74ACQ657 74ACTQ657安静Series八路双向收发器，具有8位奇偶校验发生器/校验和
三态输出
1990年1月
修订后的2000年9月
74ACQ657 74ACTQ657
宁静系列
八路双向收发器
8位奇偶校验发生器/校验器和三态输出
概述
该ACQ / ACTQ657包含八个非反相缓冲器
具有三态输出和一个8位的奇偶校验发生器/
检查器。用于面向总线的应用，该器件
结合了245和280的功能在一个封装中。
该ACQ / ACTQ利用飞兆半导体静音系列
技
术，以保证安静的输出切换和改进
动态阈值的表现。 FACT安静为特色的系列
Tures的GTO
输出控制和下冲校正
除了分割接地总线或优异的性能。
特点
s
保证同步开关噪声水平和
动态阈值的表现
s
保证引脚对引脚歪斜的AC性能
s
结合了245和280功能于一体包
s
300万24引脚超薄双列直插式封装
s
输出源/汇24毫安
s
ACTQ与TTL兼容的输入
订购代码：
订单号
74ACQ657SPC
74ACTQ657SC
74ACTQ657SPC
包装数
N24C
M24B
N24C
包装说明
24引脚塑料双列直插式封装（ PDIP ） ， JEDEC MS- 001 ，宽0.300
24引脚小外形集成电路（ SOIC ） ， JEDEC MS- 013 ，宽0.300
24引脚塑料双列直插式封装（ PDIP ） ， JEDEC MS- 001 ，宽0.300
也可在磁带和卷轴装置。通过附加后缀字母“X”的订货代码指定
逻辑符号
IEEE / IEC
接线图
引脚说明
引脚名称
A
0
–A
7
B
0
–B
7
T / R
OE
奇偶
奇/偶
错误
描述
数据输入/ 3态输出
数据输入/ 3态输出
发送/接收输入
使能输入
奇偶校验输入/ 3态输出
奇/偶校验输入
错误3态输出
FACT ，安静Series ， FACT安静Series和GTO是仙童半导体公司的商标。
2000仙童半导体公司
DS010636
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74ACQ657 74ACTQ657
功能说明
发射/接收（T / R）输入确定的方向
的数据的流动通过双向收发器。
发送（高电平有效）允许数据从A端口到
B端口;接收（低电平有效）允许数据从B口
到A端口。
输出使能（ OE ）输入禁止奇偶校验和
错误输出，无论是A和B端口放置
他们当输出使能输入高阻状态
为高。
当传输（T / R HIGH ） ，奇偶发生器检测
是否为偶数或奇数在A端口的比特数是
HIGH和与奇偶校验位的状态进行比较这些
选择（奇/偶） 。如果奇偶校验选择为高和
偶数的投入高，奇偶输出
高。
在接收模式（T / R LOW ） ，奇偶校验选择和数量
口B上的高投入进行比较的情况
奇偶校验输入。如果甚至在B端口的比特数是
高电平时，奇偶选择为高电平，而奇偶校验输入是
高，那么错误将被高表示没有错误。如果一个
在B端口位的奇数高，奇偶
选择为高电平，而奇偶输入为高时，错误
就为低，指示一种误差。
功能表
数
输入，
高
0, 2, 4, 6, 8
OE
L
L
L
L
L
L
1, 3, 5, 7
L
L
L
L
L
L
非物质
H
=
高电压电平
L
=
低电压电平
X
=
非物质
Z
=
高阻抗
输入
T / R
H
H
L
L
L
L
H
H
L
L
L
L
X
奇/偶
H
L
H
H
L
L
H
L
H
H
L
L
X
输入/
产量
奇偶
H
L
H
L
H
L
L
H
H
L
H
L
Z
输出
错误
Z
Z
H
L
L
H
Z
Z
L
H
H
L
Z
输出模式
发送
发送
接受
接受
接受
接受
发送
发送
接受
接受
接受
接受
Z
H
功能表
输入
输出
OE
L
L
H
H
=
高电压电平
L
=
低电压电平
X
=
非物质
T / R
L
H
X
总线B数据总线A
总线数据总线B
高阻态
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2
74ACQ657 74ACTQ657
功能框图
请注意，该图仅用于逻辑操作的理解提供的，不应该被用来估计的传播延迟。
3
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74ACQ657 74ACTQ657
直流电气特性的ACQ
符号
V
OLV
V
IHD
V
ILD
参数
安静的输出最低
动态V
OL
最小高级别动态
输入电压
最大低电平动态
输入电压
V
CC
(V)
5.0
5.0
5.0
典型值
0.6
3.1
1.9
（续）
T
A
= 40°C
to
+85°C
保证限制
1.2
3.5
1.5
V
V
V
图1,2
（注5 ） （注6 ）
（注5 ） （注7 ）
（注5 ） （注7 ）
T
A
= +25°C
单位
条件
注2 ：
8个输出的最大负载;输入阈值与输出测试有关。
注3 ：
最大测试时间为2.0 ms ，一个输出一次加载。
注4 ：
I
IN
我
CC
@ 3.0V保证是小于或等于各自的极限@ 5.5VV
CC
.
注5 ：
DIP封装。
注6 ：
定义为（n ）输出最大数量。数据输入驱动0V至5V 。一个输出@ GND 。
注7 ：
数据输入（ N）开关的最大数量。 （ N-1 ）输入切换0V至5V （ ACQ ） 。输入被测开关： 5V阈值（V
ILD
),
0V阈值（V
IHD
) f
=
1兆赫。
直流电气特性ACTQ
符号
V
IH
V
IL
V
OH
参数
最低高层
输入电压
最大低电平
输入电压
最低高层
输出电压
V
CC
(V)
4.5
5.5
4.5
5.5
4.5
5.5
4.5
5.5
V
OL
最大低电平
输出电压
4.5
5.5
4.5
5.5
I
IN
I
OZT
I
CCT
I
老
I
OHD
V
OLP
V
OLV
V
IHD
V
ILD
最大输入漏电流
（T / R ， OE ，奇/偶输入）
最大I / O漏电流
(A
n
, B
n
输入）
我最大
CC
/输入
最小动态
输出电流（注9 ）
安静输出最大
动态V
OL
安静的输出最低
动态V
OL
最小高级别动态输入电压
最大低电平动态输入电压
5.5
5.5
5.5
5.5
5.5
5.5
5.5
5.0
5.0
5.0
5.0
1.1
0.6
1.9
1.2
8.0
1.5
1.2
2.2
0.8
0.6
1.5
75
75
80.0
0.001
0.001
T
A
= +25°C
典型值
1.5
1.5
1.5
1.5
4.49
5.49
2.0
2.0
0.8
0.8
4.4
5.4
3.86
4.86
0.1
0.1
0.36
0.36
±0.1
±0.6
T
A
= 40°C
to
+85°C
保证限制
2.0
2.0
0.8
0.8
4.4
5.4
3.76
4.76
0.1
0.1
0.44
0.44
±1.0
±6.0
A
A
mA
mA
mA
A
V
V
V
V
V
单位
V
V
V
条件
V
OUT
=
0.1V
或V
CC
0.1V
V
OUT
=
0.1V
或V
CC
0.1V
I
OUT
= 50 A
V
IN
=
V
IL
或V
IH
V
I
OH
= ?? 24毫安
I
OH
= 24
MA（注8 ）
I
OUT
=
50
A
V
IN
=
V
IL
或V
IH
V
I
OL
=
24毫安
I
OL
=
24毫安（注8）
V
I
=
V
CC
， GND
V
I
=
V
IL
, V
IH
V
O
=
V
CC
， GND
V
I
=
V
CC
2.1V
V
老
=
1.65V最大
V
OHD
=
3.85V敏
V
IN
=
V
CC
或GND
图1,2
（注10 ） （注11 ）
图1,2
（注10 ） （注11 ）
（注10 ） （注12 ）
（注10 ） （注12 ）
I
CC
（注4 ）最大静态电源电流
注8 ：
所有输出负载;输入阈值与输出测试有关。
注9 ：
最大测试时间为2.0 ms ，一个输出一次加载。
注10 ：
DIP封装。
注11 ：
定义为（n ）输出最大数量。 n-1个数据输入驱动0V到3V ;一个输出@ GND 。
注12 ：
数据输入（ N）开关的最大数量。 （ n-1个）输入切换0V到3V（ ACQ ） 。输入被测切换; 3V阈值（V
ILD
),
0V阈值（V
IHD
) f
=1
兆赫。
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