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位置:首页 > IC型号导航 > 首字符A型号页 > 首字符A的型号第1132页 > ADF4217
a
特点
ADF4216 : 550兆赫/ 1.2 GHz的
ADF4217 : 550兆赫/ 2.0 GHz的
ADF4218 : 550兆赫/ 2.5 GHz的
2.7 V至5.5 V电源供电
可选的电荷泵电流
可选双模预分频器
IF : 8/9或16/17
RF : 32/33或64/65
3线串行接口
掉电模式
双射频锁相环频率合成器
ADF4216/ADF4217/ADF4218
概述
应用
无线手机( GSM , PCS , DCS , CDMA , WCDMA )
基地台的无线电台(GSM, PCS ,DCS,
CDMA,WCDMA )
无线局域网
通信测试设备
有线电视设备
该ADF4216 / ADF4217 / ADF4218是双频synthe-
大小测定器,可用于实现本地振荡器(LO )的
无线的上变频和下变频部分
接收机和发射机。它们可以提供本振为
在RF和IF部分。它们由一个低噪声数字PFD的
(相位频率检测器) ,精密电荷泵,一个亲
可编程参考分频器,可编程A和B计数器,
和一个双模前置分频器(P / P + 1) 。在A( 6位)和B
(11位)计数器,在结合双模预分频器
(P / P + 1 ) ,实现N分频器(N = BP + A) 。此外,
14位参考分频器(R计数器)允许选择
REFIN频率在PFD输入端。一个完整的PLL(相位
锁定环)可以被实现,如果合成是
与外部环路滤波器和压控振荡器(电压的转换使用
受控振荡器) 。
所有片内寄存器均通过简单的3线接口。
该器件具有从2.7 V的电源电压
至5.5 V和可以关断不使用的时候。
功能框图
V
DD
1
V
DD
2
V
P
1
V
P
2
N = BP + A
11位IF
B- COUNTER
IF
IN
A
IF
IN
B
IF
预分频器
6位中频
A- COUNTER
ADF4216/ADF4217/ADF4218
比较
收费
IF
LOCK
检测
CP
IF
REF
IN
振荡器
14位IF
R- COUNTER
产量
MUX
22-BIT
数据
注册
SDOUT
MUXOUT
时钟
数据
LE
14位IF
R- COUNTER
N = BP + A
11位射频
B- COUNTER
RF
IN
A
RF
IN
B
RF
预分频器
6位射频
A- COUNTER
RF
LOCK
检测
收费
比较
CP
RF
DGND
RF
AGND
RF
DGND
IF
DGND
IF
AGND
IF
第0版
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可靠的。但是,没有责任承担由Analog Devices其
使用,也不对第三方专利或其他权利的任何侵犯
这可能是由于它的使用。没有获发牌照以暗示或
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一个技术的方式, P.O. 9106箱,诺伍德,MA 02062-9106 , U.S.A.
联系电话: 781 / 329-4700
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传真: 781 / 326-8703
ADI公司, 2000
(V 1 = V 2 =
ADF4216/ADF4217/ADF4218–SPECIFICATIONS
另有说明。 ) 3伏
V 1,V 2 V 1,V 2 6.0伏; AGND = DGND = AGND = DGND = 0 V ; T =到T ,除非
DD
DD
DD
DD
P
P
RF
RF
IF
IF
A
最大
1
10%, 5 V
10%;
P
ARAMETER
RF / IF特性( 3 V )
RF输入频率( RF
IN
)
ADF4216
ADF4217
ADF4218
IF输入频率( IF
IN
)
RF输入灵敏度
IF输入灵敏度
最大允许
预分频器输出频率
3
RF / IF特性( 5 V )
RF输入频率( RF
IN
)
ADF4216
ADF4217
ADF4218
IF输入频率( IF
IN
)
RF输入灵敏度
IF输入灵敏度
最大允许
预分频器输出频率
3
REFIN特性
REFIN输入频率
REFIN输入灵敏度
4
REFIN输入电容
REFIN输入电流
相位检测器
鉴相器频率
5
电荷泵
I
CP
吸入/源
高价值
低价值
绝对精度
I
CP
三态泄漏电流
漏极和源极电流匹配
I
CP
与V
CP
I
CP
与温度的关系
逻辑输入
V
INH
,输入高电压
V
INL
,输入低电压
I
INH
/I
INL
,输入电流
C
IN
,输入电容
振荡器输入电流
逻辑输出
V
OH
,输出电压高
V
OL
,输出低电压
电源
V
DD
1
V
DD
2
V
P
B版本
B芯片
2
单位
测试条件/评论
参见图3为输入电路。
对于较低频率的操作(下面将
起码说明)使用的方波来源。
0.2/1.2
0.2/2.0
0.5/2.5
45/550
–15/+4
–10/+4
165
0.2/1.2
0.2/2.0
0.5/2.5
45/550
–15/+4
–10/+4
165
GHz的最小/最大
GHz的最小/最大
GHz的最小/最大
MHz的最小/最大
dBm的最小/最大
dBm的最小/最大
兆赫最大
0.2/1.2
0.2/2.0
0.5/2.5
25/550
–15/+4
–10/+4
200
5/40
0.5
10
±
100
40
0.2/1.2
0.2/2.0
0.5/2.5
25/550
–15/+4
–10/+4
200
5/40
0.5
10
±
100
40
GHz的最小/最大
GHz的最小/最大
GHz的最小/最大
MHz的最小/最大
dBm的最小/最大
dBm的最小/最大
兆赫最大
MHz的最小/最大
V P-P分
pF的最大
A
最大
兆赫最大
参见图3为输入电路。
对于较低频率的操作(下面将
起码说明)使用的方波来源。
对于f < 5兆赫,采用直流耦合方波
( 0至V
DD
).
交流耦合。当直流耦合:
0到V
DD
MAX( CMOS兼容)
4.5
1.125
1
1
1
10
10
0.8
×
V
DD
0.2
×
V
DD
±
1
10
±
100
V
DD
– 0.4
0.4
2.7/5.5
V
DD
1
V
DD
1/6.0
4.5
1.125
1
1
1
10
10
0.8
×
V
DD
0.2
×
V
DD
±
1
10
±
100
V
DD
– 0.4
0.4
2.7/5.5
V
DD
1
V
DD
1/6.0
毫安(典型值)
毫安(典型值)
% (典型值)
nA的典型值
% (典型值)
%最大
% (典型值)
V分钟
V最大
A
最大
pF的最大
A
最大
V分钟
V最大
V MIN / V最大
V MIN / V最大
0.5 V V
CP
V
CP
= V
P
/2
V
P
– 0.5 V
I
OH
= 500
A
I
OL
= 500
A
AV
DD
V
P
6.0 V
–2–
第0版
ADF4216/ADF4217/ADF4218
参数
电源供应器(续)
I
DD
( RF + IF )
6
ADF4216
ADF4217
ADF4218
I
DD
( RF只)
ADF4216
ADF4217
ADF4218
I
DD
(如果只有)
ADF4216
ADF4217
ADF4218
I
P
(I
P
1 + I
P
2)
低功耗休眠模式
噪声特性
相位噪声层
7
相位噪声性能
8
ADF4216 , ADF4217 , ADF4218 ( IF)的
9
ADF4216 ( RF ) : 900 MHz输出
10
ADF4217 ( RF ) : 900 MHz输出
10
ADF4218 ( RF ) : 900 MHz输出
10
ADF4216 ( RF ) : 836 MHz输出
11
ADF4217 ( RF ) : 1750 MHz输出
12
ADF4217 ( RF ) : 1750 MHz输出
13
ADF4218 ( RF ) :1960 MHz输出
14
杂散信号
ADF4216 ADF4217 , ADF4218 ( IF)的
9
ADF4216 ( RF ) : 900 MHz输出
10
ADF4217 ( RF ) : 900 MHz输出
10
ADF4218 ( RF ) : 900 MHz输出
10
ADF4216 ( RF ) : 836 MHz输出
11
ADF4217 ( RF ) : 1750 MHz输出
12
ADF4217 ( RF ) : 1750 MHz输出
13
ADF4218 ( RF ) :1960 MHz输出
14
B版本
B芯片
2
单位
测试条件/评论
见TPC 22和23 TPC
9.0毫安典型的V
DD
= 3 V和T
A
= 25°C
12毫安典型的V
DD
= 3 V和T
A
= 25°C
14毫安典型的V
DD
= 3 V和T
A
= 25°C
5.0毫安典型的V
DD
= 3 V和T
A
= 25°C
7.0毫安典型的V
DD
= 3 V和T
A
= 25°C
9.0毫安典型的V
DD
= 3 V和T
A
= 25°C
4.5毫安典型的V
DD
= 3 V和T
A
= 25°C
4.5毫安典型的V
DD
= 3 V和T
A
= 25°C
4.5毫安典型的V
DD
= 3 V和T
A
= 25°C
T
A
= 25°C
0.5
A
典型
@ 25 kHz的PFD频率
@ 200kHz的PFD频率
@ VCO输出
@ 1 kHz偏置和200kHz的PFD频率
@ 1 kHz偏置和200kHz的PFD频率
@ 1 kHz偏置和200kHz的PFD频率
@ 1 kHz偏置和200kHz的PFD频率
@ 300 Hz的偏移和30kHz的PFD频率
@ 1 kHz偏置和200kHz的PFD频率
@ 200 Hz的偏移和10kHz的PFD频率
@ 1 kHz偏置和200kHz的PFD频率
@ 200千赫/ 400 kHz和200 kHz的PFD频率
@ 200千赫/ 400 kHz和200 kHz的PFD频率
@ 200千赫/ 400 kHz和200 kHz的PFD频率
@ 200千赫/ 400 kHz和200 kHz的PFD频率
@ 30千赫/ 60 kHz到30 kHz PFD频率
@ 200千赫/ 400 kHz和200 kHz的PFD频率
@ 10千赫/ 20 kHz和10 kHz的PFD频率
@ 200千赫/ 400 kHz和200 kHz的PFD频率
18
21
25
10
14
18
9
9
9
0.6
5
–171
–164
–91
–87
–88
–90
–78
–85
–66
–84
–97/–106
–98/–106
–91/–100
–80/–84
–80/–84
–88/–90
–65/–73
–80/–84
9
12
14
5
7
9
4.5
4.5
4.5
0.6
5
–171
–164
–91
–87
–88
–90
–78
–85
–66
–84
–97/–106
–98/–106
–91/–100
–80/–84
–80/–84
–88/–90
–65/–73
–80/–84
最大mA
最大mA
最大mA
最大mA
最大mA
最大mA
最大mA
最大mA
最大mA
最大mA
A
最大
dBc的/赫兹(典型值)
dBc的/赫兹(典型值)
dBc的/赫兹(典型值)
dBc的/赫兹(典型值)
dBc的/赫兹(典型值)
dBc的/赫兹(典型值)
dBc的/赫兹(典型值)
dBc的/赫兹(典型值)
dBc的/赫兹(典型值)
dBc的/赫兹(典型值)
dB典型值
dB典型值
dB典型值
dB典型值
dB典型值
dB典型值
dB典型值
dB典型值
笔记
1
工作温度范围如下: B版本: -40 ° C至+ 85°C 。
2
在B芯片特定网络阳离子给出的典型值。
3
这是CMOS计数器的最高工作频率。的分频器值的选择应确保该IF / RF输入被分频为频率为
超过此值以下。
4
V
DD
1 = V
DD
2 = 3 V ;对于V
DD
1 = V
DD
2 = 5 V ,采用CMOS兼容电平。
5
通过设计保证。样品测试,以确保合规性。
6
P = 16 ; RF
IN
= 900 MHz的; IF
IN
= 540兆赫。
7
该合成器的相位噪声基底估计通过测量带内相位噪声的VCO的输出中减去上20 logN (N为N分频器值)。
8
相位噪声测量与EVAL- ADF421XEB1评估板和HP8562E频谱分析仪。频谱分析仪提供了REFIN为
合成器(F
REFOUT
= 10 MHz的@ 0 dBm的) 。
9
f
REFIN
= 10 MHz的; F
PFD
= 200千赫;偏移频率= 1千赫; F
IF
= 540 MHz的; N = 2700 ;环路B / W = 20千赫。
10
f
REFIN
= 10 MHz的; F
PFD
= 200千赫;偏移频率= 1千赫; F
RF
= 900 MHz的; N = 4500 ;环路B / W = 20千赫。
11
f
REFIN
= 10 MHz的; F
PFD
= 30千赫;偏移频率= 300赫兹; F
RF
= 836 MHz的; N = 27867 ;环路B / W = 3千赫。
12
f
REFIN
= 10 MHz的; F
PFD
= 200千赫;偏移频率= 1千赫; F
RF
= 1750 MHz的; N = 8750 ;环路B / W = 20千赫。
13
f
REFIN
= 10 MHz的; F
PFD
= 10千赫;偏移频率= 200赫兹; F
RF
= 1750 MHz的; N = 175000 ;环的B / W = 1千赫。
14
f
REFIN
= 10 MHz的; F
PFD
= 200千赫;偏移频率= 1千赫; F
RF
= 1960 MHz的; N = 9800 ;环路B / W = 20千赫。
特定网络阳离子如有更改,恕不另行通知。
第0版
–3–
ADF4216/ADF4217/ADF4218
时序特性
参数
t
1
t
2
t
3
t
4
t
5
t
6
在极限
T
给T
最大
(B版)
10
10
25
25
10
20
(V
DD
1 = V
DD
2 = 3 V 10%, 5 V 10%; V
P
1, V
P
2 = V
DD
, 5 V
T
A
= T
给T
最大
除非另有说明)。
10% ; AGND = DGND = 0 V ;
单位
ns(最小值)
ns(最小值)
ns(最小值)
ns(最小值)
ns(最小值)
ns(最小值)
测试条件/评论
数据时钟的建立时间
数据时钟保持时间
时钟高时间
时钟低电平持续时间
时钟到LE建立时间
LE脉宽
笔记
通过设计保证,但未经生产测试。
改变特定网络阳离子恕不另行通知。
t
3
时钟
t
4
t
1
数据
DB21 (MSB)
DB20
t
2
DB2
DB1
(控制位C2 )
DB0 ( LSB )
(控制位C1 )
t
6
LE
LE
t
5
图1.时序图
绝对最大额定值
1, 2
(T
A
= 25 ° C除非另有说明)
V
DD
1至GND
3
。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 -0.3 V至+7 V
V
DD
1至V
DD
2 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 -0.3 V至+0.3 V
V
P
1, V
P
2至GND 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 -0.3 V至+7 V
V
P
1, V
P
2至V
DD
1 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 -0.3 V至+5.5 V
数字I / O电压为GND 。 。 。 。 。 。 -0.3 V到DV
DD
+ 0.3 V
模拟量I / O电压为GND 。 。 。 。 。 。 。 。 。 0.3 V到V
P
+ 0.3 V
REF
IN
中,Rf
IN
A, RF
IN
B,
IF
IN
A, IF
IN
B至GND 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 0.3 V到V
DD
+ 0.3 V
工作温度范围
工业(B版) 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 -40∞C至+ 85∞C
存储温度范围。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 -65∞C至+ 150∞C
最高结温。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 150℃
TSSOP
θ
JA
热阻抗。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 150.4∞C / W
焊接温度,焊接
气相(60秒) 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 215℃
红外( 15秒) 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 220℃
笔记
1
注意,超出上述绝对最大额定值可能会导致perma-
新界东北损坏设备。这是一个压力只有额定值。的功能操作
器件在这些或以上的运作中列出的任何其他条件
本规范的部分将得不到保证。暴露在绝对最大额定值
长时间条件下可能影响器件的可靠性。
2
这个装置是用的ESD额定值的高性能射频集成电路
< 2千伏,它是ESD敏感。适当的预防措施应采取的处理
和组装。
3
GND = AGND = DGND = 0V。
晶体管数量
11749 (CMOS)和522 (双极) 。
订购指南
模型
ADF4216BRU
ADF4217BRU
ADF4218BRU
温度范围
-40 ° C至+ 85°C
-40 ° C至+ 85°C
-40 ° C至+ 85°C
包装说明
超薄紧缩小型封装( TSSOP )
超薄紧缩小型封装( TSSOP )
超薄紧缩小型封装( TSSOP )
封装选项*
RU-20
RU-20
RU-20
*联系方式
该工厂的芯片的可用性。
小心
ESD (静电放电)敏感器件。静电荷高达4000 V容易
积聚在人体和测试设备,可排出而不被发现。虽然
该ADF4216 / ADF4217 / ADF4218具有专用ESD保护电路,永久
破坏可能发生在经受高能量静电放电设备。因此,适当的
ESD预防措施建议,以避免性能下降或功能丧失。
警告!
ESD敏感器件
–4–
第0版
ADF4216/ADF4217/ADF4218
引脚功能描述
引脚编号引脚
1
V
DD
1
功能
正电源的RF部分。去耦电容到模拟地平面应
放置在尽可能靠近此引脚。 V
DD
1应介于2.7 V和5.5 V V值
DD
1必须
具有相同的电势为V
DD
2.
电源为RF电荷泵。这应该是大于或等于V
DD
.
输出从RF电荷泵。如果启用此规定
±
I
CP
到外部环路滤波器,其在
又驱动外部VCO 。
接地引脚的RF数字电路。
输入到RF预分频器。这个低电平输入信号通常是交流耦合至所述外部VCO 。
互补输入到RF预分频器。这点应该去耦至地平面以小
旁路电容,通常为100 pF的。
接地引脚的RF模拟电路。
参考输入。这是一个CMOS输入用作为V的标称阈值
DD
/ 2和等效输入电阻
tance 100千欧的。该输入可以被驱动从一个TTL或CMOS晶体振荡器,或者它可以是交流耦合的。
接地引脚为数字IF (接口和控制电路) 。
该多路输出允许使用的IF / RF锁定检测,在缩放RF或缩放参考频
在外部访问的昆西。见表五。
串行时钟输入。此串行时钟用于时钟的串行数据到寄存器。该数据被锁存
成22位的移位寄存器,在CLK的上升沿。这个输入是高阻抗CMOS输入。
串行数据输入。串行数据被加载的MSB音响首先用两个LSB被控制位。该输入是
高阻抗CMOS输入。
负荷启用, CMOS输入。当LE变为高电平时,存储在移位寄存器中的数据被加载到一个
四个锁存器,使用控制比特被选择的锁存器。
接地引脚为中频模拟电路。
互补输入到IF预分频器。这点应该去耦至地平面以小
旁路电容,通常为100 pF的。
输入到IF预分频器。这个低电平输入信号通常是交流耦合至所述外部VCO 。
接地引脚的中频数字,接口和控制电路。
输出从IF电荷泵。如果启用此规定
±
I
CP
外部环路滤波器,这又是
驱动外部VCO 。
电源为IF电荷泵。这应该是大于或等于V
DD
.
正电源为IF ,接口,和振荡器部分。去耦电容的模拟
地平面应放置在尽可能靠近此引脚。 V
DD
2应具有2.7 V的值
和5.5 V V
DD
2必须具有相同的电势为V
DD
1.
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
V
P
1
CP
RF
DGND
RF
RF
IN
A
RF
IN
B
AGND
RF
REF
IN
DGND
IF
MUXOUT
CLK
数据
LE
AGND
IF
IF
IN
B
IF
IN
A
DGND
IF
CP
IF
V
P
2
V
DD
2
引脚配置
V
DD
1
1
V
P
1
2
CP
RF
3
20
V
DD
2
19
V
P
2
18
CP
IF
DGND
RF 4
RF
IN
A
5
RF
IN
B
6
AGND
RF 7
REF
在8
DGND
IF
9
TSSOP
17
DGND
IF
16
IF
IN
A
15
ADF4216/
ADF4217/
ADF4218
IF
IN
B
14
AGND
IF
13
LE
12
数据
11
CLK
MUXOUT
10
第0版
–5–
a
特点
ADF4216 : 550兆赫/ 1.2 GHz的
ADF4217 : 550兆赫/ 2.0 GHz的
ADF4218 : 550兆赫/ 2.5 GHz的
2.7 V至5.5 V电源供电
可选的电荷泵电流
可选双模预分频器
IF : 8/9或16/17
RF : 32/33或64/65
3线串行接口
掉电模式
双射频锁相环频率合成器
ADF4216/ADF4217/ADF4218
概述
应用
无线手机( GSM , PCS , DCS , CDMA , WCDMA )
基地台的无线电台(GSM, PCS ,DCS,
CDMA,WCDMA )
无线局域网
通信测试设备
有线电视设备
该ADF4216 / ADF4217 / ADF4218是双频synthe-
大小测定器,可用于实现本地振荡器(LO )的
无线的上变频和下变频部分
接收机和发射机。它们可以提供本振为
在RF和IF部分。它们由一个低噪声数字PFD的
(相位频率检测器) ,精密电荷泵,一个亲
可编程参考分频器,可编程A和B计数器,
和一个双模前置分频器(P / P + 1) 。在A( 6位)和B
(11位)计数器,在结合双模预分频器
(P / P + 1 ) ,实现N分频器(N = BP + A) 。此外,
14位参考分频器(R计数器)允许选择
REFIN频率在PFD输入端。一个完整的PLL(相位
锁定环)可以被实现,如果合成是
与外部环路滤波器和压控振荡器(电压的转换使用
受控振荡器) 。
所有片内寄存器均通过简单的3线接口。
该器件具有从2.7 V的电源电压
至5.5 V和可以关断不使用的时候。
功能框图
V
DD
1
V
DD
2
V
P
1
V
P
2
N = BP + A
11位IF
B- COUNTER
IF
IN
A
IF
IN
B
IF
预分频器
6位中频
A- COUNTER
ADF4216/ADF4217/ADF4218
比较
收费
IF
LOCK
检测
CP
IF
REF
IN
振荡器
14位IF
R- COUNTER
产量
MUX
22-BIT
数据
注册
SDOUT
MUXOUT
时钟
数据
LE
14位IF
R- COUNTER
N = BP + A
11位射频
B- COUNTER
RF
IN
A
RF
IN
B
RF
预分频器
6位射频
A- COUNTER
RF
LOCK
检测
收费
比较
CP
RF
DGND
RF
AGND
RF
DGND
IF
DGND
IF
AGND
IF
第0版
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可靠的。但是,没有责任承担由Analog Devices其
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这可能是由于它的使用。没有获发牌照以暗示或
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传真: 781 / 326-8703
ADI公司, 2000
(V 1 = V 2 =
ADF4216/ADF4217/ADF4218–SPECIFICATIONS
另有说明。 ) 3伏
V 1,V 2 V 1,V 2 6.0伏; AGND = DGND = AGND = DGND = 0 V ; T =到T ,除非
DD
DD
DD
DD
P
P
RF
RF
IF
IF
A
最大
1
10%, 5 V
10%;
P
ARAMETER
RF / IF特性( 3 V )
RF输入频率( RF
IN
)
ADF4216
ADF4217
ADF4218
IF输入频率( IF
IN
)
RF输入灵敏度
IF输入灵敏度
最大允许
预分频器输出频率
3
RF / IF特性( 5 V )
RF输入频率( RF
IN
)
ADF4216
ADF4217
ADF4218
IF输入频率( IF
IN
)
RF输入灵敏度
IF输入灵敏度
最大允许
预分频器输出频率
3
REFIN特性
REFIN输入频率
REFIN输入灵敏度
4
REFIN输入电容
REFIN输入电流
相位检测器
鉴相器频率
5
电荷泵
I
CP
吸入/源
高价值
低价值
绝对精度
I
CP
三态泄漏电流
漏极和源极电流匹配
I
CP
与V
CP
I
CP
与温度的关系
逻辑输入
V
INH
,输入高电压
V
INL
,输入低电压
I
INH
/I
INL
,输入电流
C
IN
,输入电容
振荡器输入电流
逻辑输出
V
OH
,输出电压高
V
OL
,输出低电压
电源
V
DD
1
V
DD
2
V
P
B版本
B芯片
2
单位
测试条件/评论
参见图3为输入电路。
对于较低频率的操作(下面将
起码说明)使用的方波来源。
0.2/1.2
0.2/2.0
0.5/2.5
45/550
–15/+4
–10/+4
165
0.2/1.2
0.2/2.0
0.5/2.5
45/550
–15/+4
–10/+4
165
GHz的最小/最大
GHz的最小/最大
GHz的最小/最大
MHz的最小/最大
dBm的最小/最大
dBm的最小/最大
兆赫最大
0.2/1.2
0.2/2.0
0.5/2.5
25/550
–15/+4
–10/+4
200
5/40
0.5
10
±
100
40
0.2/1.2
0.2/2.0
0.5/2.5
25/550
–15/+4
–10/+4
200
5/40
0.5
10
±
100
40
GHz的最小/最大
GHz的最小/最大
GHz的最小/最大
MHz的最小/最大
dBm的最小/最大
dBm的最小/最大
兆赫最大
MHz的最小/最大
V P-P分
pF的最大
A
最大
兆赫最大
参见图3为输入电路。
对于较低频率的操作(下面将
起码说明)使用的方波来源。
对于f < 5兆赫,采用直流耦合方波
( 0至V
DD
).
交流耦合。当直流耦合:
0到V
DD
MAX( CMOS兼容)
4.5
1.125
1
1
1
10
10
0.8
×
V
DD
0.2
×
V
DD
±
1
10
±
100
V
DD
– 0.4
0.4
2.7/5.5
V
DD
1
V
DD
1/6.0
4.5
1.125
1
1
1
10
10
0.8
×
V
DD
0.2
×
V
DD
±
1
10
±
100
V
DD
– 0.4
0.4
2.7/5.5
V
DD
1
V
DD
1/6.0
毫安(典型值)
毫安(典型值)
% (典型值)
nA的典型值
% (典型值)
%最大
% (典型值)
V分钟
V最大
A
最大
pF的最大
A
最大
V分钟
V最大
V MIN / V最大
V MIN / V最大
0.5 V V
CP
V
CP
= V
P
/2
V
P
– 0.5 V
I
OH
= 500
A
I
OL
= 500
A
AV
DD
V
P
6.0 V
–2–
第0版
ADF4216/ADF4217/ADF4218
参数
电源供应器(续)
I
DD
( RF + IF )
6
ADF4216
ADF4217
ADF4218
I
DD
( RF只)
ADF4216
ADF4217
ADF4218
I
DD
(如果只有)
ADF4216
ADF4217
ADF4218
I
P
(I
P
1 + I
P
2)
低功耗休眠模式
噪声特性
相位噪声层
7
相位噪声性能
8
ADF4216 , ADF4217 , ADF4218 ( IF)的
9
ADF4216 ( RF ) : 900 MHz输出
10
ADF4217 ( RF ) : 900 MHz输出
10
ADF4218 ( RF ) : 900 MHz输出
10
ADF4216 ( RF ) : 836 MHz输出
11
ADF4217 ( RF ) : 1750 MHz输出
12
ADF4217 ( RF ) : 1750 MHz输出
13
ADF4218 ( RF ) :1960 MHz输出
14
杂散信号
ADF4216 ADF4217 , ADF4218 ( IF)的
9
ADF4216 ( RF ) : 900 MHz输出
10
ADF4217 ( RF ) : 900 MHz输出
10
ADF4218 ( RF ) : 900 MHz输出
10
ADF4216 ( RF ) : 836 MHz输出
11
ADF4217 ( RF ) : 1750 MHz输出
12
ADF4217 ( RF ) : 1750 MHz输出
13
ADF4218 ( RF ) :1960 MHz输出
14
B版本
B芯片
2
单位
测试条件/评论
见TPC 22和23 TPC
9.0毫安典型的V
DD
= 3 V和T
A
= 25°C
12毫安典型的V
DD
= 3 V和T
A
= 25°C
14毫安典型的V
DD
= 3 V和T
A
= 25°C
5.0毫安典型的V
DD
= 3 V和T
A
= 25°C
7.0毫安典型的V
DD
= 3 V和T
A
= 25°C
9.0毫安典型的V
DD
= 3 V和T
A
= 25°C
4.5毫安典型的V
DD
= 3 V和T
A
= 25°C
4.5毫安典型的V
DD
= 3 V和T
A
= 25°C
4.5毫安典型的V
DD
= 3 V和T
A
= 25°C
T
A
= 25°C
0.5
A
典型
@ 25 kHz的PFD频率
@ 200kHz的PFD频率
@ VCO输出
@ 1 kHz偏置和200kHz的PFD频率
@ 1 kHz偏置和200kHz的PFD频率
@ 1 kHz偏置和200kHz的PFD频率
@ 1 kHz偏置和200kHz的PFD频率
@ 300 Hz的偏移和30kHz的PFD频率
@ 1 kHz偏置和200kHz的PFD频率
@ 200 Hz的偏移和10kHz的PFD频率
@ 1 kHz偏置和200kHz的PFD频率
@ 200千赫/ 400 kHz和200 kHz的PFD频率
@ 200千赫/ 400 kHz和200 kHz的PFD频率
@ 200千赫/ 400 kHz和200 kHz的PFD频率
@ 200千赫/ 400 kHz和200 kHz的PFD频率
@ 30千赫/ 60 kHz到30 kHz PFD频率
@ 200千赫/ 400 kHz和200 kHz的PFD频率
@ 10千赫/ 20 kHz和10 kHz的PFD频率
@ 200千赫/ 400 kHz和200 kHz的PFD频率
18
21
25
10
14
18
9
9
9
0.6
5
–171
–164
–91
–87
–88
–90
–78
–85
–66
–84
–97/–106
–98/–106
–91/–100
–80/–84
–80/–84
–88/–90
–65/–73
–80/–84
9
12
14
5
7
9
4.5
4.5
4.5
0.6
5
–171
–164
–91
–87
–88
–90
–78
–85
–66
–84
–97/–106
–98/–106
–91/–100
–80/–84
–80/–84
–88/–90
–65/–73
–80/–84
最大mA
最大mA
最大mA
最大mA
最大mA
最大mA
最大mA
最大mA
最大mA
最大mA
A
最大
dBc的/赫兹(典型值)
dBc的/赫兹(典型值)
dBc的/赫兹(典型值)
dBc的/赫兹(典型值)
dBc的/赫兹(典型值)
dBc的/赫兹(典型值)
dBc的/赫兹(典型值)
dBc的/赫兹(典型值)
dBc的/赫兹(典型值)
dBc的/赫兹(典型值)
dB典型值
dB典型值
dB典型值
dB典型值
dB典型值
dB典型值
dB典型值
dB典型值
笔记
1
工作温度范围如下: B版本: -40 ° C至+ 85°C 。
2
在B芯片特定网络阳离子给出的典型值。
3
这是CMOS计数器的最高工作频率。的分频器值的选择应确保该IF / RF输入被分频为频率为
超过此值以下。
4
V
DD
1 = V
DD
2 = 3 V ;对于V
DD
1 = V
DD
2 = 5 V ,采用CMOS兼容电平。
5
通过设计保证。样品测试,以确保合规性。
6
P = 16 ; RF
IN
= 900 MHz的; IF
IN
= 540兆赫。
7
该合成器的相位噪声基底估计通过测量带内相位噪声的VCO的输出中减去上20 logN (N为N分频器值)。
8
相位噪声测量与EVAL- ADF421XEB1评估板和HP8562E频谱分析仪。频谱分析仪提供了REFIN为
合成器(F
REFOUT
= 10 MHz的@ 0 dBm的) 。
9
f
REFIN
= 10 MHz的; F
PFD
= 200千赫;偏移频率= 1千赫; F
IF
= 540 MHz的; N = 2700 ;环路B / W = 20千赫。
10
f
REFIN
= 10 MHz的; F
PFD
= 200千赫;偏移频率= 1千赫; F
RF
= 900 MHz的; N = 4500 ;环路B / W = 20千赫。
11
f
REFIN
= 10 MHz的; F
PFD
= 30千赫;偏移频率= 300赫兹; F
RF
= 836 MHz的; N = 27867 ;环路B / W = 3千赫。
12
f
REFIN
= 10 MHz的; F
PFD
= 200千赫;偏移频率= 1千赫; F
RF
= 1750 MHz的; N = 8750 ;环路B / W = 20千赫。
13
f
REFIN
= 10 MHz的; F
PFD
= 10千赫;偏移频率= 200赫兹; F
RF
= 1750 MHz的; N = 175000 ;环的B / W = 1千赫。
14
f
REFIN
= 10 MHz的; F
PFD
= 200千赫;偏移频率= 1千赫; F
RF
= 1960 MHz的; N = 9800 ;环路B / W = 20千赫。
特定网络阳离子如有更改,恕不另行通知。
第0版
–3–
ADF4216/ADF4217/ADF4218
时序特性
参数
t
1
t
2
t
3
t
4
t
5
t
6
在极限
T
给T
最大
(B版)
10
10
25
25
10
20
(V
DD
1 = V
DD
2 = 3 V 10%, 5 V 10%; V
P
1, V
P
2 = V
DD
, 5 V
T
A
= T
给T
最大
除非另有说明)。
10% ; AGND = DGND = 0 V ;
单位
ns(最小值)
ns(最小值)
ns(最小值)
ns(最小值)
ns(最小值)
ns(最小值)
测试条件/评论
数据时钟的建立时间
数据时钟保持时间
时钟高时间
时钟低电平持续时间
时钟到LE建立时间
LE脉宽
笔记
通过设计保证,但未经生产测试。
改变特定网络阳离子恕不另行通知。
t
3
时钟
t
4
t
1
数据
DB21 (MSB)
DB20
t
2
DB2
DB1
(控制位C2 )
DB0 ( LSB )
(控制位C1 )
t
6
LE
LE
t
5
图1.时序图
绝对最大额定值
1, 2
(T
A
= 25 ° C除非另有说明)
V
DD
1至GND
3
。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 -0.3 V至+7 V
V
DD
1至V
DD
2 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 -0.3 V至+0.3 V
V
P
1, V
P
2至GND 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 -0.3 V至+7 V
V
P
1, V
P
2至V
DD
1 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 -0.3 V至+5.5 V
数字I / O电压为GND 。 。 。 。 。 。 -0.3 V到DV
DD
+ 0.3 V
模拟量I / O电压为GND 。 。 。 。 。 。 。 。 。 0.3 V到V
P
+ 0.3 V
REF
IN
中,Rf
IN
A, RF
IN
B,
IF
IN
A, IF
IN
B至GND 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 0.3 V到V
DD
+ 0.3 V
工作温度范围
工业(B版) 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 -40∞C至+ 85∞C
存储温度范围。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 -65∞C至+ 150∞C
最高结温。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 150℃
TSSOP
θ
JA
热阻抗。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 150.4∞C / W
焊接温度,焊接
气相(60秒) 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 215℃
红外( 15秒) 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 220℃
笔记
1
注意,超出上述绝对最大额定值可能会导致perma-
新界东北损坏设备。这是一个压力只有额定值。的功能操作
器件在这些或以上的运作中列出的任何其他条件
本规范的部分将得不到保证。暴露在绝对最大额定值
长时间条件下可能影响器件的可靠性。
2
这个装置是用的ESD额定值的高性能射频集成电路
< 2千伏,它是ESD敏感。适当的预防措施应采取的处理
和组装。
3
GND = AGND = DGND = 0V。
晶体管数量
11749 (CMOS)和522 (双极) 。
订购指南
模型
ADF4216BRU
ADF4217BRU
ADF4218BRU
温度范围
-40 ° C至+ 85°C
-40 ° C至+ 85°C
-40 ° C至+ 85°C
包装说明
超薄紧缩小型封装( TSSOP )
超薄紧缩小型封装( TSSOP )
超薄紧缩小型封装( TSSOP )
封装选项*
RU-20
RU-20
RU-20
*联系方式
该工厂的芯片的可用性。
小心
ESD (静电放电)敏感器件。静电荷高达4000 V容易
积聚在人体和测试设备,可排出而不被发现。虽然
该ADF4216 / ADF4217 / ADF4218具有专用ESD保护电路,永久
破坏可能发生在经受高能量静电放电设备。因此,适当的
ESD预防措施建议,以避免性能下降或功能丧失。
警告!
ESD敏感器件
–4–
第0版
ADF4216/ADF4217/ADF4218
引脚功能描述
引脚编号引脚
1
V
DD
1
功能
正电源的RF部分。去耦电容到模拟地平面应
放置在尽可能靠近此引脚。 V
DD
1应介于2.7 V和5.5 V V值
DD
1必须
具有相同的电势为V
DD
2.
电源为RF电荷泵。这应该是大于或等于V
DD
.
输出从RF电荷泵。如果启用此规定
±
I
CP
到外部环路滤波器,其在
又驱动外部VCO 。
接地引脚的RF数字电路。
输入到RF预分频器。这个低电平输入信号通常是交流耦合至所述外部VCO 。
互补输入到RF预分频器。这点应该去耦至地平面以小
旁路电容,通常为100 pF的。
接地引脚的RF模拟电路。
参考输入。这是一个CMOS输入用作为V的标称阈值
DD
/ 2和等效输入电阻
tance 100千欧的。该输入可以被驱动从一个TTL或CMOS晶体振荡器,或者它可以是交流耦合的。
接地引脚为数字IF (接口和控制电路) 。
该多路输出允许使用的IF / RF锁定检测,在缩放RF或缩放参考频
在外部访问的昆西。见表五。
串行时钟输入。此串行时钟用于时钟的串行数据到寄存器。该数据被锁存
成22位的移位寄存器,在CLK的上升沿。这个输入是高阻抗CMOS输入。
串行数据输入。串行数据被加载的MSB音响首先用两个LSB被控制位。该输入是
高阻抗CMOS输入。
负荷启用, CMOS输入。当LE变为高电平时,存储在移位寄存器中的数据被加载到一个
四个锁存器,使用控制比特被选择的锁存器。
接地引脚为中频模拟电路。
互补输入到IF预分频器。这点应该去耦至地平面以小
旁路电容,通常为100 pF的。
输入到IF预分频器。这个低电平输入信号通常是交流耦合至所述外部VCO 。
接地引脚的中频数字,接口和控制电路。
输出从IF电荷泵。如果启用此规定
±
I
CP
外部环路滤波器,这又是
驱动外部VCO 。
电源为IF电荷泵。这应该是大于或等于V
DD
.
正电源为IF ,接口,和振荡器部分。去耦电容的模拟
地平面应放置在尽可能靠近此引脚。 V
DD
2应具有2.7 V的值
和5.5 V V
DD
2必须具有相同的电势为V
DD
1.
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
V
P
1
CP
RF
DGND
RF
RF
IN
A
RF
IN
B
AGND
RF
REF
IN
DGND
IF
MUXOUT
CLK
数据
LE
AGND
IF
IF
IN
B
IF
IN
A
DGND
IF
CP
IF
V
P
2
V
DD
2
引脚配置
V
DD
1
1
V
P
1
2
CP
RF
3
20
V
DD
2
19
V
P
2
18
CP
IF
DGND
RF 4
RF
IN
A
5
RF
IN
B
6
AGND
RF 7
REF
在8
DGND
IF
9
TSSOP
17
DGND
IF
16
IF
IN
A
15
ADF4216/
ADF4217/
ADF4218
IF
IN
B
14
AGND
IF
13
LE
12
数据
11
CLK
MUXOUT
10
第0版
–5–
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