ATF- 58143绝对最大额定值
[1]
符号
V
DS
V
GS
V
GD
I
DS
P
DISS
P
在MAX中。
I
GS
T
CH
T
英镑
θ
jc
参数
漏源电压
[2]
栅源电压
[2]
门漏极电压
[2]
漏电流
[2]
总功耗
[3]
RF输入功率
门源电流
通道温度
储存温度
热阻
[4]
单位
V
V
V
mA
mW
DBM
mA
°C
°C
° C / W
绝对
最大
5
-5 1
-5 1
100
500
+13
5]
2
[5]
150
-65到150
162
注意事项:
上述中的任一项1.操作此装置的
这些参数可能会导致永久性的
损害。
2.假设DC静态条件。
3.源铅温度为25 ℃。减额
6.2毫瓦/°C,对于T
L
> 33 ℃。
使用测量4.热阻
150℃的液晶测量方法。
5.该设备可以处理13 dBm的RF输入
电源提供了我
GS
被限制为2毫安。我
GS
at
P
1dB
驱动电平偏置电路有关。看
有关其他信息,应用部分。
120
100
80
I
DS
(MA )
60
40
20
0
0
1
2
3
4
5
6
7
V
DS
(V)
图1:典型的I -V曲线(V
GS
每步= 0.1V )
产品的一致性分布图表
[6, 7]
-150
Cpk=2.735
Stdev=0.049
-125
-100
-75
-50
-25
0
0.3
0.4
0.5
0.6
NF( dB)的
0.7
0.8
15
16
增益(dB )
17
18
Cpk=1.953
Stdev=0.2610
Cpk=1.036
Stdev=0.509
28
29
30
31
32
33
34
OIP3 ( dBm的)
图2. NF @ 3V 30毫安。
USL = 0.9 ,额定= 0.5
图3.增益@ 3V 30毫安。
USL = 18.5 , LSL = 15,额定= 16.5
图4. OIP3 @ 3V 30毫安。
LSL = 29 ,额定= 30.5
注意事项:
6.分布数据样本大小是从3个不同的晶片取500个样本。分配给该产品未来的晶片可具有标称值的任何地方
间的上限和下限。
7.测量就生产测试板。该电路表示根据一个最佳噪声匹配和realizeable匹配之间的折衷
生产测试设备。电路损耗已解嵌,从实际测量。
2
ATF- 58143电气规格
T
A
= 25℃时,在一个测试电路,用于典型的装置测量射频参数
符号
VGS
VTH
IDSS
Gm
IGSS
NF
参数和测试条件
运营栅极电压
阈值电压
饱和漏极电流
跨
栅极漏电流
噪声系数
[1]
F = 2 GHz的
F = 900兆赫
F = 2 GHz的
F = 900兆赫
F = 2 GHz的
F = 900兆赫
F = 2 GHz的
F = 900兆赫
F = 2 GHz的
F = 900兆赫
F = 2 GHz的
F = 900兆赫
F = 2 GHz的
F = 900兆赫
F = 2 GHz的
F = 900兆赫
VDS = 3V , IDS = 30毫安
VDS = 3V , IDS = 4毫安
VDS = 3V , VGS = 0V
VDS = 3V , GM =
ΔIdss / ΔVGS ;
-VGS
= 0.75 – 0.7 = 0.05V
VGD = VGS = -3V
VDS = 3V , IDS = 30毫安
VDS = 3V , IDS = 30毫安
VDS = 4V , IDS = 30毫安
VDS = 4V , IDS = 30毫安
VDS = 3V , IDS = 30毫安
VDS = 3V , IDS = 30毫安
VDS = 4V , IDS = 30毫安
VDS = 4V , IDS = 30毫安
VDS = 3V , IDS = 30毫安
VDS = 3V , IDS = 30毫安
VDS = 4V , IDS = 30毫安
VDS = 4V , IDS = 30毫安
VDS = 3V , IDS = 30毫安
VDS = 3V , IDS = 30毫安
VDS = 4V , IDS = 30毫安
VDS = 4V , IDS = 30毫安
单位
V
V
A
mmho
A
dB
dB
dB
dB
dB
dB
dB
dB
DBM
DBM
DBM
DBM
DBM
DBM
DBM
DBM
分钟。
0.4
0.18
—
230
—
—
—
—
—
15
—
—
—
29
—
—
—
—
—
—
—
典型值。
[2]
0.51
0.38
1
410
—
0.5
0.3
0.5
0.3
16.5
23.1
17.7
22.5
30.5
28.6
31.5
31.0
19
18
21
19
马克斯。
0.75
0.52
5
560
200
0.9
—
—
—
18.5
—
—
—
—
—
—
—
—
—
—
—
Ga
相关的增益
[1]
OIP3
输出3
rd
订单
截取点
[1]
P1dB
1分贝压缩
输出功率
[1]
注意事项:
采用图5所示的生产测试板上获得1测量。
2.典型值从500份样品尺寸来确定来自3的晶片。
28.2 + j9.4
51 – j3.3
RFIN
输入
匹配
产量
匹配
RFOUT
0.7分贝损失
0.6分贝损失
使用2 GHz的生产测试板图5.框图的噪声系数,相关的增益,
的P1dB和OIP3测量。该电路表示一个最佳的噪声之间的折衷
匹配和相关的阻抗匹配电路的损失。
3