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2SK4026
东芝场效应晶体管硅N沟道MOS型( π - MOS V)
2SK4026
开关稳压器的应用
6.5±0.2
5.2±0.2
1.5±0.2
单位:mm
0.6 MAX 。
特点
导通电阻低的漏极 - 源极,R
DS ( ON)
= 6.4
Ω (典型值)。
高正向转移导纳: | Y
fs
| = 0.85 S(典型值)。
低漏电流:I
DSS
= 100
μA
(最大值) (Ⅴ
DSS
= 600 V)
增强型: V
th
= 2.0 4.0 V(V
DS
= 10 V,I
D
= 1 mA)的
0.9
1.6
5.5±0.2
1.1±0.2
4.1±0.2
5.7
0.6最大
2.3
2.3
2.3±0.2
0.6±0.15
0.6±0.15
绝对最大额定值
(大
=
25°C)
特征
漏源电压
漏,栅极电压(R
GS
=
20 kΩ)
栅源电压
漏电流
DC
脉冲
(注1 )
(注1 )
符号
V
DSS
V
DGR
V
GSS
I
D
I
DP
P
D
E
AS
I
AR
E
AR
T
ch
T
英镑
等级
600
600
±30
1
2
20
56
1
2
150
55
150
单位
V
V
V
A
W
mJ
A
mJ
°C
°C
0.8最大。
1.1最大。
JEDEC
JEITA
东芝
2-7J2B
漏极功耗(TC
=
25°C)
单脉冲雪崩能量
(注2 )
雪崩电流
重复雪崩能量(注3 )
通道温度
存储温度范围
重量:0.58克(典型值)。
注意:
重负载下连续使用(如高温/电流/电压的施加而在显著变化
温度等)可能会导致此产品的可靠性降低显著即使工作条件下(即
工作温度/电流/电压等)的绝对最大额定值。请设计适当的
经审查东芝半导体可靠性手册( “注意事项” /降级的概念和可靠性
方法)和个人可靠性数据(即可靠性测试报告和估计的故障率,等)。
热特性
特征
耐热性,信道到外壳
耐热性,信道至环境
符号
R
TH( CH-C )
R
第(章-a)的
最大
6.25
125
单位
° C / W
° C / W
注1 :确保通道温度不超过150 ℃。
注2 : V
DD
=
90 V,T
ch
=
25℃ ,L-
=
100 mH的,我
AR
=
1 A,R
G
=
25
Ω
注3 :重复评价;脉冲宽度有限的最大通道温度
此晶体管是静电感应装置。小心轻放。
1
2006-11-08
2SK4026
电气特性
(大
=
25°C)
特征
栅极漏电流
栅源击穿电压
排水截止电流
漏源击穿电压
栅极阈值电压
漏源导通电阻
正向转移导纳
输入电容
反向传输电容
输出电容
上升时间
开启时间
开关时间
下降时间
打开-O FF时间
总栅极电荷
(栅极 - 源极加上栅极 - 漏极)
栅极 - 源电荷
栅 - 漏极( “米勒” )费
t
f
t
关闭
Q
g
Q
gs
Q
gd
V
DD
400 V, V
GS
=
10 V,I
D
=
1 A
符号
I
GSS
V
( BR ) GSS
I
DSS
V
( BR ) DSS
V
th
R
DS ( ON)
Y
fs
C
国际空间站
C
RSS
C
OSS
t
r
t
on
10 V
I
D
=
0.5 A V
OUT
V
DS
=
10 V, V
GS
=
0 V,F
=
1兆赫
测试条件
V
GS
= ±25
V, V
DS
=
0 V
I
G
= ±10 μA,
V
DS
=
0 V
V
DS
=
600 V, V
GS
=
0 V
I
D
=
10毫安,V
GS
=
0 V
V
DS
=
10 V,I
D
=
1毫安
V
GS
=
10 V,I
D
=
0.5 A
V
DS
=
10 V,I
D
=
0.5 A
±30
600
2.0
0.4
典型值。
6.4
0.85
190
15
55
12
55
40
90
9
3.5
5.5
最大
±10
100
4.0
9.0
pF
单位
μA
V
μA
V
V
Ω
S
50
Ω
R
L
=
600
Ω
ns
V
GS
0V
V
DD
300 V
nC
& LT ;
1%, t
w
=
10
μs
=
源极 - 漏极二极管额定值和特性
(大
=
25°C)
特征
连续漏电流反向
脉冲漏极电流反向
二极管的正向电压
反向恢复时间
反向恢复电荷
符号
I
DR
I
DRP
V
DSF
t
rr
Q
rr
测试条件
I
DR
=
1 ,V
GS
=
0 V
I
DR
=
1 ,V
GS
=
0 V,
dI
DR
/ DT
=
100 A / μs的
典型值。
400
1.4
最大
1
2
1.7
单位
A
A
V
ns
μC
记号
K4026
产品型号(或缩写代码)
LOT号
A线指示
铅(Pb ) - 免费包或
铅(Pb ) -free完成。
2
2006-11-08
2SK4026
I
D
– V
DS
1.0
常见的来源
0.8
Tc
=
25°C
脉冲测试
8
10
6
2.0
5
1.6
10
I
D
– V
DS
6
8
5.5
5.25
1.2
常见的来源
Tc
=
25°C
脉冲测试
漏电流I
D
(A)
0.6
4.5
0.4
4.25
0.2
4
VGS
=
3.75 V
0
0
2
4
6
8
10
漏电流I
D
(A)
4.75
5
0.8
4.75
4.5
0.4
4.25
VGS
=
4 V
10
20
30
40
50
0
0
漏源电压
V
DS
(V)
漏源电压
V
DS
(V)
I
D
– V
GS
2.0
Tc
= 55°C
1.6
25
20
V
DS
– V
GS
常见的来源
V
DS
(V)
16
Tc
=
25°C
脉冲测试
漏电流I
D
(A)
100
1.2
漏源电压
12
0.8
8
ID
=
1 A
0.4
常见的来源
VDS
=
20 V
脉冲测试
4
0.5
0.25
0
0
2
4
6
8
10
0
0
4
8
12
16
20
栅源电压
V
GS
(V)
栅源电压
V
GS
(V)
Y
fs
– I
D
3
30
R
DS ( ON)
I
D
正向转移导纳
Y
fs
(S)
Tc
= 55°C
1
25
100
漏源导通电阻
R
DS ( ON)
(Ω)
10
VGS
=
10 V
0.5
0.3
常见的来源
VDS
=
20 V
脉冲测试
0.1
0.03 0.05
0.1
0.3
0.5
1
3
5
3
常见的来源
Tc
=
25°C
脉冲测试
1
0.03 0.05
0.1
0.3
0.5
1
3
漏电流I
D
(A)
漏电流I
D
(A)
3
2006-11-08
2SK4026
R
DS ( ON)
TC =
(Ω)
20
常见的来源
16
VGS
=
10 V
脉冲测试
ID
=
1 A
10
5
常见的来源
Tc
=
25°C
脉冲测试
I
DR
– V
DS
漏源导通电阻R
DS ( ON)
0.5
反向漏电流I
DR
(A)
3
0.25
12
1
0.5
0.3
8
0.1
0.05
0.03
10
3
1
0.6
VGS
=
0 V,
1
V
0.8
1.0
1.2
4
0
80
40
0
40
80
120
160
0.01
0
0.2
0.4
壳温度( ° C)
漏源电压
V
DS
(V)
电容 - V
DS
500
300
西塞
5
V
th
TC =
V
th
(V)
栅极阈值电压
4
(PF )
100
50
30
科斯
10
5共源
3 VGS
=
0 V
f
=
1兆赫
Tc
=
25°C
1
0.1
0.3 0.5
1
3
5
10
30 50
100
CRSS
电容C
3
2
常见的来源
1
VDS
=
10 V
ID
=
1毫安
脉冲测试
0
80
40
0
40
80
120
160
漏源电压
V
DS
(V)
壳温度( ° C)
P
D
TC =
50
500
动态输入/输出特性
20
常见的来源
漏极功耗P
D
(W)
V
DS
(V)
40
400
Tc
=
25°C
100
脉冲测试
16
漏源电压
200
200
VDD
=
400 V
20
8
10
100
VGS
4
0
0
40
80
120
160
200
0
0
4
8
12
16
0
20
壳温度( ° C)
总栅极电荷Q
g
( NC )
4
2006-11-08
栅源电压
30
300
12
V
GS
(V)
VDS
ID
=
1 A
2SK4026
r
th
– t
w
10
归瞬态热阻抗
r
日(T )
/R
TH( CH-C )
1
=
0.5
0.2
0.1
0.1
0.05
0.02
0.01
PDM
0.01
t
T
=
t/T
RTH ( CH-C )
=
6.25°C/W
0.001
0.00001
0.0001
0.001
0.01
0.1
1
10
单脉冲
脉冲宽度
t
w
(s)
安全工作区
10
100
E
AS
– T
ch
雪崩能量EAS (兆焦耳)
ID MAX(脉冲)
*
80
(A)
1
ID MAX(连续)
100
μs
*
1毫秒
*
60
漏极电流ID
DC锝
=
25°C
0.1
*
单一不重复的脉冲
Tc
=
25°C
曲线必须是线性降额
同的温度升高。
0.01
1
VDSS最大
10
100
1000
40
20
0
25
50
75
100
125
150
通道温度(初始)T
ch
(°C)
漏源电压
V
DS
(V)
15 V
15
V
B
VDSS
I
AR
V
DD
V
DS
波形
测试电路
R
G
=
25
Ω
V
DD
=
90 V,L
=
100毫亨
E
AS
=
Ε
1
B VDSS
L
I2
B
2
VDSS
VDD
5
2006-11-08
2SK4026
东芝场效应晶体管硅N沟道MOS型( π - MOS V)
2SK4026
开关稳压器的应用
单位:mm
6.5
±
0.2
1.5
±
0.2
特点
导通电阻低的漏极 - 源极,R
DS ( ON)
= 6.4
Ω (典型值)。
高正向转移导纳: | Y
fs
| = 0.85 S(典型值)。
低漏电流:I
DSS
= 100
μA
(最大值) (Ⅴ
DSS
= 600 V)
增强型: V
th
= 2.0 4.0 V(V
DS
= 10 V,I
D
= 1 mA)的
5.2
±
0.2
0.6 MAX 。
1.6
5.5
±
0.2
0.9
4.1
±
0.2
5.7
1.1
±
0.2
0.6 MAX 。
绝对最大额定值
(大
=
25°C)
特征
漏源电压
漏,栅极电压(R
GS
=
20 kΩ)
栅源电压
漏电流
DC
脉冲
(注1 )
(注1 )
符号
V
DSS
V
DGR
V
GSS
I
D
I
DP
P
D
E
AS
I
AR
E
AR
T
ch
T
英镑
等级
600
600
±30
1
2
20
56
1
2
150
55
150
单位
V
V
V
A
W
mJ
A
mJ
°C
°C
1.
2.
0.8最大。
1.1最大。
1
2.3
2.3
2
3
0.6
±
0.15
0.6
±
0.15
2.3
±
0.2
漏极功耗(TC
=
25°C)
单脉冲雪崩能量
(注2 )
雪崩电流
重复雪崩能量(注3 )
通道温度
存储温度范围
(HEAT
汇)
3. SOURSE
2
1
3
JEDEC
JEITA
东芝
2-7J2B
重量:0.58克(典型值)。
注:在重负载下连续使用的(如高的应用
温度/电流/电压和在显著变化
温度等)可能会导致此产品的可靠性降低显著即使操作
条件(即工作温度/电流/电压等)的绝对最大额定值。请
经审查东芝半导体可靠性手册设计适当的可靠性( “处理
注意事项“ / ”降额的概念和方法“ )和个人数据的可靠性(即可靠性试验报告,
估计的故障率,等)。
热特性
特征
耐热性,信道到外壳
耐热性,信道至环境
符号
R
TH( CH-C )
R
第(章-a)的
最大
6.25
125
单位
° C / W
° C / W
注1 :确保通道温度不超过150 ℃。
注2 : V
DD
=
90 V,T
ch
=
25℃ ,L-
=
100 mH的,我
AR
=
1 A,R
G
=
25
Ω
注3 :重复评价:脉冲宽度有限的最大通道温度
此晶体管是静电感应装置。小心轻放。
1
2009-09-29
2SK4026
电气特性
(大
=
25°C)
特征
栅极漏电流
栅源击穿电压
排水截止电流
漏源击穿电压
栅极阈值电压
漏源导通电阻
正向转移导纳
输入电容
反向传输电容
输出电容
上升时间
开启时间
开关时间
下降时间
打开-O FF时间
总栅极电荷
(栅极 - 源极加上栅极 - 漏极)
栅极 - 源电荷
栅 - 漏极( “米勒” )费
t
f
t
关闭
Q
g
Q
gs
Q
gd
V
DD
400 V, V
GS
=
10 V,I
D
=
1 A
符号
I
GSS
V
( BR ) GSS
I
DSS
V
( BR ) DSS
V
th
R
DS ( ON)
Y
fs
C
国际空间站
C
RSS
C
OSS
t
r
t
on
10 V
I
D
=
0.5 A V
OUT
V
DS
=
10 V, V
GS
=
0 V,F
=
1兆赫
测试条件
V
GS
= ±25
V, V
DS
=
0 V
I
G
= ±10 μA,
V
DS
=
0 V
V
DS
=
600 V, V
GS
=
0 V
I
D
=
10毫安,V
GS
=
0 V
V
DS
=
10 V,I
D
=
1毫安
V
GS
=
10 V,I
D
=
0.5 A
V
DS
=
10 V,I
D
=
0.5 A
±30
600
2.0
0.4
典型值。
6.4
0.85
190
15
55
12
55
40
90
9
3.5
5.5
最大
±10
100
4.0
9.0
pF
单位
μA
V
μA
V
V
Ω
S
50
Ω
R
L
=
600
Ω
ns
V
GS
0V
V
DD
300 V
nC
1%, t
w
=
10
μs
源极 - 漏极二极管额定值和特性
(大
=
25°C)
特征
连续漏电流反向
脉冲漏极电流反向
二极管的正向电压
反向恢复时间
反向恢复电荷
符号
I
DR
I
DRP
V
DSF
t
rr
Q
rr
测试条件
I
DR
=
1 ,V
GS
=
0 V
I
DR
=
1 ,V
GS
=
0 V,
dI
DR
/ DT
=
100 A / μs的
典型值。
400
1.4
最大
1
2
1.7
单位
A
A
V
ns
μC
记号
注4 :根据地段第一个行标识产品的说明
标签。
没有下划线: [铅] /包括> MCV
下划线: [ [G ] /符合RoHS标准或[ G] ] / RoHS指令[铅]
请联系您的东芝销售代表了解详细信息,以
环境问题,如产品的RoHS指令的兼容性。
RoHS指令的指令欧洲议会的2002/95 / EC
与2003年1月27日,安理会对使用的限制
某些有害物质的电器和电子设备。
K4026
产品型号(或缩写代码)
LOT号
注4
2
2009-09-29
2SK4026
I
D
– V
DS
1.0
常见的来源
0.8
Tc
=
25°C
脉冲测试
8
10
6
2.0
5
1.6
10
I
D
– V
DS
6
8
5.5
5.25
1.2
常见的来源
Tc
=
25°C
脉冲测试
漏电流I
D
(A)
0.6
4.5
0.4
4.25
0.2
4
VGS
=
3.75 V
0
0
2
4
6
8
10
漏电流I
D
(A)
4.75
5
0.8
4.75
4.5
0.4
4.25
VGS
=
4 V
10
20
30
40
50
0
0
漏源电压
V
DS
(V)
漏源电压
V
DS
(V)
I
D
– V
GS
2.0
Tc
= 55°C
1.6
25
20
V
DS
– V
GS
常见的来源
V
DS
(V)
16
Tc
=
25°C
脉冲测试
漏电流I
D
(A)
100
1.2
漏源电压
12
0.8
8
ID
=
1 A
0.4
常见的来源
VDS
=
20 V
脉冲测试
4
0.5
0.25
0
0
2
4
6
8
10
0
0
4
8
12
16
20
栅源电压
V
GS
(V)
栅源电压
V
GS
(V)
Y
fs
– I
D
3
30
R
DS ( ON)
I
D
正向转移导纳
Y
fs
(S)
Tc
= 55°C
1
25
100
漏源导通电阻
R
DS ( ON)
(Ω)
10
VGS
=
10 V
0.5
0.3
常见的来源
VDS
=
20 V
脉冲测试
0.1
0.03 0.05
0.1
0.3
0.5
1
3
5
3
常见的来源
Tc
=
25°C
脉冲测试
1
0.03 0.05
0.1
0.3
0.5
1
3
漏电流I
D
(A)
漏电流I
D
(A)
3
2009-09-29
2SK4026
R
DS ( ON)
TC =
(Ω)
20
常见的来源
16
VGS
=
10 V
脉冲测试
ID
=
1 A
10
5
常见的来源
Tc
=
25°C
脉冲测试
I
DR
– V
DS
漏源导通电阻R
DS ( ON)
0.5
反向漏电流I
DR
(A)
3
0.25
12
1
0.5
0.3
8
0.1
0.05
0.03
10
3
1
0.6
VGS
=
0 V,
1
V
0.8
1.0
1.2
4
0
80
40
0
40
80
120
160
0.01
0
0.2
0.4
壳温度( ° C)
漏源电压
V
DS
(V)
电容 - V
DS
500
300
西塞
5
V
th
TC =
V
th
(V)
栅极阈值电压
4
(PF )
100
50
30
科斯
10
5共源
3 VGS
=
0 V
f
=
1兆赫
Tc
=
25°C
1
0.1
0.3 0.5
1
3
5
10
30 50
100
CRSS
电容C
3
2
常见的来源
1
VDS
=
10 V
ID
=
1毫安
脉冲测试
0
80
40
0
40
80
120
160
漏源电压
V
DS
(V)
壳温度( ° C)
P
D
TC =
50
500
动态输入/输出特性
20
常见的来源
漏极功耗P
D
(W)
V
DS
(V)
40
400
Tc
=
25°C
100
脉冲测试
16
漏源电压
200
200
VDD
=
400 V
20
8
10
100
VGS
4
0
0
40
80
120
160
200
0
0
4
8
12
16
0
20
壳温度( ° C)
总栅极电荷Q
g
( NC )
4
2009-09-29
栅源电压
30
300
12
V
GS
(V)
VDS
ID
=
1 A
2SK4026
r
th
– t
w
10
归瞬态热阻抗
r
日(T )
/R
TH( CH-C )
1
=
0.5
0.2
0.1
0.1
0.05
0.02
0.01
PDM
0.01
t
T
=
t/T
RTH ( CH-C )
=
6.25°C/W
0.001
0.00001
0.0001
0.001
0.01
0.1
1
10
单脉冲
脉冲宽度
t
w
(s)
安全工作区
10
100
E
AS
– T
ch
雪崩能量EAS (兆焦耳)
ID MAX(脉冲)
*
80
(A)
1
ID MAX(连续)
100
μs
*
1毫秒
*
60
漏极电流ID
DC锝
=
25°C
0.1
*
单一不重复的脉冲
Tc
=
25°C
曲线必须是线性降额
同的温度升高。
0.01
1
VDSS最大
10
100
1000
40
20
0
25
50
75
100
125
150
通道温度(初始)T
ch
(°C)
漏源电压
V
DS
(V)
15 V
15
V
B
VDSS
I
AR
V
DD
V
DS
波形
测试电路
R
G
=
25
Ω
V
DD
=
90 V,L
=
100毫亨
E
AS
=
Ε
1
B VDSS
L
I2
B
2
VDSS
VDD
5
2009-09-29
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