订购数量: ENA1405A
ATP404
三洋半导体
数据表
ATP404
特点
N沟道MOSFET硅
通用开关设备
应用
导通电阻RDS ( ON) 1 = 5.5米
Ω
(典型值)。
4.5V驱动
输入电容西塞= 6400pF (典型值)。
无卤合规
特定网络阳离子
绝对最大额定值
在TA = 25℃
参数
漏极至源极电压
栅极 - 源极电压
漏电流( DC )
漏电流(脉冲)
允许功耗
通道温度
储存温度
雪崩能量(单脉冲) * 1
雪崩电流* 2
符号
VDSS
VGSS
ID
IDP
PD
总胆固醇
TSTG
EAS
IAV
PW≤10μs ,值班cycle≤1 %
Tc=25°C
条件
评级
60
±20
95
380
70
150
-
-55到+150
214
48
单位
V
V
A
A
W
°C
°C
mJ
A
注意:
*1
VDD = 30V , L = 100
μ
H, IAV = 48A
*2
L
≤
100
μ
H,单脉冲
包装尺寸
单位:mm (典型值)
7057-001
ATP404-TL-H
6.5
0.5
1.5
0.4
4.6
2.6
0.4
产品&包装信息
包
: ATPAK
JEITA , JEDEC
:-
最小包装数量: 3000个/卷。
包装类型: TL
记号
ATP404
LOT号
4
7.3
9.5
4.6
6.05
TL
电气连接
2,4
0.55
0.7
0.5
1
0.8
2.3
2.3
3
0.6
1.7
2
0.4
1 :门
2 :排水
3 :源
4 :漏
三洋: ATPAK
1
3
0.1
http://semicon.sanyo.com/en/network
61312 TKIM / 12109QA MSIM TC- 00001833号A1405-1 / 7
ATP404
电气特性
在TA = 25℃
参数
漏极至源极击穿电压
零栅极电压漏极电流
栅极 - 源极漏电流
截止电压
正向转移导纳
静态漏 - 源极导通电阻
输入电容
输出电容
反向传输电容
导通延迟时间
上升时间
打开-O FF延迟时间
下降时间
总栅极电荷
栅极 - 源极充电
栅 - 漏“米勒”充电
二极管的正向电压
符号
V( BR ) DSS
IDSS
IGSS
VGS (关闭)
|
YFS
|
RDS(on)1
RDS(on)2
西塞
科斯
CRSS
TD (上)
tr
TD (关闭)
tf
Qg
QGS
QGD
VSD
IS = 95A , VGS = 0V
VDS = 30V , VGS = 10V , ID = 95A
VDS = 20V , F = 1MHz的
条件
ID = 1mA时, VGS = 0V
VDS = 60V , VGS = 0V
VGS = ± 16V , VDS = 0V
VDS = 10V ,ID = 1毫安
VDS = 10V ,ID = 48A
ID = 48A , VGS = 10V
ID = 48A , VGS = 4.5V
评级
民
60
10
±10
1.2
100
5.5
7.5
6400
490
380
53
请参阅特定网络版测试电路。
640
380
520
120
25
25
0.95
1.2
7.2
10.5
2.6
典型值
最大
单位
V
μA
μA
V
S
mΩ
mΩ
pF
pF
pF
ns
ns
ns
ns
nC
nC
nC
V
开关时间测试电路
10V
0V
VIN
VDD=30V
雪崩电阻测试电路
L
VIN
PW=10μs
D.C.≤1%
G
D
ID=48A
RL=0.625Ω
VOUT
10V
0V
≥50Ω
ATP404
50Ω
VDD
ATP404
P.G
50Ω
S
订购信息
设备
ATP404-TL-H
包
ATPAK
航运
3,000pcs./reel
备忘录
无铅和无卤素
第A1405-2 / 7