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2005年2月
AS7C3364FT32B
AS7C3364FT36B
3.3V 64K
×
32/36流通过同步SRAM
特点
组织: 65,536字× 32或36位
快速时钟到数据存取: 6.5 / 7.5 / 8.0 / 10.0纳秒
快速OE访问时间: 3.5 / 4.0纳秒
通过操作完全同步流程
异步输出使能控制
可提供100引脚TQFP封装
单个字节的写入和全局写
多芯片能够很容易地扩展
3.3V内核电源
2.5V或3.3V的I /带独立V O操作
DDQ
线性或交错突发控制
贪睡模式,可降低待机功耗
常见的数据输入和数据输出
逻辑框图
LBO
CLK
ADV
ADSC
ADSP
A[17:0]
18
Q0
突发的逻辑
Q1
18
D
Q
CE
地址
注册
CLK
D
DQ
d
Q
字节写
注册
CLK
D
DQ
Q
c
字节写
注册
CLK
D
DQ
b
Q
字节写
注册
CLK
D
BW
a
CE0
CE1
CE2
DQ
a
Q
字节写
注册
CLK
D
启用
CE
注册
CLK
动力
D
启用
Q
延迟
注册
CLK
36/32
DQ [ A:D ]
Q
4
CLK
CE
CLR
16
18
64K × 32/36
内存
ARRAY
GWE
BWE
BW
d
36/32
36/32
BW
c
BW
b
OE
产量
卜FF器
输入
注册
CLK
ZZ
OE
选购指南
–65
最小周期时间
最大时钟存取时间
最大工作电流
最大待机电流
最大的CMOS待机电流(DC)的
7.5
6.5
275
90
30
-75
8.5
7.5
250
85
30
-80
10
8.0
215
75
30
-10
12
10.0
185
75
30
单位
ns
ns
mA
mA
mA
2/8/05; v.1.2
半导体联盟
19 P. 1
版权所有联半导体公司。版权所有。
AS7C3364FT32B
AS7C3364FT36B
2 Mb的同步SRAM产品列表
1,2
ORG
128KX18
64KX32
64KX36
128KX18
64KX32
64KX36
128KX18
64KX32
64KX36
产品型号
AS7C33128PFS18B
AS7C3364PFS32B
AS7C3364PFS36B
AS7C33128PFD18B
AS7C3364PFD32B
AS7C3364PFD36B
AS7C33128FT18B
AS7C3364FT32B
AS7C3364FT36B
模式
PL- SCD
PL- SCD
PL- SCD
PL- DCD
PL- DCD
PL- DCD
FT
FT
FT
速度
200/166/133 MHz的
200/166/133 MHz的
200/166/133 MHz的
200/166/133 MHz的
200/166/133 MHz的
200/166/133 MHz的
6.5 / 7.5 / 8.0 / 10纳秒
6.5 / 7.5 / 8.0 / 10纳秒
6.5 / 7.5 / 8.0 / 10纳秒
1内核电源: VDD = 3.3V + 0.165V
2 I / O电源电压: VDDQ = 3.3V + 0.165V的3.3VI / O
VDDQ = 2.5V + 0.125V为2.5V的I / O
PL- SCD
PL- DCD
FT
:
:
:
流水线突发同步SRAM - 单周期取消
流水线突发同步SRAM - 双循环取消
流过突发同步SRAM
2/8/05; v.1.2
半导体联盟
19 P. 2
AS7C3364FT32B
AS7C3364FT36B
管脚配置
100
99
98
97
96
95
94
93
92
91
90
89
88
87
86
85
84
83
82
81
A
A
CE0
CE1
BW
d
BW
c
BW
b
BW
a
CE2
V
DD
V
SS
CLK
GWE
BWE
OE
ADSC
ADSP
ADV
A
A
DQP
c
/ NC
DQ
c0
DQ
c1
V
DDQ
V
SSQ
DQ
c2
DQ
c3
DQ
c4
DQ
c5
V
SSQ
V
DDQ
DQ
c6
DQ
c7
NC
V
DD
NC
V
SS
DQ
d0
DQ
d1
V
DDQ
V
SSQ
DQ
d2
DQ
d3
DQ
d4
DQ
d5
V
SSQ
V
DDQ
DQ
d6
DQ
d7
DQP
d
/ NC
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30
TQFP 14 × 20毫米
80
79
78
77
76
75
74
73
72
71
70
69
68
67
66
65
64
63
62
61
60
59
58
57
56
55
54
53
52
51
DQP
b
/ NC
DQ
b7
DQ
b6
V
DDQ
V
SSQ
DQ
b5
DQ
b4
DQ
b3
DQ
b2
V
SSQ
V
DDQ
DQ
b1
DQ
b0
V
SS
NC
VDD
ZZ
DQ
a7
DQ
a6
V
DDQ
V
SSQ
DQ
a5
DQ
a4
DQ
a3
DQ
a2
V
SSQ
V
DDQ
DQ
a1
DQ
a0
DQP
a
/ NC
2/8/05; v.1.2
LBO
A
A
A
A
A1
A0
NC
NC
V
SS
V
DD
NC
NC
A
A
A
A
A
A
NC
注:引脚1,30,51,80是NC为32 ×
31
32
33
34
35
36
37
38
39
40
41
42
43
44
45
46
47
48
49
50
半导体联盟
19第3页
AS7C3364FT32B
AS7C3364FT36B
功能说明
该AS7C3364FT32B / 36B是组织为高性能CMOS 2兆位同步静态随机存取存储器(SRAM)器件
65,536字× 32或36位。
7.5 / 8.5 / 10 /至12 ns时钟存取时间短的循环时间(T
CD
) 6.5 / 7.5 / 8.0 / 10纳秒。三芯片使能( CE )输入允许容易记忆
扩展。被启动以两种方式之一突发工作:控制器地址选通( ADSC) ,或者处理器地址选通( ADSP ) 。
突发提前引脚( ADV )允许后续内部产生爆裂地址。
读周期开始与ADSP (不论WE和ADSC的)使用新的外部地址读入片内地址寄存器
当ADSP采样为低电平时,芯片使取样积极的,与输出缓冲器使能OE 。在一读操作时,数据
通过CLK的上升沿,在地址寄存器中登记的当前地址访问被输送到数据输出缓冲器。 ADV是
被忽略的时钟边沿采样ADSP断言,但在取样的所有后续时钟边沿。地址是内部递增
突发的下一个访问时, ADV采样为低,这两个地址选通脉冲高。突发模式可选择与LBO输入。同
LBO未连接或驱动为高,突发操作使用交错式计数序列。与LBO驱动为低电平时,器件采用一个线性计数
序列。
写周期被禁用输出缓冲器, OE和主张写命令执行。全局写使能GWE写入所有
32/36无论个别BW的状态[ A:D ]投入。交替地,当GWE高时,一个或多个字节可以被写入通过断言
BWE及相应的单个字节BWN信号。
BWN被忽略的时钟沿采样ADSP低,但它被采样,所有随后的时钟边沿。输出缓冲器被禁用时,
无论OE BWN采样为低电平。数据移入数据输入寄存器时BWN采样为低电平。地址递增
在内部的一个突发地址,如果BWN和ADV采样低。
读或写周期也可以与ADSC代替ADSP启动。与ADSC和ADSP启动周期之间的差别是
如下:
ADSP必须采样为高电平时, ADSC采样为低电平启动与ADSC一个周期。
WE信号进行采样的时钟沿采样ADSC低(和ADSP高) 。
主控芯片使CE0块ADSP ,但不ADSC 。
该AS7C3364FT32B和AS7C3364FT36B家庭工作于3.3V核心电源。的I / O使用单独的电源,该电源可
工作在2.5V或3.3V 。这些器件采用100引脚TQFP封装。
TQFP电容
参数
输入电容
I / O容量
*保证不会测试
符号
C
以*
C
I / O *
测试条件
V
IN
= 0V
V
OUT
= 0V
-
-
最大
5
7
单位
pF
pF
TQFP封装热阻
描述
热阻
(结到环境)
1
热阻
(结到外壳顶部的)
1
1 ,该参数被采样
条件
1–layer
测试条件遵循的标准试验方法和
用于测量热阻抗程序,
按照EIA / JESD51
4–layer
符号
θ
JA
θ
JA
θ
JC
典型
40
22
8
单位
° C / W
° C / W
° C / W
2/8/05; v.1.2
半导体联盟
19第4页
AS7C3364FT32B
AS7C3364FT36B
信号说明
CLK
A,A0,A1
DQ [A,B , C,D ]
CE0
CE1 , CE2
ADSP
ADSC
ADV
GWE
BWE
BW [A,B , C,D ]
OE
LBO
ZZ
NC
I / O
I
I
I / O
I
I
I
I
I
I
I
I
I
I
I
-
性能
时钟
SYNC
SYNC
SYNC
SYNC
SYNC
SYNC
SYNC
SYNC
SYNC
SYNC
ASYNC
STATIC
ASYNC
-
描述
时钟。除了OE , ZZ和LBO所有的输入是同步的这个时钟。
地址。采样时,所有的芯片能够被激活,当ADSC或ADSP断言。
数据。驱动作为输出时,该芯片被使能,当OE为活动状态。
主控芯片使能。采样时钟边沿时, ADSP和ADSC有效。当CE0是无效的,
ADSP被阻止。请参阅“同步真值表”的详细信息。
同步芯片启用,高和低电平,分别激活。采样时钟边沿时,
ADSC有效,或当CE0和ADSP活跃。
地址选通处理器。置为低电平来加载一个新的地址或进入待机模式。
地址选通控制。置为低电平来加载一个新的地址或进入待机模式。
提前。低电平持续一阵读/写。
全局写使能。置为低电平写入所有32/36位。当高, BWE和BW [ A:D ]控制写入
启用。
字节写使能。置为低电平以GWE高,令体重的影响[ A:D ]投入。
写使能。用于控制单个字节写入时, GWE高, BWE低。如果任一
BW [ A:D ]是活性与GWE高和BWE低,周期为写周期。如果所有BW [ A:D ]是无效的,
该周期是读周期。
异步输出使能。 I / O引脚被驱动时, OE处于活动状态,芯片处于读模式。
选择连拍模式。当连接到V
DD
或悬空,设备遵循交错突发秩序。当
驱动为低电平,器件如下的线性突发顺序。
这个信号被拉高。
贪睡。放置器件进入低功耗模式;数据将被保留。连接至GND ,如果未使用。
无连接
贪睡模式
暂停模式是低电流,其中,所述装置被取消和电流掉电模式减少到我
SB2
。的持续时间
暂停模式是由时间的长短ZZ处于高状态所决定的。
该ZZ引脚是异步的,积极的高投入,导致设备进入暂停模式。
当ZZ引脚变为逻辑高电平,我
SB2
经过时间t可保证
ZZI
得到满足。进入暂停模式,所有输入除ZZ后
被禁止,所有输出到高阻。任何操作进入暂停模式时挂起,不能保证成功完成。
因此,暂停模式(读或写)不能启动,直到有效的未决操作完成。同样,在退出的时候
吨在暂停模式
PUS
只有取消选定或读周期,而SRAM被转换了瞌睡模式应给予。
2/8/05; v.1.2
半导体联盟
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电话:13910052844(微信同步)
联系人:刘先生
地址:海淀区增光路27号院增光佳苑2号楼1单元1102室
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