a
特点
4完整的12位D / A功能
双缓冲锁存器
所有的DAC可能同时更新
5 V输出范围
高稳定性带隙基准
整体建筑采用BiMOS
保证单调过热
3/4 LSB线性度温度范围内保证
4 s最大建立时间0.01 %
工作在12 V电源
低功耗: 720毫瓦最大包括参考
TTL / 5 V CMOS兼容逻辑输入
8位微处理器接口
24引脚PDIP和28引脚PLCC封装
V
REFOUT
+5V
2.22k
电压
参考
输入
锁存器
8 + 4位
锁存器
D7
D6
D5
D4
D3
D2
D1
D0
TTL
输入
8-BIT
公共汽车
8 + 4位
锁存器
12-BIT
LATCH
DAC
锁存器
12-BIT
LATCH
V
REFIN
四通道12位
D / A转换器
AD75004
功能框图
12-BIT
DAC
10k
V
OUT3
10k
V
OUT2
12-BIT
DAC
8 + 4位
锁存器
12-BIT
LATCH
12-BIT
DAC
10k
V
OUT1
8 + 4位
锁存器
12-BIT
LATCH
12-BIT
DAC
10k
V
OUT0
+12V
–12V
V
DD
V
SS
AGND
DGND
产品说明
控制逻辑
的AD75004包含四个完整的,电压输出,12位
数字 - 模拟转换器,一个高稳定性带隙基准
和双缓冲输入锁存器在单芯片上。该变流
器使用12位精度的高速双极性电流导引开关
和激光微调薄膜电阻网络提供快速
建立时间和较高的精度。
微处理器兼容性是由片上实现
双缓冲锁存器。输入锁存器的设计允许
直接接口的8位总线。从第一个12位数据的
锁存器的秩可以被转移到第二级,
避免产生杂散模拟输出值。闩锁
响应选通脉冲越短的50ns ,允许与使用
快速的微处理器。
在功能完备性和高性能
AD75004从先进的开关DE-的组合结果
签字时,采用BiMOS II制造工艺和成熟的激光切边
铭科技。采用BiMOS二是外延BiCMOS工艺
模拟转换器的功能进行了优化。该AD75004是
修整在晶片级和被指定给
±
1/2 LSB马克西
妈妈的线性误差在25℃和
±
3/4 LSB在整个operat-
荷兰国际集团温度范围。片上输出放大器提供
的输出范围
±
5 V ,1 LSB等于2.44毫伏。
TTL输入
AD75004
CS WR A3 A2 A1 A0
芯片上的带隙基准具有低噪音,长期
稳定性和温度漂移特性堪比
分立基准二极管。基准的绝对值是
经激光调整至5.00 V与0.6 %的最大错误。其温
漂移系数也是激光调整。
典型的满刻度增益TC为15 PPM / ℃。有保证
单调性在整个温度范围内, AD75004是
非常适用于宽温度范围内的性能。
REV 。一
信息ADI公司提供的被认为是准确和
可靠的。但是,没有责任承担由Analog Devices其
使用,也不对第三方专利或其他权利的任何侵犯
这可能是由于它的使用。没有获发牌照以暗示或
否则,在ADI公司的任何专利或专利权。
一个技术的方式, P.O. 9106箱,诺伍德,MA 02062-9106 , U.S.A.
联系电话: 617 / 329-4700
传真: 617 / 326-8703
AD75004–SPECIFICATIONS
(T = 25 ℃,
A
12.0 V电源供电,除非另有说明)
民
典型值
最大
单位
参数
数字输入( D0 - D7 , A0 -A3 ,
CS , WR )
逻辑电平( TTL兼容)
输入电压,逻辑“1”的
输入电压,逻辑“0”的
输入电流,V
IH
= 5.5 V
输入电流,V
IL
= 0.8 V
输入电容
准确性
决议
积分非线性误差
积分线性误差,T
民
给T
最大
微分线性误差
微分线性误差,T
民
给T
最大
增益(满量程)错误
1
增益误差漂移,T
民
给T
MAX1
双极性零误差
1
双极性零误差漂移,T
民
给T
MAX1
通道到通道不匹配
积分非线性误差
增益误差
1
双极性零误差
1
动态性能
建立时间
±
FSR的0.01%
对于FSR变化, 2千欧
||
500 pF负载
压摆率, 2千欧
||
500 pF负载
数字输入串扰(静态)
2
模拟输出
满量程范围( FSR )
输出电流
短路电流限制
参考电压
参考输出电压
温度COEF网络cient
参考输出电流
3
参考输入电压
参考输入电流@ 5.0 V
电源增益灵敏度
ΔGain / ΔV
DD
, V
DD
= 10.8至13.2 V DC
1
ΔGain / ΔV
SS
, V
SS
= -10.8到-13.2 V DC
1
电源要求
电压范围
电源电流
温度范围
规范
存储
符号
V
IH
V
IL
I
IH
I
IL
C
IN
2.0
0
5.5
0.8
10
10
10
12
1/2
±
3/4
3/4
V
V
A
A
pF
位
最低位
最低位
最低位
最低位
PPM /°C的
最低位
PPM /°C的
最低位
最低位
最低位
±
1/4
±
1/2
±
1/2
保证单调性
±
2
10
±
15
±
30
±
1
2
±
3
±
7
±
1/2
±
1
±
1
1
4
2
2
5
4
–50
s
V / μs的
dB
V
mA
mA
V
PPM /°C的
mA
V
mA
PPM FSR的/ %
PPM FSR的/ %
V
mA
°C
°C
V
OUT
I
OUT
±
5
±
5
40
V
REFOUT
V
REFIN
I
REFIN
4.97
3.0
4.5
5.00
±
15
5.0
5.0
5.03
±
25
5.5
3.0
25
25
13.2
30
+70
+150
±
15
±
15
V
DD
, V
SS
I
DD
, I
SS
T
民
, T
最大
10.8
±
12
±
25
0
–65
笔记
1
增益和双极零错误使用内部参考电压测量,包括它的错误。
2
数字串扰是指在任何一个输出的稳态值与任何其他输出的结果的变化从V被驱动
outmin
到V
OUTMAX
成
2 k
||
500 pF负载通过改变数字输入代码的方式。
3
内部参考电压用来驱动芯片只;如果使用的是外部缓冲一下。
4
所有的最小值和最大值的保证,并显示在规格
粗体
所有生产经营单位在最后的电气测试进行测试。从结果
这些测试被用来计算出射的质量水平。
特定网络阳离子如有更改,恕不另行通知。
–2–
REV 。一
AD75004
时序特性
1
(T
A
= +25 C,
参数
地址建立时间
地址保持时间
数据建立时间
数据保持时间
片选写建立时间
写入芯片选择保持时间
把脉冲宽度
笔记
1
定时测量参考电平是1.5V。
特定网络阳离子如有更改,恕不另行通知。
地址输入
(A0–A3)
12.0 V电源供电,除非另有说明)
符号
t
1
t
2
t
3
t
4
t
5
t
6
t
7
民
30
10
10
45
0
0
50
单位
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
真值表
控制线和地址线
CS WR
A3 A2
A1 A0
1
X
0
0
0
0
X
1
0
0
0
0
X
X
0
0
1
1
X
X
0
1
0
1
X
X
A1*
A1*
A1*
X
X
X
A0*
A0*
A0*
X
手术
无操作
无操作
8个LSB
→
一个输入锁存器
4个MSB
→
一个输入锁存器
更新一个DAC锁存器
更新所有4个DAC锁存
记
* A1和A0输入指定相关通道。
A1
t
2
A0
0
1
0
1
通道
0
1
2
3
t
1
数据输入
(D0–D7)
t
3
芯片选择
( CS )
写
(WR)
t
4
0
0
1
1
t
6
t
5
t
7
绝对最大额定值*
(T
A
= + 25 ° C除非另有说明)
民
V
DD
至DGND
V
SS
至DGND
V
DD
到V
SS
V
REFIN
到AGND
数字输入到DGND
AGND至DGND
短到AGND模拟输出
功耗
规格温度范围
储存温度
焊接温度
–0.3
–18
–0.3
–0.3
–0.3
–0.3
最大
+18
+0.3
+26.4
V
DD
V
DD
+0.3
不定
1.0
+70
+150
+300
单位
V
V
V
V
V
V
美国证券交易委员会
W
°C
°C
°C
条件
T
A
≤
75°C
焊接10秒
0
–65
*条件超过上述“绝对最大额定值”,可能对器件造成永久性损坏。这些都是强调
只有额定值和器件在这些功能操作或高于任何其他状况,在操作指示
本规范的部分将得不到保证。暴露在绝对最大额定值条件下工作会影响
器件的可靠性。
小心
ESD (静电放电)敏感器件。静电荷高达4000 V容易
积聚在人体和测试设备,可排出而不被发现。
虽然AD75004具有专用ESD保护电路,可能永久的损坏
发生在受到高能静电放电设备。因此,适当的ESD
预防措施建议,以避免性能下降或功能丧失。
警告!
ESD敏感器件
订购指南
模型
AD75004KN
AD75004KP
温度范围
0 ° C至+ 70°C
0 ° C至+ 70°C
封装选项*
N-24A
P-28A
* N =塑料DIP ; P =塑料有引线芯片载体。
REV 。一
–3–