这AOS产品可靠性报告总结了AOD2922资格的结果。加速
环境测试是在一个特定的样本量进行,再其次是电气试验
在终点。复审终裁电测试结果证实, AOD2922通过AOS质量和
可靠性要求。发布的产品将被处理家庭进行分类,并
为不断提高产品质量例行监测。
目录:
I.
II.
III.
IV 。
产品说明
包装及模具信息
可靠性压力测试总结及结果
可靠性评估
一,产品简介:
最新的沟槽功率AlphaMOS (
α
MOS MV )技术
非常低R
DS ( ON)
低栅极电荷
优化的快速切换应用程序
符合RoHS和无卤素标准
详细信息请参考表。
II 。模具/包装信息:
过程
套餐类型
引线框架
芯片粘接
BOND
模具材料
水分含量
AOD2922
标准亚微米
100V N沟道AlphaMOS
TO252
裸铜
软焊料
阿尔&铜丝
环氧树脂与二氧化硅填料
截至1级
2
III 。可靠性压力测试总结及结果
测试项目*
MSL
前提
测试条件
168小时85° / 85%相对湿度+
C
3循环回流@ 260 °
C
( MSL 1 )
温度= 150 ° ,
C
Vgsmax的的Vgs = 100%
温度= 150 ° ,
C
的Vds = 80 % Vdsmax的
130℃ ,85 %RH下,
C
33.3磅, VDS = 80%
Vdsmax电弧前
(一般
≤42V)
121 ° , 29.7psi ,
C
RH=100%
-65 °至150° ,
C
C
空气到空气中,
时间点
总
样品
大小**
3003pcs
数
of
失败
0
参考
标准
JESD22-A113
-
HTGB
168 / 500 /
1000小时
168 / 500 /
1000小时
539pcs
0
JESD22-A108
HTRB
539pcs
0
JESD22-A108
HAST
96小时
924个
0
JESD22-A110
压力罐
温度
周期
96小时
924个
0
JESD22-A102
250 / 500
周期
1155件
0
JESD22-A104
**注意:
可靠性数据给出总的可用通用数据到出版日期。
IV 。可靠性评估
FIT率(十亿) : 4.90
MTTF = 23277年
FIT率对个别产品可靠性报告会是由实际的老化限制
样本大小。故障率的确定是基于JEDEC标准JESD 85 FIT是指一个
每十亿小时的故障。
故障率
=驰X 10
/
[2
(N) (H)( Af)中的]
=
4.90
9
MTTF =
10 / FIT = 23277年
Chi
=驰平方分布,通过故障和置信区间的数目来确定
N
=单位总数的烧机测试
H
=的烧机测试时间
Af
=从测试加速因子使用条件( EA = 0.7EV和土色= 55 °
C)
加速因子AF] =
EXP
[ EA /
k
( 1 / TJ ü - 1 / TJ S) ]
加速系数比列表:
55摄氏度
70℃
85摄氏度
100℃
115摄氏度
130℃
150℃
2
9
Af
259
87
32
13
5.64
TJ s
=在程度上强调结点温度(开尔文) ,K = C + 273.16
TJ ü
=在度使用结点温度(开尔文) ,K = C + 273.16
k
=
玻尔兹曼常数, 8.617164 ×10
-5
电子伏特/ K
2.59
1
3