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74ABT899 9位可锁存收发器,具有奇偶校验发生器/校验器
1992年11月
修订后的1999年1月
74ABT899
9位收发器可锁存
与奇偶校验发生器/校验器
概述
该ABT899是一个9位至9位奇偶校验收发器与变压器
父锁存器。该装置可以作为一个馈通操作
收发器或者它可以生成/从8位奇偶校验
数据总线中的任一方向。
该ABT899具有独立的锁存器能够为A-
到-B方向和B对A的方向,一个选择引脚
奇/偶校验,以及独立的误差信号输出引脚
检查校验。
s
能够同时生成和校验方式
s
也可以使用在系统中的应用程序代替了
543和280
s
也可以使用在系统应用到位的
657和373 (不需要更改T / R校验方式)
s
保证输出偏斜
s
保证多路输出开关规格
s
输出开关为50 pF的规定和
250 pF的负载
s
保证同步开关噪声水平和
动态阈值的表现
s
保证闭锁保护
s
整个过程中高阻抗故障免费巴士装
上电和断电周期
s
无损热插入功能
s
禁用时间小于启用时间,以避免总线
特点
s
收发器可锁存64毫安输出片
s
选项选择生成校验和检查或
“直通式”数据/奇偶校验方向A到B或B到-A
s
独立的锁存器用于实现A到B和B到-A
方向
s
对于奇/偶校验选择引脚
s
地震署和ERRB输出引脚奇偶校验
订购代码:
订单号
74ABT899CSC
74ABT899CMSA
74ABT899CQC
包装数
M28B
MSA28
V28A
包装说明
28引脚小外形集成电路( SOIC ) , MS- 013 , 0.300 “宽体
28引脚紧缩小型封装( SSOP ) , EIAJ TYPE II , 5.3毫米宽
28引脚塑封引线芯片载体( PLCC ) , JEDEC MO- 047 , 0.450 “广场
在磁带和卷轴可用的设备也。通过附加后缀字母“X”的订货代码指定。
连接图
引脚分配
对于PLCC
引脚分配
SOIC和SSOP
1999仙童半导体公司
DS011509.prf
www.fairchildsemi.com
74ABT899
引脚说明
引脚名称
A
0
–A
7
B
0
–B
7
APAR , BPAR
奇/偶
GBA , GAB
SEL
说明
一个总线数据输入/输出数据
B总线数据输入/输出数据
A和B总线奇偶校验输入/输出
奇/偶校验选择,
低电平有效的偶校验
输出使能为A或B总线,
低电平有效
选择引脚的导通或
生成模式,低电平为生成
模式
锁存使能为A和B的锁存器,
高为透明模式
检查生成的错误信号
平价平价在,低中频错误
OCCURS
功能说明
该ABT899有三种操作模式,主要这
概述如下。这些模式适用于A到B都
和B -到-A方向。
总线A( B)进行通信,总线B( A) ,奇偶校验根儿
ated并传递到B( A)总线作为BPAR ( APAR ) 。如果
前沿消隐(LEA)为HIGH并且所述模式选择( SEL)为低时,
选自B中产生的奇偶校验[0:7 ] (A [0: 7]) ,可以检查
和ERRB ( ERRA )监测。
总线A( B)进行通信,总线B( A)的馈通
模式,如果SEL为高电平。奇偶仍然产生
检查作为ERRA和ERRB在馈通模式
(可作为一个中断信号数据/奇偶校验位
误差向CPU ) 。
独立的锁存使能( LEA和LEB)允许其他
生成/检查的排列(见功能
下面的表)。
LEA , LEB
地震署, ERRB
功能表
输入
GAB GBA SEL LEA LEB
H
H
H
H
L
L
X
L
L
X
L
H
X
H
H
总线A和B是3 -STATE 。
生成的B平价[ 0 : 7 ]基于O / E(注1 ) 。产生奇偶校验
APAR 。
产生奇偶校验核对BPAR和输出ERRB 。
生成的B平价[ 0 : 7 ]基于O / E 。产生奇偶校验
APAR 。 Gener-
ated奇偶校验核对BPAR和输出ERRB 。产生奇偶校验还
反馈通过锁存器用于生成/检查作为地震署。
从生成基于O / E B锁存数据奇偶校验。产生奇偶校验
APAR 。
产生奇偶校验核对锁定BPAR和输出ERRB 。
BPAR / B [ 0:7]
APAR / A0 : 7 ]直通模式。产生奇偶校验检查
针对BPAR并输出为ERRB 。
BPAR / B [ 0:7]
APAR / A [ 0 : 7 ]
直通模式。产生奇偶校验核对BPAR和作为输出
ERRB 。产生奇偶校验也反馈通过锁存器用于生成/检查作为
地震署。
L
L
H
H
L
L
H
H
L
H
产生奇偶校验为A [ 0 : 7 ]基于O / E 。产生奇偶校验
BPAR 。 Gener-
ated奇偶校验核对APAR并输出为地震署。
生成的奇偶校验[ 0 : 7 ]基于O / E 。产生奇偶校验
BPAR 。 Gener-
ated奇偶校验核对APAR并输出为地震署。产生奇偶校验还
反馈通过B锁存器用于生成/支票ERRB 。
从生成基于O / E A锁存数据奇偶校验。产生奇偶校验
BPAR 。
产生奇偶校验核对锁定APAR并输出为地震署。
APAR / A [ 0 : 7 ]
BPAR / B [ 0:7]
直通模式。产生奇偶校验核对APAR并作为输出
地震署。
L
H
H
H
H
APAR / A [ 0 : 7 ]
BPAR / B [ 0:7]
直通模式。产生奇偶校验核对APAR并作为输出
地震署。生成的奇偶校验也反馈通过B锁存器,用于生成/检查作为
ERRB 。
H
=
高电压电平
L
=
低电压电平
X
=
非物质
注1 :
O / E
=
奇/偶
手术
H
H
H
L
L
L
L
H
H
X
X
H
L
H
H
L
L
H
H
L
H
L
H
X
L
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2
74ABT899
功能框图
3
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74ABT899
绝对最大额定值
(注2 )
储存温度
在偏置环境温度
在偏置结温
塑料
V
CC
端子电位为
接地引脚
输入电压(注3)
输入电流(注3)
电压适用于任何输出
在禁用或电源 -
关国
在高国
目前适用于输出
在低状态(最大)
额定我两次
OL
(MA )
0.5V
to
+5.5V
0.5V
到V
CC
0.5V
to
+7.0V
0.5V
to
+7.0V
30
mA至
+5.0
mA
55°C
to
+150°C
65°C
to
+150°C
55°C
to
+125°C
直流闭锁源电流
过电压闭锁( I / O)
500
mA
10V
推荐工作
条件
自由空气环境温度
电源电压
最小输入边沿速率( ΔV / ΔT)
数据输入
使能输入
50毫伏/纳秒
20毫伏/纳秒
40°C
to
+85°C
+4.5V
to
+5.5V
注2 :
绝对最大额定值是值超出该设备
可能被损坏或有其使用寿命降低。功能操作
在这些条件下,是不是暗示。
注3 :
无论是电压限制和电流限制是足够的,以保护输入。
DC电气特性
符号
V
IH
V
IL
V
CD
V
OH
V
OL
V
ID
I
IH
I
英属维尔京群岛
I
BVIT
I
IL
参数
输入高电压
输入低电压
输入钳位二极管电压
输出高
电压
输出低电压
输入漏电流测试
输入高电流
输入高电流
击穿测试
输入高电流
击穿试验( I / O)
输入低电平电流
5
50
50
100
275
50
100
250
34
250
2.5
0.4
A
A
A
mA
A
A
A
mA
A
mA
毫安/ MHz的
最大
V
IN
=
0.5V (非I / O引脚) (注4 )
V
IN
=
0.0V (非I / O引脚)
I
IH
+
I
OZH
输出漏电流
I
IL
+
I
OZL
I
OS
I
CEX
I
ZZ
I
CCH
I
CCL
I
CCZ
I
CCT
I
CCD
输出漏电流
0V–5.5V V
OUT
=
2.7V (A
n
, B
n
);
GAB和GBA
=
2.0V
0V–5.5V V
OUT
=
0.5V (A
n
, B
n
);
GAB和GBA
=
2.0V
输出短路电流
输出高泄漏电流
公交排水试验
电源电流
电源电流
电源电流
其他我
CC
/输入
我的动态
CC
:
(注4 )
空载
最大
最大
0.0V
最大
最大
最大
最大
最大
V
OUT
=
0V (A
n
, B
n
, APAR , BPAR )
V
OUT
=
V
CC
(A
n
, B
n
, APAR , BPAR )
V
OUT
=
5.5V (A
n
, B
n
, APAR , BPAR ) ;
所有其他GND
所有输出高
所有输出低电平,地震署/ B
=
高(注5 )
输出3 -STATE所有其他在V
CC
或GND
V
I
=
V
CC
2.1V所有其他在V
CC
或GND
输出打开
GAB或GBA
=
GND , LE
=
非I / O
=
GND或V
CC
一号位切换,占空比为50%
注4 :
保证,但未经测试。
注5 :
添加3.75毫安每个ERR低。
2.0
典型值
最大
单位
V
V
CC
条件
公认的高信号
公认的低信号
0.8
1.2
2.5
2.0
0.55
4.75
5
7
100
V
V
V
V
V
A
A
A
0.0
最大
最大
最大
I
IN
= 18
MA(非I / O引脚)
I
OH
= 3
毫安, (A
n
, B
n
, APAR , BPAR )
I
OH
= 32
毫安, (A
n
, B
n
, APAR , BPAR )
I
OL
=
64毫安, (A
n
, B
n
, APAR , BPAR )
I
ID
=
1.9
A,
(非I / O引脚)
所有其他引脚接地
V
IN
=
2.7V (非I / O引脚) (注4 )
V
IN
=
V
CC
(非I / O引脚)
V
IN
=
7.0V (非I / O引脚)
V
IN
=
5.5V (A
n
, B
n
, APAR , BPAR )
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4
74ABT899
DC电气特性
( PLCC封装)
符号
V
OLP
V
OLV
V
OHV
V
IHD
V
ILD
参数
静默输出最大动态V
OL
安静的输出最低动态V
OL
最小高级别动态输出电压
最小高级别动态输入电压
最大低电平动态输入电压
1.3
2.5
2.2
典型值
0.8
0.8
3.0
1.8
0.8
0.5
最大
1.1
单位
V
V
V
V
V
V
CC
5.0
5.0
5.0
5.0
5.0
条件
C
L
=
为50 pF ,R
L
=
500
T
A
=
25 ° C(注6 )
T
A
=
25 ° C(注6 )
T
A
=
25 ° C(注8)
T
A
=
25 ° C(注7 )
T
A
=
25 ° C(注7 )
注6 :
定义为(n )输出最大数量。
1数据输入驱动0V至3V 。一个输出为低电平。保证,但未经测试。
注7 :
数据输入( N)开关最大数量。
1输入切换0V至3V 。输入被测开关: 3V阈值(V
ILD
) , 0V到阈值(Ⅴ
IHD
).
保证,但未经测试。
注8 :
定义为(n )输出最大数量。
1数据输入驱动0V至3V 。一个输出高电平。保证,但未经测试。
AC电气特性
( SOIC和PLCC封装)
T
A
= +25°C
符号
参数
t
PLH
t
PHL
t
PLH
t
PHL
t
PLH
t
PHL
t
PLH
t
PHL
t
PLH
t
PHL
t
PLH
t
PHL
t
PLH
t
PHL
t
PLH
t
PHL
t
PLH
t
PHL
t
PLH
t
PHL
t
PLH
t
PHL
t
PZH
t
PZL
t
PHZ
t
PLZ
t
PLH
t
PHL
传播延迟
A
n
,到B
n
传播延迟
A
n
, B
n
到BPAR , APAR
传播延迟
A
n
, B
n
以地震署, ERRB
传播延迟
APAR , BPAR到ERRA , ERRB
传播延迟
奇/偶到APAR , BPAR
传播延迟
奇/偶到ERRA , ERRB
传播延迟
SEL到APAR , BPAR
传播延迟
LEA , LEB到B
n
, A
n
传播延迟
LEA , LEB到BPAR , APAR
生成模式
传播延迟
LEA , LEB到BPAR , APAR ,
饲料直通模式
传播延迟
LEA , LEB到ERRA , ERRB
输出使能时间
GBA或GAB到A
n
,
APAR或B
n
, BPAR
输出禁止时间
GBA或GAB到A
n
,
APAR或B
n
, BPAR
传播延迟
APAR到BPAR , BPAR到APAR
1.5
1.5
3.3
3.8
5.4
5.4
1.5
1.5
5.4
5.4
ns
1.0
1.0
4.0
3.3
6.0
6.0
1.0
1.0
6.0
6.0
ns
1.6
1.6
1.5
1.5
5.4
5.4
3.6
3.4
8.4
8.4
6.0
6.0
1.6
1.6
1.5
1.5
8.4
8.4
6.0
6.0
ns
ns
1.5
1.5
3.6
3.6
5.1
5.1
1.5
1.5
5.1
5.1
ns
1.5
1.5
2.5
2.5
2.5
2.5
1.5
1.5
2.0
2.0
1.8
1.8
1.5
1.5
1.5
1.5
2.5
2.5
V
CC
= +5.0V
C
L
=
50 pF的
典型值
3.0
3.5
5.9
5.8
5.4
5.4
3.7
3.7
4.4
4.4
4.0
4.0
3.8
3.8
3.2
3.2
5.9
5.7
最大
4.8
4.8
9.2
9.2
8.5
8.5
6.0
6.0
6.9
6.9
6.0
6.0
6.0
6.0
4.6
4.6
8.8
8.8
1.5
1.5
2.5
2.5
2.5
2.5
1.5
1.5
2.0
2.0
1.8
1.8
1.5
1.5
1.5
1.5
2.5
2.5
T
A
= 40°C
to
+85°C
V
CC
=
4.5V–5.5V
C
L
=
50 pF的
最大
4.8
4.8
9.2
9.2
8.5
8.5
6.0
6.0
6.9
6.9
6.0
6.0
6.0
6.0
4.6
4.6
8.8
8.8
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
单位
5
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