于V
SS
直流电压施加在任意引脚不包括V
CC
相对于V
SS
工作温度
储存温度
在偏置温度
焊接温度
价值
-0.3 7.0
-0.3 7.0
0至+70
-40到+70
-10至+70
+260
单位
V
V
°C
°C
°C
°C
10秒
V
T
V
CC
+ 0.3
条件
如果可能会出现永久性设备损坏
绝对最大额定值
被超过。功能操作
应仅限于本数据手册详细介绍了建议的直流工作条件。置身于CON组
超越经营范围的时间过长ditions可能会影响器件的可靠性。
1992年9月
2
bq4024/bq4024Y
建议的直流工作条件
值(TA = 0 70℃ )
符号
V
CC
V
SS
V
IL
V
IH
注意:
参数
电源电压
电源电压
输入低电压
输入高电压
最低
4.5
4.75
0
-0.3
2.2
典型
5.0
5.0
0
-
-
最大
5.5
5.5
0
0.8
V
CC
+ 0.3
单位
V
V
V
V
V
笔记
bq4024Y
bq4024
典型值指示器件的工作在T
A
= 25°C.
值(TA = 0 70℃ , VCCmin
VCC
VCCmax )
典型
-
-
-
-
5
2.5
最大
±
2
±
1
-
0.4
11
5
单位
A
A
V
V
mA
mA
条件/注意事项
V
IN
= V
SS
到V
CC
CE = V
IH
或OE = V
IH
or
WE = V
IL
I
OH
= -1.0毫安
I
OL
= 2.1毫安
CE = V
IH
CE
V
CC
- 0.2V,
0V
V
IN
0.2V,
或V
IN
V
CC
- 0.2V
分钟。周期,占空比为100 % ,
CE = V
IL
, I
I / O
= 0毫安
bq4024
bq4024Y
DC电气特性
符号
I
LI
I
LO
V
OH
V
OL
I
SB1
I
SB2
参数
输入漏电流
输出漏电流
输出高电压
输出低电压
待机电源电流
待机电源电流
最低
-
-
2.4
-
-
-
I
CC
V
PFD
V
SO
注意:
工作电源电流
-
4.55
95
4.62
4.37
3
200
4.75
4.50
-
mA
V
V
V
掉电检测电压
电源开关过电压
4.30
-
典型值指示器件的工作在T
A
= 25 ° C,V
CC
= 5V.
电容
( TA = 25°C , F = 1MHz时, VCC = 5.0V )
符号
C
I / O
C
IN
注意:
参数
输入/输出电容
输入电容
最低
-
-
典型
-
-
最大
10
20
单位
pF
pF
条件
输出电压= 0V
输入电压= 0V
这个参数进行采样,而不是100 %测试。
1992年9月
3
bq4024/bq4024Y
AC测试条件
参数
输入脉冲电平
输入上升和下降时间
输入和输出时序参考电平
输出负载(包括范围和夹具)
测试条件
0V至3.0V
5纳秒
1.5V(除非另有规定)
参见图1和2
图1.输出负载一
图2.输出负载B
读周期
符号
t
RC
t
AA
t
ACE
t
OE
t
CLZ
t
OLZ
t
CHZ
t
OHZ
t
OH
值(TA = 0 70℃ , VCCmin
VCC
VCCmax )
-85
参数
分钟。
85
-
-
-
5
0
0
0
10
马克斯。
-
85
85
45
-
-
35
25
-
-120
分钟。
120
-
-
-
5
0
0
0
10
马克斯。
-
120
120
60
-
-
45
35
-
单位
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
输出负载A
输出负载A
输出负载A
输出负载B
输出负载B
输出负载B
输出负载B
输出负载A
条件
读周期时间
地址访问时间
芯片使能存取时间
输出使能到输出有效
芯片使能在低Z输出
输出使能到输出中低Z
芯片禁用高Z输出
输出禁止到输出中高Z
从地址变更输出保持
1992年9月
4
bq4024/bq4024Y
读周期第1号(地址访问)
1,2
读周期号2 ( CE访问)
1,3,4
读周期3号( OE访问)
1,5
注意事项:
1.我们是高举一个读周期。
2.设备不断选择: CE = OE = V
IL
.
3.地址先于或重合与CE过渡低有效。
4. OE = V
IL
.
5.设备不断选择: CE = V
IL
.
1992年9月
5
bq4024/bq4024Y
128Kx16非易失SRAM
特点
数据保留在没有
动力
自动写保护能很好地协同
荷兰国际集团上电/掉电周期
业界标准的40引脚128K X
16引脚排列
传统的SRAM操作;
没有写次数限制
10年的最低数据保留
在断电情况下
电池内部隔离,直到
电源施加
概述
在CMOS bq4024是非易失性
2,097,152位静态RAM举办
如131,072字由16位。该
积分控制电路和lith-
IUM能源提供了可靠的
非易失性再加上非
标准限量的写周期
SRAM 。
控制电路不断
监视5V单电源为
超差的情况。
当V
CC
属于出公差时,
SRAM是无条件地直写
保护,以防止意外的
写操作。
此时的积分能量
源被接通,以维持
内存中,直到经过V
CC
返回有效。
该bq4024采用极低
待机电流CMOS SRAM的cou-
PLED小纽扣锂电池,以
提供非易失性不长
写周期时间和写周期
限制与EEPROM相关联。
该bq4024无需外部税务局局长
cuitry和与兼容
行业标准的2Mb SRAM引脚
出。
引脚连接
NC
CE
DQ15
DQ14
DQ13
DQ12
DQ11
DQ10
DQ9
DQ8
VSS
DQ7
DQ6
DQ5
DQ4
DQ3
DQ2
DQ1
DQ0
OE
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
40
39
38
37
36
35
34
33
32
31
30
29
28
27
26
25
24
23
22
21
VCC
WE
A16
A15
A14
A13
A12
A11
A10
A9
VSS
A8
A7
A6
A5
A4
A3
A2
A1
A0
引脚名称
A
0
–A
16
地址输入
DQ
0
-DQ
15
数据输入/输出
CE
OE
WE
NC
V
CC
V
SS
芯片使能输入
输出使能输入
写使能输入
无连接
+5伏电源输入
框图
40引脚DIP模块
PN402401.eps
选购指南
部分
bq4024MA -85
bq4024MA -120
最大
ACCESS
时间(纳秒)
85
120
供应
公差
-5%
-5%
部分
bq4024YMA -85
bq4024YMA -120
最大
ACCESS
时间(纳秒)
85
120
供应
公差
-10%
-10%
1992年9月
1
bq4024/bq4024Y
功能说明
当功率是有效的,则bq4024用作标准
CMOS SRAM 。在断电和上电周期,
该bq4024用作非易失性存储器时,自动
保护和维护的存储内容。
掉电/上电控制电路不断MONI-
器的V
CC
供应电源故障检测阈值
V
PFD
。对于V的bq4024显示器
PFD
= 4.62V典型
使用含5%容差的供应系统。该bq4024Y
显示器的V
PFD
= 4.37V典型的系统中使用
有10 %的供应能力。
当V
CC
下降到低于V
PFD
阈值时,所述SRAM的
自动写保护数据。所有输出如下─
来到高阻抗,并且所有的输入都被视为
“不关心”。如果一个有效的连接过程在时间
掉电检测,存储周期持续的COM
完井。如果存储器周期未能在终止
时间T
WPT
,写保护发生。
为V
CC
属于过去的V
PFD
并接近3V ,控制
电路切换到内部锂电池备用电源,
它提供了数据保留,直到有效V
CC
被施加。
当V
CC
返回到内部备用上方的水平
单电池电压,电源被切换回至V
CC
。后
V
CC
斜上方的V
PFD
阈值时,写保护
持续一段时间t
CER
( 120ms的最大值) ,以允许
处理器的稳定。可以在正常的内存操作
在此时间后恢复。
所使用的bq4024内部硬币电池具有EX-
tremely长的保质期,并提供数据保存
超过10年,在没有系统电源。
由于运到Benchmarq ,积分锂电池
从存储器中电隔离。 (自我
排在该条件下大约为0.5 %,每
年)继V的第一个应用程序
CC
这间隔离
化被打破,而锂备份提供数据重新
张力在随后的断电。
真值表
模式
未选择
输出禁用
CE
H
L
L
L
WE
X
H
H
L
OE
X
H
L
X
I / O操作
高Z
高Z
D
OUT
D
IN
动力
待机
活跃
活跃
活跃
绝对最大额定值
符号
V
CC
V
T
T
OPR
T
英镑
T
BIAS
T
SOLDER
注意:
参数
直流电压施加于V
CC
相对于V
SS
直流电压施加在任意引脚不包括V
CC
相对于V
SS
工作温度
储存温度
在偏置温度
焊接温度
价值
-0.3 7.0
-0.3 7.0
0至+70
-40到+70
-10至+70
+260
单位
V
V
°C
°C
°C
°C
10秒
V
T
V
CC
+ 0.3
条件
如果可能会出现永久性设备损坏
绝对最大额定值
被超过。功能操作
应仅限于本数据手册详细介绍了建议的直流工作条件。置身于CON组
超越经营范围的时间过长ditions可能会影响器件的可靠性。
1992年9月
2
bq4024/bq4024Y
建议的直流工作条件
值(TA = 0 70℃ )
符号
V
CC
V
SS
V
IL
V
IH
注意:
参数
电源电压
电源电压
输入低电压
输入高电压
最低
4.5
4.75
0
-0.3
2.2
典型
5.0
5.0
0
-
-
最大
5.5
5.5
0
0.8
V
CC
+ 0.3
单位
V
V
V
V
V
笔记
bq4024Y
bq4024
典型值指示器件的工作在T
A
= 25°C.
值(TA = 0 70℃ , VCCmin
VCC
VCCmax )
典型
-
-
-
-
5
2.5
最大
±
2
±
1
-
0.4
11
5
单位
A
A
V
V
mA
mA
条件/注意事项
V
IN
= V
SS
到V
CC
CE = V
IH
或OE = V
IH
or
WE = V
IL
I
OH
= -1.0毫安
I
OL
= 2.1毫安
CE = V
IH
CE
V
CC
- 0.2V,
0V
V
IN
0.2V,
或V
IN
V
CC
- 0.2V
分钟。周期,占空比为100 % ,
CE = V
IL
, I
I / O
= 0毫安
bq4024
bq4024Y
DC电气特性
符号
I
LI
I
LO
V
OH
V
OL
I
SB1
I
SB2
参数
输入漏电流
输出漏电流
输出高电压
输出低电压
待机电源电流
待机电源电流
最低
-
-
2.4
-
-
-
I
CC
V
PFD
V
SO
注意:
工作电源电流
-
4.55
95
4.62
4.37
3
200
4.75
4.50
-
mA
V
V
V
掉电检测电压
电源开关过电压
4.30
-
典型值指示器件的工作在T
A
= 25 ° C,V
CC
= 5V.
电容
( TA = 25°C , F = 1MHz时, VCC = 5.0V )
符号
C
I / O
C
IN
注意:
参数
输入/输出电容
输入电容
最低
-
-
典型
-
-
最大
10
20
单位
pF
pF
条件
输出电压= 0V
输入电压= 0V
这个参数进行采样,而不是100 %测试。
1992年9月
3
bq4024/bq4024Y
AC测试条件
参数
输入脉冲电平
输入上升和下降时间
输入和输出时序参考电平
输出负载(包括范围和夹具)
测试条件
0V至3.0V
5纳秒
1.5V(除非另有规定)
参见图1和2
图1.输出负载一
图2.输出负载B
读周期
符号
t
RC
t
AA
t
ACE
t
OE
t
CLZ
t
OLZ
t
CHZ
t
OHZ
t
OH
值(TA = 0 70℃ , VCCmin
VCC
VCCmax )
-85
参数
分钟。
85
-
-
-
5
0
0
0
10
马克斯。
-
85
85
45
-
-
35
25
-
-120
分钟。
120
-
-
-
5
0
0
0
10
马克斯。
-
120
120
60
-
-
45
35
-
单位
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
输出负载A
输出负载A
输出负载A
输出负载B
输出负载B
输出负载B
输出负载B
输出负载A
条件
读周期时间
地址访问时间
芯片使能存取时间
输出使能到输出有效
芯片使能在低Z输出
输出使能到输出中低Z
芯片禁用高Z输出
输出禁止到输出中高Z
从地址变更输出保持
1992年9月
4
bq4024/bq4024Y
读周期第1号(地址访问)
1,2
读周期号2 ( CE访问)
1,3,4
读周期3号( OE访问)
1,5
注意事项:
1.我们是高举一个读周期。
2.设备不断选择: CE = OE = V
IL
.
3.地址先于或重合与CE过渡低有效。
4. OE = V
IL
.
5.设备不断选择: CE = V
IL
.
1992年9月
5
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型号
厂家
批号
数量
封装
单价/备注
操作
    QQ: 点击这里给我发消息 QQ:2880707522 复制 点击这里给我发消息 QQ:2369405325 复制

    电话:0755-82780082
    联系人:杨小姐
    地址:深圳市福田区振兴路156号上步工业区405栋3层

    BQ4024
    -
    -
    -
    -
    终端采购配单精选

QQ: 点击这里给我发消息 QQ:5645336 复制
电话:13910052844(微信同步)
联系人:刘先生
地址:海淀区增光路27号院增光佳苑2号楼1单元1102室
BQ4024
√ 欧美㊣品
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10289
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