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A5821
采用BiMOS II 8位串行输入锁存驱动器
最后一次购买
这些零件在生产,但已被确定为
最后一次购买。这种分类表明该产品是
过时,通知已发出。出售该设备是目前
受限于现有的客户应用程序。该设备不应该
购买的过时,因为在新的设计应用
不久的将来。样品将不再可用。
状态更改日期: 2005年5月2日
的截止日期最后一次购买的订单: 2005年10月28日
推荐换人:
新客户或新的应用,指的是
A6821.
注:有关购买选项的详细信息,请联系您
当地快板现场应用工程师或销售代表。
Allegro MicroSystems公司保留作出正确的,不时,修订预期的产品生命周期计划为
产品以适应变化的生产能力,替代产品的供应量,还是市场的需求。信息
此处包含被认为是准确和可靠。然而, Allegro MicroSystems公司不承担其使用不承担任何责任;也不
对第三方专利或其他权利的任何侵犯,可能导致其使用。
5821
采用BiMOS II 8位串行输入,
锁存驱动程序
双极和MOS技术的合并组合使
这些设备超出标准范围的接口灵活性
逻辑缓冲器和功率驱动器阵列。该UCN5821A和
UCN5821LW各具有一个8位CMOS移位寄存器和
CMOS控制电路, 8 CMOS数据锁存器和八个
双极性电流吸收达林顿输出驱动器。
采用BiMOS II器件具有高得多的数据输入速率比
原来采用BiMOS电路。采用5 V逻辑电源,他们将
典型地优于5兆赫。与12 V电源,
显著更高的速度而异。该CMOS输入
与标准CMOS和NMOS逻辑电平兼容。 TTL
电路可能需要使用适当的上拉电阻。通过
利用串行数据输出端,所述驱动器可以被级联为
接口应用需要附加驱动线路。
该UCN5821A都拥有一个标准的16引脚塑料
DIP ;在UCN5821LW是16引脚宽体SOIC封装的河畔
表面安装的应用程序。该UCN5821A也可用于
操作温度范围为-40 ° C至+ 85°C 。如需订购,从更改前缀
“世界环保组织”到“ UCQ ” 。
数据表
26185.12F
时钟
串行
DATA IN
逻辑
逻辑
供应
串行
数据输出
频闪
产量
启用
动力
1
2
3
4
5
6
7
8
CLK
16
15
OUT
1
OUT
2
OUT
3
OUT
4
OUT
5
OUT
6
OUT
7
OUT
8
移位寄存器
14
锁存器
V
DD
13
12
11
10
9
ST
OE
DWG 。 PP- 026A
需要注意的DIP封装和SOIC封装的
电相同的并共享公共端
数分配。
绝对最大额定值
在25
°
自由空气的温度
输出电压V
OUT
.....................
50 V
逻辑电源电压,V
DD
.............
15 V
输入电压范围,
V
IN
..................
0.3 V到V
DD
+ 0.3 V
连续输出电流,
I
OUT
.....................................
500毫安
封装功耗,P
D
封装代码“A” ..................
2.1 W
封装代码“ LW ” ...............
1.5 W
工作温度范围,
T
A
............................ -20
°
C至+ 85
°
C
存储温度范围,
T
S
.......................... -55
°
C至+150
°
C
注意: CMOS器件具有输入静态保护
但是当暴露于容易受到损伤
极高的静电电荷。
特点
s
至3.3 MHz的数据输入速率
s
CMOS , NMOS , TTL兼容
s
内部下拉电阻
s
低功耗CMOS逻辑&锁存
s
高压电流吸收输出
s
汽车有能力
通过完整的部件号总是订货,例如,
UCN5821A
.
www.allegromicro.com
5821
8位串行输入,
锁存驱动程序
典型输入电路
VDD
时钟
串行
DATA IN
逻辑
1
功能框图
V
DD
4
逻辑
供应
串行
数据输出
频闪
OUTPUT ENABLE
(低电平有效)
2
串并移位寄存器
5
3
锁存器
6
IN
7
频闪&
产量
启用
16
15
14
13
12
11
10
9
MOS
双极
8
动力
DWG 。 FP- 013A
OUT
1
OUT
2
OUT
3
OUT
4
OUT
5
OUT
6
OUT
7
OUT
8
DWG 。 EP- 010-3
注意 - 有逻辑地和电源之间的电阻不确定
地面上。对于正确的操作,这些端子必须外接
在一起。
VDD
时钟&
串行
DATA IN
IN
输出端上的数字
(I
OUT
= 200毫安
V
DD
= 12 V)
8
7
6
5
4
3
2
1
UCN5821A最大。允许的占空比
在环境温度下
25
°
C
40
°
C
50
°
C
60
°
C
70
°
C
90%
100%
100%
100%
100%
100%
100%
100%
79%
90%
100%
100%
100%
100%
100%
100%
72%
82%
96%
100%
100%
100%
100%
100%
65%
74%
86%
100%
100%
100%
100%
100%
57%
65%
76%
91%
100%
100%
100%
100%
DWG 。 EP- 010-4A
典型的输出驱动器
OUT
输出端上的数字
(I
OUT
= 200毫安
V
DD
= 12 V)
8
7
6
5
4
3
2
1
UCN5821LW最大。允许的占空比
在环境温度下
25
°
C
40
°
C
50
°
C
60
°
C
70
°
C
67%
77%
90%
100%
100%
100%
100%
100%
59%
68%
79%
95%
100%
100%
100%
100%
54%
62%
72%
86%
100%
100%
100%
100%
49%
56%
65%
78%
98%
100%
100%
100%
43%
49%
57%
68%
86%
100%
100%
100%
7.2K
3K
DWG 。编号A- 14314
115东北托夫,箱15036
马萨诸塞州伍斯特01615-0036 ( 508 ) 853-5000
版权所有 1985年, 2004年Allegro MicroSystems公司
5821
8位串行输入,
锁存驱动程序
在T电气特性
A
= +25
°
C,V
DD
= 5V (除非另有规定) 。
范围
特征
输出漏
当前
集电极 - 发射极
饱和电压
V
CE ( SAT )
符号
I
CEX
V
OUT
= 50 V
V
OUT
= 50 V ,T
A
= +70°C
I
OUT
= 100毫安
I
OUT
= 200毫安
I
OUT
= 350毫安, V
DD
= 7.0 V
输入电压
V
IN(0)
V
IN(1)
V
DD
= 12 V
V
DD
= 5.0 V
输入阻抗
r
IN
V
DD
= 12 V
V
DD
= 5.0 V
电源电流
I
DD ( ON)
一个司机,V
DD
= 12 V
一个司机,V
DD
= 10 V
一个司机,V
DD
= 5.0 V
I
DD ( OFF )
V
DD
= 5.0 V ,所有驱动器关闭时,所有输入= 0 V
V
DD
= 12 V ,所有驱动器关闭时,所有输入= 0 V
测试条件
分钟。
10.5
3.5
50
50
马克斯。
50
100
1.1
1.3
1.6
0.8
4.5
3.9
2.4
1.6
2.9
单位
A
A
V
V
V
V
V
V
k
k
mA
mA
mA
mA
mA
www.allegromicro.com
5821
8位串行输入,
锁存驱动程序
串行数据输入端存在是
传送到移位寄存器中的
逻辑“0”到逻辑“1”的跃迁
时钟输入脉冲。在随后的
时钟脉冲,寄存器的数据移位
对串行数据信息
OUTPUT。串行数据必须
之前的上升沿出现在输入
该时钟输入波形。
G
时钟
A
B
DATA IN
E
C
频闪
F
D
产量
启用
OUT
N
DWG 。编号A- 12627
时序条件
(V
DD
= 5.0 V ,T
A
= +25
°
C,逻辑电平V
DD
和地面)
A.
最小数据有效时钟脉冲之前
(数据建立时间) ........................................... ............................
75纳秒
B.
最小数据有效时间时钟脉冲后
(数据保持时间) ............................................. ..............................
75纳秒
C.
最小数据脉冲宽度.............................................. ................
150纳秒
D.
最小时钟脉冲宽度.............................................. ..............
150纳秒
E.
F.
之间的时钟激活和频闪最短时间.......................
30纳秒
最小选通脉冲宽度.............................................. .............
100纳秒
信息存在任何寄存器
传送到其各自的闩锁,当
频闪高(串行到并行CON-
版本)。该锁存器将继续
接受新的数据,只要该STROBE
保持高电平。应用场合
锁存器被旁路(频闪拉高)
将要求ENABLE输入是
串行数据输入过程中的高。
当使能输入为高电平时,所有
的输出缓冲器被禁用(OFF)的
在不影响信息存储
在锁存器或移位寄存器。与
ENABLE输入为低电平时,输出
由锁存器的状态控制。
G.
间频闪激活和典型时间
输出转换................................................ ..........................
1.0
s
真值表
串行
移位寄存器的内容
数据时钟
输入输入我
1
I
2
I
3
.............. I
8
H
L
X
H
L
R
1
R
2
.............. R
7
R
1
R
2
.............. R
7
X
X
.............. X
串行
数据选通
输出输入
R
7
R
7
R
8
X
P
8
L
H
R
1
R
2
R
3
.............. R
8
P
1
P
2
P
3
.............. P
8
X
L =低逻辑电平
H =高逻辑电平
X =无关
X
X
.............. X
L
H
P
1
P
2
P
3
..............
H H H ..............
P
8
H
锁存器的内容
I
1
I
2
I
3
.............. I
8
产量
启用
输出内容
I
1
I
2
I
3
..............
I
8
R
1
R
2
R
3
.............. R
8
X
P
1
P
2
P
3
.............. P
8
P =现状
R =以前的状态
115东北托夫,箱15036
马萨诸塞州伍斯特01615-0036 ( 508 ) 853-5000
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    A5821
    -
    -
    -
    -
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电话:13910052844(微信同步)
联系人:刘先生
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