订购数量: ENA1654A
ATP302
三洋半导体
数据表
ATP302
特点
P沟道MOSFET硅
通用开关设备
应用
导通电阻RDS ( ON) 1 = 10米
Ω
(典型值)。
4.5V驱动
输入电容西塞= 5400pF (典型值)。
无卤合规
特定网络阳离子
绝对最大额定值
在TA = 25℃
参数
漏极至源极电压
栅极 - 源极电压
漏电流( DC )
漏电流(脉冲)
允许功耗
通道温度
储存温度
雪崩能量(单脉冲) * 1
雪崩电流* 2
符号
VDSS
VGSS
ID
IDP
PD
总胆固醇
TSTG
EAS
IAV
PW≤10μs ,值班cycle≤1 %
Tc=25°C
条件
评级
--60
±20
-
-70
--280
70
150
-
-55到+150
197
--42
单位
V
V
A
A
W
°C
°C
mJ
A
注意:
*1
VDD = - 36V , L = 100
μ
H, IAV = -
-42A
*2
L
≤
100
μ
H,单脉冲
包装尺寸
单位:mm (典型值)
7057-001
ATP302-TL-H
6.5
0.5
1.5
0.4
4.6
2.6
0.4
产品&包装信息
包
: ATPAK
JEITA , JEDEC
:-
最小包装数量: 3000个/卷。
包装类型: TL
记号
ATP302
LOT号
4
7.3
9.5
4.6
6.05
TL
电气连接
2,4
0.55
0.7
0.5
1
0.8
2.3
2.3
3
0.6
1.7
2
0.4
1 :门
2 :排水
3 :源
4 :漏
三洋: ATPAK
1
0.1
3
http://semicon.sanyo.com/en/network
62712 TKIM / 21710QA TKIM TC- 00002247 No.A1654-1 / 7
ATP302
电气特性
在TA = 25℃
参数
漏极至源极击穿电压
零栅极电压漏极电流
栅极 - 源极漏电流
截止电压
正向转移导纳
静态漏 - 源极导通电阻
输入电容
输出电容
反向传输电容
导通延迟时间
上升时间
打开-O FF延迟时间
下降时间
总栅极电荷
栅极 - 源极充电
栅 - 漏“米勒”充电
二极管的正向电压
符号
V( BR ) DSS
IDSS
IGSS
VGS (关闭)
|
YFS
|
RDS(on)1
RDS(on)2
西塞
科斯
CRSS
TD (上)
tr
TD (关闭)
tf
Qg
QGS
QGD
VSD
IS = - 70A , VGS = 0V
VDS = - 36V , VGS = - 10V , ID = - 70A
请参阅特定网络版测试电路。
VDS = - 20V , F = 1MHz的
条件
-1mA,
VGS=0V
ID = -
-60V,
VGS=0V
VDS = -
VGS = ± 16V , VDS = 0V
-10V,
ID = -
-1mA
VDS = -
-10V,
ID=--35A
VDS = -
-35A,
VGS = -
-10V
ID = -
-35A,
VGS = -
-4.5V
ID = -
评级
民
--60
--10
±10
--1.2
75
10
13
5400
500
370
35
430
420
500
115
20
25
--1.0
--1.5
13
18
-
-2.6
典型值
最大
单位
V
μA
μA
V
S
mΩ
mΩ
pF
pF
pF
ns
ns
ns
ns
nC
nC
nC
V
开关时间测试电路
0V
--10V
VIN
VDD = --36V
雪崩电阻测试电路
L
VIN
ID = --35A
RL=1.03Ω
D
VOUT
ATP302
G
0V
--10V
ATP302
50Ω
S
50Ω
VDD
≥50Ω
RG
PW=10μs
D.C.≤1%
P.G
订购信息
设备
ATP302-TL-H
包
ATPAK
航运
3,000pcs./reel
备忘录
无铅和无卤素
No.A1654-2/7