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bq24314
bq24316
SLUS763C - 2007年7月 - 修订2007年10月
过压和过流保护IC和
锂离子充电器前端保护IC
1
特点
为保护三个变量:
- 输入过压,在快速响应
& LT ; 1
μs
- 用户可编程的过流与
限流
电池过压
30V最大输入电压
支持高达1.5A的输入电流
强大的反误触发因
电流瞬变
热关断
使能输入
状态指示 - 出现故障
2
可在节省空间的小型8引线2 × 2
儿子和12引线4x3的SON封装
应用
手机和智能手机
掌上电脑
MP3播放器
低功耗手持设备
蓝牙耳机
描述
该bq24314与bq24316是高度集成的电路设计,从提供保障,锂离子电池
所述充电电路的故障。该IC连续监视输入电压,输入电流,和电池
电压。的情况下的输入过电压状态时,IC立即删除功率从所述充电电路
关闭内部开关。在过流状态的情况下,它限制了系统的电流的阈
值,并且如果过电流持续存在,可切换旁路元件断开消隐周期之后。此外,该集成电路
还可以监测其自身的芯片温度并关闭,如果它变得太热。输入过流阈值是
用户可编程的。
该IC可以由处理器控制,并且还提供了关于故障情况到主机的状态信息。
应用原理
AC适配器
VDC
1
m
F
GND
1年
OUT 8
1
m
F
bq24080
充电器IC
bq24316DSG
系统
VBAT 6
故障四
CE 5
VSS
2
1
2
请注意,一个重要的通知有关可用性,标准保修,并且在关键的应用程序中使用
德州仪器公司的半导体产品和免责条款及其出现在此数据表的末尾。
使用PowerPad是德州仪器的商标。
2007 ,德州仪器
PRODUCTION数据信息为出版日期。
产品符合占德州条款规范
仪器标准保修。生产加工过程中不
不一定包括所有参数进行测试。
ILIM
7
bq24314
bq24316
SLUS763C - 2007年7月 - 修订2007年10月
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这些器件具有有限的内置ESD保护。引线应短接在一起或设备放置在导电泡棉
储存或搬运过程中,以防止对静电损坏MOS大门。
订购信息
(1)
设备
(2)
bq24314DSG
bq24314DSJ
bq24316DSG
bq24316DSJ
(1)
(2)
OVP阈值
5.85 V
5.85 V
6.80 V
6.80 V
记号
采用2mm x 2mm SON CBV
采用4mm x 3毫米SON CBX
采用2mm x 2mm SON CBW
采用4mm x 3毫米SON BZC
对于最新的封装和订购信息,请参阅
封装选项附录本文档的末尾,或见
TI网站www.ti.com 。
欲订购3000个卷轴加上R的零件编号,或订购250
个卷轴增加T的零件编号。
包装耗散额定值
产品型号
BQ24314DSG
BQ24316DSG
BQ24314DSJ
BQ24316DSJ
2 × 2 SON
4 × 3 SON
R
θJC
5°C/W
5°C/W
R
θJA
75°C/W
40°C/W
绝对最大额定值
(1)
在工作自由空气的温度范围内(除非另有说明)
参数
输入电压
输入电流
输出电流
输出灌电流
结温,T
J
贮藏温度,T
英镑
引线温度(焊接, 10秒)
(1)
IN(相对于VSS )
OUT (相对于VSS )
ILIM ,故障,CE , VBAT (相对于VSS )
IN
OUT
故障
价值
-0.3 30
-0.3至12
-0.3 7
2.0
2.0
15
-40至150
-65到150
300
A
A
mA
°C
°C
°C
V
单位
超出上述绝对最大额定值强调可能会造成永久性损坏设备。这些压力额定值
止,并在规定的操作指示的装置,在这些或超出任何其他条件的功能操作
条件是不是暗示。暴露于长时间处于最大绝对额定情况下会影响器件的可靠性。所有的电压
值是相对于所述网络的接地端子,除非另有说明。
推荐工作条件
在工作自由空气的温度范围内(除非另有说明)
V
IN
I
IN
I
OUT
R
ILIM
T
J
输入电压范围
输入电流, IN引脚
输出电流,输出脚
OCP编程电阻
结温
15.0
0
3.3
最大
26
1.5
1.5
90.0
125
单位
V
A
A
k
°C
2
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2007 ,德州仪器
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电气特性
在结温范围0°C
T
J
125 ℃,推荐的电源电压(除非另有说明)
参数
IN
V
UVLO
V
HYS- UVLO
T
DGL ( PGOOD )
I
DD
I
STDBY
VDO
欠压锁定输出,输入
功率门限检测
迟滞的UVLO
抗尖峰脉冲时间,输入功率
检测状态
工作电流
待机电流
辍学电压输入至输出
输入过压
保护
门槛
滞后的OVP
从输入恢复时间
过压条件
输入过流保护
阈值范围
输入过流保护
门槛
消隐时间,输入过流
检测
从输入恢复时间
过流条件
电池过电压保护
门槛
滞后于BV
OVP
输入偏置电流
VBAT引脚
DSG
DSJ
CE =低,V
IN
> 4.4V
CE =低,V
IN
> 4.4V
V
BAT
= 4.4V ,T
J
= 25°C
V
BAT
= 4.4V ,T
J
= 85°C
176
CE =低,R
ILIM
= 25k
bq24314
bq24316
CE =低,V
IN
增加从5V到7.5V
CE =低
CE =低,V
IN
从7.5V降低到5V
CE =低,从测得的时间
V
IN
7.5V
5V , 1μs的下降时间
25
60
8
CE =低,V
IN
从0V上升到3V
CE =低,V
IN
从3V下降到0V
CE =低。从V测时间
IN
0V
5V 1μs的上升时间,
输出接通
CE =低, OUT引脚无负载,
V
IN
= 5V ,R
ILIM
= 25k
CE =高,V
IN
= 5.0V
CE =低,V
IN
= 5V ,我
OUT
= 1A
5.71
6.60
2.6
200
2.7
260
8
400
65
170
5.85
6.80
600
95
280
6.00
7.00
1
110
2.8
300
V
mV
ms
μA
μA
mV
V
V
μs
mV
ms
测试条件
典型最大单位
输入输出特性
输入过压保护
V
OVP
t
PD ( OVP )
V
HYS- OVP
t
ON ( OVP )
输入的OV传播延迟
(1)
输入过流保护
I
OCP
I
OCP
t
BLANK ( OCP )
t
REC ( OCP )
300
1500
mA
mA
μs
ms
930 1000 1070
176
64
电池过电压保护
BV
OVP
V
HYS- BOVP
4.30
200
4.35
275
4.4
320
10
nA
10
μs
V
mV
I
VBAT
T
DGL ( BOVP )
抗尖峰脉冲时间,电池过压CE =低,V
IN
> 4.4V 。从V测时间
VBAT
FROM RISING
检测
4.1V至4.4V故障变低。
热关断温度
热关断迟滞
低电平输入电压
高电平输入电压
低电平输入电流
高层次的输入电流
输出低电压
V
CE
= 0V
V
CE
= 1.8V
I
SINK
= 5毫安
0
1.4
热保护
T
J(下关)
T
J(下OFF- HYS )
V
IL
V
IH
I
IL
I
IH
V
OL
I
高阻
(1)
140
20
0.4
1
15
0.2
10
150
°C
°C
V
V
μA
μA
V
μA
逻辑电平CE
逻辑电平故障
漏电电流,故障引脚HI -Z V
故障
= 5V
在生产中测试。按设计规定。
2007 ,德州仪器
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bq24314
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IN
电荷泵,
带隙,
BIAS GEN
Q1
OUT
V
BG
ILIM
ISNS
限流
ILIMREF
关闭
OCP比较
ILIMREF -
ISNS
t
BLANK ( OCP )
故障
VIN
VBG
OVP
计数器,
控制,
和状态
CE
VIN
VBG
UVLO
t
DGL ( PGOOD )
VBAT
SHUTDOW
VBG
t
DGL ( BOVP )
VSS
图1.简化的框图
4
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终端功能
终奌站
名字
IN
OUT
VBAT
ILIM
CE
故障
VSS
NC
PAD
10, 11
8
9
7
4
3
5, 6, 12
8
6
7
5
4
2
3
O
I
I / O
I
O
DSJ
1, 2
DSG
1
I / O
I
描述
输入功率,连接到外部直流电源。外接1μF的陶瓷电容(最小)到
VSS 。对于12针( DSJ -后缀)设备,确保引脚1和2上的连接在一起
印刷电路板的设备。
输出端子连接到充电系统。外部1μF的陶瓷电容(最小)连接到VSS 。
电池电压检测输入。通过连接一个电阻来收拾正极。
输入过流阈值编程。连接一个电阻到VSS设置过流
门槛。
芯片使能输入。低电平有效。当CE =高,输入FET关断。内部下拉。
漏极开路输出,设备状态。 FAULT =低表明该输入场效应晶体管Q1被关断
由于输入过压,输入过流,过压电池,或热关断。
接地端子
这些引脚可以具有用于测试目的的内部电路。不要让任何外部连接
这些引脚的正常运行。
有裸露热焊盘的VSS引脚之间的内部电气连接
装置。导热衬垫必须连接到相同的电位上印刷的VSS端子
电路板。不使用散热垫作为主要输入地的设备。 VSS引脚
必须连接到接地在任何时候。
IN
1
IN
1
VSS
2
NC
3
bq24314DSG
bq24316DSG
6
8
12
NC
OUT
IN
2
11
OUT
OUT
7
ILIM
VSS
3
VBAT
故障
4
bq24314DSJ
bq24316DSJ
9
ILIM
10
故障
4
5
CE
NC
5
NC
6
8
VBAT
7
CE
2007 ,德州仪器
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过压和过流保护IC和
锂离子充电器前端保护IC
1
特点
为保护三个变量:
- 输入过压,在快速响应
& LT ; 1
μs
- 用户可编程的过流与
限流
电池过压
30V最大输入电压
支持高达1.5A的输入电流
强大的反误触发因
电流瞬变
热关断
使能输入
状态指示 - 出现故障
2
可在节省空间的小型8引线2 × 2
儿子和12引线4x3的SON封装
应用
手机和智能手机
掌上电脑
MP3播放器
低功耗手持设备
蓝牙耳机
描述
该bq24314与bq24316是高度集成的电路设计,从提供保障,锂离子电池
所述充电电路的故障。该IC连续监视输入电压,输入电流,和电池
电压。的情况下的输入过电压状态时,IC立即删除功率从所述充电电路
关闭内部开关。在过流状态的情况下,它限制了系统的电流的阈
值,并且如果过电流持续存在,可切换旁路元件断开消隐周期之后。此外,该集成电路
还可以监测其自身的芯片温度并关闭,如果它变得太热。输入过流阈值是
用户可编程的。
该IC可以由处理器控制,并且还提供了关于故障情况到主机的状态信息。
应用原理
AC适配器
VDC
1
m
F
GND
1年
OUT 8
1
m
F
bq24080
充电器IC
bq24316DSG
系统
VBAT 6
故障四
CE 5
VSS
2
1
2
请注意,一个重要的通知有关可用性,标准保修,并且在关键的应用程序中使用
德州仪器公司的半导体产品和免责条款及其出现在此数据表的末尾。
使用PowerPad是德州仪器的商标。
2007 ,德州仪器
PRODUCTION数据信息为出版日期。
产品符合占德州条款规范
仪器标准保修。生产加工过程中不
不一定包括所有参数进行测试。
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这些器件具有有限的内置ESD保护。引线应短接在一起或设备放置在导电泡棉
储存或搬运过程中,以防止对静电损坏MOS大门。
订购信息
(1)
设备
(2)
bq24314DSG
bq24314DSJ
bq24316DSG
bq24316DSJ
(1)
(2)
OVP阈值
5.85 V
5.85 V
6.80 V
6.80 V
记号
采用2mm x 2mm SON CBV
采用4mm x 3毫米SON CBX
采用2mm x 2mm SON CBW
采用4mm x 3毫米SON BZC
对于最新的封装和订购信息,请参阅
封装选项附录本文档的末尾,或见
TI网站www.ti.com 。
欲订购3000个卷轴加上R的零件编号,或订购250
个卷轴增加T的零件编号。
包装耗散额定值
产品型号
BQ24314DSG
BQ24316DSG
BQ24314DSJ
BQ24316DSJ
2 × 2 SON
4 × 3 SON
R
θJC
5°C/W
5°C/W
R
θJA
75°C/W
40°C/W
绝对最大额定值
(1)
在工作自由空气的温度范围内(除非另有说明)
参数
输入电压
输入电流
输出电流
输出灌电流
结温,T
J
贮藏温度,T
英镑
引线温度(焊接, 10秒)
(1)
IN(相对于VSS )
OUT (相对于VSS )
ILIM ,故障,CE , VBAT (相对于VSS )
IN
OUT
故障
价值
-0.3 30
-0.3至12
-0.3 7
2.0
2.0
15
-40至150
-65到150
300
A
A
mA
°C
°C
°C
V
单位
超出上述绝对最大额定值强调可能会造成永久性损坏设备。这些压力额定值
止,并在规定的操作指示的装置,在这些或超出任何其他条件的功能操作
条件是不是暗示。暴露于长时间处于最大绝对额定情况下会影响器件的可靠性。所有的电压
值是相对于所述网络的接地端子,除非另有说明。
推荐工作条件
在工作自由空气的温度范围内(除非另有说明)
V
IN
I
IN
I
OUT
R
ILIM
T
J
输入电压范围
输入电流, IN引脚
输出电流,输出脚
OCP编程电阻
结温
15.0
0
3.3
最大
26
1.5
1.5
90.0
125
单位
V
A
A
k
°C
2
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电气特性
在结温范围0°C
T
J
125 ℃,推荐的电源电压(除非另有说明)
参数
IN
V
UVLO
V
HYS- UVLO
T
DGL ( PGOOD )
I
DD
I
STDBY
VDO
欠压锁定输出,输入
功率门限检测
迟滞的UVLO
抗尖峰脉冲时间,输入功率
检测状态
工作电流
待机电流
辍学电压输入至输出
输入过压
保护
门槛
滞后的OVP
从输入恢复时间
过压条件
输入过流保护
阈值范围
输入过流保护
门槛
消隐时间,输入过流
检测
从输入恢复时间
过流条件
电池过电压保护
门槛
滞后于BV
OVP
输入偏置电流
VBAT引脚
DSG
DSJ
CE =低,V
IN
> 4.4V
CE =低,V
IN
> 4.4V
V
BAT
= 4.4V ,T
J
= 25°C
V
BAT
= 4.4V ,T
J
= 85°C
176
CE =低,R
ILIM
= 25k
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CE =低,V
IN
增加从5V到7.5V
CE =低
CE =低,V
IN
从7.5V降低到5V
CE =低,从测得的时间
V
IN
7.5V
5V , 1μs的下降时间
25
60
8
CE =低,V
IN
从0V上升到3V
CE =低,V
IN
从3V下降到0V
CE =低。从V测时间
IN
0V
5V 1μs的上升时间,
输出接通
CE =低, OUT引脚无负载,
V
IN
= 5V ,R
ILIM
= 25k
CE =高,V
IN
= 5.0V
CE =低,V
IN
= 5V ,我
OUT
= 1A
5.71
6.60
2.6
200
2.7
260
8
400
65
170
5.85
6.80
600
95
280
6.00
7.00
1
110
2.8
300
V
mV
ms
μA
μA
mV
V
V
μs
mV
ms
测试条件
典型最大单位
输入输出特性
输入过压保护
V
OVP
t
PD ( OVP )
V
HYS- OVP
t
ON ( OVP )
输入的OV传播延迟
(1)
输入过流保护
I
OCP
I
OCP
t
BLANK ( OCP )
t
REC ( OCP )
300
1500
mA
mA
μs
ms
930 1000 1070
176
64
电池过电压保护
BV
OVP
V
HYS- BOVP
4.30
200
4.35
275
4.4
320
10
nA
10
μs
V
mV
I
VBAT
T
DGL ( BOVP )
抗尖峰脉冲时间,电池过压CE =低,V
IN
> 4.4V 。从V测时间
VBAT
FROM RISING
检测
4.1V至4.4V故障变低。
热关断温度
热关断迟滞
低电平输入电压
高电平输入电压
低电平输入电流
高层次的输入电流
输出低电压
V
CE
= 0V
V
CE
= 1.8V
I
SINK
= 5毫安
0
1.4
热保护
T
J(下关)
T
J(下OFF- HYS )
V
IL
V
IH
I
IL
I
IH
V
OL
I
高阻
(1)
140
20
0.4
1
15
0.2
10
150
°C
°C
V
V
μA
μA
V
μA
逻辑电平CE
逻辑电平故障
漏电电流,故障引脚HI -Z V
故障
= 5V
在生产中测试。按设计规定。
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IN
电荷泵,
带隙,
BIAS GEN
Q1
OUT
V
BG
ILIM
ISNS
限流
ILIMREF
关闭
OCP比较
ILIMREF -
ISNS
t
BLANK ( OCP )
故障
VIN
VBG
OVP
计数器,
控制,
和状态
CE
VIN
VBG
UVLO
t
DGL ( PGOOD )
VBAT
SHUTDOW
VBG
t
DGL ( BOVP )
VSS
图1.简化的框图
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终端功能
终奌站
名字
IN
OUT
VBAT
ILIM
CE
故障
VSS
NC
PAD
10, 11
8
9
7
4
3
5, 6, 12
8
6
7
5
4
2
3
O
I
I / O
I
O
DSJ
1, 2
DSG
1
I / O
I
描述
输入功率,连接到外部直流电源。外接1μF的陶瓷电容(最小)到
VSS 。对于12针( DSJ -后缀)设备,确保引脚1和2上的连接在一起
印刷电路板的设备。
输出端子连接到充电系统。外部1μF的陶瓷电容(最小)连接到VSS 。
电池电压检测输入。通过连接一个电阻来收拾正极。
输入过流阈值编程。连接一个电阻到VSS设置过流
门槛。
芯片使能输入。低电平有效。当CE =高,输入FET关断。内部下拉。
漏极开路输出,设备状态。 FAULT =低表明该输入场效应晶体管Q1被关断
由于输入过压,输入过流,过压电池,或热关断。
接地端子
这些引脚可以具有用于测试目的的内部电路。不要让任何外部连接
这些引脚的正常运行。
有裸露热焊盘的VSS引脚之间的内部电气连接
装置。导热衬垫必须连接到相同的电位上印刷的VSS端子
电路板。不使用散热垫作为主要输入地的设备。 VSS引脚
必须连接到接地在任何时候。
IN
1
IN
1
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2007 ,德州仪器
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bq24314 bq24316
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