订购数量: ENA0551
3LP04MH
P沟道MOSFET硅
3LP04MH
特点
通用开关设备
应用
1.5V驱动器。
特定网络阳离子
绝对最大额定值
在TA = 25℃
参数
漏极至源极电压
栅极 - 源极电压
漏电流( DC )
漏电流(脉冲)
允许功耗
通道温度
储存温度
符号
VDSS
VGSS
ID
IDP
PD
总胆固醇
TSTG
PW≤10μs ,值班cycle≤1 %
安装在陶瓷板( 900毫米
2
!0.8mm)
条件
评级
-
-30
±10
--200
--800
0.6
150
--55到150
单位
V
V
mA
mA
W
°C
°C
电气特性
在TA = 25℃
参数
漏极至源极击穿电压
零栅极电压漏极电流
栅极 - 源极漏电流
截止电压
正向转移导纳
静态漏 - 源极导通电阻
输入电容
输出电容
反向传输电容
导通延迟时间
上升时间
打开-O FF延迟时间
下降时间
符号
V( BR ) DSS
IDSS
IGSS
VGS (关闭)
YFS
RDS(on)1
RDS(on)2
RDS(on)3
西塞
科斯
CRSS
TD (上)
tr
TD (关闭)
tf
条件
ID = -
-1mA , VGS = 0V
VDS = - 30V , VGS = 0V
VGS = ± 8V , VDS = 0V
VDS = - 10V , ID = - 100μA
VDS = - 10V ,ID = - 百毫安
ID = -
-100mA , VGS = - 4V
ID = -
-50mA , VGS = -
-2.5V
ID = -
-10mA , VGS = -
-1.5V
VDS = - 10V , F = 1MHz的
VDS = - 10V , F = 1MHz的
VDS = - 10V , F = 1MHz的
见指定的测试电路。
见指定的测试电路。
见指定的测试电路。
见指定的测试电路。
评级
民
--30
--1
±10
--0.4
190
320
1.8
2.4
4.5
35
7.2
2.1
75
170
550
350
2.4
3.4
9.0
--1.4
典型值
最大
单位
V
A
A
V
mS
pF
pF
pF
ns
ns
ns
ns
标记: QD
接下页。
描述或包含没有规范的任何及所有三洋半导体产品
能够处理要求极高水平的可靠性,如生命支持系统的应用,
该机的控制系统或其他应用程序的故障可合理预期会导致
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最近你在这样的描述或包含usingany三洋半导体的产品在此之前,
应用程序。
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AT值超越,即使是瞬间,额定数值(例如最大额定值,工作条件
在任何产品的规格和所有三洋半导体所列范围或其他参数)
本文描述或包含的产品。
东京办事处东京大厦。 , 1-10 , 1丁目,上野,台东区,东京, 110-8534 JAPAN
N0806PE SY IM TC- 00000230号A0551-1 / 4
3LP04MH
注意使用情况:由于3LP04MH是MOSFET产品,请避免在附近使用本设备
高电荷的物体。
任何规范,并且所有三洋半导体产品描述或此处包含的规定
性能,特点和所描述的产品在独立的国家职能,
并且不保证的性能,特性和功能的产品说明
如地安装在客户的产品或设备。要验证的症状,并指出不能
在一个独立的设备进行评估,客户必须不断的评估和测试设备的安装
在客户的产品或设备。
三洋半导体有限公司努力为客户提供高品质高可靠性的产品。然而,任何
和所有的半导体产品都有一定的失效概率。这是可能的,这些概率的故障
可能引起事故或事件,危及人的生命,这可能会引起冒烟或
火,或可能造成损害的其他财产。在设计产品时,必须采用安全指标
从而就不会发生这些意外事件或事件。这些措施包括但不限于
保护电路及安全设计,多余的设计和结构设计,电路错误预防。
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