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2SK4023
东芝场效应晶体管硅N沟道MOS型( π - MOS V)
2SK4023
开关稳压器, DC / DC转换器
6.5±0.2
单位:mm
5.2±0.2
1.5±0.2
0.6 MAX 。
4.1±0.2
5.7
4 V栅极驱动
导通电阻低的漏极 - 源极,R
DS ( ON)
= 4.0
Ω
(典型值)。
高正向转移导纳: | Y
fs
| = 0.8 S(典型值)。
低漏电流:I
DSS
= 100
μA
(V
DS
= 450 V)
增强型: V
th
=
2.0~4.0
V (V
DS
= 10 V,I
D
= 1 mA)的
1.6
5.5±0.2
0.9
1.1±0.2
0.6最大
特征
漏源电压
漏,栅极电压(R
GS
=
20 kΩ)
栅源电压
DC
漏电流
(注1 )
符号
V
DSS
V
DGR
V
GSS
I
D
I
DP
P
D
E
AS
I
AR
E
AR
T
ch
T
英镑
等级
450
450
±30
1
2
20
122
1
2
150
55~150
单位
0.8最大。
0.6±0.15
0.6±0.15
V
V
V
A
W
mJ
A
mJ
°C
°C
1.1最大。
2.3±0.2
绝对最大额定值
(大
=
25°C)
2.3
2.3
脉冲(T
=
1毫秒)
(注1 )
JEDEC
JEITA
东芝
2-7J2B
漏极功耗(TC
=
25°C)
单脉冲雪崩能量
(注2 )
雪崩电流
重复雪崩能量(注3 )
通道温度
存储温度范围
重量:0.58克(典型值)。
注意:
重负载下连续使用(如高温/电流/电压的施加而在显著变化
温度等)可能会导致此产品的可靠性降低显著即使工作条件下(即
工作温度/电流/电压等)的绝对最大额定值。请设计适当的
经审查东芝半导体可靠性手册( “注意事项” /降级的概念和可靠性
方法)和个人可靠性数据(即可靠性测试报告和估计的故障率,等)。
热特性
特征
耐热性,信道到外壳
耐热性,信道至环境
符号
R
TH( CH-C )
R
第(章-a)的
最大
6.25
125
单位
° C / W
° C / W
注1 :确保通道温度不超过150 ℃。
注2 : V
DD
=
90 V,T
ch
=
25℃ ,L-
=
203 mH的,我
AR
=
1 A,R
G
=
25Ω
注3 :重复评价:脉冲宽度有限的最大通道温度
此晶体管是静电感应装置。小心轻放。
1
2006-11-06
2SK4023
电气特性
(大
=
25°C)
特征
栅极漏电流
排水截止电流
漏源击穿电压
栅极阈值电压
漏源导通电阻
正向转移导纳
输入电容
反向传输电容
输出电容
上升时间
开启时间
开关时间
下降时间
打开-O FF时间
总栅极电荷
栅极 - 源电荷
栅极 - 漏极电荷
t
f
V
DD
≒200
V
t
关闭
Q
g
Q
gs
Q
gd
V
DD
≒360
V, V
GS
=
10 V,I
D
=
1 A
1%, t
w
=
10
μs
70
5
3
2
符号
I
GSS
I
DSS
V
( BR ) DSS
V
th
R
DS ( ON)
Y
fs
C
国际空间站
C
RSS
C
OSS
t
r
t
on
10 V
V
GS
0V
10
Ω
I
D
=
0.5 A
V
OUT
V
DS
=
25 V, V
GS
=
0 V,F
=
1兆赫
测试条件
V
GS
= ±25
V, V
DS
=
0 V
V
DS
=
450 V, V
GS
=
0 V
I
D
=
10毫安,V
GS
=
0 V
V
DS
=
10 V,I
D
=
1毫安
V
GS
=
10 V,I
D
=
0.5 A
V
DS
=
10 V,I
D
=
0.5 A
450
2.0
0.3
典型值。
4.0
0.8
180
2
20
7
15
30
最大
±10
100
2.0
4.6
pF
单位
μA
μA
V
V
Ω
S
ns
R
L
=
400
Ω
nC
源极 - 漏极额定值和特性
(大
=
25°C)
特征
连续漏电流反向
(注1 )
脉冲漏极电流反向
正向电压(二极管)
反向恢复时间
反向恢复电荷
(注1 )
符号
I
DR
I
DRP
V
DSF
t
rr
Q
rr
测试条件
I
DR
=
1 ,V
GS
=
0 V
I
DR
=
1 ,V
GS
=
0 V,
dI
DR
/ DT
=
100 A / μs的
典型值。
350
1.3
最大
1
2
1.7
单位
A
A
V
ns
μC
记号
K4023
产品型号(或缩写代码)
LOT号
A线指示
铅(Pb ) - 免费包或
铅(Pb ) -free完成。
2
2006-11-06
2SK4023
I
D
– V
DS
1.0
常见的来源
½ース接地
TCTC 25℃
= =
25°C
脉冲测试
パルス測定
2.0
10
8.0
5.75
6.0
5.5
1.6
10
8.0
I
D
– V
DS
6.25
6.0
常见的来源
½ース接地
Tc
=
Tc
=
25°C
25°C
脉冲测试
パルス測定
0.8
漏电流I
D
(A)
漏电流I
D
(A)
0.6
5.25
1.2
5.75
0.4
5.0
4.75
0.8
5.5
5.25
0.2
VGS
=
4.5 V
0.4
5.0
VGS
=
4.5 V
0
0
2
4
6
8
10
0
0
10
20
30
40
50
漏源电压
V
DS
(V)
漏源电压
V
DS
(V)
I
D
– V
GS
2.0
常见的来源
½ース接地
VDS
= =
20 V
VDS 10 V
脉冲测试
パルス測定
20
V
DS
– V
GS
常见的来源
½ース接地
Tc
=
25°C
=
25°C
Tc
脉冲测试
パルス測定
1.6
V
DS
(V)
漏源电压
100
16
漏电流I
D
(A)
1.2
12
0.8
8
ID
=
1 A
0.25
0
0.5
0.4
25
Ta
= 55°C
4
0
0
2
4
6
8
10
0
4
8
12
16
20
栅源电压
V
GS
(V)
栅源电压
V
GS
(V)
Y
fs
– I
D
(S)
5
3
1
0.5
0.3
100
常见的来源
½ース接地
VDS
=
10 V
VDS
=
20 V
脉冲测试
パルス測定
50
Ta
= 55°C
30
25
½ース接地
常见的来源
Tc
==
25°C
TC 25℃
VGS
=
10 V
パルス測定
脉冲测试
R
DS ( ON)
I
D
正向转移导纳
Y
fs
漏源导通电阻
R
DS ( ON)
(Ω)
10
0.1
0.05
0.03
5
3
VGS
=
10, 15 V
0.01
0.01
0.03
0.1
0.3
1
3
10
1
0.1
0.3
0.5
1
3
5
10
漏电流I
D
(A)
漏电流I
D
(A)
3
2006-11-06
2SK4023
R
DS ( ON)
TC =
(Ω)
16
常见的来源
½ース接地
VV
= =
10 V
GS 10 V
GS
脉冲测试
パルス測定
10
常见的来源
½ース接地
Tc
=
25°C
Tc
=
25°C
脉冲测试
3
パルス測定
I
DR
– V
DS
漏源导通电阻R
DS ( ON)
反向漏电流I
DR
12
0.5
(A)
1
ID
=
1A
8
0.25
0.3
0.1
10
3
4
0.03
1
VGS
=
0,
1
V
0.6
0.8
1.0
1.2
0
80
40
0
40
80
160
0.01
0
0.2
0.4
壳温度
(°C)
漏源电压
V
DS
(V)
电容 - V
DS
500
300
西塞
5
V
th
TC =
常见的来源
½ース接地
VDS
=
DS V 10 V
V 10
=
ID
=
1D
=
1毫安
我MA
脉冲
パルス測定
TEST
(PF )
4
电容C
50
30
科斯
10
5
3
常见的来源
VGS
=
0V
½ース接地
f
=
0V
VGS
=
1兆赫
f
=
1兆赫
Tc
=
25°C
Tc
=
25°C
0.3 0.5
1
3
5
10
V
th
(V)
栅极阈值电压
CRSS
30 50
100
100
3
2
1
1
0.1
0
80
40
0
40
80
120
160
漏源电压
V
DS
(V)
壳温度
(°C)
P
D
TC =
40
500
动态输入/输出特性
常见的来源
ID
=
1 A
Tc
=
25°C
脉冲测试
VDS
90
300
VDS
=
360 V
200
8
12
180
20
漏极功耗P
D
(W)
V
DS
(V)
30
400
16
漏源电压
20
10
100
VGS
4
0
0
40
80
120
160
200
0
0
2
4
6
8
0
10
壳温度
(°C)
总栅极电荷Q
g
( NC )
4
2006-11-06
栅源电压
V
GS
(V)
2SK4023
r
th
– t
w
10
归瞬态热阻抗
r
日(T )
/R
第(章-a)的
5
3
1
0.5
0.3
=
0.5
0.2
0.1
0.1
0.05
0.02
0.05
PDM
单脉冲
t
T
=
t/T
RTH ( CH-C )
=
6.25°C/W
100
μ
1m
10 m
100 m
1
10
0.03 0.01
0.01
10
μ
脉冲宽度
t
w
(S)
安全工作区
30
150
E
AS
– T
ch
10
雪崩能量EAS (兆焦耳)
120
3
90
ID MAX(パルス)
*
ID MAX(连続)
1毫秒
*
100
μs
*
(A)
1
60
漏极电流ID
0.3
直流動½
Tc
=
25°C
30
0.1
*
单一不重复的脉冲
*
単発パルス
Tc
=
25°C
Tc
=
25°C
安全動½領域は温度によっ
00.3曲线应呈线性降额
てディレーティングして考
同的温度升高。
える必要があります。
00.1
0.1
VDSS最大
1
10
100
0
25
50
75
100
125
150
通道温度(初始)T
ch
(°C)
漏源电压
V
DS
(V)
15 V
15
V
B
VDSS
I
AR
V
DD
V
DS
波形
测试电路
R
G
=
25
Ω
V
DD
=
90 V,L
=
203毫亨
E
AS
=
Ε
1
B VDSS
L
I2
B
2
VDD
VDSS
5
2006-11-06
2SK4023
东芝场效应晶体管硅N沟道MOS型( π - MOS V)
2SK4023
开关稳压器, DC / DC转换器
6.5
±
0.2
单位:mm
5.2
±
0.2
1.5
±
0.2
1.6
4 V栅极驱动
导通电阻低的漏极 - 源极,R
DS ( ON)
= 4.0
Ω
(典型值)。
高正向转移导纳: | Y
fs
| = 0.8 S(典型值)。
低漏电流:I
DSS
= 100
μA
(最大值) (Ⅴ
DS
= 450 V)
增强型: V
th
= 2.0 4.0 V(V
DS
= 10 V,I
D
= 1 mA)的
0.9
0.6 MAX 。
5.5
±
0.2
1.1
±
0.2
0.6 MAX 。
4.1
±
0.2
特征
漏源电压
漏,栅极电压(R
GS
=
20 kΩ)
栅源电压
DC
漏电流
(注1 )
符号
V
DSS
V
DGR
V
GSS
I
D
I
DP
P
D
E
AS
I
AR
E
AR
T
ch
T
英镑
等级
450
450
±30
1
2
20
122
1
2
150
55
150
单位
V
V
V
A
W
mJ
A
mJ
°C
°C
1.
2.
0.8最大。
1
2.3
2.3
2.3
±
0.2
0.6
±
0.15
0.6
±
0.15
2
3
1.1最大。
脉冲(T
=
1毫秒)
(注1 )
5.7
2
1
3
绝对最大额定值
(大
=
25°C)
漏极功耗(TC
=
25°C)
单脉冲雪崩能量
(注2 )
雪崩电流
重复雪崩能量(注3 )
通道温度
存储温度范围
(HEAT
汇)
3. SOURSE
JEDEC
JEITA
东芝
2-7J2B
重量:0.58克(典型值)。
注意:
在重负载下连续使用(高如应用程序
温度/电流/电压和温度的显著变化等)可能会导致此产品在减少
可靠性显著即使操作条件(即工作温度/电流/电压等)内的
绝对最大额定值。请在审查东芝半导体可靠性设计适当的可靠性
手册( “注意事项” /降级的概念和方法)和个人数据的可靠性(即可靠性试验报告
和估计故障率等)。
热特性
特征
耐热性,信道到外壳
耐热性,信道至环境
符号
R
TH( CH-C )
R
第(章-a)的
最大
6.25
125
单位
° C / W
° C / W
注1 :确保通道温度不超过150 ℃。
注2 : V
DD
=
90 V,T
ch
=
25℃ ,L-
=
203 mH的,我
AR
=
1 A,R
G
=
25Ω
注3 :重复评价:脉冲宽度有限的最大通道温度
此晶体管是静电感应装置。小心轻放。
1
2009-07-11
2SK4023
电气特性
(大
=
25°C)
特征
栅极漏电流
栅源击穿电压
排水截止电流
漏源击穿电压
栅极阈值电压
漏源导通电阻
正向转移导纳
输入电容
反向传输电容
输出电容
上升时间
开启时间
开关时间
下降时间
打开-O FF时间
总栅极电荷
栅极 - 源电荷
栅极 - 漏极电荷
t
f
V
DD
≒200
V
t
关闭
Q
g
Q
gs
Q
gd
V
DD
≒360
V, V
GS
=
10 V,I
D
=
1 A
1%, t
w
=
10
μs
70
5
3
2
符号
I
GSS
V
( BR ) GSS
I
DSS
V
( BR ) DSS
V
th
R
DS ( ON)
Y
fs
C
国际空间站
C
RSS
C
OSS
t
r
t
on
10 V
V
GS
0V
10
Ω
I
D
=
0.5 A
V
OUT
V
DS
=
25 V, V
GS
=
0 V,F
=
1兆赫
测试条件
V
GS
= ±25
V, V
DS
=
0 V
I
G
= ±10 μA,
V
DS
=
0 V
V
DS
=
450 V, V
GS
=
0 V
I
D
=
10毫安,V
GS
=
0 V
V
DS
=
10 V,I
D
=
1毫安
V
GS
=
10 V,I
D
=
0.5 A
V
DS
=
10 V,I
D
=
0.5 A
±30
450
2.0
0.3
典型值。
4.0
0.8
180
2
20
7
15
30
最大
±10
100
4.0
4.6
pF
单位
μA
V
μA
V
V
Ω
S
ns
R
L
=
400
Ω
nC
源极 - 漏极额定值和特性
(大
=
25°C)
特征
连续漏电流反向
(注1 )
脉冲漏极电流反向
正向电压(二极管)
反向恢复时间
反向恢复电荷
(注1 )
符号
I
DR
I
DRP
V
DSF
t
rr
Q
rr
测试条件
I
DR
=
1 ,V
GS
=
0 V
I
DR
=
1 ,V
GS
=
0 V,
dI
DR
/ DT
=
100 A / μs的
典型值。
350
1.3
最大
1
2
1.7
单位
A
A
V
ns
μC
记号
注4 :根据批号的行标识产品标签的指示
[ G] ] /符合RoHS标准或[ G] ] / RoHS指令[铅]
K4023
产品型号
(或缩写代码)
LOT号
注4
请联系您的东芝销售代表了解详细信息,以
环境问题,如产品的RoHS指令的兼容性。
RoHS指令是指令2002 /欧洲议会95 / EC和
对2003年1月27日,安理会就使用某些的限制
在电子电气设备中有害物质
2
2009-07-11
2SK4023
I
D
– V
DS
1.0
常见的来源
½ース接地
TCTC 25℃
= =
25°C
脉冲测试
パルス測定
2.0
10
8.0
5.75
6.0
5.5
1.6
10
8.0
I
D
– V
DS
6.25
6.0
常见的来源
½ース接地
Tc
=
Tc
=
25°C
25°C
脉冲测试
パルス測定
0.8
漏电流I
D
(A)
漏电流I
D
(A)
0.6
5.25
1.2
5.75
0.4
5.0
4.75
0.8
5.5
5.25
0.2
VGS
=
4.5 V
0.4
5.0
VGS
=
4.5 V
0
0
2
4
6
8
10
0
0
10
20
30
40
50
漏源电压
V
DS
(V)
漏源电压
V
DS
(V)
I
D
– V
GS
2.0
常见的来源
½ース接地
VDS
= =
20 V
VDS 10 V
脉冲测试
パルス測定
20
V
DS
– V
GS
常见的来源
½ース接地
Tc
=
25°C
=
25°C
Tc
脉冲测试
パルス測定
1.6
V
DS
(V)
漏源电压
100
16
漏电流I
D
(A)
1.2
12
0.8
8
ID
=
1 A
0.25
0
0.5
0.4
25
Ta
= 55°C
4
0
0
2
4
6
8
10
0
4
8
12
16
20
栅源电压
V
GS
(V)
栅源电压
V
GS
(V)
Y
fs
– I
D
(S)
5
3
1
0.5
0.3
100
常见的来源
½ース接地
VDS
=
10 V
VDS
=
20 V
脉冲测试
パルス測定
50
Ta
= 55°C
30
25
½ース接地
常见的来源
Tc
==
25°C
TC 25℃
VGS
=
10 V
パルス測定
脉冲测试
R
DS ( ON)
I
D
正向转移导纳
Y
fs
漏源导通电阻
R
DS ( ON)
(Ω)
10
0.1
0.05
0.03
5
3
VGS
=
10, 15 V
0.01
0.01
0.03
0.1
0.3
1
3
10
1
0.1
0.3
0.5
1
3
5
10
漏电流I
D
(A)
漏电流I
D
(A)
3
2009-07-11
2SK4023
R
DS ( ON)
TC =
(Ω)
16
常见的来源
½ース接地
VV
= =
10 V
GS 10 V
GS
脉冲测试
パルス測定
10
常见的来源
½ース接地
Tc
=
25°C
Tc
=
25°C
脉冲测试
3
パルス測定
I
DR
– V
DS
漏源导通电阻R
DS ( ON)
反向漏电流I
DR
12
0.5
(A)
1
ID
=
1A
8
0.25
0.3
0.1
10
3
4
0.03
1
VGS
=
0,
1
V
0.6
0.8
1.0
1.2
0
80
40
0
40
80
160
0.01
0
0.2
0.4
壳温度
(°C)
漏源电压
V
DS
(V)
电容 - V
DS
500
300
西塞
5
V
th
TC =
常见的来源
½ース接地
VDS
=
DS V 10 V
V 10
=
ID
=
1D
=
1毫安
我MA
脉冲
パルス測定
TEST
(PF )
4
电容C
50
30
科斯
10
5
3
常见的来源
VGS
=
0V
½ース接地
f
=
0V
VGS
=
1兆赫
f
=
1兆赫
Tc
=
25°C
Tc
=
25°C
0.3 0.5
1
3
5
10
V
th
(V)
栅极阈值电压
CRSS
30 50
100
100
3
2
1
1
0.1
0
80
40
0
40
80
120
160
漏源电压
V
DS
(V)
壳温度
(°C)
P
D
TC =
40
500
动态输入/输出特性
常见的来源
ID
=
1 A
Tc
=
25°C
脉冲测试
VDS
90
300
VDS
=
360 V
200
8
12
180
20
漏极功耗P
D
(W)
V
DS
(V)
30
400
16
漏源电压
20
10
100
VGS
4
0
0
40
80
120
160
200
0
0
2
4
6
8
0
10
壳温度
(°C)
总栅极电荷Q
g
( NC )
4
2009-07-11
栅源电压
V
GS
(V)
2SK4023
r
th
– t
w
10
归瞬态热阻抗
r
日(T )
/R
第(章-a)的
5
3
1
0.5
0.3
=
0.5
0.2
0.1
0.1
0.05
0.02
0.05
PDM
单脉冲
t
T
=
t/T
RTH ( CH-C )
=
6.25°C/W
100
μ
1m
10 m
100 m
1
10
0.03 0.01
0.01
10
μ
脉冲宽度
t
w
(S)
安全工作区
30
150
E
AS
– T
ch
10
雪崩能量EAS (兆焦耳)
120
3
90
ID MAX(脉冲)
*
100
μs
*
ID MAX(连续)
*
1毫秒
*
(A)
1
60
漏极电流ID
0.3
直流操作
Tc
=
25°C
30
0.1
*
单一不重复的脉冲
*
単発パルス
Tc
=
25°C
Tc
=
25°C
安全動½領域は温度によっ
0.03曲线应呈线性降额
てディレーティングして考
同的温度升高。
える必要があります。
0.01
1
VDSS最大
10
100
1000
0
25
50
75
100
125
150
通道温度(初始)T
ch
(°C)
漏源电压
V
DS
(V)
15 V
15
V
B
VDSS
I
AR
V
DD
V
DS
波形
测试电路
R
G
=
25
Ω
V
DD
=
90 V,L
=
203毫亨
E
AS
=
Ε
1
B VDSS
L
I2
B
2
VDD
VDSS
5
2009-07-11
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