12位A / D转换器
V
REF
AIN1
AIN2
7672
23
V
DD
V
SS
2
+
-
1
24
12位DAC
+
-
22
逐次逼近
注册
21
控制
逻辑
忙
12位锁存器
20
19
CS
三态
输出驱动器
时钟
振荡器
3
AGND
RD
18
17
CLK出
CLK IN
4
D11
11
D4
12
DGND
13
D3
16
D0
逻辑图
F
EATURES
:
12位高速A / D转换器
R
AD
-P
AK
抗辐射对自然空间辐射
化
总剂量硬度：
- > 100拉德（SI ） ，根据航天任务
卓越的单粒子效应
- SEL > 120兆电子伏/毫克/平方厘米
2
- SEU
TH
> 5.8兆电子伏/毫克/平方厘米
2
- SEU
SAT
= -1E - 4厘米
2
/设备
??包装：
- 24引脚
AD
-P
AK
扁平封装
- 24引脚
AD
-P
AK
DIP
快速转换时间：
- 7672-05: 5 s
低110 mW的典型功耗
- 纠正所有的单比特错误
- 检测所有双和部分三比特错误
高速的BiCMOS技术
- 对+ 5V的选择和+ 10V输入范围
- 工作于+ 5V和-12V电源
- 快速125 ns的总线访问时间
（ Si）的总剂量耐受性，取决于航天飞行任务。该
7672采用精确的高速DAC和比较器
实现转换时间低至5微秒，而只有消散
110毫瓦的功率。在7672被设计为具有用于
外部参考电压。这使用户可以选择一
参考其性能适合应用程序或驱动
从一个单一的系统参考多个7672s ，由于为参考
ENCE输入缓冲并消耗极小的电流。对于数字
信号处理应用中的绝对精度和
温度系数可以是不重要的，低成本为参考
EnCE的都可以使用。为了获得最佳的精度，高精度地REF-
erence哪里可以得到一个绝对的12位精度
在很宽的温度范围内都可以使用。模拟量输入
范围是引脚可选的0至+ 5V ， 0 + 10V ，± 5V ，使得
在ADC适合数据采集和模拟输入/输出
卡。一个高速数字接口（ 125毫微秒的数据访问时间）
三态数据输出与大多数微兼容
处理器。
麦克斯韦技术的专利
AD
-P
AK
封装技
术采用辐射屏蔽的微电路封装
年龄。它省去了盒屏蔽，同时提供
所需的辐射屏蔽在轨道上或空间一生
使命。在地球同步轨道上，R
AD
-P
AK
提供大于100
拉德（ Si）的辐射剂量耐受性。本产品可
与筛选来上课S.
内存
D
ESCRIPTION
:
麦克斯韦技术
' 7672高速12位模拟 -
数字转换器的微电路设有超过100拉德
转13
08.09.02
（ 858 ） 503-3300 - 传真： （ 858 ） 503-3301 - www.maxwell.com
所有数据表如有变更，恕不另行通知
1
2002麦克斯韦技术
版权所有。
12位A / D转换器
T
ABLE
4. 7672 DC ê
LECTRICAL
C
极特
(V
DD
= 5V ±5%, V
SS
= -12V ±10%, V
REF
= -5V ，T
A
= -55
TO
125 °C
除非另有说明
)
P
ARAMETER
双极性零误差
双极性增益误差
1.设计保证。
S
YMBOL
BZE
BGE
T
美东时间
C
ONDITION
T
A
= +25
°
C
T
A
= -55 + 125
°
C
T
A
= +25
°
C
T
A
= -55 + 125
°
C
S
UBGROUPS
1
2, 3
1
2, 3
M
IN
--
--
--
--
M
AX
±5
±6
±5
±7
7672
U
尼特
最低位
最低位
T
ABLE
5. 7672 T
即时通信
C
极特1,2
(V
DD
= 5V ±5%, V
SS
= -12V ±10%, V
REF
= -5V ，T
A
= -55
TO
125 °C
除非另有说明
)
P
ARAMETER
转换时间，同步CLK，
3
转换时间，异步CLK，
CS到RD建立时间
RD忙延迟
数据访问时间
4
RD脉冲宽度
CS到RD保持时间
数据建立时间BUSY4后
公交Relinguish时间
5
读操作之间的延迟
T
美东时间
C
ONDITION
12.5 CLKS ， TA = -55至+125°C
12-13 CLKS ， TA = -55至+125°C
TA = -55至+125°C
CL = 50 pF的， TA = 25 ℃，
CL = 50 pF的， TA = -55至+125°C
CL = 100 pF的， TA = 25 ℃，
CL = 100 pF的， TA = -55至+125°C
TA = -55至+125°C
TA = -55至+125°C
CL = 100 pF的， TA = 25 ℃，
CL = 100 pF的， TA = -55至+125°C
（ TA = 25 ° C）
（ -55 < TA < + 125 ° C）
（ -55 < TA < + 125 ° C）
S
UBGROUPS
9, 10, 11
9, 10, 11
9, 10, 11
9
10, 11
9
10, 11
9, 10, 11
9, 10, 11
9
10, 11
9
10, 11
9, 10, 11
S
YMBOL
在tCONV
在tCONV
t1
t2
t3
t4
t5
t6
--
t7
t8
M
IN
--
4.8
0
--
--
--
--
t3
0
--
--
--
--
200
M
AX
5.0
5.2
--
190
270
125
170
--
--
70
100
75
90
--
U
尼特
us
us
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
内存
1. 1LSB = FS / 4096 ;牛逼
A
= 25
°
℃;在电源容限性能是通过电源抑制试验保证。
2.所有输入都是0V至+ 5V摆动伴t
r
= t
r
= 5ns的（ 1090％的+ 5V）和在+ 1.6V的电压电平计时。
3.功能测试。
4. t3和t6的测量采用图1所示的负载电路和被定义为所需的输出时间跨越0.8或
+2.4.
5. t7的被定义为当加载的图2的电路来改变0.5V所需的数据线的时间。
02年9月8日REV 13
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