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Burr Brown的产品
德州仪器(TI)
ADS8507
SLAS381 - 2006年12月
16位40 - KSPS低功耗采样模拟到数字转换器
内部基准和并行/串行接口
特点
40 kHz的敏采样率
4 -V , 5 V和± 10 V输入范围
89.9 dB的SINAD与10 - kHz输入
± 1.5 LSB INL最大值
+ 1.5 / -1 LSB DNL最大值, 16位无失
代码
± 5 mV的BPZ ,± 0.4 PPM /°C的漂移BPZ
SPI兼容的串行输出,带
菊花链( TAG )功能
采用5 V单模拟电源
引脚兼容, ADS7807以及12位
ADS7806/8506
使用内部或外部2.5 V参考
低功耗
- 24 mW的典型值, 30毫瓦最大的40 KSPS
50 μW最大省电模式
28引脚SO封装
全并行接口
2的比较或BTC输出代码
应用
工业过程控制
测试设备
医疗设备
数据采集系统
数字信号处理
仪器仪表
描述
该ADS8507是一个完整的低功耗,单5 -V
供的16位采样模拟到数字(A / D)的
转换器。
It
包含
a
完整
16-bit
电容型,逐次逼近寄存器
( SAR ) A / D转换器,采样和保持,时钟,
参考和数据接口。该转换器可以是
配置为各种输入范围包括± 10
伏, 4伏, 5伏对于大多数输入范围,输入
电压摆幅可至25 V或-25 V无损坏
到转换器。
一个SPI兼容串行接口允许数据
同步于内部或外部时钟。全
与BYTE选择并行接口,还提供给
允许的最大系统设计的灵活性。该
ADS8507在40 kHz的采样速率超过规定的
工业-40 ° C至85° C温度范围。
逐次逼近寄存器
时钟
EXT / IN
39.8 k
R1
IN
9.9 k
R2
IN
20 k
40 k
华助会
并行
串行
数据
OUT
&放大器;
控制
并行
数据
PWRD
字节
CS
的R / C
SB / BTC
标签
SDATA
DATACLK
比较
卜FF器
6 k
REF
国内
+2.5 V REF
REFD
请注意,一个重要的通知有关可用性,标准保修,并在得克萨斯州的关键应用程序使用
仪器的半导体产品和免责条款及其出现在此数据表的末尾。
QSPI , SPI是摩托罗拉公司的注册商标。
PRODUCTION数据信息为出版日期。
产品符合占德州条款规范
仪器标准保修。生产加工过程中不
不一定包括所有参数进行测试。
版权所有 2006年,德州仪器
ADS8507
www.ti.com
SLAS381 - 2006年12月
这些器件具有有限的内置ESD保护。引线应短接在一起或设备放置在导电泡棉
储存或搬运过程中,以防止对静电损坏MOS大门。
封装/订购信息
(1)
产品
最低
相对的
准确性
( LSB )
±1.5
NO
MISSING
CODE
16
最低
SINAD
( dB)的
87
规范
温度
范围
-40 ° C至85°C
领导
代号
订购
ADS8507IBDW
ADS8507IBDWR
ADS8507IDW
ADS8507IDWR
运输
媒体, QTY
管, 20
磁带和卷轴1000
管, 20
磁带和卷轴1000
ADS8507IB
SO-28
DW
ADS8507I
±3
15
83
-40 ° C至85°C
SO-28
DW
(1)
对于最新的封装和订购信息,请参阅封装选项附录本文档的末尾,或见TI
网站: www.ti.com 。
绝对最大额定值
在工作自由空气的温度范围内(除非另有说明)
(1)
单位
R1
IN
模拟输入
R2
IN
REF
DGND , AGND2
接地电压差
V
ANA
V
DIG
到V
ANA
V
DIG
数字输入
最高结温
存储温度范围
内部功耗
引线温度(焊接,从案例1.6毫米10秒)
(1)
所有电压值都是相对于网络的接地端子。
±25 V
±25 V
+V
ANA
+ 0.3 V至AGND2 - 0.3 V
±0.3 V
6V
0.3 V
6V
-0.3 V至+ V
DIG
+ 0.3 V
165°C
-65_C到150_C
700毫瓦
260°C
电气特性
在T
A
= -40 ° C至85° C,F
S
= 40 kHz时, V
DIG
= V
ANA
= 5伏,并且使用内部参考和固定电阻器, (见
图43)
除非另有规定ED 。
参数
决议
模拟量输入
-10
电压范围
SEE
表1
0
0
阻抗
电容
吞吐速度
转换时间
完整的周期
吞吐率
DC精度
INL
积分非线性误差
-3
3
-1.5
1.5
最低位
(1)
采集和转换
40
20
25
40
20
25
千赫
s
45
45
pF
10
5
4
-10
0
0
10
5
4
V
测试条件
ADS8507I
典型值
最大
16
ADS8507IB
典型值
最大
16
单位
(1)
2
LSB表示最低有效位。一个LSB为± 10 V的输入范围为305 μV 。
提交文档反馈
ADS8507
www.ti.com
SLAS381 - 2006年12月
电气特性(续)
在T
A
= -40 ° C至85° C,F
S
= 40 kHz时, V
DIG
= V
ANA
= 5伏,并且使用内部参考和固定电阻器, (见
图43)
除非另有规定ED 。
参数
DNL
微分线性误差
无失码
过渡
增益误差
满量程误差
(3) (4)
满量程误差漂移
满量程误差
(3) (4)
满量程误差漂移
双极性零误差
(3)
双极性零误差漂移
单极性零误差
(5)
单极零误差漂移
恢复时间从额定精度
掉电
(6)
电源灵敏度
(V
DIG
= V
ANA
= V
S
)
AC精度
SFDR
THD
SINAD
SNR
无杂散动态范围
总谐波失真
信号与(噪声+失真)
信号 - 噪声
可用带宽
(8)
全功率带宽( -3 dB)的
采样动态
孔径延迟
孔径抖动
瞬态响应
过压
参考
内部参考电压
内部参考源电流(绝
使用外部缓冲器)
内部参考电压漂移
外部参考电压范围
指定的线性度
外部参考电流消耗
数字输入
V
IL
V
IH
I
IL
低电平输入电压
高电平输入电压
低电平输入电流
V
IL
= 0 V
-0.3
2.0
+0.8
V
D
+0.3 V
±10
-0.3
2.0
+0.8
V
D
+0.3 V
±10
V
V
A
分机。 2.5 V REF
2.3
空载
2.48
2.5
1
8
2.5
2.7
100
2.3
2.52
2.48
2.5
1
8
2.5
2.7
100
2.52
V
A
PPM /°C的
V
A
恢复
(9)
FS步骤
750
40
20
5
750
40
20
5
ns
ps
s
ns
f
IN
= 1千赫,
±10
V
f
IN
= 1千赫,
±10
V
f
IN
= 1千赫,
±10
V
f
IN
= 1千赫,
±10
V
-60 dB输入
83
83
90
100
-100
88
30
88
130
600
87
-90
87
96
102
-100
89.9
32
89.9
130
600
-96
dB
(7)
dB
dB
dB
千赫
千赫
分机。 2.5 V REF
分机。 2.5 V REF
± 10 V范围
± 10 V范围
0 V至5 V , 0 V至24 V范围
0 V至5 V , 0 V至24 V范围
2.2 μF电容CAP
4.75 V < V
S
< +5.25 V
-3
±0.5
1
±8
-10
±0.5
3
-3
±0.5
1
±8
-0.5
±0.5
10
-5
±0.5
3
-0.5
±7
0.5
-0.25
±0.5
5
噪音
(2)
测试条件
ADS8507I
-2
15
0.8
±0.2
0.5
-0.25
±5
0.25
典型值
最大
3
-1
16
0.8
±0.1
0.25
ADS8507IB
典型值
最大
1.5
单位
最低位
最低位
%
%
PPM /°C的
%
PPM /°C的
mV
PPM /°C的
mV
PPM /°C的
ms
最低位
(2)
(3)
(4)
(5)
(6)
(7)
(8)
(9)
在最坏的情况下过渡的典型均方根噪声。
作为测量用固定电阻器,见
图43 。
调节到零与外部的电位器。
满量程误差 - 全规模还是从理想的第一和最后一个代码转换+全尺寸修剪差,除以最糟糕的情况下,
过渡电压(不是由满量程范围划分),并且包括偏移误差的影响。
作为测量用固定电阻器,见
图43 。
调节到零与外部的电位器。
这是时间延迟后, ADS8507是带出掉电模式,直到所有的内部发生沉降和模拟输入
后天额定精度。这种延迟后Convert命令将产生准确的结果。
以dB为单位,所有规格均参考满量程输入。
定义为满量程输入频率处信纳比(噪声+失真)降低到60分贝可用带宽。
经过2个FS输入过压恢复到指定的性能。
提交文档反馈
3
ADS8507
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SLAS381 - 2006年12月
电气特性(续)
在T
A
= -40 ° C至85° C,F
S
= 40 kHz时, V
DIG
= V
ANA
= 5伏,并且使用内部参考和固定电阻器, (见
图43)
除非另有规定ED 。
参数
I
IH
高层次的输入电流
测试条件
V
IH
= 5 V
ADS8507I
典型值
最大
±10
ADS8507IB
典型值
最大
±10
单位
A
数字输出
数据格式 - 并行16位中的2-字节
数据编码 - 串行二进制2S
补码或直接二进制
V
OL
V
OH
低电平输出电压
高电平输出电压
漏电流
输出电容
数字定时
总线访问时间
总线释放时间
电源
V
DIG
V
ANA
I
DIG
I
ANA
数字电压
模拟电压
数字电流
模拟电流
V
ANA
= V
DIG
= 5 V,
f
S
= 40千赫
功耗
REFD高
PWRD和REFD高
温度范围
指定的性能
性能会下降
储存温度
SO
热阻( θ
JA
)
-40
-55
-65
46
85
125
150
-40
-55
-65
46
85
125
150
°C
°C
°C
° C / W
必须是
V
ANA
4.75
4.75
5
5
0.6
4.2
24
20
50
30
5.25
5.25
4.75
4.75
5
5
0.6
4.2
24
20
50
30
5.25
5.25
V
V
mA
mA
mW
mW
W
R
L
= 3.3 kΩ的,C
L
= 50 pF的
R
L
= 3.3 kΩ的,C
L
= 10 pF的
83
83
83
83
ns
ns
I
SINK
= 1.6毫安
I
来源
= 500 A
高阻态,
V
OUT
= 0 V到V
DIG
高阻态
4
±5
15
0.4
4
±5
15
0.4
V
V
A
pF
设备信息
R1IN
1
AGND1
2
R2IN
3
4
REF
5
AGND2
6
SB / BTC
7
EXT / INT
8
D7
9
D6
10
D5
11
D4
12
D3
13
DGND
14
ADS8507
28
VDIG
27
V
ANA
26
REFD
25
PWRD
24
23
CS
22
的R / C
21
字节
20
标签
19
SDATA
18
DATACLK
17
D0
16
D1
15
D2
4
提交文档反馈
ADS8507
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SLAS381 - 2006年12月
设备信息(续)
终端功能
终奌站
1
2
3
4
5
6
7
8
名字
R1
IN
AGND1
R2
IN
REF
AGND2
SB / BTC
EXT / INT
I
I
数字
I / O
模拟输入。
模拟感应地面。内部使用的接地参考点。最小电流
模拟输入。
基准缓冲输出。 2.2 μF的钽电容到地。
基准输入/输出。输出内部2.5 V基准电压源。也可以由外部系统驱动
参考。在这两种情况下,旁路至地, 2.2 μF钽电容。
模拟地
选择标准二进制或二进制补2秒输出数据格式。如果高,数据被输出在一个
直接二进制格式。如果低,数据是二进制的补码格式输出。
选择外部/内部数据时钟用于传输数据。如果高电平时,数据输出同步
上DATACLK时钟输入。如果低,一个转换命令开始数据的传输
从以前的转换,连同16个时钟脉冲上DATACLK输出。
数据位7 ,如果BYTE高。数据15位(MSB ) ,如果字节是低的。高阻当CS为高电平和/或R / C是
低。使用串行输出时不连接。
数据位6 ,如果BYTE高。数据位14 ,如果BYTE低。高阻当CS为高电平和/或R / C为低。
数据位5 ,如果BYTE高。数据位13 ,如果BYTE低。高阻当CS为高电平和/或R / C为低。
数据位4 ,如果BYTE高。数据位12 ,如果BYTE低。高阻当CS为高电平和/或R / C为低。
数据位3 ,如果BYTE高。数据位11 ,如果BYTE低。高阻当CS为高电平和/或R / C为低。
数字地
O
O
O
I / O
数据位2 ,如果BYTE高。数据位10 ,如果BYTE低。高阻当CS为高电平和/或R / C为低。
数据位1 ,如果BYTE高。数据位9 ,如果BYTE低。高阻当CS为高电平和/或R / C为低。
数据位0 ( LSB ) ,如果BYTE高。数据位8 ,如果字节是低的。高阻当CS为高电平和/或R / C是
低。
输入或取决于EXT / INT电平的输出。输出数据被同步到该
时钟。如果EXT / INT为低电平时, DATACLK发射16个脉冲每次转换后,再遗体
低转换之间。
串行数据输出。数据同步时钟保持一致,与由水平决定的格式
SB / BTC 。在外部时钟模式下,后16位的数据,该ADC输出的电平输入
TAG只要CS为低, R / C为高。如果EXT / INT为低电平时,数据在上升沿和有效
DATACLK下降的边缘,并转换之间SDATA停留在TAG输入电平
当转换被启动。
标签输入的外部时钟模式下使用。如果EXT为高时,从标签的数字数据的输入输出
上带有延时是依赖于外部时钟模式数据。
选择8最显著位(低电平)或8至少显著位(高电平)上并行输出管脚。
读/转换输入。在CS为低电平,上的R / C的下降沿使内部采样和保持成
保持状态,并开始转换。当EXT / INT为低,这也引发了传输
从以前的数据转换的结果。
内部OR操作与R / C 。如果R / C为低,在CS下降沿启动一次新的转换。如果
EXT / INT为低,这同样下降沿将开始从串行数据的结果发送
前一次转换。
在转换开始时, BUSY变为低电平,并保持低电平直到转换完成,
数字输出已更新。
掉电输入。如果高,转换被禁止,功耗显著
减少。结果从先前的转换被保持在输出的移位寄存器。
REFD高关闭内部参考。外部参考将需要
转换。
模拟电源。名义上+5 V.去耦用0.1μF的陶瓷电容和10 μF的钽电容。
数字电源。名义上+5 V.直接连接到引脚27必须
V
ANA
.
描述
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
D7
D6
D5
D4
D3
DGND
D2
D1
D0
DATACLK
O
O
O
O
O
19
SDATA
O
20
21
22
标签
字节
的R / C
I
I
I
23
CS
I
24
25
26
27
28
PWRD
REFD
V
ANA
V
DIG
O
I
I
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5
Burr Brown的产品
德州仪器(TI)
ADS8507
SLAS381 - 2006年12月
16位40 - KSPS低功耗采样模拟到数字转换器
内部基准和并行/串行接口
特点
40 kHz的敏采样率
4 -V , 5 V和± 10 V输入范围
89.9 dB的SINAD与10 - kHz输入
± 1.5 LSB INL最大值
+ 1.5 / -1 LSB DNL最大值, 16位无失
代码
± 5 mV的BPZ ,± 0.4 PPM /°C的漂移BPZ
SPI兼容的串行输出,带
菊花链( TAG )功能
采用5 V单模拟电源
引脚兼容, ADS7807以及12位
ADS7806/8506
使用内部或外部2.5 V参考
低功耗
- 24 mW的典型值, 30毫瓦最大的40 KSPS
50 μW最大省电模式
28引脚SO封装
全并行接口
2的比较或BTC输出代码
应用
工业过程控制
测试设备
医疗设备
数据采集系统
数字信号处理
仪器仪表
描述
该ADS8507是一个完整的低功耗,单5 -V
供的16位采样模拟到数字(A / D)的
转换器。
It
包含
a
完整
16-bit
电容型,逐次逼近寄存器
( SAR ) A / D转换器,采样和保持,时钟,
参考和数据接口。该转换器可以是
配置为各种输入范围包括± 10
伏, 4伏, 5伏对于大多数输入范围,输入
电压摆幅可至25 V或-25 V无损坏
到转换器。
一个SPI兼容串行接口允许数据
同步于内部或外部时钟。全
与BYTE选择并行接口,还提供给
允许的最大系统设计的灵活性。该
ADS8507在40 kHz的采样速率超过规定的
工业-40 ° C至85° C温度范围。
逐次逼近寄存器
时钟
EXT / IN
39.8 k
R1
IN
9.9 k
R2
IN
20 k
40 k
华助会
并行
串行
数据
OUT
&放大器;
控制
并行
数据
PWRD
字节
CS
的R / C
SB / BTC
标签
SDATA
DATACLK
比较
卜FF器
6 k
REF
国内
+2.5 V REF
REFD
请注意,一个重要的通知有关可用性,标准保修,并在得克萨斯州的关键应用程序使用
仪器的半导体产品和免责条款及其出现在此数据表的末尾。
QSPI , SPI是摩托罗拉公司的注册商标。
PRODUCTION数据信息为出版日期。
产品符合占德州条款规范
仪器标准保修。生产加工过程中不
不一定包括所有参数进行测试。
版权所有 2006年,德州仪器
ADS8507
www.ti.com
SLAS381 - 2006年12月
这些器件具有有限的内置ESD保护。引线应短接在一起或设备放置在导电泡棉
储存或搬运过程中,以防止对静电损坏MOS大门。
封装/订购信息
(1)
产品
最低
相对的
准确性
( LSB )
±1.5
NO
MISSING
CODE
16
最低
SINAD
( dB)的
87
规范
温度
范围
-40 ° C至85°C
领导
代号
订购
ADS8507IBDW
ADS8507IBDWR
ADS8507IDW
ADS8507IDWR
运输
媒体, QTY
管, 20
磁带和卷轴1000
管, 20
磁带和卷轴1000
ADS8507IB
SO-28
DW
ADS8507I
±3
15
83
-40 ° C至85°C
SO-28
DW
(1)
对于最新的封装和订购信息,请参阅封装选项附录本文档的末尾,或见TI
网站: www.ti.com 。
绝对最大额定值
在工作自由空气的温度范围内(除非另有说明)
(1)
单位
R1
IN
模拟输入
R2
IN
REF
DGND , AGND2
接地电压差
V
ANA
V
DIG
到V
ANA
V
DIG
数字输入
最高结温
存储温度范围
内部功耗
引线温度(焊接,从案例1.6毫米10秒)
(1)
所有电压值都是相对于网络的接地端子。
±25 V
±25 V
+V
ANA
+ 0.3 V至AGND2 - 0.3 V
±0.3 V
6V
0.3 V
6V
-0.3 V至+ V
DIG
+ 0.3 V
165°C
-65_C到150_C
700毫瓦
260°C
电气特性
在T
A
= -40 ° C至85° C,F
S
= 40 kHz时, V
DIG
= V
ANA
= 5伏,并且使用内部参考和固定电阻器, (见
图43)
除非另有规定ED 。
参数
决议
模拟量输入
-10
电压范围
SEE
表1
0
0
阻抗
电容
吞吐速度
转换时间
完整的周期
吞吐率
DC精度
INL
积分非线性误差
-3
3
-1.5
1.5
最低位
(1)
采集和转换
40
20
25
40
20
25
千赫
s
45
45
pF
10
5
4
-10
0
0
10
5
4
V
测试条件
ADS8507I
典型值
最大
16
ADS8507IB
典型值
最大
16
单位
(1)
2
LSB表示最低有效位。一个LSB为± 10 V的输入范围为305 μV 。
提交文档反馈
ADS8507
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SLAS381 - 2006年12月
电气特性(续)
在T
A
= -40 ° C至85° C,F
S
= 40 kHz时, V
DIG
= V
ANA
= 5伏,并且使用内部参考和固定电阻器, (见
图43)
除非另有规定ED 。
参数
DNL
微分线性误差
无失码
过渡
增益误差
满量程误差
(3) (4)
满量程误差漂移
满量程误差
(3) (4)
满量程误差漂移
双极性零误差
(3)
双极性零误差漂移
单极性零误差
(5)
单极零误差漂移
恢复时间从额定精度
掉电
(6)
电源灵敏度
(V
DIG
= V
ANA
= V
S
)
AC精度
SFDR
THD
SINAD
SNR
无杂散动态范围
总谐波失真
信号与(噪声+失真)
信号 - 噪声
可用带宽
(8)
全功率带宽( -3 dB)的
采样动态
孔径延迟
孔径抖动
瞬态响应
过压
参考
内部参考电压
内部参考源电流(绝
使用外部缓冲器)
内部参考电压漂移
外部参考电压范围
指定的线性度
外部参考电流消耗
数字输入
V
IL
V
IH
I
IL
低电平输入电压
高电平输入电压
低电平输入电流
V
IL
= 0 V
-0.3
2.0
+0.8
V
D
+0.3 V
±10
-0.3
2.0
+0.8
V
D
+0.3 V
±10
V
V
A
分机。 2.5 V REF
2.3
空载
2.48
2.5
1
8
2.5
2.7
100
2.3
2.52
2.48
2.5
1
8
2.5
2.7
100
2.52
V
A
PPM /°C的
V
A
恢复
(9)
FS步骤
750
40
20
5
750
40
20
5
ns
ps
s
ns
f
IN
= 1千赫,
±10
V
f
IN
= 1千赫,
±10
V
f
IN
= 1千赫,
±10
V
f
IN
= 1千赫,
±10
V
-60 dB输入
83
83
90
100
-100
88
30
88
130
600
87
-90
87
96
102
-100
89.9
32
89.9
130
600
-96
dB
(7)
dB
dB
dB
千赫
千赫
分机。 2.5 V REF
分机。 2.5 V REF
± 10 V范围
± 10 V范围
0 V至5 V , 0 V至24 V范围
0 V至5 V , 0 V至24 V范围
2.2 μF电容CAP
4.75 V < V
S
< +5.25 V
-3
±0.5
1
±8
-10
±0.5
3
-3
±0.5
1
±8
-0.5
±0.5
10
-5
±0.5
3
-0.5
±7
0.5
-0.25
±0.5
5
噪音
(2)
测试条件
ADS8507I
-2
15
0.8
±0.2
0.5
-0.25
±5
0.25
典型值
最大
3
-1
16
0.8
±0.1
0.25
ADS8507IB
典型值
最大
1.5
单位
最低位
最低位
%
%
PPM /°C的
%
PPM /°C的
mV
PPM /°C的
mV
PPM /°C的
ms
最低位
(2)
(3)
(4)
(5)
(6)
(7)
(8)
(9)
在最坏的情况下过渡的典型均方根噪声。
作为测量用固定电阻器,见
图43 。
调节到零与外部的电位器。
满量程误差 - 全规模还是从理想的第一和最后一个代码转换+全尺寸修剪差,除以最糟糕的情况下,
过渡电压(不是由满量程范围划分),并且包括偏移误差的影响。
作为测量用固定电阻器,见
图43 。
调节到零与外部的电位器。
这是时间延迟后, ADS8507是带出掉电模式,直到所有的内部发生沉降和模拟输入
后天额定精度。这种延迟后Convert命令将产生准确的结果。
以dB为单位,所有规格均参考满量程输入。
定义为满量程输入频率处信纳比(噪声+失真)降低到60分贝可用带宽。
经过2个FS输入过压恢复到指定的性能。
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3
ADS8507
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SLAS381 - 2006年12月
电气特性(续)
在T
A
= -40 ° C至85° C,F
S
= 40 kHz时, V
DIG
= V
ANA
= 5伏,并且使用内部参考和固定电阻器, (见
图43)
除非另有规定ED 。
参数
I
IH
高层次的输入电流
测试条件
V
IH
= 5 V
ADS8507I
典型值
最大
±10
ADS8507IB
典型值
最大
±10
单位
A
数字输出
数据格式 - 并行16位中的2-字节
数据编码 - 串行二进制2S
补码或直接二进制
V
OL
V
OH
低电平输出电压
高电平输出电压
漏电流
输出电容
数字定时
总线访问时间
总线释放时间
电源
V
DIG
V
ANA
I
DIG
I
ANA
数字电压
模拟电压
数字电流
模拟电流
V
ANA
= V
DIG
= 5 V,
f
S
= 40千赫
功耗
REFD高
PWRD和REFD高
温度范围
指定的性能
性能会下降
储存温度
SO
热阻( θ
JA
)
-40
-55
-65
46
85
125
150
-40
-55
-65
46
85
125
150
°C
°C
°C
° C / W
必须是
V
ANA
4.75
4.75
5
5
0.6
4.2
24
20
50
30
5.25
5.25
4.75
4.75
5
5
0.6
4.2
24
20
50
30
5.25
5.25
V
V
mA
mA
mW
mW
W
R
L
= 3.3 kΩ的,C
L
= 50 pF的
R
L
= 3.3 kΩ的,C
L
= 10 pF的
83
83
83
83
ns
ns
I
SINK
= 1.6毫安
I
来源
= 500 A
高阻态,
V
OUT
= 0 V到V
DIG
高阻态
4
±5
15
0.4
4
±5
15
0.4
V
V
A
pF
设备信息
R1IN
1
AGND1
2
R2IN
3
4
REF
5
AGND2
6
SB / BTC
7
EXT / INT
8
D7
9
D6
10
D5
11
D4
12
D3
13
DGND
14
ADS8507
28
VDIG
27
V
ANA
26
REFD
25
PWRD
24
23
CS
22
的R / C
21
字节
20
标签
19
SDATA
18
DATACLK
17
D0
16
D1
15
D2
4
提交文档反馈
ADS8507
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SLAS381 - 2006年12月
设备信息(续)
终端功能
终奌站
1
2
3
4
5
6
7
8
名字
R1
IN
AGND1
R2
IN
REF
AGND2
SB / BTC
EXT / INT
I
I
数字
I / O
模拟输入。
模拟感应地面。内部使用的接地参考点。最小电流
模拟输入。
基准缓冲输出。 2.2 μF的钽电容到地。
基准输入/输出。输出内部2.5 V基准电压源。也可以由外部系统驱动
参考。在这两种情况下,旁路至地, 2.2 μF钽电容。
模拟地
选择标准二进制或二进制补2秒输出数据格式。如果高,数据被输出在一个
直接二进制格式。如果低,数据是二进制的补码格式输出。
选择外部/内部数据时钟用于传输数据。如果高电平时,数据输出同步
上DATACLK时钟输入。如果低,一个转换命令开始数据的传输
从以前的转换,连同16个时钟脉冲上DATACLK输出。
数据位7 ,如果BYTE高。数据15位(MSB ) ,如果字节是低的。高阻当CS为高电平和/或R / C是
低。使用串行输出时不连接。
数据位6 ,如果BYTE高。数据位14 ,如果BYTE低。高阻当CS为高电平和/或R / C为低。
数据位5 ,如果BYTE高。数据位13 ,如果BYTE低。高阻当CS为高电平和/或R / C为低。
数据位4 ,如果BYTE高。数据位12 ,如果BYTE低。高阻当CS为高电平和/或R / C为低。
数据位3 ,如果BYTE高。数据位11 ,如果BYTE低。高阻当CS为高电平和/或R / C为低。
数字地
O
O
O
I / O
数据位2 ,如果BYTE高。数据位10 ,如果BYTE低。高阻当CS为高电平和/或R / C为低。
数据位1 ,如果BYTE高。数据位9 ,如果BYTE低。高阻当CS为高电平和/或R / C为低。
数据位0 ( LSB ) ,如果BYTE高。数据位8 ,如果字节是低的。高阻当CS为高电平和/或R / C是
低。
输入或取决于EXT / INT电平的输出。输出数据被同步到该
时钟。如果EXT / INT为低电平时, DATACLK发射16个脉冲每次转换后,再遗体
低转换之间。
串行数据输出。数据同步时钟保持一致,与由水平决定的格式
SB / BTC 。在外部时钟模式下,后16位的数据,该ADC输出的电平输入
TAG只要CS为低, R / C为高。如果EXT / INT为低电平时,数据在上升沿和有效
DATACLK下降的边缘,并转换之间SDATA停留在TAG输入电平
当转换被启动。
标签输入的外部时钟模式下使用。如果EXT为高时,从标签的数字数据的输入输出
上带有延时是依赖于外部时钟模式数据。
选择8最显著位(低电平)或8至少显著位(高电平)上并行输出管脚。
读/转换输入。在CS为低电平,上的R / C的下降沿使内部采样和保持成
保持状态,并开始转换。当EXT / INT为低,这也引发了传输
从以前的数据转换的结果。
内部OR操作与R / C 。如果R / C为低,在CS下降沿启动一次新的转换。如果
EXT / INT为低,这同样下降沿将开始从串行数据的结果发送
前一次转换。
在转换开始时, BUSY变为低电平,并保持低电平直到转换完成,
数字输出已更新。
掉电输入。如果高,转换被禁止,功耗显著
减少。结果从先前的转换被保持在输出的移位寄存器。
REFD高关闭内部参考。外部参考将需要
转换。
模拟电源。名义上+5 V.去耦用0.1μF的陶瓷电容和10 μF的钽电容。
数字电源。名义上+5 V.直接连接到引脚27必须
V
ANA
.
描述
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
D7
D6
D5
D4
D3
DGND
D2
D1
D0
DATACLK
O
O
O
O
O
19
SDATA
O
20
21
22
标签
字节
的R / C
I
I
I
23
CS
I
24
25
26
27
28
PWRD
REFD
V
ANA
V
DIG
O
I
I
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